纯金属钛粉

符合国标GB/T 18043-2013对仪器分辨率的要求，本产品是在天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验基础之上研发的一款新型测试仪，采用新一代探测器及多道技术，实现高计数率，1秒出结果，准确分析贵金属含量。同时，具备二维移动平台及高清工业摄像头，实现样品定位。（可对99.99%黄金进行有效分析）。性能特点快，1秒钟出结果采用行业先进的极速探测器——（FAST-SDD）分辨率可达125eV优势：FAST-SDD的探测面积大（面积达25mm ）、探测面积越大，单位时间内接受到的信号越多；且分辨率越低，分辨效果越好；带来高的分辨效果及测试精度采用行业先进的数字多道技术优势：有效提高输出效率，实现高计数率，保证采集有效计数率超过300KCPS采用大功率X光管及先进的准直滤光系统优势：使贵金属的激发效率更高光闸系统优势：样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度精密的定位系统高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点单点测试、多点测试、网格测试模式2D全自动移动样品台——可实现图像联动控制，单点测试、多点测试、网格测试模式自带高纯金测试曲线可高效区分99.9%及99.99%黄金纯度超小样品检测——小可测到0.2毫米8种准直器、5种滤光片快速切换功能，可根据不同样品进行选择准直器小可达0.2毫米，针对超小样品可准确聚焦检测可配备贵金属有害元素测试软件可测量贵金属中有害元素，铅、镉等人性化的设计更快捷：多点测试，点哪测哪应用领域质检中心金银珠宝首饰店贵金属冶炼厂首饰加工厂分析测试中心典当行贵金属回收

产品概述 ARTUS 10 是阿朗品牌创始人60年光谱仪从业经验及英国阿朗30多年技术积累的结晶，是世界上第一台使用高精度科研级定制A-CMOS作为检测器（可制冷）的旗舰型直读光谱仪。阿朗致力于满足高端用户精益求精的金属材料分析需求，从毫厘之间为用户创造效益。 产品优势　　特殊定制A-CMOS传感器可带来突破的仪器性能　　采用全新科研级A-CMOS感光元件，带来更好的灵敏度；　　定制8192像素检测器，提升检测系统光学分辨率；　　采用OEO （Optimal Element-Oriented）技术，可对任意像 素位置信号单独提取，实现每个元素独立参数优化与采集分析；　　A-CMOS传感器紫外波段元素（C、P、S、N）灵敏度更高；　　特定算法，实现A-CMOS优异检测性能　　独创OEO、RTMC算法，更好的发挥A-CMOS检测性能；　　智能匹配火花放电波形，实现不同特性元素的最佳检测效果；　　智能消除背景干扰，实现最佳分析性能；　　ASR技术，剥离异常火花，提升分析精度；　　终身不需漂移校正，重新定义稳定性　　压铸铝合金整体光室，4级消除应力处理；　　光室恒温设计，保证光谱位置长期稳定，不漂移；　　RTMC光谱优化技术；　　气流路的精确设计，一切为了结果更稳定； 　　A-Care远程云服务，重新定义易用性　　光谱仪+互联网，A-Care云服务。实现云端互联，即时自动通报设备异常，远程软件升级、维护；　　功能模块图形化设计，软件操作简单易用，一目了然；　　切换控样类型无需重新加载模型，单一界面完成日常操作； 　　双光学系统设计　　双光学系统设计，光谱范围宽、分辨率有保证；　　紫外波段元素（N、P、S、C）单独光室分析；　　无真空泵运动部件，光室无形变及油污风险；　　检测灵敏度高　　A-CMOS检测器结合双光学系统，可达百万分之一（1ppm）的检测下限；　　独特的A-CMOS检测器选配制冷系统，检测下限可到1ppm以下。产品型号产品型号型号特点应用领域ARTUS 10 PLUS全光学系统制冷，可分析Fe、Al、Cu、Ni、Zn、 Mg、Co、Ti、Sn、Pb等十种基体，40余种元素超纯金属杂质分析； 酸溶物夹杂分析； ARTUS 10 U可分析N元素，可分析Fe、Al、Cu、Ni、Zn、Mg、 Co、Ti、Sn、Pb等十种基体，40余种元素高纯金属杂质分析； 常规金属材料分析；ARTUS 10 S可分析Fe、Al、Cu、Ni、Zn、Mg、Co、Ti、Sn 、Pb等十种基体，40余种元素高纯金属杂质分析； 有色金属分析；ARTUS 10 B可分析Al、Cu、Zn、Mg、Sn、Pb等有色金属材 料，40余种元素高纯金属杂质分析； 含N元素的金属材料分析；

到梅特勒托利多公司官网详细了解 DMA动态热机械分析仪动态热机械分析是测量样品在周期振动应力下，随温度或频率变化而变化的力学性能和粘弹性能的技术。DMA/SDTA861e动态热机械分析仪直接测量样品的应力和应变，从而得到准确的模量；力范围宽，大至40N；频率范围宽，高至1000Hz。可在仪器外(譬如实验桌上)准备和预装样品。特别是剪切模式，由应力控制/应变控制及其智能切换(独有功能)，能测量试样从软状态(譬如环氧树脂固化前的液态)直至硬状态(譬如很高固化度时)。DMA/SDTA861e动态热机械分析仪在对样品进行DMA测量的同时还测量差热变化(称为同步差热即SDTA)，通过SDTA可用纯金属标样的熔点准确校准温度。热机械分析仪技术参数：温度范围：-150~500℃温度准确度：0.5℃ 应力范围：0.001~40N位移范围：+/-1.6mm频率范围：0.001～1000 HzTan&delta 范围：0.0001～100热机械分析仪主要特点：同时直接测量位移和应力－准确的模量测定很宽的应力范围－能测量很硬和很软的样品应力控制/应变控制智能切换－全程测量样品由软变硬过程很宽的频率范围－测量可以在真实条件下进行，或在较高频率下更快速进行创新的样品夹具－可以在仪器外进行样品准备和预装样品温度直接测量、同步SDTA技术－准确测定试样温度；采用纯金属进行温度校准极宽的刚度范围－可以用单个样品夹具在整个温度范围内进行测量热机械分析仪应用领域:聚合物(热塑性塑料、热固性树脂、弹性体、粘合剂和复合材料)、陶瓷、金属、其它粘弹性材料以及纤维、薄膜等。热机械分析仪主要型号: DMA/SDTA861到梅特勒托利多公司官网详细了解 DMA动态热机械分析仪查看更多信息咨询电话：4008-878-788

ScopeX G59万足金展厅/高纯金专用检测仪是专为万足金展厅和超高纯金分析而设计的一款高精度分析仪器，作为浪声科学贵金属分析旗舰产品之一，ScopeX G59配备超大面积探测器具有超灵敏分析功能，大小不同的多种准直器可分析极小样品，超大样品舱满足各种造型样品分析。ScopeX G59采用全新的垂直光路系统，不仅能快速且无损地分析黄金(Au)含量，而且还能分析杂质银(Ag)和铜(Cu)。银(Ag)铜(Cu)杂质检测极限≤ 10ppm。满足从万足金（AU9999）到十万足金（AU99999）的分析需求。99.999%+0.001%（10ppm杂质）的超高精度分析成为了万足金展厅和超高纯金样品分析的理想之选。使用优势高精度检测XRF技术提供可靠的纯度和成分数据，精度可达0.001%(99999金)。配置灵活 多准直器可选，多滤光片自动切换，可以根据不同的应用需求和样品特性进行调整，以实现最佳的分析性能。用户友好界面 仪器配备易于操作的用户界面，使得操作者即使没有深厚的专业背景也能轻松地进行检测。台式打印机 仪器配备台式打印机，能够迅速输出仪器的检测结果报告，让顾客在现场即刻获取，增强了服务的透明度和顾客满意度。售后服务 7*24小时客服热线,快速响应客户需求、提供快速、专业客户服务，确保客户无忧体验，持续优化产品与服务。精准快速几秒到几分钟即可获得稳定结果，贵金属成分快速鉴定，为回收黄金兑现定价交易。超大面积SDD探测器 配备超大面积SDD探测器，提升灵敏度，缩短测量时间，提高数据质量和分析效率。 准确可靠的定量方法浪声自主研发的XRF分析软件，融合校正曲线法、基本参数法（FP法）等分析方法，测试数据的准确性能得到全面保证。应用场景首饰厂原材料检验首饰厂生产过程控制首饰厂质量控制/成品检验金店/珠宝展厅贵金属检测其他应用成分分析规格参数仪器构型台式仪器重量46KG主机尺寸570×400×400mm（L×W×H）样品仓尺寸365×300×78mm（L×W×H）检测范围Al(铝)—U(铀)语言中文、英语等多国语言探测器超大面积SDD探测器，为仪器带来优异的计数率和出色的能量分辨率。光路结构垂直光路光管窗口铍窗准直器0.5mm/1.0mm/2.0mm/3.0mm可自由切换，用户可以根据分析需求和样品特性灵活选择合适的准直器尺寸，以确保XRF仪器发挥最佳性能。滤光片配备多滤光片可自动切换,可以显著提升分析的质量和效率，使得仪器能够更好地适应各种分析场景，为用户提供更加精确和可靠的分析结果。精度±0.001%（99999金）电脑参数I5四核数据打印蓝牙打印机算法融合了校正曲线法、基本参数法（FP法）等XRF分析方法，消除背景差异，减少分析误差，提高检测精准度！ 一键测试按钮有摄像头高分辨率CMOS彩色摄像头，500万像素

