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不同靶材下元素分析

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  • 仪器简介:Thermo Scientific Niton 2009年推出的最新的XL2系列手持式XRF分析仪,专为满足苛刻的应用环境而设计,它是先进的软硬件技术与多年行业经验完美结合的产物 ,具有更加卓越的分析性能,速度更快、精度更高、可靠性更强,能够满足客户合金、矿物、土壤、消费品、电子产品、环保等多种分析要求XL2系列是Thermo Scientific Niton手持式XRF分析仪产品中的标准型号,性能高,电子系统先进,检测方式简单:瞄准-发射;软件工具完全内置,密封性好,防水、防尘、防腐蚀;同时XL2分析仪具有重量轻,坚固耐用,更加适合现场、生产车间等苛刻的应用环境符合人体工程学设计,日光下可轻松读取测试数值的用户界面,Thermo Scientific Niton XL2具有简单易用的菜单订制功能与多种语言选项,可分析从硫(S)至铀(U)之间的超过25种化学元素Thermo Scientific Niton XL2集精确、准确、易用于一身,是工业现场成分分析的理想选择金属合金成分分析,如金属牌号鉴别、产品质量控制、废品回收等、地质、矿山勘查、矿石品位控制等电子产品筛检,消费品含铅量的测定等。如:PMI 领域,XL2可作为金属成分分析的理想工具,它可分析从Ti至Ni之间的各种合金材料的化学成分,即时出具检测结果,对检测样品无任何损坏。对重金属及痕量元素分析也具有优异的性能。来自于手持式XRF仪器技术先导的用户解决方案,源于在创新中追求卓越品质。XL2具有无可比拟的检测精度,用户完全可以信赖XL2对材料价值、牌号及金属化学成分的准确判断。Thermo Scientific Niton XL2以其一流的性能特征,多种先进的功能菜单,远远走在同类竞争产品的前列。通过Thermo Scientific Niton先进的NDT专用软件,用户可对仪器进行各种定制服务,如:设置用户权限,生成定制报告,打印个性化的附有公司logo(标识)的分析证书,或者通过计算机远程监控、操作仪器,内置USB接口和无线蓝牙通讯可以直接将数据传输到计算机或网络存储设备上,消除了PDA式XRF分析仪阻碍数据同步传输的难题。技术参数:重量:1.53Kg外形尺寸: 256 x 275 x 100 mm激发源: 高性能微型X射线管:Ag靶, 45kv/80µ A最大探测器 :高性能半导体电子系统 :400 MHz ARM 11 CPU ,300 MHz专用DSP数字信号处理器,80 MHz ASICS DSP数字信号处理器,4096像元多道分析器,64MB系统内存/128MB用户内存显示器 :定角高亮度彩色触摸屏标准分析范围 :可分析从硫至铀间的25种以上元素,可根据应用进行选择>25种元素,分析范围:从硫(S)至铀(U)(根据应用不同变化)数据存储 :可存储超过10000个数据和图谱数据传输: USB接口 蓝牙无线传输 RS-232数据传输数据安全性: 用户密码保护人体安全保护:空打即自动关闭X射线管模式(随应用变化) :合金模式:金属合金,电子合金,贵金属大样品模式:矿物模式,土壤模式塑料模式:RoHS塑料模式,玩具和消费品塑料模式订制模式:基于其它可行性应用,用户可订制分析模式数据输入: 触摸屏及键盘标准附件: 带密码锁的防水抗震手提箱,仪器保护套和尼龙带,2块可充电锂离子电池,110V/220VAC充电器/电源适配器,PC连接线(USB及RS-232数据线), NITON NDT软件,安全系带,标准样品可选附件 :便携测试架,台式测试架,移动测试架,焊接面罩,土壤检测防护装置可分析元素 :(标准配置) XL2t-500 矿石分析仪S, K, Ca, Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Ba, Hf, Ta, Re, W, Au, Hg, Pb, Bi (共34种)XL2t-600 环境分析仪S, K, Ca, Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Ba, W, Au, Hg, Pb (共28种)XL2t-700 消费品分析仪Cl, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Br, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Ba, Hf, Ta, Pt, Au, Hg, In, Pb, Bi(共30种)XL2t-800 合金分析仪Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu., Zn, Se, Nb, Zr, Mo, Pd, Ag, Sn, Sb, Ta, Hf, Re, W, Pb, Bi (共23种)主要特点:创新点:Ntion XL2是2009年Thermo Scientific Niton推出的高性价比产品,完美地继承了Niton经典机型XLt系列的衣钵,采用最佳的Si-PIN探测器,45kV微型光管,倾斜彩色触摸屏设计,内设自动校准功能,集最新电子与软件技术于一身,并具有极其优异的稳定性,确保用户能够在苛刻条件使用,可广泛应用于合金,矿物,环境,出口类消费品检测等各个领域。* ID校正:具有最正确的ID校正功能,与市场上同类产品相比,检错率很低,准确率非常高。试验表明:NITON XL2t的ID置信度为98.7%* 先进的合金数据库:数据库更全面,化学校准更精确。从低含量至高含量,Thermo Scientific Niton XL2的数据库进行了全面、充分的最佳优化。分析种类更广泛,分析数据更准确。* 独有的牌号库智能化自动切换滤光片技术:数据库根据分析需要自动切换滤光片,减少了设定滤光片而带来的不必要的分析时间。 -使用简单,非专业人员也可操作-人体工程学设计,操作更加舒适-坚固耐用,完全满足现实中的工业现场环境应用要求-真正意义上的非破坏性检测,瞬间出示检测结果-从&ldquo 开机启动&mdash 瞄准检测&mdash 出示结果&rdquo 仅需数秒钟-技术先进,性能稳定,分析结果可靠-电池续航时间达10小时,完全满足现场长时间分析需要
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  • 金属分析仪 金属元素分析仪 金属材料成分分析仪 微机三通道元素分析仪QL-BS微机多元素分析仪采用冷光源技术提高了仪器的易用性和分析结果的准确性,适用于对金属等材料中的硅、锰、磷、镍、铬、铜、稀土、镁、铜、铁、铝、钒、钨、钛等多种元素的含量分析,可以满足冶金、机械、化工等行业在炉前、成品、来料化验等方面对材料多元素分析的需要。金属分析仪 金属元素分析仪 金属材料成分分析仪 微机三通道元素分析仪技术参数:◇测量范围:锰0.10%-15.00% 硅0.10%-5.00%磷0.005%-0.80% 铬0.010%-25.0%钼0.010%-6.00% 镁0.010%-0.99%(以上元素均可相应扩大测量范围)性能特点:◇冷光源技术,进口硅光电池,自校零点和满度值;◇采用单片机控制,可储存15条曲线;◇采用精密触摸式键盘,键音提示,设计快捷功能,操作更简单;◇仪器机外熔样,操作简单,无阀门和管道老化,使用寿命处长;◇更换不同冷光源可扩大测量元素的种类和含量范围。
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  • Vanta分析仪Vanta手持式XRF分析仪系列是我公司新近推出的一款性能强大的手持式XRF设备,可以为那些要求在野外环境获得分析水平的用户,进行快速准确的元素分析。分析仪的机身非常坚固,符合IP55或IP54评级标准,通过了坠落测试,可以正常运行更长的时间,而且其拥有成本较低。Vanta ElementVanta Element型号分析仪是一款检测速度快,坚固耐用,且具有连通性能的高性价比手持式X射线荧光(XRF)分析仪,可以在几秒钟之内完成材料和牌号的辨别,并可以比较不同的合金,从而有助于完成废料回收和金属制造行业中的应用。用于环境评估的Vanta分析仪用于土壤和沉积物分析的Vanta手持式XRF分析仪可为用户迅速提供准确的环境修复和环境评估数据。使用简便的Vanta分析仪具有坚固耐用的特性,可适用于要求十分严苛的野外应用。用于制造业质量保证质量控制的Vanta分析仪用于制造业质量保证质量控制的Vanta手持式XRF分析仪,可为用户提供高度详细的材料化学成分信息,从而可在材料准确度至关重要的情况下,快速准确地辨别纯金属和合金的牌号。用于采矿业和地球化学领域的Vanta分析仪用于采矿业和地球化学领域的Vanta手持式XRF分析仪可以在现场立即进行元素分析,完成地球化学勘探、矿石品位控制、选矿及环境治理工作。用于废料回收行业的Vanta分析仪用于回收和废料分拣的Vanta手持式XRF分析仪根据不同的型号符合IP64或IP65评级标准,可以抵御雨水、尘土和灰尘的侵袭,并通过了美国标准(MIL-STD-810G)中的坠落测试,从而有助于防止分析仪在条件恶劣的废料场中受到损坏,并可在很大程度上延长工作时间。用于材料成分辨别(PMI)的Vanta分析仪用于材料成分辨别(PMI)的Vanta手持式XRF分析仪,可为用户提供高度详细的材料化学成分信息,从而可快速准确地辨别合金的牌号,以确保用户在关键的位置上安装牌号正确的合金部件用于合规和安全筛查的Vanta分析仪Vanta手持式XRF分析仪用于确保消费产品符合RoHS指令以及其它一些地方监管法规。Vanta分析仪可以在现场对消费产品进行化学元素分析,以快速查出铅(Pb)、镉(Cd)、汞(Hg)、铬(Cr)和溴(Br)等有毒元素。用于贵金属分析的Vanta分析仪用于贵金属分析的Vanta手持式XRF分析仪可以快速获得准确的合金化学成分信息,并判断出样件的克拉等级,从而可在珠宝分析和汽车催化剂的回收过程中识别金、铂金、银、铑等元素。
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  • 南京麒麟 HW2000BA型高频红外多元素分析仪QL-HW2000B型高频红外碳硫与QL-BS1000G型多元素分析仪组合配套能快速、准确检测钢铁、合金、铸造、有色金属等及其它材料中多种元素的质量分数。HW2000BA型高频红外多元素分析仪主要特点: QL-HW2000B型高频红外碳硫分析仪--采用有双CPU处理系统;高精度采集系统,每秒可达四次;工业级模块电源,抗干扰能力强;铂金红外光源,光能源充足;采用航空电机调制光源信号,信号稳定;镀金检测气室,光吸附少;可增双碳红外检测池,自动切换。 QL-BS1000G型多元素分析仪--采用计算机和单片机技术实现程序控制和数据处理。能快速、准确地测出钢铁和有色金属中多种元素的质量分数,自动化程度高,定量加液准确可靠,试剂量少等特点,提高了分析的准确度和精密度,能直接显示质量分数并打印;衍射光栅数码电机波长可调光学系统,提高了波长调整的步进精度,可以达到优于1nm的水平。HW2000BA型高频红外多元素分析仪主要技术参数:测量范围:(因该仪器可检测的元素较多,现以钢中的C、S、Mn、P、Si、Cr、Ni等常见元素为例)碳:0.0001%- 99.999%、 硫: 0.0001%-99.999% 、锰0.10~65.00%、硅0.10~75.00%、磷0.005~1.80%、铬0.01~65.0%、钼0.101~6.00%、镁0.010~0.100%、镍0.010~30.0%、稀土0.01~0.100%、… … 如改变测试条件,该范围可相应扩大。◇分析误差:符合GB223.3~5~1988、GB223.68~69-1997等国家标准◇电子天平:电子天平不定量称样,(可选配万分之一天平)◇分析方法:碳硫采用红外光分析方法;其他多元素采用机外溶样,光电比色法,◇波长范围:400~800nm连续可调。◇标样曲线:多元素部分记忆贮存99条曲线(可根据用户需要任意增加),采用回归方法,建立曲线方程。◇工作环境:室温0—40℃
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  • QL-BS1000精密元素分析仪 金属材料元素分析仪器为南京麒麟分析仪器有限公司2007年自主研发推出,采用光源波长连续可调技术提高了仪器的应用范围和分析结果的准确性。只要有元素的光度分析方法,就可用本仪器进行分析,因而可以适用于黑色和有色金属及其合金等各种材料中的硅、锰、磷、镍、铬、铜等多种元素的含量分析,可以满足铸造、冶金、机械、化工等行业在炉前、成品、来料化验等方面对各种材料多元素分析的需要。金属材料元素分析仪器性能特点:◇ 波长范围:400-800nm(波长连续可调)◇ 吸光度范围:0-1.999A◇ 浓度范围:0.000-99.99%自动换档显示◇ 显示方式:1英寸数码显示管◇ 波长准确度:± 3nm◇ 数据存贮:机内EEPROM 断电数据可保存10年◇ 电源:交流220V± 10%,50Hz± 5%◇ 电源消耗:&le 45W◇ 重量:&le 15kg金属材料元素分析仪器主要特点:◇ 自主研发采用元素分析仪可调波长光源系统,实现波长连续可调,从而使产品的应用范围达到功能全的水平,可以根据被测材料元素的要求,方便的迅速设定所需波长,可用于各种材料及其合金的多种元素分析。◇ 产品不仅波长连续可调,而且精度大幅提高,从传统元素分析仪的波长误差一般20nm提高到现在的3nm,因而可以使产品在扩大应用范围的同时,提高分析检测的准确度。◇ 采用单片机实现程序控制和数据处理。能快速、准确地测出钢铁和有色金属中多种元素的质量分数,自动化程度高,定量加液准确可靠,试剂量少等特点,提高了分析的准确度和精密度,能直接显示质量分数并打印。◇ 采用冷光源技术、进口光电元件,自校零点和满度;◇ 单片微机控制、快捷功能键、快速更换不同厚度比色杯,可储存9条曲线;◇ 机外溶样、操作方便,没有阀门和管道老化,延长使用寿命。
