电泳迁移率实验

仪器简介： ZetaPlus采用的是电泳光散射原理：带电颗粒在外加电场作用下进行运动，电荷运动使散射光产生频率漂移(多普勒频移),采用频谱漂移分析技术,从而可计算出颗粒的电泳迁移率和Zeta电位。 技术参数： 1.电泳测量适用粒度范围：0.001-100μm 2.样品体积：0.18～1.5ml 3.pH值测量范围：1-14 4.电导率范围：0-20S/m 5.电泳迁移率范围：10-10～10-7m2/V.s 6.温度控制：-5 ～110℃,±0.1℃ 7.电场强度：0～3.2 kV/m 8)电极：耐腐蚀性开放式电极，电极材料纯钯； 9.激光源：35mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）； 10.检测器：PMT或APD； 11.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数； 选件： 1.粒度升级：具有粒度纳米粒度测量功能；4.自动滴定仪：可对PH值、电导率和添加剂浓度作图；5.介电常数仪：直接测最溶剂的介电常数值；6.粘度计：用于测量溶剂及溶液的粘度； 7.21CFR软件 符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料； 主要特点：ZetaPlus是简单、方便而且准确的电泳迁移率测量仪器，其独特的开放式样品池设计与频谱漂移分析技术相结合，使其具有极高的分辨率，足以分辨等电点附近的多峰电泳分布情况。它的革新之处是从根本上消除了传统Zeta电位测量仪器中固有的电渗误差的影响，从而使测量变得准确而方便。 典型应用：1.蛋白、缩氨酸、胶束、多糖、药物制备、脂质体、外切酶体；2.聚合物胶乳、微乳液、油包水、水包油体系；3.涂料、颜料、油漆、食品、化妆品配方；4.陶瓷、耐火材料、炭黑、废水处理。

仪器简介：PALS技术是由布鲁克海文仪器公司开发的一项全新Zeta电位测量技术。与传统基于频移技术的光散射方法相比， 灵敏度可提高约1000倍。许多从事新材料、 生命科学、 环境工程等新兴学科的研究人员长期以来苦于无法对诸如在低介电常数、 高粘度、 高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品进行分析， 这就是因为其电泳迁移率比通常水相条件下低10-1000倍，传统方法没有足够的分辨率进行测量。 ZetaPALS的出现为他们提供了准确可信的测量技术。 技术参数：1.电泳测量适用粒度范围：0.001-100μm 2.样品体积：0.018～1.5ml 3.pH值测量范围：1-14 4.电导率范围：0-30S/m 5.电泳迁移率范围：10-11～10-7m2/V.s 6.温度控制：-5 ～110℃,±0.1℃ 7.电场强度：0～3.2 kV/m 8)电极：耐腐蚀性开放式电极(毛细管电极可选)，电极材料纯钯；9.激光源：40mW固体激光器(激光器波长和功率可定制)；10.检测器：PMT或APD；11.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数； 选件：1.粒度升级：具有粒度纳米粒度测量功能；4.自动滴定仪：可对PH值、电导率和添加剂浓度作图；5.介电常数仪：直接测最溶剂的介电常数值；6.粘度计：用于测量溶剂及溶液的粘度；7.21CFR软件 符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料； 主要特点：ZetaPALS是目前能够精确测量低电泳迁移率体系的Zeta电位分析仪器，它采用的是真正的硬件PALS (Phase Analysis Light Scattering, 相位分析光散射）技术， 比其它测量Zeta电位的技术 灵敏度高约1000倍！ 典型应用：1.蛋白、缩氨酸、胶束、多糖、药物制备、脂质体、外切酶体；2.聚合物胶乳、微乳液、油包水、水包油体系；3.涂料、颜料、油漆、食品、化妆品配方；4.陶瓷、耐火材料、炭黑、废水处理。

仪器简介： 90Plus Zeta纳米粒度及Zeta电位分析仪，粒度测量采用动态光散射原理，是一种准确、快速、便捷的纳米、亚微米粒度分析测试仪器。Zeta电位测量采用电泳光散射原理，带电颗粒在外加电场作用下进行运动，电荷运动使散射光产生频率漂移(多普勒频移),采用频谱漂移分析技术,从而可计算出颗粒的电泳迁移率和Zeta电位。 技术参数： 1.粒度范围：0.3nm～15μm（与折射率，浓度，散射角有关）； 2.样品类型：任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中)；3.样品体积：1～3ml，50μL微量样品池，10μL微量样品池（最新）； 4.分子量测定范围：342～2*107Dalton； 5.温控范围：-5℃～110℃,±0.1℃； 6.激光源：35mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）； 7.检测器：APD或PMT；8.相关器：4*1011线性通道，支持两路互相关； 9.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数； 10.散射角：15°和90°；11.电泳测量适用粒度范围：0.001-100μm；12.电导率范围：0,20S/m；13.电泳迁移率范围：10 -10-10 -7 m2 /V.s；14.pH测量范围：1-14； 选件： 1.微流变：检测弱结构溶液的粘弹性信息；2.实时在线测量：粒度及Zeta电位实时在线测量；3.自动滴定仪：可对PH值、电导率和添加剂浓度作图；4.粘度计：用于测量溶剂及溶液的粘度； 5.21CFR软件 符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料； 主要特点： 1.高灵敏性，粒度测量范围：0.3nm～15μm；2.插入式电极，耐腐蚀，可重复使用； 3.可作为在线检测器与GPC/SEC连接，并通过SLS、DLS、光强和粒径监测聚集过程； 4.综合最新最全的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度测量软件； 5.强大的数据分析功能，可自动研究粒度随时间、温度(蛋白熔点)以及其他参数变化的趋势分析. 典型应用：1.蛋白、缩氨酸、胶束、多糖、药物制备、脂质体、外切酶体；2.聚合物胶乳、微乳液、油包水、水包油体系；3.涂料、颜料、油漆、食品、化妆品配方；4.陶瓷、耐火材料、炭黑、废水处理。

