反射测量

透射、反射/吸收光谱测量系统介绍 透射、反射/吸收率是光学元件（如光学材料、滤光片、镀膜等）与多种生活材料（玻璃、布料、汽车贴膜等）的重要光学特性指标，我公司ZLX-AS系列 透射、反射/吸收光谱测量系统正是针对此应用需求，而设计的高集成度，自动化的测量系统，它能帮助研发人员或品管人员在实验室轻易、快捷的完成透射率/反射率的光谱测试。系统组成：光源系统+分光系统＋样品检测系统＋数据采集及处理系统＋软件系统＋计算机系统■ ZLX-AS系列吸收、透射/反射光谱测量系统

SGRM-200反射率测量仪--代理西格玛产品

反射透射平台反射平台是做反射测量时候的探头支架，可以放置小于150mm的光学镀层和基底样品。支架可以安装6.35直径的反射探头，并且可以在高度上调整大约63.5mm。平台上刻有不同直径的圆，可以更方便的对准样品。 Stage-RTL-T型平台是一种新型取样系统，用来分析如硅、金属、玻璃和塑料一类的材料。RTL-T与我们的光谱仪和光源多种组合方式，配合进行反射和传输测量Stage-RTL-T包括一个附着在基座上的可调轨夹。有三个用螺丝固定在轨夹上的设备，包括一个带 UV-VIS校准镜头的光纤固定器；一个反射和传送的样品盒；一个光阱用来减少背射光和 环境光的影响。 STAGESTAGE-RTL-T尺寸:152.4 mm 直径(base)206.3 mm 直径(base)尺寸:101.6 mm 直径(样品区域)152.4 mm 直径 (采样支架)(样品区域)重量:620 g4.5kg高度:导轨高度可调 63.5 mm导轨高度可调 400 mm材质:阳极氧化铝底盘, 不锈钢支杆阳极氧化铝 对于简易的反射测量需求，我们也可以提供STAGE平台。 为了提高调整的精度和更加灵活的应用场合，我们开发了增强型的STAGE-RM平台，透反射样品支架是常用的光谱测量附件，与反射探头共用可实现反射光谱测量，与两根光纤跳线共用可实现透射光谱测量。透反射样品支架包括可调滑轨、底座、样品调整座以及两个准直透镜，型号为STAGE-RM的增强型透反射样品支架还包括一维平移台以及万向杆架。该产品广泛应用于硅、金属、玻璃、塑料、珠宝等样品的透射和反射光谱测量。 透反射样品支架 - 实现透射和反射光谱测量 - 测量高度可调 - 测量高度可通过一维平移台微调 - 自带两个准直透镜 - 可定制配合安装孔尺寸 如果需要其他相关配件，例如光源，光谱仪，光纤，积分球等，可以联系韵翔光电。

R3 反射光谱测量系统 多角度反射率光谱测量 反射是光谱测量的基本手段，实现反射光谱测量通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取较好的光谱数据，反射这种基本模式又会演化为更多的形式。 复享光学为用户提供了以光谱仪为核心的反射光谱测量仪器，可以搭建个性化的光谱测量系统。复享光学 R3 反射光谱测量系统可以配置 1 个或者 2 个支架，用于固体和粉末样品的反射率测量。R3 光谱测量支架也可以用来固定光纤探头和光源，具备高灵活性和强实用性。　注：以上参数如有差异，以官网为准。

WS-1标准漫反射参考白板WS-1标准漫反射参考白板是用PTFE制成的。PTFE是一种具有可用作反射实验标准参照物的理想朗伯表面的漫反射塑性白胶。PTFE可以被地加工成需要的形状，做成无定形结构，参考板对400-1500 nm的反射率大于98%，对250-2000 nm的反射率大于95%。 WS-1具有非常好的长期使用稳定性，包括用紫外线照射的条件下。同时，它不易被水沾湿，化学性质也很稳定。 WS-1-SL标准Spectralon反射参考白板 WS-1-SL是Labsphere公司生产的标准漫反射白板，采用Spectralon反射材料制作。Spectralon不怕水浸而且热稳定性良好，可以在高达350度的条件下使用。稳定的材料保证客户可以获得准确的可重复的数据。相对于PTFE材料的白板，WS-1-SL的表面如果被污染或者有划痕，您可以将它打磨后继续使用。 WS-3-GEM白色参考板WS-3-GEM由漫反射材料PTFE制成，其不锈钢容器内部被做成凹面形，这使得光线照射时，WS-3-GEM成为一个积分球。WS-3-GEM可用于钻石或其他宝石的色度测量。WS-3-GEM对400-1500 nm的反射率大于98%，对250-2000 nm的反射率大于95%。与WS-1类似，WS-3-GEM的反射材料不易被水沾湿，化学性质也非常的稳定。 漫反射参考白板WS-1WS-1-SLWS-1-SSWS-3-GEM尺寸:38 mm 直径(外壳) 32 mm OD, 10 mm 厚度 (白板)38 mm 直径(外壳)32 mm OD, 10 mm 厚度 (白板)38 mm 直径(外壳)32 mm OD, 10 mm 厚度 (白板)38 mm 直径(外壳)31 mm OD, 10 mm 厚度 (白板)重量:30 g30 g30 g70 g光谱范围：250-2000 nm250-2500 nm250-2000 nm250-2000 nm外壳:铝塑料, 保护盖不锈钢不锈钢反射率:98% (250-1500 nm)95% (250-2200 nm)99% (400-1500 nm)96% (250-2000 nm)98% (250-1500 nm)95% (250-2200 nm)98% (250-1500 nm)95% (250-2200 nm) 镜面反射参考白板 通用且耐用的参考我们提供三种镜面反射白板，用作测量表明反射率的参考。每个白板由31.7mm的外径的光学反射材料组成，外面是铝制的外壳和带螺纹的盖子。表层的镀膜非常优异，性能稳定，可以承受高温和机械压力。 高反射率测量STAN-SSH高镜面反射率标准可以做为测量像感光底层，光涂层，机加金属和半导体材料等。 表面具有高镜面反射率值的物质时的参照。STAN-SSL 在200-800 nm波长范围内提供~85-90%反射率，在800-2500nm波长范围内提供~85-98%反射率。 有两种款式的STAN-SSH，STAN-SSH 型，NIST认可的STAN-SSH-NIST型 。 NIST型STAN-SSH-NIST是按照一个NIST校准（NIST号为NIST38060S, s/n 99G16）250-2500 nm精度大概为 0.1% 。与STAN-SSH-NIST一起交货给用户的还有一个校准说明书，一个做为波长函数的反射率值数据表，和一张光盘，其中数据可以上传到光谱仪操作软件上。 建议用户定期标定STAN-SSH-NIST 。 低反射率测量STAN-SSL 低镜面反射率标准是一个中性滤光片标准。可以做为测量像薄膜层，抗反射层，阻挡滤光片等。 表面具有低镜面反射率的物质时的参照。STAN-SSL的涂敷层 在200-2500 nm波长范围内提供~4.0% 反射率。STAN-SSHSTAN-SSH-NISTSTAN-SSL基底尺寸:31.75 mm 外直径 x 6.35 mm 高度31.75 mm 外直径 x 6.35 mm 高度31.75 mm 外直径 x 6.35 mm 高度外壳尺寸:38 mm 外直径 x 19 mm 高度38 mm 外直径 x 19 mm 高度38 mm 外直径 x 19 mm 高度重量:40 g40 g40 g反射率材料:Front-surface protected aluminum mirror on fused silica substrateFront-surface protected aluminum mirror on fused silica substrateSchott ND9 glass反射率:~87-93% (200-1000 nm)~93-98% (1000-2500 nm)~87-93% (200-1000 nm)~93-98% (1000-2500 nm)~5% (200-950 nm)~4% (950-2500 nm) 韵翔光电也可以为您提供配套的支架和测量仪器（光谱仪和照明光源）， 帮助您实现各种样品的反射测量。