金矿石超细磨粉机研磨机海璐智能纳米粉碎机全自动风选速产纯金粉智能制造：全自动纳米粉碎机 精密美观执行规定：GB4706.1 GB4706.30设备类型：高速气流粉碎机产品特点：低温 超细 食品级 全自动产品型号：CN65639 2019-2039产品材质：SUS304不锈钢 净重2690g产品功率：300W 电压110V/220V电机转速：28000r/min 产能＞400g/次入料干燥：＞99% 不含油不含胶 硬度＜46HRC出料粒度：3层机智产600目至20000目自动清理：入新料前掀盖 开机 瞬间自动清理干净操作提示：亲 请开机时注意离手产品质保：按说明书使用免工费维护10年用户体验：按说明书使用2层机600目3层机2万目4层机26万目5层机40万目(12纳米)产品祝福语：全自动智能纳米粉碎机的研发成功，是人类品质生活的源泉。将为人类生活提供更佳的享受与体验，给予人类思维方式的更新以及生活方式的现代化。全自动智能纳米粉碎机，助予科研更成功，助予男性更健壮、助予女性更美丽、助予长辈更幸福、助予孩童更聪明。全自动智能纳米粉碎机，助于您关爱生命，健康幸福！

产品信息 o （1）铱丝规格：0.015mm起o （2）材料：铱（Ir）o （3）纯度：铱≥99.99% o （4）熔点：2410±40℃，沸点:3827℃ o （5）密度：22.42g/cm3 o （6）计算公式：1米重量=r*r*π*22.42g/cm3

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河北纳捷金属材料有限公司是一家专业经营国产合金粉末、合金颗粒的企业。位于河北邢台南宫市、公司地理位置优越，毗邻青银高速交通便利 公司所生产’纳捷牌‘粉末在国内外市场上享有很高的声誉。合金粉末经销：高纯度单质金属粉末，激光熔覆合金粉末，碳化粉末，氧化粉末等合金粉末。合金颗粒有铁粒，铝粒，硅粒，银粒，铬粒，钨粒，碳化钨颗粒，钨钢颗粒，钒铁颗粒，钼铁颗粒，钼粒，镍粒，钛粒，铜粒，锡粒，锑粒，碲粒，铋粒，钆粒，锌粒等合金颗粒，国产焊材销售：钴基焊条、银焊条、铸铁焊条、镍基焊条、碳化钨焊条、不锈钢焊条、耐磨焊条、模具焊条、合金焊条、阀门焊条、堆焊焊条等 产品广泛应用于水泥厂、发电厂、铁路、糖厂、砖瓦厂、模具、石油、粉尘泵阀、泥浆泵叶轮、挖泥船等多行业。 我们有很广泛的商品信息网络，合作伙伴遍及全国各地，已经成为欧美日韩知名焊材在中国的代理商。我们在“创造服务”的经营理念指导下，经过全体员工的不懈努力，已经取得了令人瞩目的成绩。我们拥有一支业务精通，操作能力强的骨干队伍，为广大客户提供专业化、个性化、全天候、全方位的服务。 我们的宗旨是：“用服务和真诚来换取您的信任与支持，互惠互利，共创双赢！

ARL 4460金属分析仪集当今最新分析技术于一体，它采用了其专利技术电流控制光源（CCS）和时间解析光谱（TRS）技术，并与独具特色的工厂校正曲线和自诊断功能相结合，将分析技术带入一崭新天地。不但可以进行常规分析，还可最大限度地满足金属光变分析工作者的各种复杂要求。耐久可靠的结构设计和制造工艺，确保仪器在种恶劣环境下都具有卓越的分析性能。 ● 稳定，可靠的硬件● 一流的工厂校正曲线 ● 领先的光谱制造技术● 优秀的分析软件● 分析准确度更高，分析速度更快● 分析痕量元素和气体元素具有新的突破● 分析范围广泛：适于分析钢铁，铝，铜，镁，锡，铅，锌，贵金属等金属材料● 对操作人员无特殊要求ARL4460比较ARL3460的功能、特点：1.为了进一步提高分析速度和改善检测限，尤其是对纯金属材料的分析（如超纯铜、超纯铝等），ARL4460采用了电流控制光源和时间分辨光谱技术。ARL的4460能达到极低的检测限并在低含量段的分析精度和可靠性具有一般其它光谱仪无可比拟的优越性。CCS（电流控制光源）技术在美国和欧洲都获得了专利。该技术采用了优选法，将长期积累的经验以计算机的程序方式对不同的基体中的不同元素的激发状态进行最佳控制。另外采用TRS（时间分辨光谱）技术选择入射光被积分的最佳时刻、即“时间窗口”，避开火花积分的初始高峰电流所产生的背景，选择紧随高峰电流之后具有最佳信噪比的平稳电流阶段（即窗口）作为积分时间段，从而进一步降低了检测限，提高了灵敏度和分析精度。CCS和TRS这两种技术的结合，使光谱分析提高到一个新的技术水平。当用户要分析超纯铜、超纯铝等超纯金属时，4460具有其它仪器无可比拟的优越性。尤其是在其低含量端的分析的可靠性及准确性是其它仪器很难做到。相比之下，有些仪器，虽然给出的定量范围似乎很宽，能达到的低含量端甚至超过ARL4460的定量工作范围。但由于这些仪器在低端采用直流电弧光源，由于该光源本身的不稳定性，从而使其仪器在低含量端的分析的不稳定（即重现性差）成为该仪器的“先天不足”的一大致命弱点，同时该仪器对S、P分析的不稳定性是它的另一“先天不足”所引发的致命弱点。另外，在多基分析中由于基体之间的干扰因素，ARL4460的优势没有单基体、尤其是对单基体纯金属分析那么明显。2.ARL4460到目前为止尚无任何型号光谱仪能与其属同一档次。另外，其对小样品分析的开发及精度保证值和小样品工厂校正曲线到目前为止也是独一无二的。ARL3460配有小样品夹具，但没有小样品的精度保证值（一般直径5mm以上的样品测量精度接近标准样品）及专门用以分析小样品的工厂校正曲线，仅有标准样品工厂校正曲线中的用以对小样品分析的软件。用户要准确分析小样品，在此基础上，还需对不同尺寸范围的小样品有一段时间的摸索，从而得出一系列较准确的系数。ARL3460对丝材分析一般不小于3mm（极限值2.5mm）不规则的小样品一般直径不小于5mm。ARL4460可对各种不同形状的样品进行分析，最小直径1mm。3.ARL最新推出的在线单火花数据采集处理技术（On-Line Spark-DAT），通过与CCS，TRS等技术相结合，使ARL4460金属分析仪具有更为广阔的分析领域和应用前景。