Zetasizer Pro纳米粒度仪是一款功能强大、用途广泛的常规实验室测量解决方案，可测量颗粒粒度、分子大小、电泳迁移率、Zeta 电位和分子量。 与以往型号相比，其粒度测量速度超过以往的两倍，加快了样品处理速度。由于采用非侵入背散射 (NIBS) 光学设计，该技术将背散射检测技术与可变测量位置和高效光纤技术结合在一起，与传统DLS相比，显著增加了样品浓度范围和粒度的测量范围。 滤光片转盘提供荧光滤光片以及垂直和水平偏振片，以实现分析灵活性。特点和优点凭借以下优势，即使刚入门的用户也能使用 Zetasizer Pro 纳米粒度电位仪完成高质量的测量：动态光散射 (DLS) 用于测量从0.3 nm 到 10 μm 的颗粒和分子的粒度及粒度分布 电泳光散射 (ELS) 用于测量颗粒和分子的Zeta电位，以显示样品稳定性和/或团聚倾向性非侵入背散射 (NIBS) 技术显著扩大了动态范围，即使是处理非常浓缩的样品，也能实现高灵敏度具有恒流模式的M3-PALS可以在高导电介质中测量Zeta电位和电泳迁移率 以样品为中心的ZS Xplorer软件可以实现灵活的指导式使用，并可轻松构建复杂的模型 “自适应相关”算法能生成可靠且可重复的数据，同时计算速度超过以往的两倍，可在减少样品制备的情况下更快速地执行更多可重现的粒度测量，实现更具代表性的样品视图通过深度学习实现的数据质量系统可以评估粒度数据质量问题，并针对如何改进结果提供明确的建议滤光片转盘提供荧光滤光片以及垂直和水平偏振片，以实现分析灵活性 如果您的需求发生改变，可现场升级到Zetasizer Ultra 可选的 MPT-3 自动滴定仪可帮助研究 pH 值变化的影响一系列可抛弃及可重复使用的样品池可优化不同样品体积和浓度的测量主要应用Zetasizer Pro 应用广泛，包括：学术界 Zetasizer纳米粒度分析仪是全球众多学术实验室的重要分析工具，广泛用于需要分析颗粒或分子大小以及 Zeta 电位的应用领域。 Zetasizer应用领域广泛，被科学文献引用的次数达上万次，成为许多科研机构的核心设备。生命科学和生物制药 在生物制药应用中，温度或pH值变化、 搅拌、剪切和时间都会影响生物分子的 稳定性，造成变性和聚集、功能丧失， 还可能会产生不良免疫反应。Zetasizer纳米粒度仪提供快速的纯度和稳定性筛选，并可协助配方开发， 从而优化流程和产品，消除风险。食品和饮料 Zetasizer纳米粒度分析仪用于分析颗粒粒度和Zeta电位，以改善食品、饮料和调味料的外观及味道，并优化分散和乳化稳定性，从而延长产品保存期限，提高产品性能。纳米材料 Zetasizer纳米粒度仪所测量的纳米颗粒粒度分布、分散特性、稳定性和团聚倾向是新纳米材料设计的关键。 此类材料的超大表面积可能会带来新的物理和化学性质，比如更高的催化活性和溶解度，或者出乎意料的光学或毒理学性质。油漆、油墨及涂料 油漆、油墨及涂料配方必须稳定，以使它们在一段时间内不会发生变化或团聚。 Zetasizer纳米粒度分析仪测量的颗粒粒度和Zeta电位在确定产品特性（例如分散性、颜色、强度、光洁度、耐久性和保存限期）方面起着至关重要的作用。药物和给药粒度和Zeta电位检测有助于确保安全有效的治疗。Zetasizer纳米粒度仪用于表征分散体系、乳化液和乳膏的稳定性和质量，从而减少配方时间，加快新产品上市。消费品改良多种消费品时，需要了解和控制胶体参数，引导颗粒间的相互作用，并改善产品的稳定性和性能。其中一个例子是胶束和乳液的粒度和电荷对化妆品和洗涤剂性能的影响。Zetasizer纳米粒度分析仪可表征表面活性剂的胶束大小、电荷和临界胶束浓度， 并测量乳液的液滴大小和稳定性。

BeNano Zeta电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系Zeta电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理，样品分散在样品池中，在样品池两端施加一个电场，通过激光照射到电场中的样品上，光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移，进而得到体系的 Zeta 电位信息。基本性能指标Zeta电位测试技术相位分析光散射检测角度12°Zeta范围无实际限制电泳迁移率范围±20μm.cm/v.s电导率范围0-260mS/cm最小样品量0.75mL-1.0mLZeta测试粒度范围2nm-120μm系统参数温控范围-15°C-110°C，精度±0.1°C激光光源50mW高性能固体激光器，671nm相关器最多4000通道，1011动态线性检测器APD，高性能雪崩光电二极管光强控制0.0001%-100%，手动或自动软件中文和英文符合21CFR Part 11★取决于样品和选件检测参数● Zeta电位● Zeta电位分布检测技术● 电泳光散射● 相位分析光散射相关技术相关应用

翌圣 HET高通量水平电泳槽是用来对核酸样本进行琼脂糖凝胶电泳的装置，可用于生化分析研究中对电荷粒子进行分离、提纯或制备。适合鉴定、分离、制备 DNA，以及测定其分子量。本品配置多用途制胶槽，可以倒置6.5×6.5 cm、6.5×13 cm、13×6.5 cm、13×13 cm等不同尺寸的凝胶。配备9把不同齿数和厚度的梳子，制备好的各种大小的琼脂糖凝胶均可以放在水平电泳槽的平台上进行电泳。 产品特点高透明度、高强度耐高温、耐腐蚀、不易磨损电极导电性好承载凝胶面积大结构信息 基本参数主槽尺寸300×155×100 mm托盘面积（W*L）标配：13×13 cm, 13×6.5 cm6.5×13 cm, 6.5×6.5 cm梳子7+7/14孔，0.75 mm厚9+9/19孔，0.75 mm厚12+12/27孔，1.0 mm厚7+7/13孔， 1.5 mm厚9+9/19孔， 1.5 mm厚3+3/3+2孔, 2.0 mm厚可同时制胶数1-4块缓冲液1000 mL最大电压200 V最大功率40 W 操作指南1) 将制胶架放在一个水平的桌面上，然后将凝胶托盘放到制胶架中特定的区域，之后将梳子插入相应的孔位。根据需要，可选择四种规格的凝胶：13×13 cm，13×6.5 cm，6.5×13 cm，6.5×6.5 cm；2) 根据被分离目的带的大小，用TAE或TBE电泳缓冲液配制适宜浓度的琼脂糖溶液，轻轻混匀后放入微波炉或沸水浴中进行加热融化。然后加入相应的核酸染料，或后续将琼脂糖胶泡在核酸染料中，进行观察；3) 待凝胶稍微冷却后，将融化好的琼脂糖溶液缓慢倒入凝胶托盘中，胶厚度以3～5 mm 为宜；【注】：胶内不能有气泡。4) 室温下放置30～45 min（待凝胶略凝结时，也可以放入4℃冰箱，缩短凝结时间），待凝胶凝结后，小心拔出梳子，将凝胶放入电泳槽内（也可将凝胶托盘一并放入电泳槽内），加样孔一侧靠近阴极(黑色一端)。5) 向电泳槽内加入电泳缓冲液，至少没过凝胶1-2 mm，TAE或TBE缓冲液应及时更换；6) 用移液枪将样品加入样品孔内；【注】：核酸样品提前混入一定量的上样缓冲液，同时加上Marker作为对照。7) 加样完毕后，盖好电泳槽上盖（根据极性，红色为“+”极，黑色为“－”极），连接电泳仪电源。给予5～8V/cm 的电压（建议：每厘米凝胶电压不超过8V，若电压过高，凝胶液过热会导致分辨率降低，只有在低电压时，线性核酸分子的电泳迁移率与所用电压成正比），其中距离以阳极至阴极之间的测量为准。【注】：电泳时间取决于胶的长度、电压和样品片段的大小：胶越长，电压越低，样品片段越大，所需时间就越长。8) 根据指示剂判核酸迁移位置，电泳完毕，关上电源，双手按住正负极指示钮，四指提上盖底部边缘突出部分，打开上盖后取出凝胶。直接放在凝胶成像系统中观察，或将琼脂糖凝胶泡在核酸染料一定时间后进行观察。 维护保养1. 产品应贮存在温度-20℃~55℃、相对湿度不超过93%、无腐蚀性气体和通风良好的室内；2. 电极头弄湿后，请尽快用吸水纸擦干，以防生锈；3. 仪器使用后，请将凝胶托盘、下槽、制胶器和梳子小心清洗干净；4. 请不要让电泳仪接触酸或碱溶液，以防对仪器造成腐蚀，损坏仪器；5. 运输、贮存时请勿重物压。搬动时，请轻拿轻放。 故障分析故障现象故障分析故障处理开机后样品无迁移电泳缓冲液多次使用后，缓冲能力减弱，从而影响电泳效果经常更换电泳缓冲液。电泳条件不合适电压不应超过8 V/cm；选择合适缓冲能力的缓冲液。核酸上样量过多减少样品上样量。样品含盐过高电泳前通过乙醇沉淀除去多余。有蛋白污染电泳前酚抽提除去蛋白。核酸变性电泳前请勿高温加热样品；用20 mM NaCl缓冲液稀释核酸。目的带迁移不规则电泳条件不合适电泳时电压不应该超过8 V/cm；经常更换电泳缓冲液。核酸变性电泳前请勿高温加热样品；用20 mM NaCl缓冲液稀释。目的带弱样品上样量不够增加样品上样量。核酸降解避免核酸酶的污染。凝胶成像系统波长选择不正确根据核酸染料的性质选择合适的仪器或波长进行凝胶成像。目的带缺失目的带跑出凝胶缩短电泳时间，降低电压，增强凝胶浓度。分子大小相近目的带分不开增加电泳时间，使用正确的凝胶浓度。核酸变性电泳前请勿高温加热样品；用20 mM NaCl缓冲液稀释。样品泳道不直凝胶没有完全凝固凝胶凝固至少30~40 min。凝胶有气泡制胶时注意凝胶不能有气泡。制胶时，梳子齿放歪了重新制胶，确认梳子放正。高分子量条带清楚，低分子量条带弥散胶浓度低使用合适浓度胶；换用丙烯酰胺胶来分离。样品条带弥散样品中的盐浓度高减少样品盐浓度。电泳温度太高降低电压或者重新配置缓冲液。上样量太多增加胶厚度或调整合适上样量。样品降解重新准备样品。 HB220531