晶圆中作为杂质所含的氧、碳和氮对晶圆的性能有很大影响。 傅里叶变换红外光谱仪晶圆反射率测量系统是一种可以通过在 FT/IR 样品室中安装专用载物台来对高达 12 英寸的晶圆进行透射和反射测量，整个测试过程采用专用软件进行分析处理，操作方便快捷。&bull 无损和非接触分析使用红外光可以以非破坏性和非接触式方式评估样品。&bull 高精度和可重复性通过充分利用高性能FT/IR功搭配晶圆测试附件可以进行高精度和高重现性的测量。&bull 兼容各种执行标准与JEITA和JEIDA等各种标准兼容&bull 软件分析测量特点硅分析浓度定量程序，量化硅中所含的氢和氧的浓度晶圆反射测量通过软件设置进行分析测量

光谱反射率及颜色测量 描述反射和透射一样是物品的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱测量数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美的平整表面上的反射是镜面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，测量物体的反射颜色和化学样品中的成分信息。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的。那些看上去非常晃眼的或者非常光亮的样品表面大多数是镜面反射，因反射光相对入射光而言，角度改变了180度，所以可用光纤来进行取样测量。特点样品放置方便，无须定制样品夹具操作简便、重复性好、检测快速可实时读取透过率值，数据可重复导入读取、使用方便读取反射率值通过积分球采样，还可进一步测量材料的表面颜色典型测试数据不同颜色纸张的光谱反射率光纤型光谱反射测量套件应用测量平整表面的镜面反射材料的光谱反射率。配置清单积分球型光谱反射率测量套件应用适用于平面或曲面材料的漫反射或镜面反射测量，系统经过相对强度定标后，还可进一步测量材料的表面颜色。配置清单更多精彩内容，请关注下方！

品牌：久滨型号：JB-106名称：逆反射系数测量仪一、产品概述：　　JB-106型逆反射系数测量仪（逆反射测量仪、反光标识检测仪），是依据国家相关标准研制开发的测量仪器，该仪器的特点是固定角度即观察角为0.2°，入射角-4°，在此几何条件下，测量各种逆反光材料值，这一测量值也是表征这类逆反射材料的关键数据。二、符合标准： 符合GB/T26377-2010,JJG059-2004，GB23254-2009。三、优势及特点： 仪器采用精密设计的光学传感系统，配以32位单片微机作为数据处理核心，采用彩色液晶屏作为显示器件，汉字提示，清晰直观，简单易用。测试数据可以存储、查询。 仪器内部自带可更换充电电池，使用方便。仪器还可选配打印机及WIFI功能。四、测量原理： 在一定几何条件下，在单位光照下，反光材料在单位面积上产生的亮度值。采用逆反射系数来表示，单位：cd/lx/m2。五、技术指标：1.测量范围：0～1999 cd/lx/m22.不确定度：5%3.观察角：0.2°4.入射角：-4°5.光源：暖白光LED光源6.接受器：V（λ）校正7.适用环境温度：-10°～ 40°8.相对湿度：80%9.外形尺寸：200x155x59 mm10.电源：9V/800mAh锂离子充电电池（可更换）

自动绝对反射率测量系统可以测量绝对反射率和透射率，也可同时改变样品的入射角。 适用于测量太阳能电池元件、半导体、薄膜、光学元件、光学器件等各种固态样品的光谱特性和膜厚。 通过旋转样品台来设置入射角，通过滑动积分球来控制光接收角。 此外，入射角和接收角可以在异步模式下单独设置。 此外，还可以通过指定 P 和 S 偏振并任意设置偏振片的角度来研究样品的偏振特性。&bull 样品室及内部结构图中显示了自动绝对反射率测量单元的内部图 1 和图 2。 通过旋转样品台和检测器，可以改变入射角和光接收角， 样品台和检测部分由PC控制，透射率和绝对反射率可以在同一系统中进行评估。&bull 防窥视膜的视角测量随着在智能手机或其他设备屏幕上的防窥膜具有盲人状结构，其中透明层和遮光层交替排列，因此无法从左右、顶部和底部等看到屏幕。 由于这种结构，视角会随着着色层的高度和间距而变化。 评估此类结构的视角和透射率的最佳方法是使用绝对反射率测量单元，该单元可以将样品旋转到指定角度并测量光谱。在这里，我们介绍了测量智能手机防窥视膜透射光谱的角度依赖性的结果（产品规格：65度视角）。 图 4 显示了以 60 度间隔对入射角 &minus 60~20度进行光谱测量获得的间隔数据，图 5 显示了 550 nm 处透射率的角度依赖性。 从图4可以看出，在±32.5度左右的薄膜标称视角下，透光率约为5%，几乎没有透光

一、概述 RT-V 系列反射透射测量仪，采用进口氘卤二合一光源，结合高性能分光光谱仪，可测量获得紫外到近红外光谱范围内薄膜的反射率和透射率光谱，并进一步计算获得样品色坐标，以及薄膜厚度、光学常数等信息。 ■ 高性价比穿透率、反射率测量解决方案 ■ 色坐标计算和薄膜特征解析 ■ 模块化定制，支持在线集成应用二、产品特点■ 采用高性能进口氘卤二合一光源，光谱范围覆盖可见光到近红外范围；■ 支持全光谱范围反射率高精度量测，基于薄膜层上下界面反射光干涉原理，轻松解析单层至多层薄膜特征；三、产品应用 RT系列反射透射测量仪，可实现各种透明、低对比度、高反射率样品反射率和穿透率光谱快速精准测量，并进一步计算获得样品色坐标、薄膜样品厚度及光学常数。广泛应用于各种滤光片、滤镜、镜头、玻璃、染色液、薄膜的测量。技术参数