ScopeX G59万足金展厅/高纯金专用检测仪是专为万足金展厅和超高纯金分析而设计的一款高精度分析仪器，作为浪声科学贵金属分析旗舰产品之一，ScopeX G59配备超大面积探测器具有超灵敏分析功能，大小不同的多种准直器可分析极小样品，超大样品舱满足各种造型样品分析。ScopeX G59采用全新的垂直光路系统，不仅能快速且无损地分析黄金(Au)含量，而且还能分析杂质银(Ag)和铜(Cu)。银(Ag)铜(Cu)杂质检测极限≤ 10ppm。满足从万足金（AU9999）到十万足金（AU99999）的分析需求。99.999%+0.001%（10ppm杂质）的超高精度分析成为了万足金展厅和超高纯金样品分析的理想之选。使用优势高精度检测XRF技术提供可靠的纯度和成分数据，精度可达0.001%(99999金)。配置灵活 多准直器可选，多滤光片自动切换，可以根据不同的应用需求和样品特性进行调整，以实现最佳的分析性能。用户友好界面 仪器配备易于操作的用户界面，使得操作者即使没有深厚的专业背景也能轻松地进行检测。台式打印机 仪器配备台式打印机，能够迅速输出仪器的检测结果报告，让顾客在现场即刻获取，增强了服务的透明度和顾客满意度。售后服务 7*24小时客服热线,快速响应客户需求、提供快速、专业客户服务，确保客户无忧体验，持续优化产品与服务。精准快速几秒到几分钟即可获得稳定结果，贵金属成分快速鉴定，为回收黄金兑现定价交易。超大面积SDD探测器 配备超大面积SDD探测器，提升灵敏度，缩短测量时间，提高数据质量和分析效率。 准确可靠的定量方法浪声自主研发的XRF分析软件，融合校正曲线法、基本参数法（FP法）等分析方法，测试数据的准确性能得到全面保证。应用场景首饰厂原材料检验首饰厂生产过程控制首饰厂质量控制/成品检验金店/珠宝展厅贵金属检测其他应用成分分析规格参数仪器构型台式仪器重量46KG主机尺寸570×400×400mm（L×W×H）样品仓尺寸365×300×78mm（L×W×H）检测范围Al(铝)—U(铀)语言中文、英语等多国语言探测器超大面积SDD探测器，为仪器带来优异的计数率和出色的能量分辨率。光路结构垂直光路光管窗口铍窗准直器0.5mm/1.0mm/2.0mm/3.0mm可自由切换，用户可以根据分析需求和样品特性灵活选择合适的准直器尺寸，以确保XRF仪器发挥最佳性能。滤光片配备多滤光片可自动切换,可以显著提升分析的质量和效率，使得仪器能够更好地适应各种分析场景，为用户提供更加精确和可靠的分析结果。精度±0.001%（99999金）电脑参数I5四核数据打印蓝牙打印机算法融合了校正曲线法、基本参数法（FP法）等XRF分析方法，消除背景差异，减少分析误差，提高检测精准度！ 一键测试按钮有摄像头高分辨率CMOS彩色摄像头，500万像素

高纯锗晶体（12N,13N） 1、晶体习性与几何描述： 该晶体使用直拉法在晶体（100）方向延伸。圆柱形表面（表面光洁度小于2.5 μm RMS）。经红外成像法检测晶体结构稳定可靠。晶体几个结构由直径和长度决定。当一个晶体属于原生态晶体时，其当量直径为： D ----外形尺寸当量直径 W----锗晶体重量 L-----晶体长度 测量值是四舍五入最小可达到毫米级别。为了便于订单出货，我们会依据晶体的体积、直径和长度进行分类。同时我们可以满足客户的特殊需求，提供定制服务。 2、纯度：残留载荷 最大允许净载流子杂质浓度与探头二极管的几个构造有关，请参照如列公式。其纯度依据据霍尔效应测量和计算。 同轴探测器：同轴探测器适用于下列公式： Nmax = 每立方厘米最大杂质含量 VD = 耗尽层电压 = 5000 V εo = 介电常数 = 8,85 10-14 F/cm εr = 相对介电常数(Ge) = 16 q = 电子电荷1,6 10-19C (elementary charge) r1 = 探测器内孔半径 r2 = 探测器外孔半径 3、纯度 ： 假如晶体表面半径减少2mm,由于锂的漫射和刻蚀，内径8毫米的内孔半径， 适用公式变为： D = 晶体外表面 平面探测器：平面探测器（厚度小于2厘米）适用于以下公式： d=探测器外观尺寸厚度 径向分散载荷子（绝对值） 迁移：霍尔迁移 性能： P 型晶体 μH ≥ 10000 cm2/V.s N 型晶体 μH ≥ 10000 cm2/V.s 能级： P 型晶体 通过深能瞬态测量，Cutot ≤ 4.5*109 cm-3 N 型晶体 通过深能瞬态测量点缺陷 5*108 cm-3 晶体主要指标： P 型晶体 N 型晶体 错位密度 ≤ 10000 ≤ 5000 星型结构 ≤ 3 ≤ 3 镶嵌结构 ≤ 5 ≤ 5 4、高纯度高纯锗HPGe晶体说明： 高纯锗晶体产地法国物理性质颜色银灰色属性半导体材料密度5.32g/cm3熔点937.2℃沸点2830℃ 技术指标材料均匀度特级光洁度特优纯度99.99999%-99.99999999999%（7N-13N)制备方式锗单晶是以区熔锗锭为原料，用直拉法（CZ）法或者垂直梯度法（VGF法）等方法制备的锗单晶体。产品规格P、N型按客户要求定制产品用途超高纯度，红外器件、γ辐射探测器P型N型高纯锗在高纯金属锗中掺入三价元素如铟、镓、硼等，得到p型锗；在高纯金属锗中掺入五价元素如锑、砷、磷等，得到n型锗。交货期90天

HPGe高纯锗晶体High Purity Germanium Single Crystal – P Type9N,10N,11N,12N,13N 1、晶体习性与几何描述： 该晶体使用直拉法在晶体（100）方向延伸。圆柱形表面（表面光洁度小于2.5 μm RMS）。经红外成像法检测晶体结构稳定可靠。晶体几个结构由直径和长度决定。当一个晶体属于原生态晶体时，其当量直径为： D ----外形尺寸当量直径 W----锗晶体重量 L-----晶体长度 测量值是四舍五入最小可达到毫米级别。为了便于订单出货，我们会依据晶体的体积、直径和长度进行分类。同时我们可以满足客户的特殊需求，提供定制服务。 2、纯度：残留载荷 最大允许净载流子杂质浓度与探头二极管的几个构造有关，请参照如列公式。其纯度依据据霍尔效应测量和计算。 同轴探测器：同轴探测器适用于下列公式： Nmax = 每立方厘米最大杂质含量 VD = 耗尽层电压 = 5000 V εo = 介电常数 = 8,85 10-14 F/cm εr = 相对介电常数(Ge) = 16 q = 电子电荷1,6 10-19C (elementary charge) r1 = 探测器内孔半径 r2 = 探测器外孔半径 3、纯度 ： 假如晶体表面半径减少2mm,由于锂的漫射和刻蚀，内径8毫米的内孔半径， 适用公式变为： D = 晶体外表面 平面探测器：平面探测器（厚度小于2厘米）适用于以下公式： d=探测器外观尺寸厚度 径向分散载荷子（绝对值） 迁移：霍尔迁移 性能： P 型晶体 μH ≥ 10000 cm2/V.s N 型晶体 μH ≥ 10000 cm2/V.s 能级： P 型晶体 通过深能瞬态测量，Cutot ≤ 4.5*109 cm-3 N 型晶体 通过深能瞬态测量点缺陷 5*108 cm-3 晶体主要指标： P 型晶体 N 型晶体 错位密度 ≤ 10000 ≤ 5000 星型结构 ≤ 3 ≤ 3 镶嵌结构 ≤ 5 ≤ 5 4、高纯度高纯锗HPGe晶体说明： 高纯锗晶体产地法国物理性质颜色银灰色属性半导体材料密度5.32g/cm3熔点937.2℃沸点2830℃ 技术指标材料均匀度特级光洁度特优纯度99.99999%-99.99999999999%（7N-13N)制备方式锗单晶是以区熔锗锭为原料，用直拉法（CZ）法或者垂直梯度法（VGF法）等方法制备的锗单晶体。产品规格P、N型按客户要求定制产品用途超高纯度，红外器件、γ辐射探测器P型N型高纯锗在高纯金属锗中掺入三价元素如铟、镓、硼等，得到p型锗；在高纯金属锗中掺入五价元素如锑、砷、磷等，得到n型锗。交货期90天