简单介绍： ZetaPlus是简单、方便而且准确的电泳迁移率测量仪器，其独特的开放式样品槽设计与频谱漂移分析技术相结合，使其具有极高的分辨率，足以分辨等电点附近的多峰电泳分布情况。它的革新之处是从根本上消除了传统Zeta电位测量仪器中固有的电渗误差的影响，从而使测量变得准确而方便。详细说明：NanoBrook产品系列项目90Plus90Plus ZetaZetaPlus功能粒度测量功能●●○分子量测量功能●●○Zeta电位测量功能○●●技术参数粒度测量范围0.3nm-6μm○分子量测定范围342～2×107Dalton○散射角15°与90°○相关器4×522个物理通道，4×1011个线性通道○适用粒度范围○1nm～100μmZeta电位测量范围○－500mV～500mV电导率范围○0-20S/m电泳迁移率范围○10-10～10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度－5～110℃，±0.1℃激光源35mW固体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm（H）×427mm（W）×481mm（D），15kg选件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度●代表“有” ○代表“无”工作原理ZetaPlus采用的是电泳光散射原理：带电颗粒在外加电场作用下进行运动，电荷运动使散射光产生频率漂移（多普勒频移）,采用频谱漂移分析技术,从而可计算出颗粒的电泳迁移率和Zeta电位。典型应用1.脂质体、生物胶体、医药2.陶瓷、胶乳、乳剂（食品、化妆品）3.颜料、油墨、炭黑技术参数1.Zeta电位部分：1）Zeta电位测量适用粒度范围：0.001-100μm2）样品体积：0.18～1.5ml3）pH值测量范围：1-144）电导率范围：0-20 S/m5）电泳迁移率范围：10-10～10-7m2 /V.s6）温度控制：-5～110℃, ±0.1℃7）电场强度：0～3.2 kV/m8）电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯2.粒度及分子量测量部分：1）粒度范围：0.3nm～6μm（与折射率，浓度，散射角有关）2）典型精度：1％3）样品类型：任何胶体范围大小的颗粒（悬浮于清液中）4）样品体积：1～3ml5）分子量测定范围：1×103～2×1076）激光源：35mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）7）检测器：PMT或APD8）相关器：1011线性通道；动态可变采样时间、延迟时间、通道分配等技术；4通道输入；支持两路互相关。

仪器简介：PALS技术是由布鲁克海文仪器公司开发的一项全新Zeta电位测量技术。与传统基于频移技术的光散射方法相比， 灵敏度可提高约1000倍。许多从事新材料、 生命科学、 环境工程等新兴学科的研究人员长期以来苦于无法对诸如在低介电常数、 高粘度、 高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品进行分析， 这就是因为其电泳迁移率比通常水相条件下低10-1000倍，传统方法没有足够的分辨率进行测量。 ZetaPALS的出现为他们提供了准确可信的测量技术。 技术参数：1.电泳测量适用粒度范围：0.001-100μm 2.样品体积：0.018～1.5ml 3.pH值测量范围：1-14 4.电导率范围：0-30S/m 5.电泳迁移率范围：10-11～10-7m2/V.s 6.温度控制：-5 ～110℃,±0.1℃ 7.电场强度：0～3.2 kV/m 8)电极：耐腐蚀性开放式电极(毛细管电极可选)，电极材料纯钯；9.激光源：40mW固体激光器(激光器波长和功率可定制)；10.检测器：PMT或APD；11.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数； 选件：1.粒度升级：具有粒度纳米粒度测量功能；4.自动滴定仪：可对PH值、电导率和添加剂浓度作图；5.介电常数仪：直接测最溶剂的介电常数值；6.粘度计：用于测量溶剂及溶液的粘度；7.21CFR软件 符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料； 主要特点：ZetaPALS是目前能够精确测量低电泳迁移率体系的Zeta电位分析仪器，它采用的是真正的硬件PALS (Phase Analysis Light Scattering, 相位分析光散射）技术， 比其它测量Zeta电位的技术 灵敏度高约1000倍！ 典型应用：1.蛋白、缩氨酸、胶束、多糖、药物制备、脂质体、外切酶体；2.聚合物胶乳、微乳液、油包水、水包油体系；3.涂料、颜料、油漆、食品、化妆品配方；4.陶瓷、耐火材料、炭黑、废水处理。

马尔文 Zetasizer系列 纳米粒度电位仪在全世界被广泛应用于纳米颗粒、胶体及蛋白质尺寸、zeta电位测量及分子表征。Zetasizer 系列仪器使用动态光散射技术测量自纳米级以下至几微米的颗粒与分子粒度，使用电泳光散射技术测量电动电势及电泳迁移率，并使用静态光散射技术测量分子量。 Zetasizer 系统提供了一系列型号，包括全新的 Zetasizer Pro 和 Ultra。 这两种系统拥有前所未有的易用性和灵活性，以及强大的用户指导和新颖的测量技术（例如 MADLS 和颗粒浓度）。马尔文 Zetasizer系列 纳米粒度电位仪在全世界被广泛应用于纳米颗粒、胶体及蛋白质尺寸、zeta电位测量及分子表征。Zetasizer APS精度zui高的自动化蛋白质粒度测量Zetasizer μV可添加至任何SEC（尺寸排阻色谱）系统的模块化粒度及分子量检测器。Zetasizer WT zata 电位的在线测量 - 控制您的混凝程序!Zetasizer AT使用动态光散射在线测量粒度Zetasizer 系列分为高性能级与标准级两类系统，包含粒度分析仪、zeta 电位分析仪、分子量分析仪、蛋白质迁移率及微观流变学测量组合。 对应于您应用及预算要求，从粒度小于一纳米的颗粒/分子到几微米的颗粒。此类系统采用动态光散射法测量粒度及微流变；采用电泳光散射法测量ZETA电位及电泳迁移率；采用静态光散射法测量分子量。 此外，该系统还可在流量配置中使用，与GPC/SEC系统连接，作为色谱粒度检测器使用。Zetasizer APS将20μL的样品从各个孔转移至精密的石英流动池中进行测量。 样品池环境得到了优化，使温度控制与光学清晰度更为精确，从而保证了zui准确的测量结果。 这意味着，可使用任何行业标准型一次性或可重复使用型孔板，而不用担心影响测量结果的孔板透明性或擦痕。Zetasizer μV是一种高灵敏度双功能光散射检测器。 它可作为PALS检测器与任何GPC/SEC系统配合使用（包括Viscotek），得出jue对粒度信息（通过DLS）和jue对分子量信息（通过SLS）。 另外，在试管模式中，它适合检测聚集物和通过DLS监测聚集物的形成。 Zetasizer μV可通过一个8μl 的石英流通样品池和标准色谱管连接至任何GPC/SEC系统和浓度检测器。 这样，就可以测量jue对粒度、jue对分子量、聚集与结合情况（与另一个浓度检测器配合使用时）。在试管模式中，只需从设备上卸下流动池并插入盛有样品的标准试管即可批量测量颗粒和分子尺寸（通过DLS）。Zetasizer WT 将 Malvern Panalytical 行业ling先的电泳光散射技术与二十年内累积的在线测量专业知识相结合，推出一款专用在线 zeta 电位分析仪，zhuan供水处理厂使用。工作不再凭猜测 - 精确而可靠的 [mV] 结果，提供jing准的投药控制范围。在水源水质变化引起过滤问题前即对变化作出响应！尽量减少化学品用量，形成稳定絮凝。 不再需要过量投药！Zetasizer Ultra 综合了全球功能zui强大的 DLS 与 ELS 系统，它采用了非侵入背散射 (NIBS) 和独特的多角动态光散射 (MADLS) 技术来测量颗粒与分子粒度。 NIBS 的多用性和灵敏度可测量广泛的浓度范围，而 MADLS 则能让您在这些关键测量当中更精细地了解样品粒度分布。MADLS 的扩展能够直接分析颗粒浓度。 颗粒浓度的测量无需校准，适合于广泛的材料，无需或只需极少稀释，并且使用快捷，这一切都使其成为一种理想的筛选技术。 这是 Zetasizer Ultra 的一项独特功能，甚至可以运用于以前非常难测量的病毒和 VLP 等样品。Zetasizer Ultra 还利用 M3-PALS 技术提供了灵敏度zui高的电动电势和电泳迁移率测量。 我们具有极高性价比的一次性折叠毛细管样品池允许使用我们的zhuan利扩散障碍法在极低样品量的情况下进行测量，并且不会产生直接样品电极接触。 此类测量提供的信息可以极好地指出样品稳定性以及/或者聚集倾向。增加的恒流模式可在高导电性介质中测量电泳迁移率和电动电势，从而减少由于较高离子浓度下的电极极化而出现的错误。