1 产品简介HRS-300是一款可以直接采集光信号的小型化光谱仪，采样范围涵盖350-1050nm的光谱信号。设备软件使用安卓系统架构，操作简单，反馈迅速，能够对光谱信号进行原始光谱、透射率、反射率等光谱特性测量。同时小型化、集成化的设计赋予仪器便捷性与可操作性，尺寸控制在类似手机大小，不论是实验室、工业现场还是携带至野外使用，HRS-300都可以轻松胜任。大容量的电池设计保证仪器4-6小时的长时间续航。仪器前端是一个SMA905的标准接口，通过接口可直接进行外部光信号采样，或者外接配套的准直镜或小视场角镜头来控制采样的视场角，这样可以对太阳光谱、LED光源等进行采样。也可以外接光源与采样附件来实现反射率、透射率的测量。例如配合我们的 RPB-D0-IS30反射探头，连接光纤即可进行便捷的反射率测量，且适用于布料颜色、叶片光合、水果品质、文物颜料等进行研究。 2 规格参数产品型号HRS-300尺寸180×95×38mm重量800g输入接口Micro USB光谱范围350-1050nm波长分辨率2.0nm激发光源需配置外部光源积分时间1ms-65S采样范围SMA905接口摄像头800万像素触摸屏720×1280分辨率电容屏网络WIFI/蓝牙/GPS工作温度0-40℃工作湿度5-80%#光谱范围可根据用户需求进行定制3 产品特点? 可实时采集光谱，得到光信号信号反馈；? 仪器小巧，续航持久，可应用于各种场景；? 附件丰富，可满足不同的检测需求。 4 软件示例 图一 初始界面 图二 参数设置界面 图三 反射率测量 5 应用案例图四 搭建式纺织品布料反射率测量 图五 不同颜色的布料的反射率测试图

Roadvista逆反射系数测试仪美国Roadvista932逆反射系数测试仪|反光膜测试仪是为现场操作及实验室分析专业设计的便携式逆反射系数测试仪。932系列被设计用于测试反光材料的逆反射系数值（RA），包括夜间道路安全标识颜色标准（CIE 1931xy）高亮度反光安全服及其他反光材料。使用者在轻松的按下测试按键后，准确的告知使用者反光材料的实际逆反射系数值，除此以外，一并可测试反光材料的颜色是否符合颜色定义标准。连续可调的入射角和观测角易于各种反光材料的测试，包括在EN471和ANSI 107标准规范下的高亮度反光服测试。Roadvista932逆反射系数测试仪|反光膜测试仪内置蓝牙发射器及USB接口。通过以上装置可以轻松的通过电脑实现远程操控，此外，内置的记忆体可存储超过32000组测试数据。内部的光感应器，符合ASTM E1709和ASTM E2540规范的要求，符合CIE标准的人眼反应系数。光感应器与CIE照明标准A光源连接使用。Roadvista932逆反射系数测试仪使用国际标准的光度滤光器，精确测量时使用1个白板校准板，而不需要设定任何修正系数，这安全超越了竞争对手。产品特点：● 简易操作，可测试各种类型的反光材料● 符合ASTM,CIE,ANSI,BS,EN&DIN技术规范● 观测角0.2°~2.0°连续可调● 入射角-45°到+45°连续可调● 世界通用的标准A光源● 仅需一块校正板，无需任何校正参数● 独立的电源供应器和电池● 数字触摸彩屏显示● 内置蓝牙发射器● USB接口● 内置均值计算器● 内置可存储32000组测试数据的记忆体技术参数：● 入射角：-45°到+45°连续可调；● 观测角：0.2°到2°● 光源孔径张角：0.1°；● 光感应器孔径张角：0.1°；● 测试区域：直径1英寸（25mm）区域；● 技术规范：符合所有ASTM E1709 ASTM E2540，EN12899要求并遵循ASTMD4956，EN471，ANSI107测试规范；● 光感应器响应速率：光感应速率与ASTM E1709 6.4.2章及ASTM E2540 6.4.2章；● 量程：0-20000 cd/lx/m2 ● 数据存储：超过32000组测试数据；● 颜色测试：遵循CIE1931 xy retroreflected夜间色坐标；● 电脑相连装置：usb接口和蓝牙发射器；● 电源供应器：removeable12 VDC,2.4Ah；● 充电器：110VAC,60HZ(932-2)● 110VDC车载充电器（932）● 220VAC，50Hz（932）● 环境温度：0°-50°● 环境湿度：0-95%（非凝结）● 外形尺寸：380*115*325mm● 重量：2.9kg（含电池）符合标准：符合GB 20653、GB/T 28648、EN ISO 20471、EN 471、ANSI 107 等标准规范下的高亮度反光服测试要求。随着中小学生的交通安全问题越来越严重，近期中国标委会发布了GB/T28468-2012 中小学生交通安全反光校服 测试技术规范和标准。里面特意提到用反光材料老保护道路学生行走安全，里面一项特别重要的测试指标是逆反射系数的测定。目前中国很多地区的纤维检验局，纤维检验所购买罗中科技代理的美国Roadvista品牌的逆反射系数测试仪进行该标准的测试。

产品特点： ? 非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。? 高精度、高再现性测量紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数（n：折射率，k消光系数）。? 宽阔的波长测量范围。（190nm-1100nm）? 薄膜到厚膜的膜厚测量范围。（1nm~250μm）? 对应显微镜下的微距测量口径。产品规格： 标准型厚膜专用型膜存测量范围1nm~40μm0.8μm~250μm波长测量范围190~1100nm750~850nm感光元件PDA 512ch（电子制冷）CCD 512ch（电子制冷）PDA 512ch（电子制冷）光源规格D2（紫外线）、12（可见光）、D2+12（紫外-可见光）12（可见光）电源规格AC 100V±10V 750VA（自动样品台规格）尺寸4810（H）×770（D）×714（W）mm（自动样品台规格之主体部分）重量约96kg（自动样品台规格之主体部分） 应用范围： FPD -LCD、TFT、OLED（有机EL）半导体、复合半导体 -矽半导体、半导体镭射、强诱电、介电常数材料资料储存 -DVD、磁头薄膜、磁性材料光学材料 -滤光片、抗反射膜平面显示器 -液晶显示器、膜膜电晶体、OLED薄膜 -AR膜其他 -建筑用材料测量范围： 玻璃上的二氧化钛膜厚、膜质分析