利用电导率特性判定黄金或其它贵金属的真假 由于贵金属价格暴涨，假冒黄金和白银产品生产已发展成为一个蓬勃发展的行业。最近，越来越多的假硬币和金条浮出水面。这导致了市场的不确定性并且许多投资者变得谨慎。机构和私人投资者想确保他们不会投资到假硬币或金条上。使用FISCHER测量仪器，你能快速、可靠、无损地辨别出任何假冒产品。 破坏性的测试方法会导致一定量的价值损失。随着产品线SIGMASCOPE GOLD和X射线的推出，FISCHER提供了两种无损的方法，在贵金属币和金条的真假需要快速、精确的测试时相得益彰。 该SIGMASCOPE GOLD仪器通过电导率检测伪造的贵金属金银硬币。他们利用各种合金和纯金具有不同的导电性的物理事实来确认。 金条和所有常见的硬币的导电性都是已知的。假冒产品会在内部参杂其他元素，例如，钨。这些夹杂物会使电导率发生显著变化。因此，用电导率测量可以比较可靠快速无损地辨别假货。使用FISCHER仪器进行电导率测量使用SIGMASCOPE GOLD系列仪器，FISCHER仪器将十分适合于测量从贵金属硬币到大块金条的电导率。该仪器工作是非破坏性的，并根据 ASTM E 1004 利用涡流法进行测量。利用涡流相位信号，可以隔着不导电的顶层塑料膜，对样品进行测量。涡流的穿透深度可以根据试样的厚度进行相应的选择。使用SIGMASCOPE GOLD M 分析硬币和薄金条（大约50g以内）SIGMASCOPE GOLD M是测试硬币及薄金条和辨别假冒产品的最佳选择。硬币电导率值SIGMASCOPE GOLD M可以精确地测量硬币的电导率。下面的关系图显示的是不同成分的金币具有不同的电导率。在硬币上的电导率测量来检测其真假—即使是隔着塑料膜进行测量，仍能快速，准确地测量电导率–能真实反应金币纯度的指标贵重金属制成的硬币是精确定义的合金。各自相应的电导率值也是众所周知的：• 达克特金币: 25.4 MS/m• 克鲁格金币: 9.7 MS/m• 875 金币: 8.0 MS/m因此，使用电导率测试能真实反应金币的含金量。假冒金币的示意图，内部是钨基杂质合金，外层为黄金镀层使用SIGMASCOPE GOLD B测试金条（从约1盎司到1千克）SIGMASCOPE GOLD B可以测试重量较大的1千克以内的金条电导率。在金条两面进行测量时，整个合金或者纯金的深度都可以测试到。甚至隐藏的非贵金属（例如，钨）都可以用SIGMASCOPE GOLD B检测到。一个用嵌入式钨棒和金镀层覆盖的假金条示意图金条的含金量测试SIGMASOPE GOLD B可以设定在三个不同的穿透深度。为了检测在金条中心的材料，穿透深度能到达金条的中心是必须的。同时，穿透深度不能超过整个黄金的厚度以防止样品下方的材料（如桌面）对测量信号造成影响。下面的图表显示：1号设定有大约有8毫米的穿透深度，它对应于金块的最小厚度。如果要能做到测量金条中心的杂质材料，则其厚度不能超过17毫米。各种黄金尺寸测试电导率的穿透深度纯金检测--甚至可以隔着保护膜进行测量电导率测量是检验贵金属制品真伪的快速又准确的方法。SIGMASCOPE GOLD系列产品的特点:??- 可靠测定硬币和金条的电导率?- ?无损的测试方法??- 在几秒钟内进行测量??- 假冒制品的主动识别SIGMASCOPE GOLD M??- 用于检测硬币和约50克以内的薄金条??- 利用已知的电导率值鉴定标准贵金属币，如克鲁格金币，达克特金币等。SIGMASCOPE GOLD B??- 用于检测约1盎司(31.1g)到1千克的金条

P型、N型、11N/12N/13N/高纯锗晶体HPGe、高纯锗单晶 ?1、晶体习性与几何描述： 该晶体使用直拉法在晶体（100）方向延伸。圆柱形表面（表面光洁度小于2.5 μm RMS）。经红外成像法检测晶体结构稳定可靠。晶体几个结构由直径和长度决定。当一个晶体属于原生态晶体时，其当量直径为： D ----外形尺寸当量直径 W----锗晶体重量 L-----晶体长度 测量值是四舍五入最小可达到毫米级别。为了便于订单出货，我们会依据晶体的体积、直径和长度进行分类。同时我们可以满足客户的特殊需求，提供定制服务。 2、纯度：残留载荷 最大允许净载流子杂质浓度与探头二极管的几个构造有关，请参照如列公式。其纯度依据据霍尔效应测量和计算。 同轴探测器：同轴探测器适用于下列公式： Nmax = 每立方厘米最大杂质含量 VD = 耗尽层电压 = 5000 V εo = 介电常数 = 8,85 10-14 F/cm εr = 相对介电常数(Ge) = 16 q = 电子电荷1,6 10-19C (elementary charge) r1 = 探测器内孔半径 r2 = 探测器外孔半径 3、纯度 ： 假如晶体表面半径减少2mm,由于锂的漫射和刻蚀，内径8毫米的内孔半径， 适用公式变为： D = 晶体外表面 平面探测器：平面探测器（厚度小于2厘米）适用于以下公式： d=探测器外观尺寸厚度 径向分散载荷子（绝对值） 迁移：霍尔迁移 性能： P 型晶体 μH ≥ 10000 cm2/V.s N 型晶体 μH ≥ 10000 cm2/V.s 能级： P 型晶体 通过深能瞬态测量，Cutot ≤ 4.5*109 cm-3 N 型晶体 通过深能瞬态测量点缺陷 5*108 cm-3 晶体主要指标： P 型晶体 N 型晶体 错位密度 ≤ 10000 ≤ 5000 星型结构 ≤ 3 ≤ 3 镶嵌结构 ≤ 5 ≤ 5 4、高纯度高纯锗HPGe晶体说明： 高纯锗晶体产地法国物理性质颜色银灰色属性半导体材料密度5.32g/cm3熔点937.2℃沸点2830℃ 技术指标材料均匀度特级光洁度特优纯度99.99999%-99.99999999999%（7N-13N)制备方式锗单晶是以区熔锗锭为原料，用直拉法（CZ）法或者垂直梯度法（VGF法）等方法制备的锗单晶体。产品规格P、N型按客户要求定制产品用途超高纯度，红外器件、γ辐射探测器P型N型高纯锗在高纯金属锗中掺入三价元素如铟、镓、硼等，得到p型锗；在高纯金属锗中掺入五价元素如锑、砷、磷等，得到n型锗。交货期90天

高纯锗晶体（12N,13N） 1、晶体习性与几何描述： 该晶体使用直拉法在晶体（100）方向延伸。圆柱形表面（表面光洁度小于2.5 μm RMS）。经红外成像法检测晶体结构稳定可靠。晶体几个结构由直径和长度决定。当一个晶体属于原生态晶体时，其当量直径为： D ----外形尺寸当量直径 W----锗晶体重量 L-----晶体长度 测量值是四舍五入最小可达到毫米级别。为了便于订单出货，我们会依据晶体的体积、直径和长度进行分类。同时我们可以满足客户的特殊需求，提供定制服务。 2、纯度：残留载荷 最大允许净载流子杂质浓度与探头二极管的几个构造有关，请参照如列公式。其纯度依据据霍尔效应测量和计算。 同轴探测器：同轴探测器适用于下列公式： Nmax = 每立方厘米最大杂质含量 VD = 耗尽层电压 = 5000 V εo = 介电常数 = 8,85 10-14 F/cm εr = 相对介电常数(Ge) = 16 q = 电子电荷1,6 10-19C (elementary charge) r1 = 探测器内孔半径 r2 = 探测器外孔半径 3、纯度 ： 假如晶体表面半径减少2mm,由于锂的漫射和刻蚀，内径8毫米的内孔半径， 适用公式变为： D = 晶体外表面 平面探测器：平面探测器（厚度小于2厘米）适用于以下公式： d=探测器外观尺寸厚度 径向分散载荷子（绝对值） 迁移：霍尔迁移 性能： P 型晶体 μH ≥ 10000 cm2/V.s N 型晶体 μH ≥ 10000 cm2/V.s 能级： P 型晶体 通过深能瞬态测量，Cutot ≤ 4.5*109 cm-3 N 型晶体 通过深能瞬态测量点缺陷 5*108 cm-3 晶体主要指标： P 型晶体 N 型晶体 错位密度 ≤ 10000 ≤ 5000 星型结构 ≤ 3 ≤ 3 镶嵌结构 ≤ 5 ≤ 5 4、高纯度高纯锗HPGe晶体说明： 高纯锗晶体产地法国物理性质颜色银灰色属性半导体材料密度5.32g/cm3熔点937.2℃沸点2830℃ 技术指标材料均匀度特级光洁度特优纯度99.99999%-99.99999999999%（7N-13N)制备方式锗单晶是以区熔锗锭为原料，用直拉法（CZ）法或者垂直梯度法（VGF法）等方法制备的锗单晶体。产品规格P、N型按客户要求定制产品用途超高纯度，红外器件、γ辐射探测器P型N型高纯锗在高纯金属锗中掺入三价元素如铟、镓、硼等，得到p型锗；在高纯金属锗中掺入五价元素如锑、砷、磷等，得到n型锗。交货期90天