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  • K-7000稀土元素分析仪 400-860-5168转6124
    K-7000稀土元素分析仪主要用途: 手持式矿石分析仪秉承科迈斯多年的手持式X荧光光谱仪研发经验,科迈斯K-7000手持矿石分析仪引入数字多道技术,使检出限更低、稳定性更高、适用面更广,性能媲美台式机;小巧便携的体积在探矿、找矿以及各类地址矿样多种元素的检测和分析、矿渣精炼分析中充分发挥作用,使探矿工作变得简单、轻松。K-7000手持矿石分析仪可以用来对各种不同类型的矿石进行现场分析。测试过程对样品要求低,但是测试结果准确 能准确分析高浓度样品,避免了验证性的实验室测试。科迈斯KMX-RAY手持式光谱分析仪可实时提供含有稀土元素(REE)的地质样品的数据。这17种稀土元素对绿色能源和几乎所有行业的生产都至关重要,促进了在国内生产更多这些金属的需求。因此,实时识别这些材料具有很大的市场价值。K-7000手持式光谱分析仪具有出色的检出限,可检测许多可量化的稀土元素,可在现场有效地勘探和识别稀土元素。K-7000手持式XRF软件可以检测一些稀土元素:镧(La)、铈(Ce)、镨(Pr)、钕(Nd)、钪(Sc)、钇(Y) ,以及一些靠近稀土元素的元素:钍(Th)、铀(U)、铯(Cs)和钡(Ba)。K-7000在检测各种矿石样品(包括氟碳酸盐和次生磷酸盐)时,表现出非常高的性能。氟碳酸盐通常是氟碳铈矿石,可提供钇、铈和镧 而磷酸盐通常是独居石,不仅含有镧、铈、错和钕,还含有较重的稀土元素钐和钆,以及放射性较弱的钍。K-7000对关键元素的稳定性及检测极限变得更低,特别是稀土元素。因为传统40KV电压的XRF用L线可以完成大多数稀土元素的检测L线会受到很多普通元素严重干扰,而50千伏仪器则可以直接测试稀土元素的K线,测试结果更加可靠准确。K-7000规格表主要配置1矿石分析仪主机1套:2标准样品1个 3原装可充电锂电池2块 4充电座及电源线 5U盘(32G)1个 6加强型聚丙烯膜5片 7标准手提防潮防震箱一只。标配模式矿石模式 选配模式:合金分析模式、土壤分析模式自诊断功能仪器可自动对硬件、软件、网络、电池等进行诊断,并会生成日志,便于快速排查出故障操作系统Window CE 6.0操作系统,安全、放心测试方法基本参数法,支持经验系数法修正点触或扣动扳机控制测试开始,测试过程无需长扣扳机。根据客户需求,也可以一直按着扳机测试样品。滤光片配置8个滤光片,可根据测试元素自动切换:激发源大功率微型直板X射线管,W靶材,4W大功率X射线管,管电压50KV,电流最大可达100μA 采用KMX技术,更高X射线计数率,超低电子噪声设计。每次测试前,不需要外部标样,自动能量校准核查 探测器美国Moxtek Si-pin (6 mm2)180ev检测元素38个标准元素:La,Ce, Pr,Nd, Sm, Eu, Gd,Y,Ti,V,Cr,Mn, Fe,Co, Ni,Cu,Zn,As, Se, Sr,Rb, Zr,Nb,Mo,Te, Ag,Cd,Sn,Sb,Ba, Ta,W,Au, Hg,TI,Pb,Bi,U。根据用户需求添加其它元素。K-7000性能优势1、X射线管光源、多光束过滤技术、以及惠普个人数位助理技术(惠普掌上型电脑),从而使其采测范围、检测速度、检测精度都非常出色,并具有极好的升级潜力。2、使用了先进的和多用途的x射线资料模式采用康普顿常态化校正方法,可以利用“内部标准”来进行定量分析,而不需要进行专门的校正。3、基本参数分析:采用半定量分析方式,适合于检验各种不同元素的构成的结构密度不均匀的样品。4、实验校正法:利用“校正曲线”进行校正,允许使用用户产生的校正曲线。5、配备了光谱高点识别软体,可在显示幕查看光谱6、对比光谱,参考内置标准完成比较分析。
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  • ECS 8020是基于杜马分析法对有机元素进行分析,可同时测出碳氢氮硫/氧元素。该仪器是基于“闪燃”技术/层析分离法的是ECS4010/4024元素分析仪的元素分析技术的改进版本。二氧化碳、水蒸气、二氧化硫和氮气经过一段恒温的气体层析柱(GC柱)进行高度分离,通过TCD检测器进行检测并且输出到软件中进行分析。 ECS 8020从可选的进样器,氧气的用量以及监测消耗品的状态均为全自动控制。ECS 8020可测试不同类型和大小的样品,包括液体和固体,大量样品,从微克到克的有机物均可以被分析;三种不同的进样器,多种规格的反应管满足不同的应用需求;自动化系统使仪器的使用更加人性化:自动控制氧用量系统可以更好控制氧气的消耗,实现消耗状态监测功能,优化催化剂的使用;独家设计的TCD检测器是自校准的,不需要使用参考气体;ECS 8020可以连接多款同位素分析仪,用于分析元素中稳定同位素的同位素比值。 ECS 8020 CHNSO元素分析仪主要应用于有机化学和制药、土壤科学、地质学、海洋学、环境分析、石化和能源、材料分析、食品检测等领域。技术原理 杜马分析法主要特点自动化系统检漏、自动化流速设置触摸屏显示,方便设置反应过程监控,优化催化剂使用:氧气进样量智能调整,减少耗材消耗高灵敏度、准确度及精确度检测器无需利用基准气体功能强大的分析软件三种进样器(电子进样器、气动进样器及手动进样器)高效催化剂及精确测试流程管控,实现低运营及管理成本可直接与各品牌同位素分析仪等检测器连接做稳定同位素分析技术参数 可测元素 CHNS/O 进样器 气动自动进样器:147位 电动自动进样器:32,50,100位 手动进样器 分析时间 CN:5min;CHN:8min; CHNS:13/25min;O:4min 测量范围 C:0.002-20mg;H:0.002-5mg; N:0.002-2mg;S:0.002-6mg; O:0.002-2mg 准确度 0.2%(标准品,纯度99.9%) 反应炉 双炉系统 精度 0.1%(标准品,纯度99.9%) 显示 触摸屏显示系统参数 尺寸 81 * 50 * 37cm 重量 68kg 供电 230V,50/60Hz 功耗 5A,1100Wh 气体需求 氦气(99.999%),3-5bar; 氧气(99.999%),3-5bar; 空气(无油压缩空气)分析条件 载气 氦气 检漏 自动检漏 反应炉温度 左炉:最高1100℃; 右炉:最高1100℃ 分离炉温度 最大110℃ 氧气需求 根据氧气定量器自动计算 流量调节 电子流量调节 气体分离 0.8-4m GC柱 检测器 高灵敏度TCD 软件 EAS Clarity 校准 线性、二次曲线、三次曲线 样品大小 0.1-500mg(取决于样品性质),土壤样品最大进样量到1000mg 样品类型 固体、液体 包样 高纯度锡杯或者银杯 可选配件 天平、耗材
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  • 高精度X射线荧光元素分析仪三元前驱体多元素分析 PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ JP500仪器可以针对各种类型的矿物粉末及矿物浸提液体中多种元素进行高精度分析,可高效快速进行矿样品质评价。◆ 对各种类型的矿物通过基本参数法对基体进行校正,样品直接检测即可得到高精度的测试结果,与实验室测试结果高度一致。◆ 快速分析矿物中镍、铁、硫、钴、锰等40余种元素含量。◆ 内置多条曲线,FP(基本参数)计算方法、可针对不同基体分析◆ 针对材料中微量元素、主量元素进行准确定量分析;应用于不同形态的硫酸钴、硫酸锰、硫酸镍等样品分析,如液体、固体粉末等。JP500仪器主要用于液体、固体粉末的准确定量分析,在新能源材料领域可应用于多个生产工艺环节过程控制。产品特点◆ 五分钟内可得到样品中目标元素准确结果。◆ 先进的单波长激发技术及软件算法,大幅提高检测精度、减少测试误差。◆ 采用嵌入式系统,高分辨率液晶显示触摸屏,结合数字多道技术,有效提升数据传输和运算能力。◆ 电池新材料生产工艺过程中溶液元素成分的快速和实时监测,及时掌握溶液关键元素和杂质元素的含量变化情况,保证生产质量受控。◆ 电池新材料行业精矿原料中元素成分的快速准确监测,及时获取原料的品质参数信息。 ◆ 新材料三元前驱体的快速准确定量检测,确保产品质量。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力,能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能、支持4G、5G远程数据传输。◆ 仪器有自动保护功能,当进样舱开启时,可自动断开。分析曲线图硫酸钴溶液中相关元素拟合标准曲线 重复性测试同一个三元前驱体NCM样品粉末,装样4次,每次装样重复检测5次,每次检测时间5min。同一次装样5次重复误差≤0.1%,同一个三元前驱体四次装样平均值误差≤0.4%。多元素应用 JP500满足高浓度硫酸钴溶液中Si S Cl K Ca Cr Mn Fe Cu Zn Ni As Pb等元素的高精度定量检测,适用于镍、钴、锰原料矿样和三元前驱体粉末快速准确检测。检出限 技术参数电源 110-240 VAC,50-60 Hz检材 液体、固体粉末等 测量方法高精度X射线荧光光谱法HDXRF测量范围 铁、锰、铜、锌、硅、磷等40余种元素晶体 DCC(双曲面弯晶)晶体实现激发X射线单色化聚焦,优化提高元素检出限和定量精度电子元件 处理器不低于1.2GB四核处理器 64位、1GB RAM;4096道高性能MCA;自主开发数据分析系统;探测器 高效快速硅漂移Fast SDD 探测器 光学系统 HDXRF技术构架下的单色聚焦系统工作温度 -5 °C~50 °C环境湿度 相对湿度≤70%语言 中/英文语言切换重量 ≤9Kg 尺寸 32.5cmW*32.2cmL*26cmH
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  • ECS 8022是一个特殊的N和C元素分析模块,基于杜马式闪燃的方法。ECS 8022是用于样品中碳氮含量的测定。ECS8022是基于样品燃烧和色谱柱气体分离技术,利用高分辨率TCD检测器对燃烧产物CO2和N2进行分离和定量。 ECS 8022从可选的进样器,氧气的用量以及监测消耗品的状态均为全自动控制。ECS 8022可测试不同类型和大小的样品,包括液体和固体,大量样品,从微克到克的有机物均可以被分析;三种不同的进样器,多种规格的反应管满足不同的应用需求;自动化系统使仪器的使用更加人性化:自动控制氧用量系统可以更好控制氧气的消耗,实现消耗状态监测功能,优化催化剂的使用;独家设计的TCD检测器是自校准的,不需要使用参考气体;ECS 8022可以连接同位素分析仪(如Picarro同位素分析仪、IRMS质谱仪),用于分析元素中稳定同位素的同位素比值。技术原理 杜马分析法主要组成双炉燃烧系统(为了更好的燃烧和最佳化使用催化剂)安全快速的反应管安装系统(简单和安全的方法设置仪器)定制化的GC柱检测系统数据采集和处理主要特点完全自动化的分析系统高灵敏度、准确度及精确度应用更灵活和广泛检测器无需利用基准气体功能强大的分析软件触摸屏显示,方便设置反应过程监控,优化催化剂使用三种进样器(电子进样器、气动进样器及手动进样器)易于与Picarro、质谱仪等检测器连接做稳定同位素分析低运营及管理成本待机模式,节省气体、能源和时间性能指标技术参数可测元素CN进样器气动自动进样器:147位电动自动进样器:32,50,100位手动进样器分析时间CN:5min反应炉双炉系统测量范围C:0.002-20mg;N:0.002-20mg安装安全、快速安装准确度99.9%)显示触摸屏显示精度99.9%)是否可待机具有待机模式系统参数尺寸81*50*37cm重量68kg供电230V,50/60Hz功耗5A,1100Wh气体需求氦气(99.999%),3-5bar;氧气(99.999%),3-5bar;空气(无油压缩空气)分析条件载气氦气检漏自动检漏反应炉温度左炉:最大1100℃;右炉:最大1100℃分离炉温度最大110℃氧气需求根据氧气定量器自动计算流量调节电子流量调节气体分离3m GC柱检测器高灵敏度TCD软件EAS Clarity校准线性、二次曲线、三次曲线样品大小0-500mg(视样品性质而定)样品类型固体、液体包样高纯度锡杯或者银杯可选配件天平、耗材