产品特点： ? 非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。? 高精度、高再现性测量紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数（n：折射率，k消光系数）。? 宽阔的波长测量范围。（190nm-1100nm）? 薄膜到厚膜的膜厚测量范围。（1nm~250μm）? 对应显微镜下的微距测量口径。产品规格： 标准型厚膜专用型膜存测量范围1nm~40μm0.8μm~250μm波长测量范围190~1100nm750~850nm感光元件PDA 512ch（电子制冷）CCD 512ch（电子制冷）PDA 512ch（电子制冷）光源规格D2（紫外线）、12（可见光）、D2+12（紫外-可见光）12（可见光）电源规格AC 100V±10V 750VA（自动样品台规格）尺寸4810（H）×770（D）×714（W）mm（自动样品台规格之主体部分）重量约96kg（自动样品台规格之主体部分） 应用范围： FPD -LCD、TFT、OLED（有机EL）半导体、复合半导体 -矽半导体、半导体镭射、强诱电、介电常数材料资料储存 -DVD、磁头薄膜、磁性材料光学材料 -滤光片、抗反射膜平面显示器 -液晶显示器、膜膜电晶体、OLED薄膜 -AR膜其他 -建筑用材料测量范围： 玻璃上的二氧化钛膜厚、膜质分析

美国RoadVista 940D反光材料光度测试系统美国RoadVista 940D反光材料光度测试系统是专业为逆反射材料光度测试和反射材料光度测试而设计的材料光度测试系统,为反光材料提供完整的逆反射测试方案,广泛用于汽车照明和光源,反光测试和逆反射材料研发检测.反光材料光度测试系统940D可以与Gamma Scientific公司的flexoptometer联合使用,测量红色和白色频闪式防撞灯的有效强度（流明/米2每秒）和发光强度（新烛光二）,也可以用于路障指示灯或其他警示灯的光度测量。反光材料光度测试系统940D还可以配置伽玛科学该光谱仪系统进行夜间的颜色测量反射镜和空间的颜色测量汽车照明和光源。反光材料光度测试系统940D软件是Windows 7兼容的软件,工作人员能够在几分钟内完成高精度的测量。简化的后向反射测量通过默认的测量序列符合ASTM e809程序A和B，反光材料。或利用SAE配置测量光源如大灯、尾灯、消息和警告灯和LED。单、向量和矩阵的测量容易编程数据采集宏序列文件是可能的。美国RoadVista 940D反光材料光度测试系统特征提供完整、准确的反射测量三轴仪6.5弧秒（0.0018度）的决议符合标准观察Angle Positioner（OAP）3弧秒（0.0008度）符合ASTM和建议用光校正硅探测器感光，F1′＜2%稳定和均匀

BBMS-2000双向反射/透射空间分布测量系统可全方位分析测量材料表面的反射、透射特性，可测参数包括材料的双向透射分布（BTDF）、双向反射分布（BRDF）、反射比分布、透射比分布、总反射（TIR）、总散射（TIS）等，可广泛应用于金属、塑料、纸张、纺织品、玻璃、涂面、光学膜材料等诸多材料的表面光学特性的定量分析，其BRDF/BTDF数据可以导出至光学设计软件中，用于光学系统模拟设计。? 主要特点l 系统通过四轴精密旋转配合，可以实现空间内任意光照方向下的半球反射/透射分布测试；l 绝对法测试，不受样品的形态、光学性质的约束；l 测试光路及计算方法，完全符合ASTM E2387等标准要求。l 测试的BRDF/BTDF数据可以导出至Tracepro等光学设计软件中，用于辅助光学材料或系统的模拟、设计；l 高精度，高稳定度 ；2 接收光路长，接收立体角小，测量不确定度小2 激光光源，能量高、单色性好、准直度高；2 配备监视探测器，消除光源波动对测量的影响；2 探测器动态范围大，测试准确度高；2 机械转轴转动精度高，角度分辨率、重复性好。l 综合分析表面散射性能 2 双向反射分布函数BRDF2 双向透射分布函数BTDF2 反射比分布2 透射比分布2 总反射率TIR2 总散射率TISl 光源自由切换，波长覆盖紫外-可见-近红外范围，实现不同颜色光照下材料表面散射特性的测试，适用于有光谱选择性的样品； l 上位机多功能分析软件，提供多种BRDF/BTDF二维及三维分析图，并配有专用于BSDF分布数据查看软件，提供专业的BSDF数据分析；? 典型测量界面? ? 技术指标 测试类型In-plane/Out-of-plane BSDF测量参数BRDF、BTDF、反射比、透射比、TIR、TIS光源激光，覆盖可见-近红外范围（特殊可定制）光源天顶角t0°~80°光源方位角0°~360°探测器天顶角-85°~85°探测器方位角0°~180°角度分辨率0.01°角度重复精度0.1°动态测量范围? 典型应用：

描述反射和透射一样是物品的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱测量数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美的平整表面上的反射是镜面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，测量物体的反射颜色和化学样品中的成分信息。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的。那些看上去非常晃眼的或者非常光亮的样品表面大多数是镜面反射，因反射光相对入射光而言，角度改变了180度，所以可用光纤来进行取样测量。特点样品放置方便，无须定制样品夹具操作简便、重复性好、检测快速可实时读取透过率值，数据可重复导入读取、使用方便读取反射率值应用测量平整表面的镜面反射材料的光谱透过率配置清单波长范围UV-VISVIS-NIR光谱仪BIM-6002A-01200-900nm，分辨率~1nmBIM-6002A-13400-1100nm，分辨率~1nm光源BIM-6203，氘钨灯光源，230-2500nm光纤SIM-6102-1015-TA/SMA，石英光纤支架BIM-6303，单双臂支架标准板SIM-6326，镜面反射标准板软件BSV光谱分析软件*需要了解各部件的详细参数，请点击表格中的链接测量案例：纸张的光谱反射率不同颜色纸张的光谱反射率