显微成像法zeta电位分析仪的特征：显微成像法zeta电位分析仪的密度高或粒径大的颗粒会沉积在测量室底部。ZetaCompact采取具有角度寻径分辨率的高精度图像分析方案，在垂直平面内测量悬浊液中颗粒的电泳迁移率分布。1、 显微成像法zeta电位分析仪是一种模块化工具，用于解决测量从10nm到50μm颗粒的电泳迁移率所遇到的所有问题，并计算胶体悬浮液的zeta电位仪。2、激光照明和视频接口能实现亚微米粒子的测量。3、石英测量池组装了两对钯电极，构成完全对称的腔室。4、动态安装，便于接入石英池。清洗后的测量池可快速准确地定位。5、显微成像法zeta电位分析仪用快速响应微探针原位测量样品温度。6、图像分析软件对粒子进行全自动跟踪。显微成像法zeta电位分析仪的应用领域：陶瓷聚合物胶乳纳米颗粒水泥乳浊液微乳液脂质体水处理纸浆和纸粘土颜料矿物浮选生物学免疫学

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用zui优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用最小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

TOF测量仪介绍FlyTOF飞行时间法迁移率测量仪是东谱科技HiTran瞬态综合光电特性测量平台中的重要成员。该系统利用飞行时间法(time-of-flight，TOF)测量半导体材料的迁移率以及相关的光电特性， 广泛适用于各类半导体材料， 如有机半导体、金属- 有机框架（metal-organic framework, MOF）、共价有机框架（covalent organic framework,COF）、钙钛矿材料等。FlyTOF基于我司的MagicBox主机研制而成，是一款高度集成化的光电测试系统，配备便捷的上位机控制和数据测量软件，可助力客户进行快速、准确的测量。示例NPB材料在不同电场下的TOF测试信号NPB材料在不同电场下的迁移率和化学结构式主要功能：- 飞行时间法瞬态光电流测量- 半导体中的载流子迁移率测量- 电子/空穴迁移率的测量 - 低温测量

产品简介： 90Plus PALS高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪是目前唯一能够精确测量低电泳迁移率体系Zeta电位的仪器，它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技术，比其它测量Zeta电位的技术灵敏度高1000倍！详细说明：NanoBrook产品系列项目90Plus90Plus PALSZetaPALS功能粒度测量功能●●○分子量测量功能●●○Zeta电位测量功能○●●技术参数粒度范围0.3nm-6μm○分子量测定范围342～2×107Dalton○散射角15°与90°○相关器4×522个物理通道，4×1011个线性通道○适用粒度范围○1nm～100μmZeta电位范围○－500mV～500mV电导率范围○0-30S/m电泳迁移率范围○10-11～10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度－5～110℃，±0.1℃激光源35mW固体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm（H）×427mm（W）×481mm(D)，15kg选件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度●代表“有” ○代表“无”概述 PALS技术（PALS：Phase Analysis Light Scattering）是由布鲁克海文仪器公司开发的一项全新的Zeta电位测量技术，与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍。许多从事新材料、生命科学、环境工程等新兴学科的研究人员长期以来苦于无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品进行分析，这就是因为其电泳迁移率比通常水相条件下低10－1000倍，传统方法没有足够的灵敏度进行测量，ZetaPALS的出现为他们提供了准确可信的测量技术。典型应用1.脂质体、生物胶体2.陶瓷3.颜料、油墨4.医药5.乳剂（食品、化妆品）6.废水处理7.胶乳8.炭黑应用案例 不同粒径对Zeta电位等电点的影响 不同官能团配比对等电点的影响 Zeta电位值与细胞吸收度的关系 通过调整颗粒的粒径或正负电荷官能团的比例，混合电荷修饰的纳米金颗粒其等电点可以在4～7之间明显的变化，不同比例的官能团和颗粒的静电荷对动物细胞吸收度有着重大影响。（数据摘自JACS）技术参数1.Zeta电位部分：1）Zeta电位测量适用粒度范围：0.001-100μm2）样品体积：0.18～1.5mL3）pH值测量范围：1-144）电导率范围：0-30S/m5）电泳迁移率范围：10-11～10-7m2/V.s6）温度控制：-5 ~110℃, ±0.1℃7）电场强度：0 ～ 60kV/m8）电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯2.粒度及分子量测量部分：1）粒度范围：0.3nm～6μm（与折射率，浓度，散射角有关）2）典型精度：1％3）样品类型：任何胶体范围大小的颗粒（悬浮于清液中）4）样品体积：1～3ml5）分子量测定范围：342～2×107Dalton6）激光源：35mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）7）检测器：PMT或APD8）相关器：1011线性通道；动态可变采样时间、延迟时间、通道分配等技术；4通道输入；支持两路互相关。

U-SMPS2050/2100/2200通用扫描迁移率粒度仪Palas通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）有两个版本。长分类柱（2050/2100型）能够可靠地确定8至1,200 nm的粒径分布。 PalasU-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义为差分电迁移率分类器（DMA），也称为差分迁移率分析器（DEMC）]，根据气溶胶颗粒的电迁移率选择并传递给出口。然后通过冷凝颗粒计数器（例如PalasUF-CPC）对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC模型可实现各种浓度范围内的优异单颗粒计数。 Wiedensohler教授（德国IfT莱比锡）开发了Palas的算法，用于对测量数据进行反演以产生U-SMPS粒度分布。U-SMPS使用触摸屏上的图形用户界面进行操作。单个粒子分布扫描可以在短短30秒内执行，或者，每十个通道多达执行64个尺寸通道，在此期间，DEMC分类器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计更高。集成的数据记录器允许在设备上以线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估（广泛的统计和平均）以及导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行，但也可以使用各种接口（USB，LAN，WLAN，RS-232/485）连接到计算机或网络。 Palas U-SMPS支持其他制造商的各类DMA、CPC和气溶胶静电计。U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能十分重要，对于校准来说尤其如此。所有组件都通过严格的质量保证测试，并在内部组装。应用领域过滤测试气溶胶研究环境与气候研究吸入实验室内和工作场所测量优点：粒径分布从8 nm到1.2 μm连续和快速扫描的测量原理高分辨率，多达128个大小类/衰减适用于高达108颗粒数/立方厘米的浓度可以连接其他制造商的DMA和纳米粒子计数器图形显示测量值直观操作，使用7英寸触摸屏和GUI集成数据记录仪支持多种接口和远程访问低维护功能可靠减少您的运营费用