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  • DM2400型MEDXRF轻元素光谱仪满足国Ⅴ、国VI对车用汽柴油超低S检测要求超低检测限(300s): Si: 0.7ppm, P: 0.4ppm,S: 0.15ppm,Cl: 0.08ppm采用 单色激发能量色散X射线荧光(MEDXRF)分析技术 高衍射效率对数螺线旋转双曲面(LSDCC)人工晶体 高计数率(2Mcps)和分辨率(123eV)的SDD探测器 合理 kV、mA、靶材组合的微焦斑薄铍窗X射线管 符合标准:GB/T 11140ISO 20884ASTM D2622ASTM D7039ASTM D7220ASTM D7757ASTM D7536ISO 15597ASTM D6481概述DM2400型单色激发能量色散X射线荧光轻元素(Si、P、S、Cl)光谱仪,简称DM2400型MEDXRF轻元素光谱仪,是本公司集数十年X荧光光谱仪的研究经验,在公司原有的DM系列X荧光测硫仪、X荧光多元素分析仪、波长色散X射线荧光多道光谱仪等的基础上研制推出的一种达到国际先进水平的XRF光谱仪。它采用以下技术和器件,使采用50W光管的能谱仪DM2400具有出色的再现性和稳定性,超低检出限,实已将现代科技发挥到极致。图1. MEDXRF分析技术原理图单色激发能量色散X射线荧光(MEDXRF)分析技术X射线荧光光谱仪的检出限LOD(limit of detection)是指由基质空白所产生的仪器背景信号标准偏差的3倍值的相应量,即: (1)式中,Rb为背景(本底)计数强度,N为已知浓度为C的低浓度试样的计数强度,T为测量时间。从式(1)可以看出检出限与灵敏度(N-Rb)/C成反比,与背景Rb的平方根成正比。在测量时间一定的情况下要降低检出限,就必须提高灵敏度和(或)降低背景。传统XRF,无论是EDXRF还是WDXRF,无法实现较低检出限的一个主要原因是X射线光管出射谱中连续轫致辐射的散射使得荧光光谱的连续散射背景较高。 单色激发能量色散X射线荧光 (Monochromatic Excitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence) 分析技术,就是采用光学器件将X射线光管出射谱单色化,进而使得荧光光谱的连续散射背景极大地降低,同时尽可能少的降低甚至于可能的话增加所需激发X射线的单色化的线或窄能量带的强度,从而大大降低了检出限。相比传统的EDXRF降低了1至2个数量级,相比大功率(如4kw)的WDXRF也要低得多。图2.样品的XRF光谱图高衍射效率对数螺线旋转点对点聚焦人工单色晶体将X射线光管出射谱单色化的方法很多,有滤波片法,二次靶法和衍射法等。而衍射法中的双曲面衍射晶体DCC(Doubly CurvedCrystals)是单色化最好和效率最高的。衍射必须满足Bragg定律:nλ=2dsinθ (2)也就是说从源出射的射线其波长必须满足(2)式才被衍射,所以其具有极好的单色化。又由于DCC能将点源聚焦,所以有大的收集立体角,从而有极高的效率。另外,聚焦还能使照射到样品的光斑很小,从而使小面积的半导体探测器Si-PIN或SDD可以接受大部分样品较小面中的荧光射线,也就是说DCC还提高了探测效率。图3. 实线为 X 射线管的出射谱 ,红色为经LSDCC单色化的特征X射线入射谱 DCC按其曲面又分为半聚焦(Johann),全聚焦(Johansson)和对数螺线(Logarithmic Spiral)等。其中半聚焦只是部分满足衍射条件,所以经半聚焦DCC单色化的特征X射线入射谱是最差的。全聚焦是完全满足衍射条件且是点对点聚焦的。但全聚焦DCC的制造工艺极其复杂,除弯曲外它必须有一个磨成R曲面的过程,天然晶体如Si,Ge等是很脆的,极不容易磨制,而人工晶体是不可能磨制的,另外天然晶体通常在非常窄的光谱区域中衍射X射线。导致靶材特征X射线只有一部分被衍射,积分衍射率低 DM2400采用的对数螺线旋转双曲面人工晶体DM30L,是集本公司技术精英经2年的刻苦专研研制而成的专利产品。对数螺线DCC也是完全满足衍射条件的,虽然聚焦不是点对点的,而是点对面的,但由于这个面很小,一般只有2mm左右,所以可认为是点对点的。它用的是DM人工晶体,该晶体的积分衍射率是天然晶体的3到10倍,所以该晶体具有极高的效率。另外,它只需弯曲无需磨制和拼接,制造方便。图4. LSDCC点对点聚焦原理图高分辨率(123eV)高计数率(2 Mcps)的SDD探测器X射线探测器的种类有很多,有正比计数管,Si-PIN探测器和硅漂移探测器SDD等。探测器的分辨率以全能峰的半宽度表示,全能峰的净计数与半宽度无关,但其背景计数与半宽度成正比,所以分辨率越高则检出限越低。正比计数管的半宽度是半导体探测器的8倍左右,所以检出限高8的平方根倍左右。Si-PIN的分辨率比SDD的稍差,且其在高计数率下分辨率急剧下降。所以SDD是其中最好的。DM2400采用德国KETEK公司生产的VITUS H20 CUBE(最高级)SDD探测器,其分辨率小于123eV,有效探测面积20mm2,计数率2 Mcps。最佳kV、mA、靶材组合的微焦斑薄铍窗X射线管激发样品的X射线能量越接近所需分析元素的吸收限,其激发效率就越高。DM30L晶体仅衍射X射线管出射谱中的高强度特征X射线,其有靶材发出。所以合理的选用靶材能得到最高的激发效率。DM2400标准型由于可测量Cl以下的元素,所以选择Ag作为靶材。选定靶材后,在X射线光管最大功率一定的情况下,如50W,合理的光管高压(kV)和电流(mA)组合能达到最大的激发效率。由于采用点对点的聚焦,所以必须采用微焦斑的X光管。由于靶材的特征X射线能量很低,所以必须用薄铍窗X射线管。 DM2400采用50W微焦斑薄铍窗X射线管,标准型选用Ag靶,并对kV、mA进行最佳组合。标定用已知含量的7个含Si、P、S、Cl样品对仪器进行标定,得图5的工作曲线。图5. 含Si、P、S、Cl样品工作曲线这些工作曲线的相关系数γ 均大于0.999,表示DM2400光谱仪的线性误差极小。 准确度为了进一步测试分析的准确性,制备了具有不同硫含量的柴油和轻质油的五个样品,每个样品装入两个不同的样品杯中进行S准确度试验:表2. 用五个未知样品测定S分析的准确度结果样品标称值(ppm)1号样品杯(ppm)2号样品杯(ppm)柴油554.914.82柴油333.023.05汽油222.122.00汽油101010.810.2汽油252524.525.2 表2示出了获得的浓度结果(ppm),以及与标称值的比较。这些结果表示在低浓度水平下,用DM2400光谱仪可以实现S的优异的准确度。精确度对三种,每种各装入七个不同样品杯的汽油样品进行S重复性试验:表1. S汽油样品S分析的重复性测试数据样品杯号第1种样品(ppm)第2种样品(ppm)第3种样品(ppm)11.155.3110.3221.084.929.8930.905.0510.1140.934.789.6751.014.889.5161.035.169.9070.975.269.81平均值1.015.059.89标准偏差0.0860.2010.269RSD8.6%4.00%2.69%这些结果表示在低浓度水平下,用DM2400光谱仪可以实现S的优异的重复性。 特点快速同时–所需测量元素同时快速分析,一般几十秒给出含量结果。低检出限–采用先进MEDXRF技术,LSDCC核心技术,达到超低检出限。具极高的重现性和再现性。长期稳定–采用可变增益数字多道,有PHA自动调整、漂移校正、偏差修正等功能,具极好的长期稳定性。环保节能–射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品,无污染,无需化学试剂,也不需要燃烧。使用方便–触摸屏操作。样品直接装入样品杯,放入仪器后只需按[启动]键即可,真正实现一键操作。高可靠性–一体化设计,集成化程度高,环境适应能力强,抗干扰能力强,可靠性高。高性价比–无需钢瓶气体,运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半。是真正的高性价比产品。适用范围适用于炼油厂、检测及认证机构、油库、实验室测量范围从0.5ppm到10%的各种油品(如汽油、柴油、重油、残渣燃料油等)、添加剂、含添加剂润滑油、以及炼化过程中的产品。亦适用于各行各业任何材料中Cl以下元素的同时测量 主要技术指标测量元素Si、P、S、Cl(可选择B~Cl中的任意元素组合)X射线管电压:≤50keV,电流:≤2mA,功率≤50W,靶材:Ag(Mo、Rh、Pd、Cr等可选)探测器SDD,有效面积:20mm2,分辨率:≥123eV,计数率:≤2Mcps,入射窗:8μm铍 (AP3.3可选)检测限(300s)Si:0.12ppm,P:0.7ppm,S:0.26ppm,Cl:0.14ppm(标准型,1块LSDCC晶体)Si:0.7ppm,P:0.4ppm,S:0.15ppm,Cl:0.08ppm(增强型,3块LSDCC晶体)测量范围检测限的3倍~9.99%线性误差分析精度测S:满足GB/T 11140,ISO20884,SH/T 0842,ASTMD2622、D7039、D7220等的相关要求。 测Si:满足ASTM D7757,SH/T 0706,SH/T 0058等的相关要求。测Cl:满足ASTM D7536,ISO 15597,SH/T 0161等的相关要求。测P:满足ASTM D6481,SH/T 0296,SH/T 0631等的相关要求。系统分析时间1~999s,推荐值:微量测量为300s,常量测量为60s使用条件环境温度:5~40℃,相对湿度:≤85%(30℃),供电电源:220V±20V,50Hz,≤200W测量氛围自充气系统或氦气尺寸及重量540mm×500mm×450mm,35kg注:如用户认为标准型的DM2400不能满足要求,可向本公司提出,本公司可尽可能满足用户的要求。如要求更低的检测限,本公司可将晶体从1块增加到3块以降低检测限为原来的1/1.73。如要求测量F以下原子序数的元素,本公司可为用户选择AP3.3入射窗的SDD。如用户要在高S的基体下测微量Al和Si,本公司可将标准型的Ag靶改为Mo靶,以满足用户要求。
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  • 三元素分析仪 400-860-5168转1164
    BS3B型微机三通道元素分析仪 三元素分析仪采用冷光源技术提高了仪器的易用性和分析结果的准确性,适用于对金属等材料中的硅、锰、磷、镍、铬、铜、稀土、镁、铜、铁、铝、钒、钨、钛等多种元素的含量分析,可以满足冶金、机械、化工等行业在炉前、成品、来料化验等方面对材料多元素分析的需要。三元素分析仪技术指标:◇测量范围:锰0.10%-15.00% 硅0.10%-5.00%磷0.005%-0.80% 铬0.010%-25.0%钼0.010%-6.00% 镁0.010%-0.99%(以上元素均可相应扩大测量范围)三元素分析仪性能特点:◇冷光源技术,进口硅光电池,自校零点和满度值;◇采用单片机控制,可储存15条曲线;◇采用精密触摸式键盘,键音提示,设计快捷功能,操作更简单;◇仪器机外熔样,操作简单,无阀门和管道老化,使用寿命处长;◇更换不同冷光源可扩大测量元素的种类和含量范围。
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  • 精密元素分析仪 400-860-5168转1164
    QL-BS1000全能精密元素分析仪采用光源波长连续可调技术提高了仪器的应用范围和分析结果的准确性。只要有元素的光度分析方法,就可用本仪器进行分析,因而可以适用于黑色和有色金属及其合金等各种材料中的硅、锰、磷、镍、铬、铜等多种元素的含量分析,可以满足冶金、机械、化工等行业在炉前、成品、来料化验等面对各种材料多元素分析的需要。全能精密元素分析仪技术参数:1 测量范围:锰0.10~15.00%、硅0.10~5.00%、磷0.005~0.80%、铬0.01~25.0%、钼0.101~6.00%、镁0.010~0.100%、镍0.010~30.0%、稀土0.01~0.100%、&hellip &hellip 2.波长范围: 400-800nm(波长连续可调)3. 波长准确度: ± 3nm4 分析时间:两分钟左右5 分析误差:锰:符合GB/T223.63-88标准磷:符合GB/T223.59-87标准硅:符合GB/T223.5-97标准6 分析方法:采用机外溶样,光电比色法。7 标样曲线:记忆贮存9条曲线,采用回归方法,建立曲线方程。8 输入输出方式:薄膜专用输入键盘,LED数码管显示式打印输出。全能精密元素分析仪主要特点:1. 采用元素分析仪可调波长光源系统,实现波长连续可调,从而使产品的应用范围达到全功能的水平,可以根据被测材料元素的要求,方便的迅速设定所需波长,可用于各种材料及其合金的多种元素分析。2. 产品不仅波长连续可调,而且精度大幅提高,从传统元素分析仪的波长误差一般20nm提高到现在的3nm,因而可以使产品在扩大应用范围的同时,提高分析检测的准确度。3. 采用单片机实现程序控制和数据处理。能快速、准确地测出钢铁和有色金属中多种元素的质量分数,自动化程度高,定量加液准确可靠,试剂量少等特点,提高了分析的准确度和精密度,能直接显示质量分数并打印。4. 采用冷光源技术、进口光电元件,自校零点和满度;5. 单片微机控制、快捷功能键、快速更换不同厚度比色杯,可储存9条曲线;6. 机外溶样、操作方便,没有阀门和管道老化,延长使用寿命。