针对高反射率（R99.7%）的光学样品，德国 IPHT Jena研发了光腔衰荡光谱法（Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS）反射率测量测量系统, 它通过对指数型腔内衰荡信号的检测，去掉了传统检测方法中激光能量起伏所引起的误差, 大大提高了测量精度。测量原理当一束脉冲激光沿着光轴入射到光腔内，忽略衍射及散射损耗，单色脉冲光在两个腔镜之间往返振荡，每经过一次循环透射出部分光，探测器通过接收光脉冲信号得到其以单指数形式衰减。τ为衰荡时间，指光子出射脉冲光强衰减为初始光强的1/e时经历的时间。C代表光速，L是代表腔长，RM是两个腔镜的几何平均反射率，散射V和吸收系数α忽略不计。则，衰荡时间τ表示为从公式上可知:1)腔内损耗越小，反射率越高，衰荡时间越长。2)在已知参考片的反射率Rref 前提下，可求得要待测样品的反射率R。一、 德国IPHT CRD高反射率测量系统1. CRD系统介绍系统包含1. 激光光源2. 光学零部件3. A/D转换器4. 探测系统系统要求详细说明激光器波长范围400nm-1064nm内常见激光波长激光器工作模式脉冲测量角度范围标准0°；45°选配反射率测量范围99.9%-99.995%测量精度反射率精度取决于待测样品反射率，精度为（1-R）*10%样品类型平平/平凹镜(凹面的曲率半径≥500mm),平面抛光，凹面镀高反，反射率R在99.9%...99.995%范围内样品尺寸要求标准即1英寸；半英寸/50mm可选（直径要求可根据客户需求定制）标准厚度：1/4英寸（5-7mm可选）应用：准确检测高反射率激光腔镜的反射率，尤其对于反射率大于99.9%的腔镜测量具有更好的效果。

优秀的可见光透射率/反射率测量系统集成的可见光光谱分析仪集成的氙灯，或者卤钨灯，作为光源内置探头可以实现纺织品颜色检测纺织品透过率检测眼镜透过率检测半导体膜厚检测LED灯泡检测等应用举例一：布料反射率测量案例测试系统搭建如上图测试要求，计算近红外区域780-880nm的反射率和可见光区域610-710nm的反射率之比1. 左边是卤钨灯350-2500nm光源，光源由德国进口的灯泡2. 中间是反射式积分球，3. 右侧是采用日本进口滨松探测器的光谱仪器 SPM3-350-1050，波长范围350-1050nm，分辨率最小0.6nm，美国产进口600线光栅4. 搭配电脑，数据通过USB采集测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置1000ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物光谱，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的反射率应用举例二：高分子材料/纳米材料相对石英的反射率测量测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物光谱，此数据表明，样品1和样品2的反射光谱， 样品1（下面一条曲线），350-1000nm范围反射率72%， 样品2（上面一条曲线），350-1000nm范围反射率 82%，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的反射率测试二过程，相对于黑板1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置黑板，采集参比光谱3. 移除黑板，放置被测物，采集被测物光谱，此数据表明，样品1和样品2的反射光谱， 样品1（上面一条曲线），350-1000nm范围相对于黑板的反射率， 样品2（下面一条曲线）相对于黑板的反射率，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的是被测物相对黑板的反射率应用举例三：薄膜材料的透射率测量测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物薄膜的光谱

逆反射测量仪美国Roadvista932逆反射测量仪是为现场操作及实验室分析设计的便携式逆反射系数测试仪。932系列被设计用于测试反光材料的逆反射系数值（RA），包括夜间道路安全标识颜色标准（CIE 1931xy）高亮度反光安全服及其他反光材料。使用者在轻松的按下逆反射测量仪测试按键后，即可准确的告知使用者反光材料的实际逆反射系数值，除此以外，一并可测试反光材料的颜色是否符合颜色定义标准。连续可调的入射角和观测角易于各种反光材料的测试，包括在EN471和ANSI 107标准规范下的高亮度反光服测试。Roadvista932逆反射测量仪内置蓝牙使用。Roadvista932逆反射测量仪使用国际标准的光度滤光器，精确测量时使用1个白板校准板，而不需要设定任何修正系数。逆反射测量仪产品特点：● 简易操作，可测试各种类型的反光材料● 符合ASTM,CIE,ANSI,BS,EN&DIN技术规范● 观测角0.2°~2.0°连续可调● 入射角-45°到+45°连续可调● 世界通用的标准A光源● 仅需一块校正板，无需任何校正参数● 独立的电源供应器和电池● 数字触摸彩屏显示● 内置蓝牙发射器● USB接口● 内置均值计算器● 内置可存储32000组测试数据的记忆体逆反射测量仪技术参数：● 入射角：-45°到+45°连续可调；● 观测角：0.2°到2°● 光源孔径张角：0.1°；● 光感应器孔径张角：0.1°；● 测试区域：直径1英寸（25mm）区域；● 技术规范：符合所有ASTM E1709 ASTM E2540，EN12899要求并遵循ASTMD4956，EN471，ANSI107逆反射测量仪测试规范● 光感应器响应速率：光感应速率与ASTM E1709 6.4.2章及ASTM E2540 6.4.2章；● 量程：0-20000 cd/lx/m2 ● 数据存储：超过32000组测试数据；● 颜色测试：遵循CIE1931 xy retroreflected夜间色坐标；● 电脑相连装置：usb接口和蓝牙发射器；● 电源供应器：removeable12 VDC,2.4Ah；● 充电器：110VAC,60HZ(932-2)● 110VDC车载充电器（932）● 220VAC，50Hz（932）● 环境温度：0°-50°● 环境湿度：0-95%（非凝结）● 外形尺寸：380*115*325mm● 重量：2.9kg（含电池）逆反射测量仪符合标准符合GB 20653、GB/T 28648、EN ISO 20471、EN 471、ANSI 107 等标准规范下的高亮度反光服测试要求。

薄膜的光学特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射测量系统可以用来进行10nm~250µ m的膜厚分析测量，对单层膜的分辨率为0.1nm。根据测量软件的不同，可以分析单层或多层膜厚。产品特点 1、可分析单层或多层薄膜2、分辨率达0.1nm3、适合于在线监测操作理论最常用的两种测量薄膜的特性的方法为光学反射和透射测量、椭圆光度法测量。NanoCalc利用反射原理进行膜厚测量。查找n和k值可以进行多达三层的薄膜测量，薄膜和基体测量可以是金属、电介质、无定形材料或硅晶等。NanoCalc软件包含了大多数材料的n和k值数据库，用户也可以自己添加和编辑。应用NanoCalc薄膜反射材料系统适合于在线膜厚和去除率测量，包括氧化层、中氮化硅薄膜、感光胶片及其它类型的薄膜。NanoCalc也可测量在钢、铝、铜、陶瓷、塑料等物质上的抗反射涂层、抗磨涂层等。