DEMC 1000差分电迁移率分级器 DEMC 1000差分电迁移率分级器被广泛的应用于测量1微米以下的气溶胶粒径分布的标准测试，同时也可用于对液体悬浮颗粒进行精确的纳米粒径测量。Palas DEMC有两个版本可用。短分级柱（1000型）的版本适用于4至600 nm的尺寸范围。DEMC尺寸分级器根据其电迁移率选择气溶胶颗粒并将其导至出口（可参考ISO 15900定义标准）。在分析多分散颗粒源时，DEMC差分电迁移率分级器用于获得一定尺寸的非常窄范围内（单分散）纳米颗粒的粒度分布。DEMC的准确尺寸确定和可靠性能非常重要，尤其是对于校准设置。通过在触摸屏上直接输入尺寸（nm）或使用箭头按钮增加和减小尺寸。 DEMC 1000差分电迁移率分级器可用于Palas SMPS系统的组件，可以连续且快速地扫描气溶胶的粒径分布。最短可在30秒内或每十进制最多64个尺寸的通道中执行扫描。用户使用图形化用户界面控制DEMC，该界面提供测量值的线性和对数显示，以及集成数据记录器的数据管理。该软件提供复杂的数据评估（各种统计和平均值）及导出功能。差分电迁移率分级器DEMC 1000优点： 用户可以在型号允许的尺寸范围内选择任何尺寸。 DEMC 可以与多种计数器并用组成SMPS（扫描迁移率粒度仪）。 连续快速扫描测量原理 图形化显示测量值 使用7 英寸触摸屏和GUI 进行直观操作 集成数据记录仪 低维护 功能可靠 减少您的运营费用差分电迁移率分级器DEMC 1000工作原理 气溶胶通过进样口导入DEMC柱，沿着外部电极与鞘气合并。合并过程要避免湍流，确保层流。电极的表面必须极其光滑和精准。该鞘气是干燥的、无颗粒的载气（通常为空气），比气溶胶的体积大，且在闭环中连续循环。鞘气与样品空气的体积比决定了传递效率，从而决定尺寸分类器的分辨率。在内部和外部电极之间施加电压产生径向对称电场。内电极带正电，末端有一个小缝隙。通过平衡每个粒子上的电场力及其在电场中的空气动力学阻力，带负电颗粒转移到正电极。根据它们的电迁移率，一些颗粒会通过小缝隙离开DEMC。这些具有相同电迁移率的分类颗粒可用于下游分析。如果DEMC是作为SMPS系统的组件使用的，则电 压和电场将连续变化。不同迁移率的颗粒离开DEMC，并由纳米粒子计数器和冷凝粒子计数器（如Palas UF-CPC）或气溶胶静电计（如Palas UF-CPC）连续测量计数。方便实用的软件提供多数据组合（如电压，粒子数等）并取得粒度分布数据如图所示差分电迁移率分级器DEMC 1000用户界面和软件： 基于持续的客户反馈，用户界面和软件的被设计成可以进行直观的操作、实时控制并显示测量数据和参数。此外，通过集成的数据记录器，完善的导出功能和网络支持，该软件可以实现数据管理功能。测量数据有多种形式显示和评估。DEMC软件和硬件也支持其他制造商使用纳米粒子计数器。差分电迁移率分级器DEMC 1000技术参数 参数说明描述尺寸通道最高256（128 /十进制）用户界面触摸屏800• 480像素，7英寸（17.78厘米）数据记录仪存储4GB软件PDAnalyze分类范围（尺寸）4 ? 607nm调节范围（电压）1 ? 10,000 V体积流量（鞘气）2.5 ? 14升/分钟撞击器喷嘴，用于3个不同的截止点安装条件+5 ? +40°C（控制单元）差分电迁移率分级器DEMC 1000应用领域： 冷凝粒子计数器（CPC）的校准单分散颗粒源 SMPS 的系统组件

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。纳米粒度及Zeta电位分析仪是一种用于环境科学技术及资源科学技术领域的物理性能测试仪器，简单、方便而且准确，主要作用就是测量胶体颗粒表面电位电势。其独特的开放式样品槽设计与频谱漂移分析技术相结合，使其具有极高的分辨率，足以分辨等电点附近的多峰电泳分布情况。　　仪器原理　　带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。　　动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪优势　　1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。　　2、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。　　3、优化的反演算法：采用拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。　　4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。　　5、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比；采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。　　6、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。　　纳米粒度及zeta电位分析仪测量　　纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定，因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。　　纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点　　1、利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。　　2、先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。　　3、基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。　　Henry函数的取值：　　当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用最小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合，得到优化Henry函数表达式。　　强大易用的控制软件　　ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强，无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。　　注意事项　　1、测量粒径前，需查知样品分散剂的粘度、折光指数（Refractive Index）；　　2、用卷纸轻轻点拭样品池外侧水滴，切勿用力擦拭，以防将样品池划伤，如发现样品池有划纹，需更换；　　3、手尽量避免触摸样品池下端，否则会影响光路； 　　4、一定要去除样品池内的气泡；　　5、实验室提供的样品池为聚苯乙烯材质，不可用于测量有机分散体系；　　6、实验室提供的样品池,测量温度不可高于50摄氏度；　　7、如需测量有机分散体系或高于50摄氏度，请自带石英比色皿；　　8、使用滤纸过滤时，舍去过滤后的d一滴样品，以防滤纸上杂质进入样品池；　　9、测量时需自带：卷纸、多个注射器、多个离心管（用于稀释样品）。

概述 PALS技术（PALS：Phase Analysis Light Scattering）是由布鲁克海文仪器公司开发的一项全新的Zeta电位测量技术，与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍。许多从事新材料、生命科学、环境工程等新兴学科的研究人员长期以来苦于无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品进行分析，这就是因为其电泳迁移率比通常水相条件下低10－1000倍，传统方法没有足够的灵敏度进行测量，ZetaPALS的出现为他们提供了准确可信的测量技术。 项目90Plus90Plus PALSZetaPALS功能粒度测量功能●●○分子量测量功能●●○Zeta电位测量功能○●●技术参数粒度范围0.3nm-6μm○分子量测定范围342～2×107Dalton○散射角15°与90°○相关器4×522个物理通道，4×1011个线性通道○适用粒度范围○1nm～100μmZeta电位范围○－500mV～500mV电导率范围○0-30S/m电泳迁移率范围○10-11～10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度－5～110℃，±0.1℃激光源35mW固体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm（H）×427mm（W）×481mm(D)，15kg选件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度典型应用1.脂质体、生物胶体2.陶瓷3.颜料、油墨4.医药5.乳剂（食品、化妆品）6.废水处理7.胶乳8.炭黑 不同粒径对Zeta电位等电点的影响 不同官能团配比对等电点的影响 Zeta电位值与细胞吸收度的关系 通过调整颗粒的粒径或正负电荷官能团的比例，混合电荷修饰的纳米金颗粒其等电点可以在4～7之间明显的变化，不同比例的官能团和颗粒的静电荷对动物细胞吸收度有着重大影响。（数据摘自JACS）技术参数1.Zeta电位部分：1）Zeta电位测量适用粒度范围：0.001-100μm2）样品体积：0.18～1.5mL3）pH值测量范围：1-144）电导率范围：0-30S/m5）电泳迁移率范围：10-11～10-7m2/V.s6）温度控制：-5 ~110℃, ±0.1℃7）电场强度：0 ～ 60kV/m8）电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯2.粒度及分子量测量部分：1）粒度范围：0.3nm～6μm（与折射率，浓度，散射角有关）2）典型精度：1％3）样品类型：任何胶体范围大小的颗粒（悬浮于清液中）4）样品体积：1～3ml5）分子量测定范围：342～2×107Dalton6）激光源：35mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）7）检测器：PMT或APD8）相关器：1011线性通道；动态可变采样时间、延迟时间、通道分配等技术；4通道输入；支持两路互相关。