高纯锗晶体（12N,13N） 1、晶体习性与几何描述： 该晶体使用直拉法在晶体（100）方向延伸。圆柱形表面（表面光洁度小于2.5 μm RMS）。经红外成像法检测晶体结构稳定可靠。晶体几个结构由直径和长度决定。当一个晶体属于原生态晶体时，其当量直径为： D ----外形尺寸当量直径 W----锗晶体重量 L-----晶体长度 测量值是四舍五入最小可达到毫米级别。为了便于订单出货，我们会依据晶体的体积、直径和长度进行分类。同时我们可以满足客户的特殊需求，提供定制服务。 2、纯度：残留载荷 最大允许净载流子杂质浓度与探头二极管的几个构造有关，请参照如列公式。其纯度依据据霍尔效应测量和计算。 同轴探测器：同轴探测器适用于下列公式： Nmax = 每立方厘米最大杂质含量 VD = 耗尽层电压 = 5000 V εo = 介电常数 = 8,85 10-14 F/cm εr = 相对介电常数(Ge) = 16 q = 电子电荷1,6 10-19C (elementary charge) r1 = 探测器内孔半径 r2 = 探测器外孔半径 3、纯度 ： 假如晶体表面半径减少2mm,由于锂的漫射和刻蚀，内径8毫米的内孔半径， 适用公式变为： D = 晶体外表面 平面探测器：平面探测器（厚度小于2厘米）适用于以下公式： d=探测器外观尺寸厚度 径向分散载荷子（绝对值） 迁移：霍尔迁移 性能： P 型晶体 μH ≥ 10000 cm2/V.s N 型晶体 μH ≥ 10000 cm2/V.s 能级： P 型晶体 通过深能瞬态测量，Cutot ≤ 4.5*109 cm-3 N 型晶体 通过深能瞬态测量点缺陷 5*108 cm-3 晶体主要指标： P 型晶体 N 型晶体 错位密度 ≤ 10000 ≤ 5000 星型结构 ≤ 3 ≤ 3 镶嵌结构 ≤ 5 ≤ 5 4、高纯度高纯锗HPGe晶体说明： 高纯锗晶体产地美国物理性质颜色银灰色属性半导体材料密度5.32g/cm3熔点937.2℃沸点2830℃ 技术指标材料均匀度特级光洁度特优纯度99.99999%-99.99999999999%（7N-13N)制备方式锗单晶是以区熔锗锭为原料，用直拉法（CZ）法或者垂直梯度法（VGF法）等方法制备的锗单晶体。产品规格P、N型按客户要求定制产品用途超高纯度，红外器件、γ辐射探测器P型N型高纯锗在高纯金属锗中掺入三价元素如铟、镓、硼等，得到p型锗；在高纯金属锗中掺入五价元素如锑、砷、磷等，得到n型锗。交货期90天

黄金纯度无损检测仪配备“一键测试”智能软件，能一键智能检测20种金属：金，银，铂，钯，铼，铱，钨，镉，铜，镍，锌，铑，钌，铁，钴，锇，铅，锡，铟，锰，是目前市场上最便宜的能检测“铼”元素的光谱仪，能同时显示贵金属百分比纯度、黄金K值。除了检测常见金银铂钯等贵金属外，还能识别“黄金掺铼”；仪器稳定性好、精度高，能区分99.99金和99.90金，适用于黄金回购、珠宝零售、典当质检、大专院校珠宝专业、珠宝教育培训等行业。仪器用途： 黄金纯度无损检测仪是一种高精密的仪器，可以准确地检测出纯金、K金、铂金、钯金和白银等贵金属的纯度。它采用了先进的光谱分析技术，能够快速、准确地测定各种金属的成分和含量。这种仪器的出现，大大提高了贵金属检测的准确性和效率，为贵金属生产和加工行业带来了极大的便利。 技术参数： 分析范围：0.01%~99.99%； 测量精度：0.05%； 高压电源：0~50KV； 光管管流：0uA~1000uA； 摄像头：高清摄像头； 探测器：增强型正比计数管探测器； 多道分析器：多通道模拟； 样品腔尺寸：310*270*90(mm)； 测试时间：5~60秒； 测量元素：可检测20种金属：金，银，铂，钯，铼，铱，钨，镉，铜，镍，锌，铑，钌，铁，钴，锇，铅，锡，铟，锰； 分析软件：定性定量分析软件； 环境温度：5℃~30℃； 相对湿度：15%~85%； 电源要求：AC220V士5V,附近无大功率电磁和振动干扰源； 外部尺寸：450*400*390（mm）； 额定功率：120W； 重量：36Kg。

纳米颗粒制备仪 桌面式喷雾燃烧合成纳米颗粒材料火焰喷雾热解(FSP)是一种多功能经济高效的纳米颗粒生产工艺。它依赖于含金属或过渡金属化合物的液体原料在高达3000度的温度燃烧。产品纳米颗粒在几毫秒内形成在过滤器上以干粉的形式收集。 火焰喷雾热解工艺受益于极短的工艺链使复杂纳米颗粒的生产只需一步。纳米粉末生产FSP通常生产高结晶氧化纳米颗粒。但合成了磷酸盐、纯金属。根据工艺条件。颗粒的典型尺寸范围 5 ~ 50nm。这些初级粒子形成较大的团聚体。 纳米产品的例子包括简单的金属氧化物TiO2Al2O3 ZrO2以及YSZ CGO 钙 矿或尖晶石复杂氧化物。此外：贵金属纳米颗粒可以制造沉积在火焰中的氧化物支持颗粒上于某些组合物。可以制备表面包覆或基质化的纳米颗粒。 FSP纳米颗粒的应用包括:催化剂电池材料陶瓷牙科 生物医学材料体传感器聚合物纳米复合材料陶瓷.... 原材料FSP的源材料是低成本的金属化合物酸盐、硝酸盐或有机金属。这些所谓的前体是混合或溶解在标准有机溶剂。同心甲氧支持火焰、燃前驱溶剂喷雾，并确保稳定燃烧还可以使用可选的护套体。 NPS-20是一种用于纳米颗粒合成的全集成化桌面式火焰喷雾热解装置。应用于研究早期产品开发阶段。NPS-20设计用于快速筛选FSP合成中可用的材料组成 工艺条件的大量参数加速纳米材料的科学发展。主要特点：实验室规格火焰喷雾反应器低脉动注射可精确输送液体前体用于输送工艺前体的质量流量控制器:火焰检测器集成微处理器、电子板。用于过程控制，通信通过rs232玻璃纤维过滤器：干式旋式真空。用于产品粉末的收集压力及温度计以监察过滤器的状态。

金属纳米颗粒制备 金纳米材料具有众多易于调控的特性，比如局域表面等离子共振、表面增强拉曼、光致发光、易于表面修饰和生物相容性好。这使得金纳米材料广泛应用于我们生活的多个方面。合成金纳米颗粒常用的制备方法有很多，其中，直接FSP火焰喷雾燃烧法生长法应用广泛。金属纳米颗粒制备采用火焰喷雾热解工艺，受益于极短的工艺链使复杂纳米颗粒的生产只需一步。纳米粉末生产FSP通常生产高结晶氧化纳米颗粒。但合成了磷酸盐、纯金属。根据工艺条件。颗粒的典型尺寸范围 5 ~ 50nm。这些初级粒子形成较大的团聚体。 纳米产品的例子包括简单的金属氧化物TiO2Al2O3 ZrO2以及YSZ CGO 钙 矿或尖晶石复杂氧化物。此外：贵金属纳米颗粒可以制造沉积在火焰中的氧化物支持颗粒上于某些组合物。可以制备表面包覆或基质化的纳米颗粒。 FSP纳米颗粒的应用包括:催化剂电池材料陶瓷牙科 生物医学材料体传感器聚合物纳米复合材料陶瓷.... 原材料FSP的源材料是低成本的金属化合物酸盐、硝酸盐或有机金属。这些所谓的前体是混合或溶解在标准有机溶剂。同心甲氧支持火焰、燃前驱溶剂喷雾，并确保稳定燃烧还可以使用可选的护套体。 NPS-20是一种用于纳米颗粒合成的全集成化桌面式火焰喷雾热解装置。应用于研究早期产品开发阶段。NPS-20设计用于快速筛选FSP合成中可用的材料组成 工艺条件的大量参数加速纳米材料的科学发展。纳米颗粒制备仪主要特点：1产品纯度高，粒径小，分布均匀，比表面积大，高表面活性，松装密度低，气相法制备，克服了市场上湿化学法制备的颗粒硬团聚、难分散、纯度低等缺点；2表面存在大量的不饱和残键及不同键合状态的羟基，因表面欠氧而偏离了稳定的硅氧结构，所以具有高反应活性，粉体松装密度比较小，容易分散使用；3纳米颗粒晶相稳定、硬度高、尺寸稳定性好，可应用于各种塑料、橡胶、陶瓷产品的补强增韧，特别是提高陶瓷的致密性、光洁度、冷热疲劳性、断裂韧性、抗蠕变性能和高分子材料产品的耐磨性能尤为。由于颗粒也是性能优异的远红外发射材料，作为远红外发射和保温材料被应用于化纤产品和高压钠灯中。4公司可以进行针对性的表面处理包裹，使得纳米粉体可以稳定地分散在溶剂体系中，形成透明状或半透明状溶胶，应用在涂料、玻璃表面、电子封装等