SOC-100 半球定向反射率测量仪（HDR）及其应用软件具有独特的材料光学性能的表征和利用能力，是一套功能强大的半球定向反射率测量工具。配备Nicolet FTIR， SOC-100可提供FTIR所涵盖光谱区域10°到80°入射角的偏振反射和角漫反射测量。使用标准FTIR，所测量光谱区域为2-25μm，也可通过客户定制的FTIR扩展到50μm。同时还具备样品加热功能。测量材料漫反射率的传统技术是利用积分球捕捉漫散射的能量。但由于积分球的固有能量限制，有价值的数据被限制在18μm内。而SOC-100利用2π半椭球以700°C黑体照射样品。一个可移动的顶部反射镜捕获反射能量并准直到FTIR。SOC-100软件使用MS Windows® 界面，驱动FTIR并控制各种数据采集、进程管理、数据归档和报表生成。它与OMNIC软件兼容，还具有附加软件包，可进行光学常数的测定、漫反射涂层的设计、热量分析和红外场景模拟。测量数据：n 10°~80°之间的用户设定角度的平行、垂直及非偏振光束反射率n 测量漫反射和镜面反射，及0°入射的透射率n 温度达500℃和10°~80°角度下，定向发射率的角度-波长-温度函数n 总半球发射率的温度函数应用：n 支持红外图像模拟和红外材料的开发n 鉴定和测量表面污染n 散射和镜面反射检测n 测量散装和粉状物料的偏振反射数据，以计算其光学常数（n，k） n 提供热分析和热传导的温度-波长函数发射率数据n 提供角度至2π球面度的半球完全散射透射率数据软件功能：n 标准软件提供：仪器控制、项目和数据的基础管理；控制Nicolet FTIR的OMNIC软件n 可选的应用软件：光学常数测定、涂层设计分析、红外场景模拟、热分析用途： n 热量传导 n 特征分析 n 涂料研发 n 质量控制 n 定量分析 n 光学测试

‍‍Roadvista 932交通标志逆反射系数测量仪美国Roadvista932交通标志逆反射系数测量仪是为现场操作及实验室分析设计的便携式交通标志逆反射系数测量仪。交通标志逆反射系数测量仪932系列被设计用于测试反光材料的逆反射系数值（RA），包括夜间道路安全标识颜色标准（CIE 1931xy）高亮度反光安全服及其他反光材料。使用者在轻松的按下交通标志逆反射系数测量仪测试按键后，准确的告知使用者反光材料的实际逆反射系数值，除此以外，一并可测试反光材料的颜色是否符合颜色定义标准。连续可调的入射角和观测角易于各种反光材料的测试，包括在EN471和ANSI 107标准规范下的高亮度反光服测试。Roadvista932交通标志逆反射系数测量仪内置蓝牙发射器及USB接口。通过以上装置可以轻松的通过电脑实现远程操控，此外，内置的记忆体可存储超过32000组测试数据。内部的光感应器，符合ASTM E1709和ASTM E2540规范的要求，符合CIE标准的人眼反应系数。光感应器与CIE照明标准A光源连接使用。交通标志逆反射系数测量仪使用国际标准的光度滤光器，精确测量时使用1个白板校准板，而不需要设定任何修正系数，这安全超越了竞争对手。产品特点● 简易操作，可测试各种类型的反光材料● 符合ASTM,CIE,ANSI,BS,EN&DIN技术规范● 观测角0.2°~2.0°连续可调● 入射角-45°到+45°连续可调● 世界通用的标准A光源● 仅需一块校正板，无需任何校正参数● 独立的电源供应器和电池● 数字触摸彩屏显示● 内置蓝牙发射器● USB接口● 内置均值计算器● 内置可存储32000组测试数据的记忆体技术参数● 入射角：-45°到+45°连续可调；● 观测角：0.2°到2°● 光源孔径张角：0.1°；● 光感应器孔径张角：0.1°；● 测试区域：直径1英寸（25mm）区域；● 技术规范：符合所有ASTM E1709 ASTM E2540，EN12899要求并遵循ASTMD4956，EN471，ANSI107测试规范；● 光感应器响应速率：光感应速率与ASTM E1709 6.4.2章及ASTM E2540 6.4.2章；● 量程：0-20000 cd/lx/m2 ● 数据存储：超过32000组测试数据；● 颜色测试：遵循CIE1931 xy retroreflected夜间色坐标；● 电脑相连装置：usb接口和蓝牙发射器；● 电源供应器：removeable12 VDC,2.4Ah；● 充电器：110VAC,60HZ(932-2)● 110VDC车载充电器（932）● 220VAC，50Hz（932）● 环境温度：0°-50°● 环境湿度：0-95%（非凝结）● 外形尺寸：380*115*325mm● 重量：2.9kg（含电池）符合标准交通标志逆反射系数测量仪符合GB 20653、GB/T 28648、EN ISO 20471、EN 471、ANSI 107 等标准规范下的高亮度反光服测试要求。‍‍

ATR1000自动透反射率测量仪支持透过率和反射率测量，可给出光谱曲线，用于实时测试样品的紫外到近红外波段（最宽可达200-2500nm）的透过率和反射率。ATR1000采用一体化设计，采用内置固定光纤，光路稳定，样品仓可以完全封闭，把外界光的影响降到最低。软件操作简单，可通过设置阈值自动判断测试结果是否合格，广泛应用于光学玻璃、半导体等行业，测试毛糙样品时，可按照客户要求配备积分球。产品特点◆能对多点进行全自动定位测量，实时数据采集◆ 可以测量整段光谱，能选取六个光谱的透过率或反射率，设置阈值自动判定检测结果◆ 可根据样品要求配备积分球◆ 灵活搭配的透/反射测量方案◆ 操作简单，容易更换样品◆ 采用内置固定光纤，光路稳定应用领域半导体激光器腔面高反射涂层 太阳能电池 硅片、晶圆光学玻璃、薄膜 屏幕面板 涂料珠宝玉石 纺织品技术参数