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。纳米粒度及Zeta电位分析仪是一种用于环境科学技术及资源科学技术领域的物理性能测试仪器，简单、方便而且准确，主要作用就是测量胶体颗粒表面电位电势。其独特的开放式样品槽设计与频谱漂移分析技术相结合，使其具有极高的分辨率，足以分辨等电点附近的多峰电泳分布情况。　　仪器原理　　带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。　　动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪优势　　1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。　　2、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。　　3、优化的反演算法：采用拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。　　4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。　　5、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比；采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。　　6、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。　　纳米粒度及zeta电位分析仪测量　　纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定，因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。　　纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点　　1、利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。　　2、先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。　　3、基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。　　Henry函数的取值：　　当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用最小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合，得到优化Henry函数表达式。　　强大易用的控制软件　　ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强，无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。　　注意事项　　1、测量粒径前，需查知样品分散剂的粘度、折光指数（Refractive Index）；　　2、用卷纸轻轻点拭样品池外侧水滴，切勿用力擦拭，以防将样品池划伤，如发现样品池有划纹，需更换；　　3、手尽量避免触摸样品池下端，否则会影响光路； 　　4、一定要去除样品池内的气泡；　　5、实验室提供的样品池为聚苯乙烯材质，不可用于测量有机分散体系；　　6、实验室提供的样品池,测量温度不可高于50摄氏度；　　7、如需测量有机分散体系或高于50摄氏度，请自带石英比色皿；　　8、使用滤纸过滤时，舍去过滤后的d一滴样品，以防滤纸上杂质进入样品池；　　9、测量时需自带：卷纸、多个注射器、多个离心管（用于稀释样品）。

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。纳米粒度及Zeta电位分析仪是一种用于环境科学技术及资源科学技术领域的物理性能测试仪器，简单、方便而且准确，主要作用就是测量胶体颗粒表面电位电势。其独特的开放式样品槽设计与频谱漂移分析技术相结合，使其具有极高的分辨率，足以分辨等电点附近的多峰电泳分布情况。　　仪器原理　　带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。　　动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪优势　　1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。　　2、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。　　3、优化的反演算法：采用拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。　　4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。　　5、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比；采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。　　6、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。　　纳米粒度及zeta电位分析仪测量　　纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定，因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。　　纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点　　1、利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。　　2、先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。　　3、基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。　　Henry函数的取值：　　当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用最小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合，得到优化Henry函数表达式。　　强大易用的控制软件　　ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强，无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。　　注意事项　　1、测量粒径前，需查知样品分散剂的粘度、折光指数（Refractive Index）；　　2、用卷纸轻轻点拭样品池外侧水滴，切勿用力擦拭，以防将样品池划伤，如发现样品池有划纹，需更换；　　3、手尽量避免触摸样品池下端，否则会影响光路； 　　4、一定要去除样品池内的气泡；　　5、实验室提供的样品池为聚苯乙烯材质，不可用于测量有机分散体系；　　6、实验室提供的样品池,测量温度不可高于50摄氏度；　　7、如需测量有机分散体系或高于50摄氏度，请自带石英比色皿；　　8、使用滤纸过滤时，舍去过滤后的d一滴样品，以防滤纸上杂质进入样品池；　　9、测量时需自带：卷纸、多个注射器、多个离心管（用于稀释样品）。

梓梦科技动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

Palas通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）有两个版本。长分类柱（2050/2100型）能够可靠地确定8至1,200 nm的粒径分布。 Palas U-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义为差分电迁移率分类器（DMA），也称为差分迁移率分析器（DEMC）]，根据气溶胶颗粒的电迁移率选择并传递给出口。然后通过冷凝颗粒计数器（例如Palas UF-CPC）对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC模型可实现各种浓度范围内的优异单颗粒计数。 Wiedensohler教授（德国IfT莱比锡）开发了Palas的算法，用于对测量数据进行反演以产生U-SMPS粒度分布。U-SMPS使用触摸屏上的图形用户界面进行操作。单个粒子分布扫描可以在短短30秒内执行，或者，每十个通道多达执行64个尺寸通道，在此期间，DEMC分类器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计更高。集成的数据记录器允许在设备上以线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估（广泛的统计和平均）以及导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行，但也可以使用各种接口（USB，LAN，WLAN，RS-232/485）连接到计算机或网络。 Palas U-SMPS支持其他制造商的各类DMA、CPC和气溶胶静电计。U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能十分重要，对于校准来说尤其如此。所有组件都通过严格的质量保证测试，并在内部组装。特点：U-SMPS2050/2100/2200通用扫描迁移率粒度仪，适合各种应用（8–1200nm）• 粒径分布从8 nm到1.2 μm• 连续和快速扫描的测量原理• 高分辨率，多达128个大小类/衰减• 适用于高达108颗粒数/立方厘米的浓度• 可以连接其他制造商的DMA和纳米粒子计数器• 图形显示测量值• 直观操作，使用7英寸触摸屏和GUI• 集成数据记录仪• 支持多种接口和远程访问• 低维护• 功能可靠• 减少您的运营费用 *请联系Palas了解更多信息。

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

扫描电迁移率粒径谱仪SMPS+C和SMPS+E双系统GRIMM SMPS+C系统采用传统的差分电迁移率粒径分级器（DMA）和凝聚核粒子计数器（CPC）技术结合，两种不同型号的DMA可以同时检测5—350纳米或10—1100纳米的气溶胶的粒径分布。根据应用不同，可以选配移动式：CPC 5403，实验室固定式：CPC 5416 或 19英寸标准机柜式：CPC 5421。 系统每次开机时，自动自检以确保系统准确性，自检内容包括泄露测试、DMA 型号确认、 DMA 电压测试、CPC 状态检查等。 自检通过后，软件自动控制采样、测量和数据记录。测量参数 SMPS+C1. 检测粒径范围： 5-350 纳米（M-DMA）； 10-1100 纳米(L-DMA)2. 检测浓度范围： 0--108 /cm33. 粒径通道：最多255通道4. CPC D50粒径： 4 纳米5. CPC 响应时间： 4 秒 GRIMM SMPS+E系统采用差分电迁移率粒径分级器（DMA）和法拉第静电计（FCE）技术结合，配合3种不同的DMA，粒径检测下限可以低至1纳米，检测数量浓度高达109个/cm3。

GRIMM 差分电迁移率分析仪 空气纳米颗粒物筛分-差分电迁移率分析仪（DMA） DMA通过纳米颗粒物在电场中的电迁移率不同来分离不同粒径的颗粒物。带负电荷的颗粒物，受到带正电的电极吸引而在电场中迁移，在特定电压下，只有特定电迁移率的颗粒物能够通过DMA，并进入CPC或FCE计数。通过在10000V到5V范围内步进调节电压，即可得到颗粒物的粒径分布。 当DMA设置固定电压时，可用于产生单分散气溶胶。 GRIMM DMA分为长、中、短型号，适用于不同测量需求。 GRIMM DMA可以和CPC,FCE检测器连用组成SMPS+C或SMPS+E，或和静电采样器连用，收集纳米气溶胶。 典型应用：吸入和暴露研究环境和气候变化柴油汽油发动机排放研究工作环境测量健康影响纳米技术航测纳米颗粒物生成和传输过滤效率测试打印机排放路边测量 GRIMM 为您提供室内外颗粒物测量全面解决方案