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  • Element5 820 CHNSO 元素分析仪系普瑞亿科引进意大利NCT(原Costech)公司技术,结合杜马斯“闪燃”技术和色谱分离法生产的高品质有机元素分析仪,可通过氧化过程测量碳、氢、氮、硫元素,或者通过还原过程测量氧元素。Element5 800系列是600系列产品的升级版和拓展版,增加了设备的自动化功能,即自动化系统检漏、自动化流速设置、氧气智能配给等功能。与600系列一样,Element5 800系列元素分析仪可选单炉和双炉设计,以区分氧化和还原过程是在单炉还是在双炉间进行;可选不同直径的氧化和还原管,满足不同类型(如固体和液体)和不同含碳量样本(从微克到克)的测试需求,且对应不同的测量样本,配置不同的氧气用量,以节约消耗品;可选手动进样器或自动进样器,以满足不同进样操作和进样数量需求;创新设计的TCD检测器具有自校准功能,不需要使用参考气体,最大限度优化提升了客户的使用体验。 Element5 820 CHNSO 元素分析仪的氧化和还原在两个炉中实现,氧气的用量以及消耗品的状态均为全自动控制,且具备智能自动泄漏检测功能。Element5 820继承了NCT公司产品的优秀品质,并在普瑞亿科的优化过程中,产品稳定性和适用性进一步提升,可广泛应用于生态、农业、医药、海洋研究、食品分析、石油化工、质量控制等多个行业和领域。 技术原理 杜马斯“闪燃”技术和色谱分离法主要特点高灵敏度、准确度及精确度;可选不同直径的氧化还原管;具有自动氧气输入配置功能;具有自动气体泄漏自检功能;电子/气动自动和手动进样器;TCD检测器无需基准参考气;双燃烧炉,为经济运行设计;可连接光谱和质谱同位素仪。性能指标技术参数 可测元素 CHNS/O 进样器 气动自动进样器:147位 电动自动进样器:32,50,100位 手动进样器 分析时间 CN:5min;CHN:8min; CHNS:10/25min;O:4min; 测量范围 C:0.002-20 mg;H:0.002-5 mg; N:0.002-20 mg;S:0.002-6 mg; O:0.002-2 mg; 准确度 0.2%(标准品,纯度99.9%) 反应炉 双炉系统 精度 0.1%(标准品,纯度99.9%) 显示 触摸屏显示 系统参数 尺寸810 x 500 x 370 mm 重量 68kg 供电 230V,50/60Hz 功耗 5A,1100W 气体需求 氦气(99.999%),3-5bar;氧气(99.999%),3-5bar; 空气(无油压缩空气) 分析条件 载气 氦气 检漏 自动检漏 反应炉温度 左炉:最高1100℃; 右炉:最高1100℃; 分离炉温度 最大110℃ 氧气需求 根据氧气定量器自动计算 流量调节 电子流量调节 气体分离 0.8-4m GC 柱 检测器 高灵敏度 TCD 软件 EAS Clarity 校准 线性、二次曲线、三次曲线 样品大小 0.1-500mg(取决于样品性质),土壤样品最大进样量到1000mg 样品类型 固体、液体 包样 高纯度锡杯或者银杯 可选配件 天平、耗材
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  • Element5 840 CHNSO 元素分析仪系普瑞亿科引进意大利NCT(原Costech)公司技术,结合杜马斯“闪燃”技术和色谱分离法生产的高品质有机元素分析仪,可通过氧化过程测量碳、氢、氮、硫元素,或者通过还原过程测量氧元素。Element5 800系列是600系列产品的升级版和拓展版,增加了设备的自动化功能,即自动化系统检漏、自动化流速设置、氧气智能配给等功能。与600系列一样,Element5 800系列元素分析仪可选单炉和双炉设计,以区分氧化和还原过程是在单炉还是在双炉间进行;可选不同直径的氧化和还原管,满足不同类型(如固体和液体)和不同含碳量样本(从微克到克)的测试需求,且对应不同的测量样本,配置不同的氧气用量,以节约消耗品;可选手动进样器或自动进样器,以满足不同进样操作和进样数量需求;创新设计的TCD检测器具有自校准功能,不需要使用参考气体,最大限度优化提升了客户的使用体验。 Element5 840 CHNSO 元素分析仪是经济型单炉设计,氧化和还原在一个炉中实现,氧气的用量以及消耗品的状态均为全自动控制,且具备智能自动泄漏检测功能。Element5 840继承了NCT公司产品的优秀品质,并在普瑞亿科的优化过程中,产品稳定性和适用性进一步提升,可广泛应用于生态、农业、医药、海洋研究、食品分析、石油化工、质量控制等多个行业和领域。 技术原理 杜马斯“闪燃”技术和色谱分离法主要特点高灵敏度、准确度及精确度;可选不同直径的氧化还原管;具有自动氧气输入配置功能;具有自动气体泄漏自检功能;电子/气动自动和手动进样器;TCD检测器无需基准参考气;单炉经济型设计,小巧耐用;可连接光谱和质谱同位素仪。性能指标技术参数 可测元素 CHNS/O 进样器 气动自动进样器:147位 电动自动进样器:32,50,100位 手动进样器 分析时间 CN:5min;CHN:8min; CHNS:10/25min;O:4min; 测量范围 C:0.002-20 mg;H:0.002-5 mg; N:0.002-20 mg;S:0.002-6 mg; O:0.002-2 mg; 准确度 0.2%(标准品,纯度99.9%) 反应炉 单炉系统 精度 0.1%(标准品,纯度99.9%) 显示 触摸屏显示 系统参数 尺寸510 x 500 x 370 mm 重量 53 kg 供电 230V,50/60Hz 功耗 4A,900W 气体需求 氦气(99.999%),3-5bar;氧气(99.999%),3-5bar; 空气(无油压缩空气) 分析条件 载气 氦气 检漏 自动检漏 反应炉温度 最高1100℃; 分离炉温度 最大110℃ 氧气需求 根据氧气定量器自动计算 流量调节 电子流量调节 气体分离 0.8-4m GC 柱 检测器 高灵敏度 TCD 软件 EAS Clarity 校准 线性、二次曲线、三次曲线 样品大小 0.1-500mg(取决于样品性质),土壤样品最大进样量到1000mg 样品类型 固体、液体 包样 高纯度锡杯或者银杯 可选配件 天平、耗材
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  • XAD是一款上照式全元素光谱分析仪,可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析,先进的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测:测量面积小至0.008mm2变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-90mm自主研发的EFP算法:AI(3)-U(92)元素的成分分析,Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测,多层多元素,甚至有同种元素在不同层也可准确测量先进的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限高性能探测器:SDD硅漂移窗口面积20/50mm2探测器X射线装置:微焦加强型射线管搭配聚焦装置上照式设计:实现对大型样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量可编程自动位移:选配自动平台,X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量多准直器自动切换1.成分分析范围:铝(Al)- 铀(U)2.成分检出限:1ppm3.涂镀层分析范围:锂(Li)- 铀(U)4.涂镀层检出限:0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm(测量面积小至0.03mm2) 标配:测量直径小至0.3mm(测量面积小至0.07mm2)6.对焦距离:0-30mm7.样品腔尺寸:530mm*570mm*150mm8.仪器尺寸:550mm*760mm*635mm9.仪器重量:100KG10.XY轴工作台移动范围:100mm*150mm11.XY轴工作台承重:15KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、环保检测、地质地矿、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董、锂电行业等多种领域。选择一六仪器的四大理由:1.一机多用,无损检测(涂镀层检测-环保RoHS-成分分析)2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-90mm的异形件4.轻元素,重复镀层,同种元素不同层亦可检测
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  • Element5 822 CN 元素分析仪系普瑞亿科引进意大利NCT(原Costech)公司技术,结合杜马斯“闪燃”技术和色谱分离法生产的高品质有机元素分析仪,可通过氧化过程测量碳、氮元素。Element5 800 系列是600系列产品的升级版和拓展版,增加了设备的自动化功能,即自动化系统检漏、自动化流速设置、氧气智能配给等功能。与600系列一样,Element5 800系列元素分析仪可选单炉和双炉设计,以区分氧化和还原过程是在单炉还是在双炉间进行;可选不同直径的氧化和还原管,满足不同类型(如固体和液体)和不同含碳量样本(从微克到克)的测试需求,且对应不同的测量样本,配置不同的氧气用量,以节约消耗品;可选手动进样器或自动进样器,以满足不同进样操作和进样数量需求;创新设计的TCD检测器具有自校准功能,不需要使用参考气体,最大限度优化提升了客户的使用体验。 Element5 822 CN 元素分析仪的氧化和还原在两个炉中实现,氧气的用量以及消耗品的状态均为全自动控制,且具备智能自动泄漏检测功能。Element5 822继承了NCT公司产品的优秀品质,并在普瑞亿科的优化过程中,产品稳定性和适用性进一步提升,可广泛应用于生态、农业、医药、海洋研究、食品分析、石油化工、质量控制等多个行业和领域。技术原理 杜马斯“闪燃”技术和色谱分离法主要特点高灵敏度、准确度及精确度;可选不同直径的氧化还原管;具有自动氧气输入配置功能;具有自动气体泄漏自检功能;电子/气动自动和手动进样器;TCD检测器无需基准参考气;双燃烧炉,为经济运行设计;可连接光谱和质谱同位素仪。性能指标技术参数 可测元素 CN 进样器 气动自动进样器:147位 电动自动进样器:32,50,100位 手动进样器 分析时间 CN:5min 测量范围C:0.002-20mg;N:0.002-20mg; 准确度 0.2%(标准品,纯度99.9%) 反应炉 双炉系统 精度 0.1%(标准品,纯度99.9%) 显示 触摸屏显示 系统参数 尺寸810 x 500 x 370 mm 重量 68kg 供电 230V,50/60Hz 功耗 5A,1100W 气体需求 氦气(99.999%),3-5bar;氧气(99.999%),3-5bar; 空气(无油压缩空气) 分析条件 载气 氦气 检漏 自动检漏 反应炉温度 左炉:最高1100℃; 右炉:最高1100℃; 分离炉温度 最大110℃ 氧气需求 根据氧气定量器自动计算 流量调节 电子流量调节 气体分离 3m GC 柱 检测器 高灵敏度 TCD 软件 EAS Clarity 校准 线性、二次曲线、三次曲线 样品大小 0-500mg(取决于样品性质) 样品类型 固体、液体 包样 高纯度锡杯或者银杯 可选配件 天平、耗材