标准规范：AASHTO TP111产品简介：车载逆反射测量仪LTL-M 在模拟30m距离以高精度级别测量各种道路标线。LTL-M安装在汽车上以正常行驶速度测量道路标线的逆反射性能，并提供道路标线状态的全景图，且能够获得±5%的测量精度。车载逆反射测量仪LTL-M 采用新的传感器技术，是稳健、可靠和先进的仪器。这项技术通过为车辆行驶内置光学补偿来确保高精度的测量，而不是依靠系统的几何变化。车载逆反射测量仪LTL-M 由三部分组成：● 安装在汽车外侧的传感器，包括照相机、闪光灯和GPS● 放置在汽车里的处理器● 放在驾驶员旁边的GUI（图形用户界面）平板电脑 GUI平板电脑车载逆反射测量仪LTL-M 可测量干燥、潮湿环境下的RL（夜间可见度）和白天对比度，也可记录线几何和缺少或者有故障的道路猫眼（RRPMs）。该仪器无需调整就可测量各种类型和颜色、断面高度高达15mm的道路标线，测量期间可以提供给司机暂停和标记测量的选项。该仪器带有内置的GPS,也可以配置相机，这样可以精确定位并从视觉上检查问题区域。LTL-M视频图像测量结果、GPS数据和其他已记录的数据会自动存储到LTL-M自带的计算机中。如果需要，该系统在操作期间将会提供给司机暂停和标记测量的选项。随机软件能够生成一个易读的测量报告，可以将测量数据导出到EXCEL。当有更高级的道路标线分析软件推出时，LTL-M也可以进行软件升级。车载逆反射测量仪LTL-M 符合以下标准：EN 1436和ASTM E1710和EM 463-1车载逆反射测量仪LTL-M 特点简介：● 提供标线的全宽度连续测量● 测量日间对比度，干燥和潮湿的环境下的夜间可见度RL● 测量范围1*1米，能够同时测量两条标线● 精度和手持式逆反射测量仪一样● 通过平板电脑控制仪器和标定，无线方式数据传输 ● 测量平滑型和断面型标线，高度达25毫米，能测试的最大断面15mm● 测试过程中随时进行标记，显示和存储日期和时间● 记录道路猫眼（RRPMs）● 记录线几何形状和标线单位off-set● 提供1米到无限距离之间的平均值● 当车辆颠簸时，测试仪能够根据颠簸情况自动上下调整，以确保测试角度正确车载逆反射测量仪LTL-M 技术参数：光学参数测量区域：● 宽度： 1000mm/39.4inch● 到路面的照射角： 1.24°● 到路面的观测角 ： 2.29°照射角范围：● 水平： 0.33°● 垂直： 0.17°● 观察角范围： ±0.17°● 同等观察距离： 30m● RL范围(mcd?m-2?|x-1)： 0-2000 仪器尺寸：● 长度： 500 mm/19.7 inch● 宽度： 200 mm/7.9 inch● 高度： 300 mm/11.8 inch● 重量： 15 Kg/33 lbs车载逆反射测量仪LTL-M 校准标准：车载逆反射测量仪LTL-M 已经在DELTA经过认证的国家级实验室标定，完全符合PTB（联邦物理技术研究院，德国）和NIST（国家标准技术研究院，美国）颁布的标准，推荐的仪器日常标定可以简单而方便的进行。Delta在仪器产地提供标准服务和在经认证的国家级实验室对标定块进行重新标定。

汽车玻璃透反射测量系统简介该系统是集成光谱仪、反射光源、透射光源、CCD、高精度模组、运动控制软件为一体的自动化测试系统，应用于车载玻璃的反射率，透过率测试及获取相应状态下的色坐标。1、 系统主要测试参数玻璃反射率，透过率数据及相应状态下的色坐标等数据2、 系统特点&bull 采用高精度运动模组，直线位移精度±0.01mm，旋转精度优于0.1°&bull 支持大尺寸玻璃、模组测试&bull 支持直屏、曲屏测量&bull 通过标准白板标定反射率测量&bull 支持数据溯源&bull 可根据阈值自动判断OK/NG3、测试原理

时域热反射测量系统 (TDTR 测试系统）飞秒激光时域热反射测量技术，即Time-domain Thermoreflectance, TDTR 是一种基于飞秒超快激光抽运探测（pump-probe）技术的导热测量技术。相比于其他导热测量技术，目前TDTR技术因其可以测量纳米薄膜热导率和界面热阻以及非接触式测量特性而具有独特优势。我司新推出的时域热反射测量系统可用于测量金属薄膜、块体或液体的热导率、界面热阻等多项热物性参数，薄膜测量厚度可达纳米量级！在微纳结构新材料的研发与分析等方面得以越来越广泛的应用。 系统通过利用飞秒激光照射样品表层金属薄膜，令薄膜吸收能量并将其转化为热能， 从而传导给样品，并随时间尺度逐渐向样品传递。金属薄膜表面温度随时间回落，从而影响到其反射率。届时再通过测量另一束探测激光的反射强度曲线，通过后续一系列的解调分析，即可得到金属薄膜温度随时间的变化，进而获得被测样品的导热特性和相关热物性参数等。产品特点：超快动态测量过程，nm级厚度样品测量各项异性热导率测量纳米材料界面热阻材料（石墨烯合金等界面热阻测量）高温高压外场测量（Gpa 高压环境 1000℃ 外场环境兼容）本系统采用了长行程线性位移台，可以实现较高时间分辨率的热响应测量；双波长激光分别进行泵浦和探测，降低了加热和探测过程之间的干扰；调制和锁相的使用进一步保证了微小热响应信号的捕捉和测量；ccd显微可视技术则能够精确控制具有微观结构样品的测量。关键核心技术高分辨率时域热反射技术双波长抽运探测技术调制锁相放大技术光路共享CCD显微可视技术高集成度分体式模块化设计高灵活度样品位设计可测材料：块体材料薄膜材料可测参数：热导率热扩散率吸热系数界面热阻应用：材料分析薄膜的热物性参数测量系统规格：热导率测量范围 0.1~2,000 Wm-1K-1热扩散率测量范围0.05~1,000 mm2s-1可测薄膜厚度 ＞10 nm吸热系数 500~50,000 Jm-2K-1s-0.5