WL15APro全新外观，更加方便使用。新一代的光谱分析技术，长时间保持真空度，让测量结果更稳定，更准确。增加波长范围，为每一台光谱仪用户提供更高级的材料分析方案。 检测器： Toshiba、Sony、Hamamatsu（可选）（背照式CCD、CMOS） 光源系统：WL15A Pro采用全频数字双脉冲激发光源，可变频（100-1000Hz）激发技术，双火花组合放电使得样品激发更稳定。光学系统： 帕型-龙格结构，罗兰光栅，焦距400，2400g/mm，波长范围120-800nm；（可选）全谱平场光学系统，波长可选范围：190-1100nm；读出系统：电源前置滤波电路，高速16位ADC模数转换、FPGA数字信号控制器、工业USB数据采集（200KHz/s）、超高速多路同步数字采集器、320万次/秒、带模拟量光隔离、模拟量数字积分、单火花信号采集，带制冷、带智能检测（可实时监测各环节工作状态） 激发平台：整体采用耐磨耐腐蚀Cr不锈钢材质、激发氩气智能气压保护装置真空系统：l 真空油污染小、分子筛l 真空定时控制l（专利）整体式真空体l 长时间保持真空度l 真空泵工作时间短 产品参数型号WL15APro-5000WL15APro-7000检测器Toshiba、Sony、Hamamatsu（可选）（背照式CCD、CMOS）光源系统全频数字双脉冲激发光源，可变频（100-1000Hz）激发技术，双火花组合放电：样品激发更稳定；光学系统帕型-龙格结构，罗兰光栅，焦距400，2400g/mm，波长范围120-800；（可选）全谱平场光学系统，波长可选范围：190-1100nm；读出系统电源前置滤波电路，高速16位ADC模数转换、FPGA数字信号控制器、工业USB数据采集（200KHz/s）、超高速多路同步数字采集器、320万次/秒、带模拟量光隔离、模拟量数字积分、单火花信号采集，带制冷、带智能检测（可实时监测各环节工作状态）计算系统外置品牌计算机，windows操作系统，显示器，打印机电源参数220V±10%，50Hz；火花激发最大功率：200-1000VA；10A慢熔保险丝环境要求相对湿度：20%-80%；工作温度：（10-35）℃；光谱环境：无腐蚀性气体和高灰尘污染真空系统间歇式工作，工作压力0.1-5Pa、工作时间60分钟，标配分子筛，隔离阀气路系统双气路四喷嘴气路系统，内置流量表激发平台整体采用耐磨耐腐蚀Cr不锈钢材质、激发氩气智能气压保护装置可测基体镍基、钴基、钛基、铅基、锡基、银基等 纯铝、纯铜、纯锡、纯锌、纯铅等纯金属 外型尺寸880*720*410，95Kg应用领域冶金、铸造、机械加工、炉前化验、科研、商检、汽车、石化、造船、电力、航空航天、核电、兵器等。

S1 TITAN手持式贵金属检测仪采用了具有布鲁克SharpBeam™ 优化检测器,S1 TITAN运行时功率很低，从而大大使电池寿命增加。S1 TITAN较宽的元素范围使它特别适合于分析贵金属。除了金、银、镍、铜、S1 TITAN还可以测量从Ti-Bi可能的合金元素。使用S1 TITAN使用了高对比度的液晶触摸屏，和可选的集成数码相机&小点，准确地确定正确的目标区域的样本非常容易。此外，S1 TITAN还可选配*xin技术的防扎检测器来保护探测器，在不影响仪器本身精度的情况下大大减少了设备的维修寿命，给用户带了可观的经济效应。 一般的手持式光谱仪探测器窗口在接触到尖锐的金属材料(如刨花和细丝)等，非常容易被扎破，因此不得不进行维修或更换，而布鲁克的防扎探测器完全避免了这个 问题的出现，*da程度降低探测器窗口被扎破的概率，这是现代一种高科技新型技术，不*可靠，避免长时间的修理等待，而且还会给用户节省一大部分资金。 防扎探测器可承受尖锐物品50牛顿的压力。 手持式贵金属检测仪主要特性SharpBeam® 配置非常直观的用户界面牌号库:金克拉,合金CCD高清彩色摄像头和小点测量50 kV管可用选项防扎探测器ShieldTM集成相机支架 手持式贵金属检测仪的程序的设计充分考虑了小样品，不规则的形状和曲面——即使是小于光束直径的样品情况，使得在测量更加人性化，更加便捷。S1 TITAN手持式贵金属检测仪在测量大的样品时可直接放在可选的桌面或台式架上。对于环状或链状的样品同样轻松检测。如杯子，盘子等。S1 TITAN设有远程控制系统，同时可提供自定义报告,包括测试样品的照片。 S1 TITAN能快速识别常见的合金。结果报告直接以克拉形式显示，同时包含其它检测到的元素，并以形式显示。当设备检测到可疑成分或首饰中的克拉值低于标准值时系统会发出警报。 贵金属分析仪检测首饰、珠宝、黄金等饰品中的Au, Ag, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, In, Ir, Mn, Ni, Pb, Pd, Pt, Rh, Ru, Sb, Sn, Ti, Zn等元素，Bruker 手持式贵金属分析仪提供了一个准确和可靠的解决方案进行分析黄金和其他贵重金属样品的工具。可以方便地测量仪的珠宝样品的形状和大小。S1 TITAN贵金属分析仪 操作简单，完全无损，是分析黄金和其他贵金属的*理想工具。 从耳环和项链到结婚戒指 饰金随处可见，是珠宝中*常见的合金。只在2007年，在范围内就有2425吨黄金合金首饰生产，总价值约为542亿美元。黄金达到了创纪录的价格，因此，知道确切的金含量比以往任何时候都更重要。或买，或出售，或回收，重要的是要有一个可靠的分析方法来确保金含量。在几秒钟内，布鲁克S1手持式XRF分析仪可以以高的精度识别珠宝、金币、其它有价值产品中金的确切含量。布鲁克S1手持式XRF可谓是首饰工具业，黄金业务，现金当铺，硬币，收藏家和镀金废料回收一种理想的工具。 布鲁克S1手持式XRF分析仪提供了一个快速的，完全无损检测不是金，银，铂，钯和其他贵重金属。除贵金属含量，布鲁克S1还可*地确定其他微量合金元素和危险重金属元素如铅的浓度。分析金表 可分析的标准贵金属包括：Au, Ag, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, In, Ir, Mn, Ni, Pb, Pd, Pt, Rh, Ru, Sb, Sn, Ti, Zn即：金，银，镉，钴，铬，铜，铁，锰，镍，IR，，铅，钯，铂，钌，铑，锑，锡，钛，锌 由于合金中金含量以克拉为单位衡量，24克拉黄金就是纯金。重量百分比与克拉之间的换算很容易1克拉＝4.1666金。布鲁克S1给出的金和其它合金元素的报告可以是百分比，也可以是克拉。