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  • DragonFly是欧洲工程技术中心(CEITEC)唯一的衍生公司Lightigo公司推出的与FireFly平行的产品型号,旨在通过支持扩展、面向科研的设计,实现最强的通用性,让使用者尽享LIBS技术的最强优势。对于通常较难检测的样品,比如钢材中的C元素、岩土材料中的F元素、混凝土材料中的Cl元素、电池中的Li元素检测等,Dragonfly都能实现优秀的检测效果。DragonFly为灵活、易于扩展的模块化设计,独具1-1300 mbar全自动连续控制的真空反应室、激光脉冲波长自动切换功能;此外可选配紫外真空模块,解决了多种谱线在可见光区域互相干扰的特殊情况。DragonFly支持灵活订制,更多例如双激发、多激发方案、多光路采集等----请联系我们共同讨论,与您共同实现最具性价比和针对性的配置方案。应用领域l 植物、土壤、地质、金属、塑料、生物材料的元素检测;l 元素分布成像(mapping);l 多层剖面元素测量;l 动植物的有害金属/重金属的胁迫响应;l 标记物、纳米颗粒检测主要特点l 1-1300 mbar 真空反应室;l 吹气模块和主动抽吸模块;l 3轴自动移动操作台;l 显微样品观测和环状4段独立照明;l 激光聚焦光斑自动调整;l 8通道内置数字延时发生器;l 气体吹扫和气体抽吸适配器;l 单激发/双激发DPSS激光器;l 最快测量速度100HZ;l Echelle/Czerny-Turner光谱仪;l iCCD/EMCCD/SCMOS/CMOS检测器可选仪器参数DragonFly标准配置选项见下表。主要配置可根据需求和预算做针对性选择,实现最优性价比。DragonFly支持灵活订制,请联系我们沟通您的配置方案。样品样品体积最大80 × 80 × 50mm (样品可为不规则形状)样品支架适用于不规则样品:通用夹式样品支架适用于标准压片样品:12 × 12 mm | 2 × 30 mm | 1 × 50 mm电控样品台移动范围(X × Y × Z)60 × 80 × 50 (X × Y × Z) mm移动分辨率0.08 μm (微移) / 5 μm (标准):移动速度6 mm/s样品观测正向观测相机CMOS ( 最高55 fps), 视野范围:1.5 mm, 侧向观测相机CMOS ( 最高55 fps), 视野范围:80 mm:照明LED环状照明,4段独立控制激光聚焦透镜空气介质消色差耦合透镜,焦距30 mm光斑大小自动调节范围:10–150 μm激光器标配DPSS激光器;20HZ,70 mJ (1064), 35 mJ (532 nm), 12 mJ (266 nm)1)可选双激发DPSS, pulse energy 100 mJ, 频率可达100 Hz2)光谱仪和检测器标配Echelle + EMCCD, 20 Hz, 200-1000 nm, 分辨率能力可至 60 000 λ/Δλ3) 可选Czerny-Turner/Echelle + ICCD/iStar SCMOS/CMOS, 频率可达100 Hz (1 kHz in ROI4))数字延时发生器通道8个SMB输出通道,另有2个SMB通用I/O通道8 SMB output 模式单脉冲,连续,外触发,门控,负载循环等参数时间分辨率10 ns,精确度5 ns,输出3.3/5 V气体模块气压调节1-1300 mbar 调节范围, 可通入 Ar/He 保护气吹扫系统连续吹扫模式;脉冲触发吹扫模式抽吸系统主动气体/灰尘抽气系统,滤网可更换紧凑版规格长×宽×高1320 × 850 × 1500 mm重量300 kg1) 多种倍频可选; 2)取决于激光器型号; 3)取决于光谱仪的配置; 4)取决于ROILIBS技术原理和优势 DragonFly应用案例:1. LIBS技术对于癌症检测的应用:CEITEC 的布尔诺科技大学Lightigo研究团队正在进行应用LIBS技术的皮肤癌检测研究---癌变细胞与正常细胞的元素构成有差异,所以通过LIBS技术检测肿瘤组织的元素特征,从而应用于医疗诊断。 本图引自捷克电台网站本次采访新闻文章 2020年1月24日,捷克电台发布了在布尔诺科技大学激光光谱实验室对Lightigo团队的采访,Lightigo公司项目负责人Pavel Po?ízka谈到:“LIBS测量能够得到一系列元素分布图像,帮助病理学家尽快确诊。大的肿瘤容易发现,但LIBS技术对于很小的难以检测的卫星肿瘤会非常有用武之地。”2. 应用双激发LIBS技术对蚕豆幼苗根部纳米银颗粒分布mapping分析根部对于植物养分供应、保护植物避免受到过量金属离子的毒害方面发挥着重要作用,但是根部元素分析的难度要远远大于对茎部组织,原因包括:根通常要比茎和芽细小很多;干物质含量小很多,为样品切割带来很大不便;通常待分析元素相对含量较低;而柔软多汁的样品如何保持其结构形状以得到元素分布的正确结果,同样是个难题。Lightigo针对上述挑战,在本案例中进行了成功的探索 --- 应用双激发LIBS技术对蚕豆幼苗根部纳米银颗粒(直径为21.7±2.3 nm)进行mapping分析,目标是对自然状态下的植物组织进行元素检测,获得高mapping分辨率的同时确保检测灵敏度。这同时也是整个LIBS领域中,对植物根部纳米颗粒分布情况的初次尝试。 Cu+溶液处理蚕豆幼苗根横切不同分辨率下mapping结果:100μm、75μm、50μm Cu2+、Ag+、AgNPs处理7日后的蚕豆幼苗根部横切的显微图像和元素mapping对应结果 不同浓度Cu2+溶液【a) 100 μmol l?1 Cu2+ ;b)50 μmol l?1 Cu2+;c) 10μmol l?1 Cu2+; d) 0 μmol l?1 Cu2+】处理蚕豆幼苗根横切mapping结果;e)样品区特征谱线;f)Cu2+浓度降低,其对应谱线强度也依次降低实验结论:LIBS技术检测速度快;即使对直径只有2mm的幼根,也可对其横切面中的金属离子及金属纳米颗粒分布进行mapping分析,检测的精确度和图像分辨率足以满足实验需求。应用双激发技术,Mapping分辨率可达到50μm,足以区分根表皮层、皮层、中柱中的元素分布特征。此外,7天的短时间处理即可检测结果,说明对自然环境中、自然养分条件下的植物来说,LIBS 元素mapping也是元素分布检测行之有效的实验方法,因此将是植物生理学和环境毒理学领域中的有效应用。引自:Krajcarová L, Novotny K, Kummerová M, J. Dubová J, Gloser V, Kaiser J. Mapping of the spatial distribution of silver nanoparticles in root tissues of Vicia faba by laser-induced breakdown spectroscopy (LIBS) [J], Talanta 173 (2017) 28–35.)
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  • 黑色金属元素分析仪 400-860-5168转1164
    黑色金属元素分析仪QL-S3000C型电脑红外全能联测多元素分析仪器是本公司自主研发的一款多元素联测分析仪,其对性能、质量及精度的要求达到标准。黑色金属元素分析仪技术参数:◇ 测量范围:(因该仪器可检测的元素较多,现以钢铁中的C、S、Mn、P、Si、Cr、Ni、Mo、Re、Mg、Fe、Cu、Al、V、W、Ti等常见元素为例)碳:0.001&mdash 10.00% 、 硫: 0.0005&mdash 0.5000% 、锰0.10~15.00%、 硅0.10~5.00%、 磷0.005~0.80%、铬0.01~25.0%、 钼0.101~6.00%、镁0.010~0.100%、镍0.010~30.0%、 稀土0.01~0.100%、&hellip &hellip 如改变测试条件,该范围可相应扩大。◇ 分析时间:五分钟左右(红外分度+比色)◇ 分析误差:优于GB223.3~5~1988、GB223.68~69-1997等国家标准◇ 分析方法:碳硫采用红外光度分析方法;其他多元素采用机外溶样,光电比色法,波长范围400~800nm电脑控制连续可调。◇ 标样曲线:多元素部分记忆贮存99条曲线(可根据用户需要任意增加),采用回归方法,建立曲线方程。◇ 输入输出方式:品牌电脑控制、数据导出的格式可根据实验室要求任意设置,打印机输出。黑色金属元素分析仪主要特点◇ 电脑微机控制,全中文菜单式操作,台式打印机打印结果。◇ 碳硫分析采用红外光度分析方法,显著提高分析精度。◇ 采用计算机和单片机技术实现程序控制和数据处理。能快速、准确地测出钢铁和有色金属中多种元素的质量分数,自动化程度高,定量加液准确可靠,试剂量少等特点,提高了分析的准确度和精密度,能直接显示质量分数并打印。◇ 自主研发的元素分析仪用衍射光栅数码电机波长可调光学系统。产品采用可由计算机控制的元素分析仪的衍射光栅单色体,实现波长数码可调,即任意输入所需波长,光学系统即调整至指定波长,从而使产品可以实现由计算机控制,根据被测材料元素的要求,方便的迅速设定所需波长,可用于钢铁、铜铝等各种金属、非金属材料及其合金的多种元素分析。◇ 衍射光栅数码电机波长可调光学系统,提高了波长调整的步进精度,可以优于1nm的水平。◇ 产品智能化水平大幅提高,操作者可以在选择所测元素后,产品即自动调整至检测该元素所需的波长,为产品的推广使用,提供便利。◇ 采用计算机实现程序控制和数据处理。能快速、准确地测出钢铁和有色金属中多种元素的质量分数,自动化程度高,首创元素分析仪不定量称样功能,准确可靠,方便用户操作。◇ 可快速更换不同厚度比色杯;◇ 采用冷光源技术、进口光电元件,自校零点和满度;◇ 电子天平联机不定量称样,计算机自动读入重量或人工键入可选,方便分析操作。◇ 系统稳定性好,抗干扰能力强,分析结果准确、可靠。◇ 硫滴定加液采用专利无电极控制专利技术,采用专利防崩塞技术,有效降低故障率;◇ 分析结果可长期大量保存,并可进行产品质量跟踪分析。◇ 可记忆贮存99条曲线(可根据用户需要任意增加),采用回归方法,建立曲线方程。◇ 机外溶样、操作方便,没有阀门和管道老化,延长使用寿命。
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  • 痕量分析 TXRF 光谱仪 快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析,元素范围13Al-92U,检出限到2pg。 需要样品量少,液体及悬浮物样品1-50微升,粉末样品10微克以内。 便携式全反射荧光仪,设备小巧,一体化结构设计,不需要任何辅助设备及气体、液氮等,可拿到现场进行分析。 1位及25位全自动进样器两款设计,分别适用于每天有少量样品及大批量样品的全自动分析。 第四代XFlashSDD硅漂移探测器,采用帕尔贴冷却技术,不需要液氮,没有任何消耗。分辨率优于160eV at MnKa 100Kcps。 由于全反射无背景,荧光强度与元素含量直接成正比。标准曲线工厂已校准好,用户不需要标样就可以进行定量分析。行业应用:水、废水、土壤中的污染元素;血液、尿液、组织中的有毒元素;食品、医药、刑侦、环保、陶瓷、水泥、建材、地质等领域。
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  • YFZ01耐火材料多元素快速分析仪1.仪器简介YFZ01耐火材料多元素快速分析仪是在DHF系列多元素分析基础上根据硅酸盐成分分析实验室用户的使用习惯,研制了自动连续高精度取液系统,已获国家实用新型专利(专利号:201921076178.9),系统可替代手工取液操作,减少人工操作同时减少操作误差。仪器可在自动量取样品溶液时,同步加入显色试剂,实现了主要硅酸盐产品中主要元素的自动取液及同步加试剂功能。 YFZ01耐火材料多元素快速分析仪采用了六路自动进样系统、排液系统,仪器数据的稳定性、重复性好,分析结果符合预期。仪器针对耐火材料行业的化学成分定量分析进行设计,结合多年丰富的研发与现场调试经验,根据广大用户对仪器的使用环境与操作习惯,设计了新的数据处理系统,适用于铝质耐火材料、硅质耐火材料、硅酸铝耐火材料、镁质耐火材料、特种耐火材料、矾土、莫来石、刚玉、氧化铝等材料的化学成分定量快速分析。2.主要技术参数2.1测量元素(其氧化物、非氧化物、单质成分)元素符号SiAlFeTiKNaCaMgBZr名称硅铝铁钛钾钠钙镁硼锆元素符号PbZnMnCrBaNiCoPLiSn名称铅锌锰铬钡镍钴磷锂锡元素符号CuMoWV名称铜钼钨钒2.2测量范围及精度:对元素的检测上限可达99%以上,下限经扩展可达到0.001%。高硅质材料分析允许误差参照GB/T4734,高铝质材料分析允许误差参照GB/T6900。2.3分析速度:自称样开始2小时完成常规8元素全分析。2.4自动连续高精度取液通道:8个,实现硅、铝、铁、钛、钙、镁的自动取液及同步加试剂功能。2.5进样通道:6个,可同时测量6个元素。2.6连续测量样品数: 10个。2.7自动进样系统、排液系统。2.8软件自动调零、线性纠偏。3.仪器成套性3.1 YFZ01耐火材料多元素快速分析仪 1台 3.2数据处理系统(含计算机、打印机、分析软件) 1套3.3数显火焰光度计 1套3.4银坩埚 4套3.5超声波清洗器 1台3.6标准贮备液 1套3.7快速测定套装 1组4.安装环境4.1电源 220V/50Hz 4.2整机功率 1kW4.3安装面积 3500×850mm 4.4整机重量 100kg4.5环境温度 10-30℃ 4.6相对湿度 ≤85%5.服务承诺我公司对仪器实行免费保修一年,终身维修服务。免费用户提供实验室设计、技术咨询、安装调试、人员培训服务。