‍‍Roadvista反光标志逆反射系数测量仪美国Roadvista932反光标志逆反射系数测量仪|反光膜测试仪是为现场操作及实验室分析专业设计的便携式逆反射系数测试仪。932系列被设计用于测试反光材料的逆反射系数值（RA），包括夜间道路安全标识颜色标准（CIE 1931xy）高亮度反光安全服及其他反光材料。使用者在轻松的按下测试按键后，准确的告知使用者反光材料的实际逆反射系数值，除此以外，一并可测试反光材料的颜色是否符合颜色定义标准。连续可调的入射角和观测角易于各种反光材料的测试，包括在EN471和ANSI 107标准规范下的高亮度反光服测试。Roadvista932反光标志逆反射系数测量仪|反光膜测试仪内置蓝牙发射器及USB接口。通过以上装置可以轻松的通过电脑实现远程操控，此外，内置的记忆体可存储超过32000组测试数据。内部的光感应器，符合ASTM E1709和ASTM E2540规范的要求，符合CIE标准的人眼反应系数。光感应器与CIE照明标准A光源连接使用。Roadvista932逆反射系数测试仪使用国际标准的光度滤光器，精确测量时使用1个白板校准板，而不需要设定任何修正系数，这安全超越了竞争对手。产品特点● 简易操作，可测试各种类型的反光材料● 符合ASTM,CIE,ANSI,BS,EN&DIN技术规范● 观测角0.2度TO2.0度连续可调● 入射角-45度到+45度连续可调● 世界通用的标准A光源● 仅需一块校正板，无需任何校正参数● 独立的电源供应器和电池● 数字触摸彩屏显示● 内置蓝牙发射器● USB接口● 内置均值计算器● 内置可存储32000组测试数据的记忆体技术参数● 入射角：-45度到+45度连续可调；● 观测角：0.2度到2度● 光源孔径张角：0.1度；● 光感应器孔径张角：0.1度；● 测试区域：直径1英寸（25mm）区域；● 技术规范：符合所有ASTM E1709 ASTM E2540，EN12899要求并遵循ASTMD4956，EN471，ANSI107测试规范；● 光感应器响应速率：光感应速率与ASTM E1709 6.4.2章及ASTM E2540 6.4.2章；● 量程：（cd/lx/m2）:0-20000 ● 数据存储：超过32000组测试数据；● 颜色测试：遵循CIE1931 xy retroreflected夜间色坐标；● 电脑相连装置：usb接口和蓝牙发射器；● 电源供应器：removeable12 VDC,2.4Ah；● 充电器：110VAC,60HZ(932-2)● 110VDC车载充电器（932）● 220VAC，50Hz（932）● 环境温度：0度-50度● 环境湿度：0-95%（非凝结）● 外形尺寸：380*115*325mm● 重量：2.9kg（含电池）符合标准符合GB 20653、GB/T 28648、EN ISO 20471、EN 471、ANSI 107 等标准规范下的高亮度反光服测试要求。随着中小学生的交通安全问题越来越严重，近期中国标委会发布了GB/T28468-2012 中小学生交通安全反光校服 测试技术规范和标准。里面特意提到用反光材料老保护道路学生行走安全，里面一项特别重要的测试指标是逆反射系数的测定。目前中国很多地区的纤维检验局，纤维检验所购买罗中科技代理的美国Roadvista品牌的逆反射系数测试仪进行该标准的测试。‍‍

RT100透反射率测量仪支持透过率和反射率测量，给出光谱曲线，可用于测试样品的紫外到近红外波段（最宽可达200-2500nm）的透过率及反射率。采用一体式设计，样品仓可以完全闭合，把外界光的影响减到最低。软件简单易用，自动判断测量结果是否合格。RT100广泛地用于光学玻璃、薄膜、显示、触摸屏、手机盖板等行业。配备积分球，可用于具有毛糙表面的样品反射光谱和透射光谱测试，如聚光玻璃、毛玻璃等。仪器特点●灵活搭配的透/反射测量方案●极宽的光谱测量范围：200nm-2500nm； ●简单、易操作、易更换样品做测试●可以支持带积分球测量模式和不带积分球测量模式● 采用高精度光谱测量技术，精度高、测量速度快、稳定性好；● 自带校正及标定功能，方便用户自行校零和定标；●软件 可以测量整段光谱曲线，自动获取6个光谱位置透过率反射率数值，可设阈值自动判定结果。应用领域●固态样品 ●液态样品 ●汽车零部件 ●光学元件 ●镀膜 ●滤光片 ●珠宝 ●涂料 ●特种玻璃 ●各类薄膜 ●手机、平板各类型玻璃 ●聚光玻璃、毛玻璃、镜片主要参数●电源及插头：能在220V±10%，50Hz供电条件下连续工作。仪器设备的插头应符合中国国家标准，否则应提供适合仪器插头的插座。●工作环境：10-35℃、相对湿度10-80%（无结露）●光谱范围：380-1050nm（最宽可达200-2500nm，可以根据客户的要求定制范围）。●样品台尺寸：195 x 160 mm (W x D)。●带封闭样品仓，减少外界光线对测量结果的影响。●光源：高性能卤素灯（可根据光谱范围和样品特性定制光源）。●RT100软件：可以测量整段光谱曲线，可以自动获取6个光谱位置的透过率、反射率数值，设定阈值自动判断测量合格与否。

光化学反射指数(PRI)测量仪可在近地面对植物冠层光化学反射指数（PRI）进行长期定位监测，是研究植物冠层水平叶黄素循环的理想手段。PRI测量仪制作工艺考究、坚固耐用，可在各种恶劣天气条件下正常工作；其体积小巧，安装简易方便；性价比高，适合多处布点。 工作原理光化学反射指数（PRI）是由冠层对532nm的反射率与570nm的反射率之差比上两者之和计算得到，因此需同时安装向上和向下两个传感器来计算冠层对这两个波长的反射率。向上的PRI传感器检测532nm和570nm的光照强度。测量结果代表了来自天空的入射光强度。传感器经过了余弦校正，具有半球视场。安装时须保证视场内只有天空，没有冠层和其他地物。向下的PRI传感器也是检测532nm和570nm的光照强度。测量结果代表了来自冠层的反射光强度。传感器的视野范围被限定在35°以内，这种限定使得传感器可以准确朝向待测冠层。产品特点耗电量低性价比高支持SDI-12通讯协议自动测量、收集数据，校准信息保存在传感器内环氧树脂密封工艺，防水，耐受恶劣天气，可在野外长期布设若使用ZL6数据采集器，可通过互联网终端实现远程数据查看和下载应用领域研究植物冠层光能利用效率估算生态系统总初级生产力研究碳通量的空间分布研究冠层干旱、疾病或其他胁迫 技术参数校准系数（灵敏度的倒数）逐个传感器校准，数据存储在固件中校准不确定性± 5 %波长范围绿光检测器 532 nm，半峰宽（FWHM）10 nm黄光检测器 570 nm，半峰宽（FWHM）10 nm测量范围2倍全日照测量重复性 1 %长期漂移每年 2 %响应时间 0.6 s视场范围S2-421-SS (向上): 180°S2-422-SS (向下): 35°方向（余弦）响应± 2 % @ 45°, ± 5 % @ 75° 天顶角温度响应 0.1 % 每 ℃输出SDI-12供电5.5 ~ 24 V DC外壳带有丙烯酸散射盖的阳极铝IP防护IP68工作环境-40 ~ 70 ℃ 0 ~ 100 % RH尺寸S2-421-SS (向上): 直径30.5 mm, 高37 mm；S2-422-SS (向下): 直径23.5 mm, 高43 mm重量（包含5米缆线）S2-421-SS (向上): 140 g；S2-422-SS (向下): 110 g缆线5米屏蔽双绞线；TPR护套（高耐水性、高紫外线稳定性、在寒冷条件下的灵活性）；引线；不锈钢（316），ZL6立体声接口兼容数采（须另购）METER EM60 系列, ZL6 系列, ZSC, ProCheck, Campbell Scientific订购指南传感器：S2-421-SS向上半球视野传感器，S2-422-SS向下视场光阑传感器数采：ZL6数据采集器。另有归一化植被指数(NDVI)传感器可选购。相关产品SRS-NDVI 归一化植被指数测量仪产地与厂家：美国METER公司