适用测量有机半导体器件的电子迁移率和空穴迁移率分布式系统：测试箱主尺寸2400mm*800mm*1600mm，重量＜200KG，系统配置包括：示波器、电压源、信号触发单元、测试暗箱，样品仓，部件置于机柜内，固定样品台。主要参数：1．电压源电压范围：1-200V；2．电压分辨率：0.1V；3．激光器：纳秒Nd YAG激光器2个；4．激光束尺寸：＜2mm*2mm；5．测量时间范围：4 ns-10 s；6．最大输出电流：5mA 7．测试功能：载流子渡越时间、迁移率、载流子寿命；8．迁移率测量范围：＞10^-6cm^2/(V.s)@1um样品厚度。

SMPS+C扫描电迁移率粒径谱仪&bull 仪器简介 扫描电迁移率粒径谱仪(Scanning Mobility Particle Sizer)是一个纳米颗粒粒径谱分析系统，固定式由DMA+CPC5.414组成检测系统，移动式由DMA+CPC5.403组成检测系统，用于5nm ~ 1100nm的纳米颗粒分析。对小颗粒物有最高分辨率和最低分散损失，根据实验需求不同，有两种长度的电极。DMA（Differential Mobility Analyzer）差分粒子电迁移器对颗粒物进行分类，切割头将粗的颗粒去除，减少大颗粒的干扰；同时建议前置个静电中和器，消除对电荷对气溶胶颗粒的影响。顶端入口U型设计，可减少颗粒损失；顶端层流器，使气流呈层流状态流动。洁净干燥的保护鞘气与气溶胶气流一起自上而下流动。DMA的外套筒接地，中心极杆接正压高压发生器。环境颗粒中带负电荷的颗粒将在外套筒与中心极杆之间的电场中发生迁移。在某一电压下(对应一定的电场强度)，具有一定荷质比的负电颗粒将迁移至DMA下端狭缝而逸出，其余荷质比及其电中性、正电荷颗粒将随过剩气流被过滤排出。经由狭缝逸出的颗粒为单分散气溶胶颗粒，进入CPC凝聚核粒子计数器（Condensation Particle Counters）对颗粒物进行计数.&bull 仪器应用&bull 基础气溶胶研究&bull 吸入和暴露研究&bull 环境和气候研究&bull NP增长&bull 凝结及迁移率研究&bull 过滤检测&bull 发动机排放研究&bull 工作场所检测&bull 类型类型型号总高度mm电极长度mm3.0L/min鞘气时粒径范围 nm20L/min鞘气时粒径范围L-DMA55-90049235011-11104.2-247M-DMA55-340230885.4-3582.1-103&bull 性能参数&bull 粒径范围5.4 ~ 358 nm (M-DMA)；11 ~ 1110 nm (L-DMA)&bull 粒径分辨率标准44通道，可优化为255通道，对数间隔&bull 气体流速样品气：0.3 L/min；鞘气体：3.0 L/min&bull 工作流体：1-丁醇，超级纯 液体除去：微泵连续&bull 通讯方式RS-232、ASCII存储卡&bull 环境温度10~35℃&bull 环境湿度0~95%&bull 压力环境压力±50mbar&bull 电源85-264VAC/47-440Hz

测定分子尺寸，迁移率，Zeta电位及分子量；表征颗粒大小与溶液稳定性。分子尺寸范围：0.3 &ndash 1000nm；迁移率：无实际限制；高功率DPSS激光光源（50mW），确保超高灵敏度；最大程度降低电极电压（3伏），避免样品被破坏；光源超稳定，超长寿命（10000h）；多检测读取头阵列技术（多达30个）同步检测，减少测量时间，获取更多数据，精度高，重复性好；电极距离仅1.6mm；充分降低样品量，降低电极电压，避免样品降解；灵活选择样品池：PEEK材质与可抛弃型样品池（全部兼容水/有机溶剂）；兼容QELS：同时获取流体力学半径Rh；宽广的温度范围，支持低于室温的样品分析：4 &ndash 70℃；全彩色LCD实时显示屏与数字键盘操作区：便于实验者随时观察结果与快速操作；外部输入与输出端口，满足高度自动需求；可以自动进样器连接，实现高度自动化。

Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪 产品简介： Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪完美结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技术，拥有15°、90°与173°三个散射角度，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，硬件PALS技术彻底解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的精确测量，是目前市场上功能最强大的粒度与Zeta电位分析仪。详细说明： 作为最先将背向光散射技术（Back-Scattering）引入高浓度粒度分析的厂家，Brookhaven公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，突破性地推出了结合15°、90°与173°三个散射角度与硬件PALS（相位分析光散射）技术的Omni多角度粒与高灵敏度Zeta电位分析仪。随着Omni的出现，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，实现在同一台粒度分析仪中，既可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，最高可达40%wt；硬件PALS技术（与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍）的应用，彻底解决了长期以来无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下（电泳迁移率比通常水相条件下低10－1000倍，传统方法没有足够的分辨率进行测量）的样品进行分析的难题。Omni是目前市场上功能最强大的粒度与Zeta电位分析仪。NanoBrook产品系列 项目173173PlusOmniZetaPALS功 能粒度测量功能●●●○分子量测量功能●●●○Zeta电位测量功能○○●● 技 术 参 数散射角15°与173°15°、90°与173°○粒度范围0.3nm-10μm○分子量测定范围342～2×107Dalton○相关器4×522个物理通道，4×1011个线性通道○Zeta电位适用粒度范围○1nm～100μmZeta电位范围○－500mV～500mV电导率范围○0-30S/m电泳迁移率范围○10-11～10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度－5～110℃，±0.1℃激光源35mW光泵半导体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm（H）×427mm（W）×481mm（D），15kg选 件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度 ●代表“有” ○代表“无”典型应用 1.蛋白、免疫球蛋白、缩氨酸、DNA、RNA、胶束2.脂质体、外切酶体及其他生物胶体3.多糖、药物制备4.纳米颗粒、聚合物胶乳、微乳液5.油包水、水包油体系6.涂料、颜料、油漆、油墨、调色剂7.食品、化妆品配方8.陶瓷、耐火材料、废水处理、炭黑 通过调整颗粒的粒径或正负电荷官能团的比例，混合电荷修饰的纳米金颗粒其等电点可以在4～7之间明显的变化，不同比例的官能团和颗粒的静电荷对动物细胞吸收度有着重大影响技术参数1.粒度测量范围：0.3nm～10μm2.Zeta电位测量适用粒度范围：1nm～100μm3.样品浓度范围：0.1ppm至40%w/v(与颗粒大小和折射率有关)4.典型精度：1％5.样品类型：蛋白、纳米粒子、聚合物及分散于水或其他溶剂中的胶体样品6.样品体积：1～3ml7.分子量测定范围：342～2×107Dalton8.Zeta电位范围：-500mV～500mV9.电导率范围：0～30S/m10.电泳迁移率范围：10-11 ～ 10-7 m2 /V.s11.电场强度：0 ～ 60 kV/m12.电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯；耐腐蚀电极（选件）；微量电极（选件）13.温控范围与精度：-5℃～110℃，±0.1℃。14.pH测量范围：1-1415.激光源：35mW光泵半导体激光器（可选5mW He-Ne激光器）16.检测器：高灵敏雪崩型二极管（APD）17.相关器：4×522个物理通道，4×1011个线性通道，采用动态采样时间及动态延迟时间分配18.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数19.散射角：15°、90°与173°20.室温操作情况：10°C ～ 75°C，湿度 0% ～95%, 无冷凝21.大小及重量：233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D)，15 kg22.电源：100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W23.计算机（选件）：商用计算机，包括WindowTM软件24.自动滴定仪（选件）：独立四泵驱动，可对pH值、电导率和添加剂浓度作图