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  • —来自美国劳伦斯伯克利国家实验室的绿色化学分析技术技术背景 当激光作用于样品表面时,在极短时间内诱导产生含有样品物质的等离子体,等离子体产生的过程中,发射出带有样品元素信息的发射光谱,通过检测这些发射光谱,得到样品的元素信息。这种技术被称为激光诱导击穿光谱技术LIBS(Laser Induced Breakdown Spectroscopy),俗称激光光谱元素分析技术,检测限可达ppm级;随着等离子的冷却,凝结的样品颗粒可输送到ICP-MS,可测量样品中的微量、痕量元素或同位素,检测限可达ppb级。 测量的元素可覆盖元素周期表中的大部分元素,高达100多种。 J200激光光谱元素分析系统是美国应用光谱公司APPLIED SPECTRA(ASI公司)融会美国劳伦斯伯克利国家实验室(Lawrence Berkeley National Laboratory)30多年激光化学分析基础理论研究成果推出的全球顶级产品。ASI公司由美国劳伦斯伯克利国家实验室资深科学家 Dr. Rick Russo及其团队成立。Russo博士研究领域包括:激光加热和激光剥蚀过程的机理研究;飞秒激光进样系统;利用激光剥蚀技术提高LIBS及ICP-MS 的化学分析精度;激光超声的无损检测和评估等。Russo 博士共发表学术论文300 多篇,专利22 项。ASI公司在激光应用领域具有世界领先的技术及经验。 系统介绍 J200激光光谱元素分析系统创造了激光等离子光谱化学分析技术的新时代,首次将LIBS技术和ICP-MS结合,将检测限提高到ppb级,并可得到样品元素的空间分布图(elements mapping)。目前已广泛用于国际高端和国家级实验室,如美国劳伦斯伯克利国家实验室、美国大克拉曼多犯罪实验室 、巴西圣保罗大学、 美国西北太平洋国家实验室等众多知名机构。 J200激光光谱元素分析系统基于激光诱导击穿光谱技术,实现了从氢元素到钚元素几乎全元素的测量,包括H、N、O等轻元素以及卤族等其他传统方法(包括ICP-MS)不能测量的元素。此外,J200激光光谱元素分析系统还可升级为激光质谱联用元素分析系统,将剥蚀出的纳米级固体样品微粒直接送入ICP-MS进行更精确的分析,有效避免酸溶、消解等复杂样品前处理带来的二次污染和可能的误差引入,同时还可以大大提升元素检测限,实现了ppb以下到100%的宽范围测量,还可在分析同位素的同时进行主量元素的分析。 功能 快速检测土壤、植物、中草药、刑侦材料(玻璃、油墨等)、矿石、合金等样品中的: ? 常量元素N, P, K, Ca, Mg, S ? 微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl ? 痕量元素:可检测化学周期表上大部分元素 ? 其他:有机元素C、H、O和轻元素Li、Be、Na等(其他技术很难同时分析) ? 同位素 (可升级和ICP-MS 联用测量) 应用领域 ? 土壤、植物样品检测 ? 中药元素分析 ? 刑侦微量物证分析 ? 农产品检测 ? 地质矿物分析 ? 煤粉组分检测 ? 重金属污染检测 ? 合金分析 ? 宝石鉴定 ? 材料分析等 工作原理 J200激光光谱元素分析系统的固体激光器产生激光作用于样品表面。当激光能量大于样品击穿门槛能量时,在样品表面形成等离子体。这些等离子体中受激光能量激发到达高能态的样品物质在迅速回迁至低能态的过程中,发射出带有样品元素种类、含量信息的发射光谱,这些发射光谱信号被智能信号收集系统收集并传输至光谱仪中进行分光,再由CCD检测器进行检测,得到元素信息。 硬件特点 ? J200激光光谱元素分析系统可对样品进行全元素快速检测,同时可将固体样品的剥蚀颗粒直接送入ICP-MS系 统,实现ppb级精确分析。弥补了ICP-MS不能测量部分轻元素的缺憾,也有效避免了ICP-MS分析中繁杂的样 品前处理过程及可能引入的二次污染。 ? J200激光光谱元素分析系统可与市面上绝大多数主流品牌ICP-MS的联用。 ? J200激光光谱元素分析系统配备有固体样品室,还可根据用户需求同时配置气体、液体样品室,并通过设置 可自动切换的光路系统,实现固、液、气体样品室在同一系统中的自动化切换,无需人为拆卸。 ? J200激光光谱元素分析系统的硬件采用模块化设计,易于更新。激光器和光谱仪(检测器)可根据样品的种 类及用户的研究目的进行升级,两者均不受外界环境温度影响,无需进行特殊的环境控制,使用寿命长。 ? J200的激光能量和激光光斑大小连续可调,激光脉冲能量稳定一致,可实现样品分层剥蚀、夹杂物和微光斑 分析(直径最小可达5μm)、元素分布制图、高精度定量等多种分析。 ? J200激光光谱元素分析系统采用ASI专利技术:剥蚀导航激光和样品高度自动调整传感器相结合,解决了样品 表面凹凸不平导致剥蚀不均匀的问题;激光能量稳定阀确保到达样品表面的激光能量稳定一致;3-D全自动操 作台。 ? J200具备双摄像系统,分别用于广角成像和放大观察某一样品区域。 软件特点 J200的系统软件能实现对所有硬件组件的控制,能提供多种采样模式,包括直线、曲线、随机点、网格任意大小和自定义采样等,通过设置参数,可在无人值守的条件下自动进行大面积采样。 ASI公司专利的TruLIBS™ 数据库是真正的等离子体发射光谱数据库,与NIST数据库相比,TruLIBS™ 数据库能快速、准确地识别复杂的元素谱线,各种搜索功能,如波长范围、元素种类和等离子体激发态,将搜索时间缩短至几秒。TruLIBS™ 同时允许用户直接上传元素激光诱导特征谱线,进行谱峰的识别和标记。 J200内置的数据分析软件功能强大、分析速度快。能任意选取谱线及背景,自动计算谱线的净强度;计算两个波峰之比;自动计算所有波峰的标准偏差;同步分析所有文件夹及目录下的测量数据。多次采样时,软件自动统计监测LIBS的强度 ,监控信号质量,获得精确的定性和定量分析结果。 数据分析软件具有单变量和多变量校准曲线制定功能,易于完成高精度定量分析。单变量标定曲线对于基质较为简单的样品分析效果较好。多变量标准曲线用于分析基质较为复杂的样品,例如土壤、植物样品等,以减少基质中其它元素对目标元素的影响,提高分析准确性。 此外,J200的数据分析软件还具有PCA、PLS-DA、多参数线性回归等多种化学统计分析功能。可对样品进行快速分类鉴别,并可通过样品某一特定元素的二维或三维分布制图,形象展示样品元素的分布。 产地:美国应用案例1、土壤样品常量和微量元素分析 将不同来源的9个土壤标准样品压片处理,使用ASI公司的J200激光光谱元素分析系统进行测量,并采用J200内置的专业分析软件对测量结果进行分析。并对分析结果的精确度和分类鉴别能力进行评价。图1为9个土壤标准样品的PCA三维分析结果图。这表示分析结果能良好的判断出这9个样品为不同类型的土壤。采用建立的标准曲线检测21号土壤标准物样品,以此来评价分析的准确度和精度(表1)。 2、植物样品表层及深层元素分布 将植物叶片置于金属元素溶液中至24小时,使用J200激光光谱元素分析系统对叶片进行扫描,可见植物叶片对重金属元素吸收分布的情况。其中常量元素由LIBS系统直接测出,重金属元素由LA-ICP-MS进行测量。 采用飞秒LA-ICP-MS系统还可以对植物叶片进行深度的剖析。测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况。实验使用飞秒激光器,10个脉冲,脉冲1至脉冲10表示叶片的表层至内部。3、大米和糙米样品外壳及内部砷元素的分布图谱 大米是中国、韩国和日本等东亚诸国的主要农作物,大米中砷元素含量超标引发了很多食品安全问题。国际食品法典委员会标准中也明确规定铅含量不得大于0.2mg/kg ,镉含量不得大于0.1mg/kg,但仍然对砷元素含量无规定。为了建立相关标准,韩国科学技术研究院搜集了韩国市场上常见的100种大米和糙米样品,分析其中砷元素的含量及分布作为相关标准制定的科学依据。研究结果表明,砷元素主要分布在糙米和大米样品的表面,并存在砷元素含量明显的向中心递减趋势。结论:砷元素主要分布在大米和糙米的表面,打磨是降低砷元素含量的主要手段。部分文献 欢迎来电索取文献目录OlgaSyta,BarbaraWagner,Ewa Bulska,Dobrochna Zielinska,Grazyna Zo?a Zukowska,Jhanis Gonzalez,RichardRusso.Elemental imaging of heterogeneous inorganic archaeological samples by means of simultaneous laser induced breakdown spectroscopy and lasera blationin ductively coupled plasma masss pectrometry measurements.Kiran Subedi, Tatiana Trejos, Jose Almirall,Department of Chemistry and Biochemistry, Florida International University, Miami, FL 33199, USA.Forensic analysis of printing inks using tandem Laser Induced Breakdown spectroscopy and Laser Ablation Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry万翔宇,王阳恩,熊艳,王绍龙,梅兴安;长江大学物理科学与技术学院, 湖北荆州;《激光杂志》2014年第35卷第4期.激光诱导击穿光谱对水系沉积物的分类及铬元素测定的研究李辉,王阳恩,刘庆,林佳辉,徐大海.长江大学物理与光电工程学院,湖北荆州;分段激光诱导击穿光谱的水稻种子识别Benjamin T.Manard,C.Derrick Quarles Jr,E.Miller Wyliea and Ning Xua.Laser ablation–inductively couple plasma masss pectrometry/laserinduced breakdown spectroscopy:a tandem technique for uranium particle characterizationHerveK.Sanghapi,Jinesh Jain,Alexander Bol' shakov,Christina Lopano,Dustin McIntyre,Richard Russoc.Determination of elemental composition of shalerocks by laser induced breakdown spectroscopy.Chirinos, J. R., Oropeza, D. D., Gonzalez, J., Hou, H., Morey, M., Zorba, V., & Russo, R. E. (2014). Simultaneous 3-Dimensional Elemental Imaging with LIBS and LA-ICP-MS. Journal of Analytical Atomic Spectrometry. doi:10.1039/c4ja00066hChoi, S. H., Kim, J. S., Lee, J. Y., Jeon, J. S., Kim, J. W., Russo, R. E., et al. (2014). Analysis of arsenic in rice grains using ICP-MS and fs LA-ICP-MS. Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 29(7), 1233–1237. doi:10.1039/C4JA00069BQuarles, C. D., Gonzalez, J. J., East, L. J., Yoo, J. H., Morey, M., & Russo, R. E. (2014a). Fluorine analysis using Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS). Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 29(7), 1238–1242. doi:10.1039/C4JA00061GDong, M., Mao, X. L., Gonzalez, J., Lu, J., & Russo, R. E. (2013). Carbon Isotope Separation and Molecular Formation in Laser-Induced Plasmas by Laser Ablation Molecular Isotopic Spectrometry. Atomic Spectroscopy. doi:10.1021/ac303524dHarmon, R. S., Russo, R. E., & Hark, R. R. (2013). GEOLIBS–A Review of the Application of Laser-Induced Breakdown Spectroscopy for Geochemical and Environmental Analysis. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy. doi:10.1016/j.sab.2013.05.017Piscitelli, V., Gonzalez, J., Mao, X. L., Fernandez, A., & Russo, R. E. (2013). Micro-Crater Laser Induced Breakdown Spectroscopy-an Analytical approach in metals samples.