光电直读光谱仪WL15A-Pro全新外观，更加方便使用。新一代的光谱分析技术，长时间保持真空度，让测量结果更稳定，更准确。增加波长范围，为每一台光谱仪用户提供更高级的材料分析方案。 检测器： Toshiba、Sony、Hamamatsu（可选）（背照式CCD、CMOS） 光源系统：光电直读光谱仪WL15A Pro采用全频数字双脉冲激发光源，可变频（100-1000Hz）激发技术，双火花组合放电使得样品激发更稳定。光学系统： 帕型-龙格结构，罗兰光栅，焦距400，2400g/mm，波长范围120-800nm；（可选）全谱平场光学系统，波长可选范围：190-1100nm；读出系统：电源前置滤波电路，高速16位ADC模数转换、FPGA数字信号控制器、工业USB数据采集（200KHz/s）、超高速多路同步数字采集器、320万次/秒、带模拟量光隔离、模拟量数字积分、单火花信号采集，带制冷、带智能检测（可实时监测各环节工作状态） 激发平台：光电直读光谱仪整体采用耐磨耐腐蚀Cr不锈钢材质、激发氩气智能气压保护装置真空系统：l 真空油污染小、分子筛l 真空定时控制l（专利）整体式真空体l 长时间保持真空度l 真空泵工作时间短 光电直读光谱仪产品参数型号WL15APro-5000WL15APro-7000检测器Toshiba、Sony、Hamamatsu（可选）（背照式CCD、CMOS）光源系统全频数字双脉冲激发光源，可变频（100-1000Hz）激发技术，双火花组合放电：样品激发更稳定；光学系统帕型-龙格结构，罗兰光栅，焦距400，2400g/mm，波长范围120-800；（可选）全谱平场光学系统，波长可选范围：190-1100nm；读出系统电源前置滤波电路，高速16位ADC模数转换、FPGA数字信号控制器、工业USB数据采集（200KHz/s）、超高速多路同步数字采集器、320万次/秒、带模拟量光隔离、模拟量数字积分、单火花信号采集，带制冷、带智能检测（可实时监测各环节工作状态）计算系统外置品牌计算机，windows操作系统，显示器，打印机电源参数220V±10%，50Hz；火花激发最大功率：200-1000VA；10A慢熔保险丝环境要求相对湿度：20%-80%；工作温度：（10-35）℃；光谱环境：无腐蚀性气体和高灰尘污染真空系统间歇式工作，工作压力0.1-5Pa、工作时间60分钟，标配分子筛，隔离阀气路系统双气路四喷嘴气路系统，内置流量表激发平台整体采用耐磨耐腐蚀Cr不锈钢材质、激发氩气智能气压保护装置可测基体镍基、钴基、钛基、铅基、锡基、银基等 纯铝、纯铜、纯锡、纯锌、纯铅等纯金属 外型尺寸880*720*410，95Kg应用领域冶金、铸造、机械加工、炉前化验、科研、商检、汽车、石化、造船、电力、航空航天、核电、兵器等。

创新的光学技术,展现更高的实力 Metavision-1008i采用D-Scan光学系统,使检测器分辨率提高了一倍,检测极限、精度和准确度也比传统光学设计提高了数倍。 D-Scan光学系统的使用让波长范围更宽,具有完整的光谱覆盖范围以确保45种以上元素的检测分析。Metavision-1008i同样适用于各种纯金属和合金的黑色金属和有色金属应用,钢铁中的碳元素(C)和硫元素(S)的检出限低至15ppm和10ppm,氮元素(N)也可分析至20ppm,使Metavision-1008i成为绝大多数分析要求的理想选择。在有色金属中,Metavision-1008i也提供99%或所有纯金属的分析,其中一些(Cu,Pb等)的纯度也远远超过99.95%。提供好的结果对于任何光谱仪来说,分析的质量和稳定性都与电源的质量及其提供的电流放电的稳定性密切相关。此外,在高精度级别定制输出的能力对于确保针对每个应用程序中的每个元素优化分析至关重要。Metavision-1008i的创新数字等离子体发生器包括一个全电流控制源,每个放电参数都有广泛的输出范围。通过对每个参数的超高精度计算机控制,功率单元确保了高水平的等离子体稳定性,并能够为不同的应用生成理想的光谱。模块化设计Metavision-1008i的设计非常易于维修和维护。该仪器在其构建中模块化,优化子系统的隔离设计,以提供双重优势-无干扰/噪音和易于维护和维修。每个系统都可以轻松独立地访问,工程师可以进行维修,操作员可以进行日常维护任务。该设计还确保在任何操作(包括清洁和更换任何消耗品)中不会产生任何风险。技术特点45+元素的标准检测 包括N、C、S、P、B等,均为低下限双光学系统,提高灵敏度和检测限优越能力--分析钢铁中的C、N、S和P以及铝合金中的P时检出能力≤20 ppm稳定光学系统,确保始终如一的高准确度和高精度可现场灵活添加基体及分析程序全数字脉冲电流控制的电源新一代处理软件,用于低检测限的无噪声清晰光谱,确保分析的准确性。高等级识别,用于快速识别等级和基体,ARQC等无真空光学系统设计可降低使用和维护成本,并可快速稳定仪器本身。可应用于线材分析(直径2.2毫米),薄板析分(厚度0.05毫米),以及更多分析应用分析结果的准确性、质量和可用性才是价值的驱动力。为此,Metavision-1008i配备了满足各行业用户绝大多数需求的功能。这不仅包括元素覆盖率和检测限,还包括光谱仪和分析套件提供的额外输出。在分析能力方面,它是通过每个基体所需的绝大多数元素的检测能力来实现的。从C、S、P和N到V、Sb、Hg和As,Metavision-1008i提供了一个广大的覆盖范围和低检测限。所有分析程序还经过精心设计,可提供标准程序和可选程序。Metavision-1008i的Analyst套件配备了一个强大的、可定制的报告编写引擎,还提供了大量其他功能。 从气体质量检查和主动警报系统到等级和CRM库(包括预装和用户配置),以及添加自定义元素和程序的能力,此程序确保仪器能够使实验室实现光谱仪的价值扩大化。钢铁厂和各种铸造及机械加工厂需要分析广泛的元素,重点是高精度和低检出限,1008i可以分析黑色金属中的29种以上元素,包括低至20ppm的氮,并涵盖除氧以外的所有关键元素,大多数元素的分析水平可低至10-20ppm,有些元素的分析水平甚至更低。这使1008i成为大多数钢铁及有色金属冶炼或加工铸造厂的理想选择。在有色金属应用中,1008i的高分辨率决定了各种元素更宽的分析范围,确保对各种低合金和高合金的分析具有高的分析精度和准确性,可以提供痕量分析。对于纯金属生产商,如铅、锌、铜、钛等,Metavision-1008i可以对包括铅、砷、镉等重金属元素在内的各种元素进行低检测限,使用户能够满足纯度要求,并确保符合监管规范。 在纯金属应用中,元素的检测限能够以高的精度分析纯度高达99.95+%的金属。第三方检测机构为众多行业提供服务,通常每天要分析几百个不同材料和基体的样品。对于这类实验室来说,拥有一台高质量、低运行成本和覆盖元素和检测范围更广泛的光谱仪对于确保满足不同客户的需求至关重要。Metavision-1008i的快速分析时间确保了高质量和低检测限,满足了几乎所有工业用户的分析要求,使其成为大多数第三方实验室的理想解决方案。

leetes金属多元素分析仪WL15A-Pro 5000拥有全新外观，更加方便使用。新一代的光谱分析技术，长时间保持真空度，让测量结果更稳定，更准确。增加波长范围，为每一台光谱仪用户提供更高级的材料分析方案。 检测器： Toshiba、Sony、Hamamatsu（可选）（背照式CCD、CMOS） 光源系统：leetes金属多元素分析仪WL15A-Pro 5000采用全频数字双脉冲激发光源，可变频（100-1000Hz）激发技术，双火花组合放电使得样品激发更稳定。光学系统： 帕型-龙格结构，罗兰光栅，焦距400，2400g/mm，波长范围120-800nm；（可选）全谱平场光学系统，波长可选范围：190-1100nm；读出系统：电源前置滤波电路，高速16位ADC模数转换、FPGA数字信号控制器、工业USB数据采集（200KHz/s）、超高速多路同步数字采集器、320万次/秒、带模拟量光隔离、模拟量数字积分、单火花信号采集，带制冷、带智能检测（可实时监测各环节工作状态） 激发平台：整体采用耐磨耐腐蚀Cr不锈钢材质、激发氩气智能气压保护装置真空系统：l 真空油污染小、分子筛l 真空定时控制l（专利）整体式真空体l 长时间保持真空度l 真空泵工作时间短 leetes金属多元素分析仪WL15A-Pro 5000的产品参数型号WL15APro-5000WL15APro-7000检测器Toshiba、Sony、Hamamatsu（可选）（背照式CCD、CMOS）光源系统全频数字双脉冲激发光源，可变频（100-1000Hz）激发技术，双火花组合放电：样品激发更稳定；光学系统帕型-龙格结构，罗兰光栅，焦距400，2400g/mm，波长范围120-800；（可选）全谱平场光学系统，波长可选范围：190-1100nm；读出系统电源前置滤波电路，高速16位ADC模数转换、FPGA数字信号控制器、工业USB数据采集（200KHz/s）、超高速多路同步数字采集器、320万次/秒、带模拟量光隔离、模拟量数字积分、单火花信号采集，带制冷、带智能检测（可实时监测各环节工作状态）计算系统外置品牌计算机，windows操作系统，显示器，打印机电源参数220V±10%，50Hz；火花激发最大功率：200-1000VA；10A慢熔保险丝环境要求相对湿度：20%-80%；工作温度：（10-35）℃；光谱环境：无腐蚀性气体和高灰尘污染真空系统间歇式工作，工作压力0.1-5Pa、工作时间60分钟，标配分子筛，隔离阀气路系统双气路四喷嘴气路系统，内置流量表激发平台整体采用耐磨耐腐蚀Cr不锈钢材质、激发氩气智能气压保护装置可测基体镍基、钴基、钛基、铅基、锡基、银基等 纯铝、纯铜、纯锡、纯锌、纯铅等纯金属 外型尺寸880*720*410，95Kgleetes金属多元素分析仪WL15A-Pro 5000的应用领域冶金、铸造、机械加工、炉前化验、科研、商检、汽车、石化、造船、电力、航空航天、核电、兵器等。铸造行业:leetes金属多元素分析仪WL15A-Pro 5000主要用作铸造过程中的（炉前炉后）金属和合金材料中的元素分析和组分检测,便于质量控制和出厂品质 废品回收行业:leetes金属多元素分析仪WL15A-Pro 5000主要用作检测回收物品中某些元素的含量多少，辅助确定废料的进出价格 零件加工行业:leetes金属多元素分析仪WL15A-Pro 5000主要用作进厂原材料品质的鉴定和加工成品的成分变化检测 高校、理化实验室:leetes金属多元素分析仪WL15A-Pro 5000主要用作进厂原材料品质的鉴定和加工成品的成分变化检测 金属加工和制造业：leetes金属多元素分析仪WL15A-Pro 5000用于金属原材料、半成品和成品的质量控制，例如钢铁、铜、铝、锌等金属制品的检测和分析。 航空航天工业：leetes金属多元素分析仪WL15A-Pro 5000用于飞机发动机、火箭发动机、飞行器部件等材料的分析和检测，以确保其性能和质量。