离子迁移率谱仪简介Lonestar是一个强大的，适应性强的便携式化学监视器。仪器提供快速警报和详细的样本分析。它可以被训练来应对各种各样的化学物质监测，易于与其他传感器和第三方系统集成，提供完整的监测解决方案。因此，Lonestar适用于从在线/在线过程监控到实验室研发的广泛应用。相对于IMS,FAIMS使用的不是平行于离子运动的电场，而是垂直于运动方向的非对称交变电场。这导致离子漂移取决于他们的K值高(Kh¬ )和低(KL)字段,只有离子与某些微分迁移(Kh¬ KL)将通过系统。通过附加的直流补偿场，可以改变这种差动性的值，通过扫描补偿场的强度，可以得到由差动性分离的离子谱。复杂基质中挥发性、半挥发性和非挥发性有机化合物的敏感检测和鉴定。FAIMS可以用来检测和识别液体、固体和气体基质中的挥发物。离子迁移率谱仪的应用领域可以用于检测液体、固体和气体混合物中的各种易挥发物，应用领域广泛。可应用于各类领域：食品、中药、烟草、酒类、农业、生物医药、医疗、工业、汽车、环境检测等。食品及相关产品o食品风味研究：过程监控，质量控制，不同产品、不同品质、不同储存年限产品风味探究，产品研发、生产工艺控制，储藏条件的优化，产品味道公证，感官评审的数据支持，产品包装对食品风味的影响探究等o食品质量控制及安全探究：产品品质鉴别，异味早期检测，产地鉴别，等级鉴别，掺假检测，成品和商品的质量控制，新鲜度评估，保质期鉴别等o食品材料筛选：检查原料的质量或来源等医疗o诊断仪器-分析呼吸或体液以进行非侵入性诊断或监测治疾病o治监测-分析体液呼吸对治效果和进展的非侵入性监测o麻醉和呼吸监视器-检测呼出的呼吸中的其他相关指标，以减少临床医生对生命体征的反应时间工业o工序监察-监察及优化工序的运作，并在工序线的“气味"偏离正常时，以故障指示的方式作出故障诊断o危险气体监测器-检查环境中可能危及个人、工厂或设备的有毒或易燃烧气体o石化气体传感器-检测各种可燃气体和挥发性有机化合物(VOCs)，以及各种碳氢化合物流中的污染物汽车o碳氢化合物监测-对发动机排气中的碳氢化合物进行分析，以更好地控制发动机的功能，提高性能和减少排放o氮氧化物监测-监测废气中氮氧化物(NOx)浓度，以确保数值不超过允许的限度o机舱空气质素传感器-检测车内挥发性有机化合物(VOCs)及其他污染物，以进行机舱空气质素管理环境o空气质素监察-监察特定污染物的化合物，以便进行清理工作o排放监察-监察有害工业气体排放进入大气，可能会破坏环境o有毒工业化合物的检测-测试有毒化合物的释放，监测净化工作，并确认化学试剂的有效补救o水质监测-监测污染和毒性，以确保饮用水供应的安全FAIMS-Lonestar产品优势现场检测：实时连续进样分析时间快：无需前处理，检测时间小于10s高选择性、重复性好高灵敏度：检测限低：ppb — ppt级，结合入口控制，动态范围大芯片级检测器：*的三维图谱，可以为每一个样品建立特有的指纹信息软件：自带各类数据处理软件，快速进行聚类分析和物质定性便携，占用空间小独立操作，采样处理一体化集成温度、流量和湿度传感器，运行稳定、闭环网络和无线(可选)连接，用于远程监控和操作易集成其他传感器数据及第三方系统控制强大的数据可视化、实时控制、离线分析定制软件

简介：载流子迁移率测量系统Paios主要用于太阳能电池在稳态，瞬态以及交流条件下的光电性能测量（载流子迁移率测量Photo-CELIV，瞬态光电流测量TPC、瞬态光电性能测量TPV、强度调制光电压谱IMVS、强度调制光电流谱IMPS以及阻抗IS,CV等量测）为光电器件微观机理研究提供了有力的测试平台；多功能一体化高性能瞬态测试平台，不但可以测量器件的载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程、阻抗谱等，还可以对瞬态光电流谱TPC，瞬态光电压谱TPV、强度调制光电流谱IMPS、强度调制光电压谱IMVS等进行测量分析，全面分析器件中的载流子特性和瞬态过程。可量测器件类型： * 无机半导体光电器件，有机半导体光电器件； * 有机太阳能电池OPV； * 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell，钙钛矿LED； * 无机太阳能电池（例如：单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池）； * 染料敏化太阳能电池DSSC； 主要测量功能： * 最大功率点MPP、FF、Voc、Isc、VS 光强，迁移率（I-V测试 & I-V-L测试，空间电荷限制电流SCLC法） * 载流子浓度，载流子动力学过程（瞬态光电流法 TPC） * 载流子寿命，载流子符合动力学过程（瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV） * 载流子迁移率（暗注入瞬态法 DIT，单载流子器件&OLED） * 串联电阻，几何电容，RC时间（电压脉冲法 Pulse Voltage） * 参杂密度，电容率，串联电阻，载流子迁移率（暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV） * 载流子迁移率，载流子密度（光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV） * 载流子复合过程，朗之万函数复合前因子（时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV） * 不同工作点的载流子强度，载流子迁移率（注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV） * 几何电容，电容率（MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV） * 陷阱强弱度，等效电路（阻抗谱测试 IS） * 迁移率，陷阱强弱度，电容，串联电阻（电容VS频率 C-f） * 内建电压，参杂浓度，注入势垒，几何电容（电容VS电压 C-V） * 陷阱分析（深能级瞬态谱DLTS） * 载流子传输时间分析（强度调制光电流谱 IMPS）； * 载流子复合时间、收集效率等分析（强度调制光光电压谱IMVS）； * 点亮电压（电流电压照度特性 I-V-L） * 发光寿命，载流子迁移率（瞬态电致发光法 TEL） *载流子迁移率（TEL瞬态电致发光，Photo-CELIV线性增压抽取载流子） *OLED/钙钛矿LED发光特性测量（发光器件测量）；测量技术： 1）IV/IVL特性：IV和IVL曲线是针对OLED和OPV标准的量测手法，通过曲线可以得到样品的电流电压特性关系、电流电压与光强的特性关系； *对于有机半导体材料可通过空间电荷限制电流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和迁移率等； 2）瞬态光电流（TPC）：研究载流子动力学过程和载流子密度等； 3）瞬态光电压（TPV）：研究载流子寿命和复合过程； 4) 双脉冲瞬态光电流（Double Transient Photocurrent）：分析电荷载流子俘获动态过程； 5) 暗注入瞬态法（Dark Injection）：对于单载流子器件和OLED，研究其载流子迁移率； 6) 电压脉冲法（Voltage Pulse）：串联电阻、几何电容和RC效应分析； 7) 暗态线性增压载流子瞬态法（Dark-CELIV）：参杂浓度、相对介电常数、串联电阻、电荷载流子迁移率测量； 8) 光照线性增压载流子瞬态法（Photo-CELIV）：提取有机太阳能电池片内载流子迁移率mobility，及载流子浓度分析等； 9) 时间延迟线性增压载流子瞬态法（Delaytime-CELIV）：复合动态过程分析和Langevin复合因子分析等； 10）注入线性增压载流子瞬态法（Injection-CELIV）：电荷载流子浓度和电荷载流子迁移率测量分析； 11）MIS-CELIV：载流子迁移率量测 12）阻抗谱测量（Impedance Spectroscopy）：器件等效电路分析等； 13）电容频率测量法（C-f）: 迁移率、陷阱、几何电容和串联电阻测量； 14）电容电压测量法（C-V）：内建电压、参杂浓度和几何电容等测量； 15) 深能级瞬态谱（DLTS）：陷阱分析； 16）强度调制光电流谱（IMPS）：载流子传输时间分析； 17）强度调制光光电压谱（IMVS）：载流子复合时间、收集效率等分析； 18）瞬态电致发光测试（Transient Electroluminescence）：抽取OLED器件的载流子，磷光寿命测量； 应用案例：1.第三代太阳能电池的表征 2. Consistent Device Simulation Model Describing Perovskite Solar Cells in Steady-State, Transient and Frequency Domain