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  • ECS8024是一个特殊的N和C元素分析模块,基于杜马式闪燃的方法。ECS8024是用于土壤及类似样品中碳氮含量的测定。ECS8024是基于样品燃烧和色谱柱气体分离技术,利用高分辨率TCD检测器对燃烧产物CO2和N2进行分离和定量。 ECS 8024从可选的进样器,氧气的用量以及监测消耗品的状态均为全自动控制。ECS 8024可测试不同类型和大小的样品,包括液体和固体,大量样品,从微克到克的有机物均可以被分析;三种不同的进样器,多种规格的反应管满足不同的应用需求;自动化系统使仪器的使用更加人性化:自动控制氧用量系统可以更好控制氧气的消耗,实现消耗状态监测功能,优化催化剂的使用;独家设计的TCD检测器是自校准的,不需要使用参考气体;ECS 8024可以连接同位素分析仪(如Picarro同位素分析仪、IRMS质谱仪),用于分析元素中稳定同位素的同位素比值。技术原理 杜马分析法主要组成双炉燃烧系统(为了更好的燃烧和最佳化使用催化剂)安全快速的反应管安装系统(简单和安全的方法设置仪器)定制化的GC柱检测系统数据采集和处理主要特点完全自动化的分析系统高灵敏度、准确度及精确度应用更灵活和广泛检测器无需利用基准气体功能强大的分析软件触摸屏显示,方便设置反应过程监控,优化催化剂使用三种进样器(电子进样器、气动进样器及手动进样器)易于与Picarro、质谱仪等检测器连接做稳定同位素分析低运营及管理成本待机模式,节省气体、能源和时间性能指标技术参数可测元素CN进样器气动自动进样器:147位电动自动进样器:32,50,100位手动进样器分析时间CN:5min反应炉双炉系统测量范围C:0.002-20mg; N:0.002-20mg;安装安全、快速安装准确度99.9%)显示触摸屏显示精度99.9%)是否可待机具有待机模式系统参数尺寸81*50*37cm重量68kg供电230V,50/60Hz功耗5A,1100Wh气体需求氦气(99.999%),3-5bar;氧气(99.999%),3-5bar;空气(无油压缩空气)分析条件载气氦气检漏自动检漏反应炉温度左炉:最大1100℃;右炉:最大1100℃分离炉温度最大110℃氧气需求根据氧气定量器自动计算流量调节电子流量调节气体分离3m GC柱检测器高灵敏度TCD软件EAS Clarity校准线性、二次曲线、三次曲线样品大小土壤样品最大进样量到1000mg样品类型固体、液体包样高纯度锡杯或者银杯可选配件天平、耗材
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  • —来自美国劳伦斯伯克利国家实验室的绿色化学分析技术技术背景 当激光作用于样品表面时,在极短时间内诱导产生含有样品物质的等离子体,等离子体产生的过程中,发射出带有样品元素信息的发射光谱,通过检测这些发射光谱,得到样品的元素信息。这种技术被称为激光诱导击穿光谱技术LIBS(Laser Induced Breakdown Spectroscopy),俗称激光光谱元素分析技术,检测限可达ppm级;随着等离子的冷却,凝结的样品颗粒可输送到ICP-MS,可测量样品中的微量、痕量元素或同位素,检测限可达ppb级。 测量的元素可覆盖元素周期表中的大部分元素,高达100多种。 J200激光质谱联用元素分析仪是美国应用光谱公司APPLIED SPECTRA(ASI公司)融会美国劳伦斯伯克利国家实验室(Lawrence Berkeley National Laboratory)30多年激光化学分析基础理论研究成果推出的全球顶级产品。ASI公司由美国劳伦斯伯克利国家实验室资深科学家 Dr. Rick Russo及其团队成立。Russo博士研究领域包括:激光加热和激光剥蚀过程的机理研究;飞秒激光进样系统;利用激光剥蚀技术提高LIBS及ICP-MS 的化学分析精度;激光超声的无损检测和评估等。Russo 博士共发表学术论文300 多篇,专利22 项。ASI公司在激光应用领域具有世界领先的技术及经验。 系统介绍 J200激光质谱联用元素分析仪创造了激光等离子光谱化学分析技术的新时代,首次将LIBS技术和ICP-MS结合,将检测限提高到ppb级,并可得到样品元素的空间分布图(elements mapping)。目前已广泛用于国际高端和国家级实验室,如美国劳伦斯伯克利国家实验室、美国大克拉曼多犯罪实验室 、巴西圣保罗大学、 美国西北太平洋国家实验室等众多知名机构。 J200激光质谱联用元素分析仪基于激光诱导击穿光谱技术,实现了从氢元素到钚元素几乎全元素的测量,包括H、N、O等轻元素以及卤族等其他传统方法(包括ICP-MS)不能测量的元素。此外,J200激光质谱联用元素分析仪还可将剥蚀出的纳米级固体样品微粒直接送入ICP-MS进行更精确的分析,有效避免酸溶、消解等复杂样品前处理带来的二次污染和可能的误差引入,同时还可以大大提升元素检测限,实现了ppb以下到100%的宽范围测量。 功能 快速检测土壤、植物、中草药、刑侦材料(玻璃、油墨等)、矿石、合金等样品中的: ? 常量元素N, P, K, Ca, Mg, S ? 微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl ? 痕量元素:可检测化学周期表上大部分元素 ? 其他:有机元素C、H、O和轻元素Li、Be、Na等 (其他技术很难同时分析) ? 同位素 (可升级和ICP-MS 联用测量) 应用领域 ? 土壤、植物样品检测 ? 中药元素分析 ? 刑侦微量物证分析 ? 农产品检测 ? 地质矿物分析 ? 煤粉组分检测 ? 重金属污染检测 ? 合金分析 ? 宝石鉴定 ? 材料分析等 工作原理 J200激光质谱联用元素分析仪的固体激光器产生激光作用于样品表面。当激光能量大于样品击穿门槛能量时,在样品表面形成等离子体。这些等离子体中受激光能量激发到达高能态的样品物质在迅速回迁至低能态的过程中,发射出带有样品元素种类、含量信息的发射光谱,这些发射光谱信号被智能信号收集系统收集并传输至光谱仪中进行分光,再由CCD检测器进行检测,得到元素信息。硬件特点 ? J200激光质谱联用元素分析仪可对样品进行全元素快速检测,同时可将固体样品的剥蚀颗粒直接送入ICP-MS 系统,实现ppb级精确分析。弥补了ICP-MS不能测量部分轻元素的缺憾,也有效避免了ICP-MS分析中繁杂的 样品前处理过程及可能引入的二次污染。 ? J200激光质谱联用元素分析仪配置高适连接口,轻松实现与市面上绝大多数主流品牌ICP-MS的联用。 ? J200激光质谱联用元素分析仪配备有固体样品室,还可根据用户需求同时配置气体、液体样品室,并通过设 置可自动切换的光路系统,实现固、液、气体样品室在同一系统中的自动化切换,无需人为拆卸。 ? J200激光质谱联用元素分析仪的硬件采用模块化设计,易于更新。激光器和光谱仪(检测器)可根据样品的 种类及用户的研究目的进行升级,两者均不受外界环境温度影响,无需进行特殊的环境控制,使用寿命长。 ? J200的激光能量和激光光斑大小连续可调,激光脉冲能量稳定一致,可实现样品分层剥蚀(分辨率最小可达 7nm)、夹杂物和微光斑分析(直径最小可达5μm)、元素分布制图、高精度定量等多种分析。 ? J200激光质谱联用元素分析仪采用ASI专利技术:剥蚀导航激光和样品高度自动调整传感器相结合,解决了样 品表面凹凸不平导致剥蚀不均匀的问题;激光能量稳定阀确保到达样品表面的激光能量稳定一致;3-D全自动 操作台。 ? J200具备双摄像系统,分别用于广角成像和放大观察某一样品区域。 软件特点 J200的系统软件能实现对所有硬件组件的控制,能提供多种采样模式,包括直线、曲线、随机点、网格任意大小和自定义采样等,通过设置参数,可在无人值守的条件下自动进行大面积采样。 ASI公司专利的TruLIBS™ 数据库是真正的等离子体发射光谱数据库,与NIST数据库相比,TruLIBS™ 数据库能快速、准确地识别复杂的元素谱线,各种搜索功能,如波长范围、元素种类和等离子体激发态,将搜索时间缩短至几秒。TruLIBS™ 同时允许用户直接上传元素激光诱导特征谱线,进行谱峰的识别和标记。 J200内置的数据分析软件功能强大、分析速度快。能任意选取谱线及背景,自动计算谱线的净强度;计算两个波峰之比;自动计算所有波峰的标准偏差;同步分析所有文件夹及目录下的测量数据。多次采样时,软件自动统计监测LIBS的强度 ,监控信号质量,获得精确的定性和定量分析结果。 数据分析软件具有单变量和多变量校准曲线制定功能,易于完成高精度定量分析。单变量标定曲线对于基质较为简单的样品分析效果较好。多变量标准曲线用于分析基质较为复杂的样品,例如土壤、植物样品等,以减少基质中其它元素对目标元素的影响,提高分析准确性。 此外,J200的数据分析软件还具有PCA、PLS-DA、多参数线性回归等多种化学统计分析功能。可对样品进行快速分类鉴别,并可通过样品某一特定元素的二维或三维分布制图,形象展示样品元素的分布。 产地:美国应用案例1、土壤样品常量和微量元素分析 将不同来源的9个土壤标准样品压片处理,使用ASI公司的J200 激光光谱元素分析系统进行测量,并采用J200内置的专业分析软件对测量结果进行分析。并对分析结果的精确度和分类鉴别能力进行评价。图1为9个土壤标准样品的PCA三维分析结果图。这表示分析结果能良好的判断出这9个样品为不同类型的土壤。采用建立的标准曲线检测21号土壤标准物样品,以此来评价分析的准确度和精度(表1)。 2、植物样品表层及深层元素分布 将植物叶片置于金属元素溶液中至24小时,使用J200 激光光谱元素分析系统对叶片进行扫描,可见植物叶片对重金属元素吸收分布的情况。其中常量元素由LIBS系统直接测出,重金属元素由LA-ICP-MS进行测量。 采用飞秒LA-ICP-MS系统还可以对植物叶片进行深度的剖析。测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况。实验使用飞秒激光器,10个脉冲,脉冲1至脉冲10表示叶片的表层至内部。3、大米和糙米样品外壳及内部砷元素的分布图谱 大米是中国、韩国和日本等东亚诸国的主要农作物,大米中砷元素含量超标引发了很多食品安全问题。国际食品法典委员会标准中也明确规定铅含量不得大于0.2mg/kg ,镉含量不得大于0.1mg/kg,但仍然对砷元素含量无规定。为了建立相关标准,韩国科学技术研究院搜集了韩国市场上常见的100种大米和糙米样品,分析其中砷元素的含量及分布作为相关标准制定的科学依据。研究结果表明,砷元素主要分布在糙米和大米样品的表面,并存在砷元素含量明显的向中心递减趋势。结论:砷元素主要分布在大米和糙米的表面,打磨是降低砷元素含量的主要手段。部分文献 欢迎来电索取文献目录OlgaSyta,BarbaraWagner,Ewa Bulska,Dobrochna Zielinska,Grazyna Zo?a Zukowska,Jhanis Gonzalez,RichardRusso.Elemental imaging of heterogeneous inorganic archaeological samples by means of simultaneous laser induced breakdown spectroscopy and lasera blationin ductively coupled plasma masss pectrometry measurements.Kiran Subedi, Tatiana Trejos, Jose Almirall,Department of Chemistry and Biochemistry, Florida International University, Miami, FL 33199, USA.Forensic analysis of printing inks using tandem Laser Induced Breakdown spectroscopy and Laser Ablation Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry万翔宇,王阳恩,熊艳,王绍龙,梅兴安;长江大学物理科学与技术学院, 湖北荆州;《激光杂志》2014年第35卷第4期.激光诱导击穿光谱对水系沉积物的分类及铬元素测定的研究李辉,王阳恩,刘庆,林佳辉,徐大海.长江大学物理与光电工程学院,湖北荆州;分段激光诱导击穿光谱的水稻种子识别Benjamin T.Manard,C.Derrick Quarles Jr,E.Miller Wyliea and Ning Xua.Laser ablation–inductively couple plasma masss pectrometry/laserinduced breakdown spectroscopy:a tandem technique for uranium particle characterizationHerveK.Sanghapi,Jinesh Jain,Alexander Bol' shakov,Christina Lopano,Dustin McIntyre,Richard Russoc.Determination of elemental composition of shalerocks by laser induced breakdown spectroscopy.Chirinos, J. R., Oropeza, D. D., Gonzalez, J., Hou, H., Morey, M., Zorba, V., & Russo, R. E. (2014). Simultaneous 3-Dimensional Elemental Imaging with LIBS and LA-ICP-MS. Journal of Analytical Atomic Spectrometry. doi:10.1039/c4ja00066hChoi, S. H., Kim, J. S., Lee, J. Y., Jeon, J. S., Kim, J. W., Russo, R. E., et al. (2014). Analysis of arsenic in rice grains using ICP-MS and fs LA-ICP-MS. Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 29(7), 1233–1237. doi:10.1039/C4JA00069BQuarles, C. D., Gonzalez, J. J., East, L. J., Yoo, J. H., Morey, M., & Russo, R. E. (2014a). Fluorine analysis using Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS). Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 29(7), 1238–1242. doi:10.1039/C4JA00061GDong, M., Mao, X. L., Gonzalez, J., Lu, J., & Russo, R. E. (2013). Carbon Isotope Separation and Molecular Formation in Laser-Induced Plasmas by Laser Ablation Molecular Isotopic Spectrometry. Atomic Spectroscopy. doi:10.1021/ac303524dHarmon, R. S., Russo, R. E., & Hark, R. R. (2013). GEOLIBS–A Review of the Application of Laser-Induced Breakdown Spectroscopy for Geochemical and Environmental Analysis. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy. doi:10.1016/j.sab.2013.05.017Piscitelli, V., Gonzalez, J., Mao, X. L., Fernandez, A., & Russo, R. E. (2013). Micro-Crater Laser Induced Breakdown Spectroscopy-an Analytical approach in metals samples.