贵金属纯度测试仪DH-600K是一款快速区分贵金属真假与含量的仪器，不损坏样品，能快速显示黄金纯度含量百分比%、K值、密度值；广泛应用于典当行、贵金属回收、珠宝银楼、首饰制造厂、珠宝检测中心、行业、黄金及贵金属研究实验室……等行业。贵金属纯度测试仪DH-600K--------测量准确、操作简单、经济实用、是区别贵金属纯度与膺品的好利器贵金属纯度测试仪DH-600K符合GB/T1423贵金属纯度测定标准，是目前最为广泛的检测方法。技术参数：1、测量时间：15秒2、最大称重：600g3、最小称重：0.005g4、密度解析：0.01g/cm35、测试范围：黄金9k-24k ；铂金Pt600-Pt10006、纯度显示：0.01%标准附件：①主机、②水槽、③测量台、④镊子、⑤温度计、⑥200G砝码、⑦防风防尘罩、⑧测金沙配件一套、⑨电源变压器一个主要特点：1、仅两个步骤，即可准确地测定纯度百分比%、黄金K数、密度值,快速贵金属中的膺品2、测量之后不会留下任何痕迹和污染，保证样品外观完整3、无需使用硫酸溶液或测试标准样品 4、对镀膜厚度＞30μm以上的巴西火烧金能轻而易举的判定印机打印测量数据o 多功能，其它贵金属纯度皆能测量，如铂金、银、钯、铜、铑、锡等5、可当精密天平便用6、全自动零点跟踪、蜂鸣器报警、超载报警功能7、具有实际水温补偿功能8、测量精准、操作简便、稳定耐用、经济实用9、使用水作介质，也可使用其它液体介质10、采用一体成形大容量测量配件，水槽防腐蚀、耐摔耐破11、配置专用防风防尘罩12、含RS-232C通信接口，方便连接PC与打印机，可选购DE-40打13、本产品自出售之日起免费保修一年测量步骤：①先测量样品在空气中重量，按ENTER键记忆。②再放入水中测水中重量，按ENTER键记忆，显示黄金K值、纯度百分比%、密度值，按A键循环切换。售后服务：1.所有产品均是原装正品产品。2.所有产品均免费保修一年，终身维护，保修期间产生的一切费用由我方承担。（天灾、人为现象除外）3.在运输过程中仪器有损坏时，一切责任由我方承担，并保证在4天内更换新品。4.使用方法,我方教导买方技术使用人员至完全熟练为止。5.其他详细购买事宜，参考双方协定的合同条款。编辑：lcl 15.6

A-Z系列金属粉我司提供A-Z系列金属粉料，纯度3N-4N不等，欢迎您的垂询！ A-Z金属纳米粉 A-Z金属普通粉名 称规 格名 称规 格Al金属99.99% 1～50nmAg粉4N 100-300目Ag金属99.9% 50nmBi粉4N 100-300目Cu金属99.99% 1～50nmCo粉4N 100-300目Fe金属99.9% 1～50nmCr粉4N 100-300目Ti金属99% 80nmEr粉4N 100-300目W金属99.9% 80nmIn粉4N 100-300目Zn金属99.99% 1～50nmMo粉4N 100-300目…………Ni粉4N 100-300目Nb粉4N 100-300目Ta粉4N 100-300目V粉4N 100-300目Sn粉4N 100-300目W粉4N 100-300目…………

金属硅特性：成分主要是硅，因此和硅具有相类似的性质。硅有无定形硅和晶形硅两种同素异形体。无定形硅是灰黑色粉末，实际上也是一种微晶体。晶形硅具有金刚石的晶体结构和半导体性质 ， 熔点 1410℃ ， 沸点 2355℃ ，密度2.32～2.34克/厘米3，莫氏硬度 7金属硅粉用途：1、工业硅粉广泛的应用于耐火材料、粉末冶金行业中，以提高产品的耐高温，耐磨损和抗氧化性。其产品被广泛的应用于炼钢炉、窑炉、窑具中。2、在有机硅化工行业，工业硅粉是有机硅高分子合成的基础原料，如用于生产硅单体、硅油、硅橡胶防腐剂，从而提高产品的耐高温性、电绝缘性、耐腐蚀性、防腐蚀性、防水等特性。3、工业硅粉经拉制成单晶硅，加工而成的硅片被广泛应用于高科技领域，是集成电路，电子元件必不可少的原材料。4、冶金铸造行业中，工业硅粉作为非铁基合金添加剂、硅钢合金剂，从而提高钢淬透性。工业硅粉也可应用于某些金属的还原剂，用于新型陶瓷合金等。设备选型：根据金属硅的物料特性，推荐选用气流粉碎机进行粉碎应用机型：ZJ-QLM系列工作原理：ZJ系列流化床超细超微粉碎机是利用多个相对布置的喷嘴形成高速气流，再利用高速气流将物料加速至超音速使其在喷嘴的交汇处互相碰撞，达到超细粉碎的目的。被粉碎物料随上升气流进入分级机分级室，由于分级转子高速旋转，粒子既受到分级转子产生的离心力，又受到气流粘性作用产生的向心力，当粒子受到的离心力大于向心力，即分级粒径以上的粗粒子返回粉碎室继续冲击粉碎，细粒子随气流进旋风分离器、捕集器收集，气体由引风机排出。ZJ系列流化床气流粉碎机是传统流化床式气流粉碎机、对喷式气流粉碎机、水平式气流粉碎机及其它类型气流粉碎机的更新换代产品，设备主要由粉碎主机、高精涡流分级机、旋风收集器、布袋除尘器、空气压缩机等组成；喷流能的充分利用是该机的最大特点。设备特点：1、绿色环保：低温无介质粉碎，保证了产品的高纯度和物理特性。设备在负压状态下运行无粉尘污染2、高效率：喷流能的充分利用，比传统气流磨粉碎机提高30%的粉碎效率，分级精度更高。3、设备磨损小：“流化床+立式分级机”的结构可以高纯、超窄地加工超微粉体，避免了“流化床+卧式分级机”分级部分的磨损，在相同材质下设备易损件使用寿命是国际同类产品的20倍。 磨损极小，尤其适合高纯度高硬度物料的超微粉碎。4、产量高：生产粒度分布窄的产品时，成品率比传统对喷式、流化床式气流粉碎机提高1倍以上。5、多用途：一机多用，可作为粉碎机也可作为分级机使用。粉碎粒度范围广，产品粒径可在1-74um范围内任意调节。6、智能化：设备可以实现全部自动控制，操作简单，运行稳定，生产环境优良。7、设计合理：设备结构紧凑，粉碎主机内无存料、无死角、易于拆洗、消毒、更换粉碎物料品种方便。8、整个系统采用自动化控制，可实现一键式启停，操作简单方便与中控联接可实现远程控制

产品名称：高纯Ca金属产品形态：Ca颗粒，Ca块产品规格：Ca块 100x100x20 Ca颗粒 8—15mm 纯度：3N5-5N 都可以 标准包装：1000级超净室100级超净袋包装储存须知：由于金属极易氧化，请于真空储藏。

产品名称：高纯B金属产品形态：铍颗粒产品规格：3N5-4N，颗粒大小5-30mm标准包装：1000级超净室100级超净袋包装储存须知：由于金属极易氧化，请于真空储藏