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  • 性能技术指标  1.煤灰成份分析仪TY-37673煤中金属元素分析技术指标:  1.2.工作条件:  1.2.1、工作温度:15-28℃  1.2.2、相对湿度:40%~70%  1.2.3、电源:AC:220V±5V  1.3.技术性能及指标:  1.3.1.元素分析范围从钠(Na)到铀(U)   1.3.2.元素含量分析范围为1PPm到99.99%   1.3.3.测量时间:60-200秒(可调)   1.3.4.其检测限度*高达1PPM   1.3.7.能量分辨率为129±5电子伏特   1.3.8.温度适应范围为15℃至28℃   1.3.9.电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源) 1.4.产品特点  1.4.1 DHA-37673配备抽真空,配置了真空测试系统,增加了元素测试范围,探测器配备SDD的测试系统,特别是提高了Na、Mg、Al、Si等轻元素的检出限,精确度提高了,同时在测试Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl等其他元素的重复性稳定性有了明显的提高。  1.42整体结构化设计,仪器美观大方。  1.4.3采用美国*新型的SDD探测器,电致冷而非液氮制冷,体积小、数据分析准确且维护成本低。  1.4.4采用自主研发的SES信号处理系统,有效提高峰背比,让测量更精准。  1.4.5一键式自动测试,使用更简单,更方便,界面更人性化。  1.4.6八种光路校正准直系统,根据不同样品自动切换。  1.4.7多重防辐射泄露设计,辐射防护级别属于同类产品*高级。  1.4.8优化一体化散热设计,使整机散热性能得到更大提高,确保X射线源的运行安全。  1.4.9独有的机芯温度监控技术,确保射线源的安全可靠运行,有效延长其使用寿命,降低使用成本。  1.4.10多重仪器配件保护系统,并可通过软件进行全程监控,让仪器工作更稳定、更安全。  1.4.11专用真空测试软件,是否抽真空可自由选择,真空度实时显示,标准视窗设计,界面友好,操作简便,所有控制均在轻点鼠标之间。  1.4.12本机采用USB2.0接口,有效保证数据准确高速有效的传输。  1.4.13独有的全自动真空系统,彻底屏蔽空气对轻元素测试的影响,极大提高了轻元素的检出限,同时也扩大了检测范围。  1.4.14一体化真空腔体设计,有效地保证了符合测试要求的真空度,同时提高了设备的可维性。  1.4.15抽真空测试和不抽真空测试转换简单,方便客户使用 同时开盖即解除真空,安全、简单实用。  2.仪器硬件部分主要配置  2.1 SDD电制冷探测器:(*新型探测器)  2.1.1.SDD电制冷探测器 分辨率:129±5e电子伏特  2.1.2.放大电路模块:对样品特征X射线进行探测 把探测采集的信息,进一步放大。  2.2 X射线激发装置(薄铍窗光管):  2.2.1.灯丝电流*大输出:1mA   2.2.2.属于半损耗型部件,使用寿命大于5000小时  2.3高压发射装置:  2.3.1.电压*大输出:50kV   2.3.2.*小5kv可控调节  2.3.3.自带电压过载保护  2.4一体化真空系统  2.4.1具有低震动、低噪音、自保护及抽速快等优良性能的真空泵系统   2.4.2几何抽速:60 L/min(50Hz)  2.4.3极限压力:6.7×10-2 Pa  2.5多道分析器:  2.5.1将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件   2.5.2*大道数:4096   2.5.3包含信号增强处理功能   2.6光路过滤模块  2.6.1降低X射线光路发送过程中的干扰,保证探测器接收信号准确   2.6.2将准直器与滤光处整合   2.7准直器自动切换模块  多达八种选择,口径分别为8-1#,8-2#,8-3#,6-4#,4-5#,1-6#,0.5-7#,0.2-8#。  2.8滤光片自动切换模块:七种滤光片的自由选择和切换。  2.9准直器和滤光片的自由组合模块:多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。  2.10工作曲线自动选择模块:自动选择工作曲线,摒弃手动选择,避免人为操作失误,将自动化和智能化演绎得更完美,使操作更人性,更方便。  3.专用成分分析软件  3.1软件简介  专门针对矿石检测而开发(含真空控制功能),对采集的光谱信号进行数据处理、计算并  报告显示测量结果。  3.2功能介绍  3.2.1、专门应对矿石中SiO2,Al2O3,Fe2O3,MgO,NaO,P2O5,CaO,MnO等化合物的测试,测量时间为60-200秒(可调)  3.2.2、操作界面简洁直观,使用方便,无需专业人士操作  ※自动校准仪器  ※自带样品材质定性分析,防止手动用户选择错误曲线  ※多种报告形式打印  ※可同时显示多个光谱图  ※仪器测试参数及真空度实时显示,所有掌控一目了然  1.样品配置:标准样品用于制作工作曲线  4.1样品腔  开放式大样品腔  半封闭样品腔(抽真空时)  4.2标样  标样根据客户需求银校正片  2.标准附件  5.1、低噪音快抽速真空  5.2、体积小、重量轻、结构简单,易于保养和维修  5.3、抽速快,30S即可达到真空测试要求  5.4、极限压力可达6.7×10-2Pa  5.5、单相AC220V供电,无须外接三相电  3.产品保修及售后服务  6.1对客户方操作人员免费进行培训。  6.2安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。  6.3正常使用,经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障,且未经拆修,仪器主机自验收合格之日起保修壹年。  6.4产品终身维修。  6.5免费提供软件升级。
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  • 大部分汽车中都有一个配件——三元催化器,它能减少诸如一氧化碳、碳氢化合物和氮氧化合物等有害气体的排放,是汽车中一个比较重要的组成部分。转换器中的某些化学反应会将有害物质转换为二氧化碳、水和氮。为了优化这些反应,并加快反应速度,催化器中会添加一些催化剂元素,如3个铂族金属(PGM):铂(Pt)、钯(Pd)和铑(Rh)。这些金属具有很高回收价值,所以市场上很常见一些催化器的回收。奥林巴斯Vanta分析仪在检测催化转换器中贵重金属时,能准确辨认出来,所以它在此行业一直得到应用。▍优势特性奥林巴斯Vanta手持三元催化分析仪可以在现场即时对汽车催化剂中的元素进行测量,而且检测出的元素以及元素含量信息准确。奥林巴斯Vanta手持三元催化分析仪,除了能分析铂钯铑等含量,还能分析催化剂中其它金属含量,例如:钛(Ti)、铬(Cr)、锰(Mn)、铁(Fe)、镍(Ni)、铜(Cu)、锌(Zn)、铅(Pb)、铋(Bi)、锶(Sr)、锆(Zr)、钨(W)、硒(Se)和铈(Ce)等20多种常见元素。奥林巴斯Vanta三元催化光谱仪,屏幕观看信息清晰易懂,操作系统使用方法如同智能手机应用一样,使用户学习仪器使用时能更快上手,并且它的元素可按需要自定义。◆ 结实好用符合IP 65/64评级标准,可以抵御灰尘和雨水的侵袭通过了从4英尺高处掉落的测试(MIL-STD 810G),适合复杂或者温差较大的环境场地可以在 -10 ℃到50 ℃的温度范围内操作为装有硅漂移探测器的分析仪,提供了金属自动挡板保护昂贵的探测器◆ 新的方式采用Axon,更高的X射线计数率,更快和准确的分析结果,以及更低检出限高清分辨率转化不用用户多一道工序使用标样进行能量校准,分析仪在开机时将自动完成能量校准,测试稳定性和数据实用性高四核处理器方便户在短时间内获得分析信息◆ 方便实用用户界面(UI)清晰易懂,方便用户浏览设备设置和软件功能用户可根据自己需求,设置调整界面和应用用户可自行定制显示在主屏幕上的功能快捷键通过闪存驱动盘、Wi-Fi或蓝牙完成的数据导出操作简单
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  • Innov-X 便携式XRF DE-2000合金分析仪,元素分析范围:从22号元素钛Ti到94号元素钚Pu,本机标配23种标准元素,仪器标准配置元素如下:Alloy模式:Mg镁、Ti钛、V钒、Cr铬、Mn锰、Fe铁、Co钴、Ni镍、Cu铜、Zn锌、W钨、Hf铪、Ta钽、 Re铼、Pb铅、Bi铋、Zr锆、Nb铌、Mo钼、Ag银、Sn锡、Sb锑、Pd钯、Cd镉 DELTA合金分析仪在数秒钟之内即可生成合金的化学成份信息,这些金属和合金包含但不限于以下所列项目:铝合金 镍合金 锻铝合金 异常合金 镁合金 钛合金 铜合金 不锈钢 工具钢 钴合金 贵金属 锆合金 铬钼钢 镍/钴合金 锌合金 混杂合金标准库中有标准合金牌号高达500多种,用户可自行定义符合 特殊要求的非标牌号高达几百种种合金牌号。伊诺斯便携式X射线荧光光谱分析仪已经被广泛应用于地质、采矿、金属、土壤、环境、考古、木材、电子、医药、环保、啤酒、电力、石化、玩具、大型工程、锅炉制造、再生资源金属、玻璃的回收、刑事证据鉴定等各种不同领域的日常分析。被联合国国际原子能机构广泛使用的产品,已多次在伊拉克武器核查和伊朗核查中发挥作用。
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  • DM8000多元素分析仪(波散) 多道同时测量,快速、可靠、准确度高尤其适合工矿企业对多元素测量的要求采用波长色散X射线荧光(WDXRF)分析技术美国进口Varian公司薄铍端窗X射线管Moxtek公司0.6μm超薄聚酯探测器窗符合标准GB/T176JB/T11145JC/T1085概述DM8000多元素分析仪(波散)是由本公司集数十年X荧光分析仪的研究经验,在公司原有的DM系列X荧光钙铁分析仪、测硫仪、铝硅分析仪、多元素分析仪等的基础上研制推出的一种达到国际先进水平的分析仪器。它采用同时式(或称多道式)波长色散X射线荧光(WDXRF)分析技术,所有道同时测量从Na到U的任意十种元素。对大多数元素,其测量范围可低至ppm高至100%。具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作人员劳动强度低、只需一次性投资、无污染等特点,故广泛应用于建材、冶金、石油、化工、地质、矿山等各行各业。DM8000多元素分析仪(波散)关键部件采用进口产品,如X射线管采用Varian公司生产的400W薄铍端窗X射线管,Na、Mg等轻元素道探测器窗采用Moxtek公司生产的0.6μm超薄聚酯窗,恒温室温度控制精度小于0.1℃,流气系统采用高精度流气密度稳定装置,压力稳定度小于3Pa,还具有样品自旋装置以消除样品不均匀所产生的测量误差。由此使本分析仪具有极高的精度和准确度,达到国际先进水平。本分析仪屏蔽防护的良好设计保证无任何射线泄漏,满足辐射豁免要求。DM8000多元素分析仪(波散)应用于我国水泥行业尤其显示出其优越性。这是由于该款仪器最初是为水泥行业专门开发的,其符合国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的相关要求,符合行业标准JC/T1085—2008《水泥用X射线荧光分析仪》,符合行业标准JB/T11145—2011《X射线荧光光谱仪》。其性能对水泥行业来说比进口同类产品更好,而价格仅为进口同类产品的一半,具有无可比拟的价格性能比。另外国内企业售后服务的方便程度是国外企业所无法相比的。适用范围主要用于水泥生料、熟料、水泥和原料等物料中Na2O,MgO,Al2O3,SiO2,SO3,TiO2,K2O,CaO,Fe2O3等的浓度测量。可单机使用,也可联机使用为生料配料自动控制系统提供检测讯号,形成“分析仪---微机---皮带秤”自动控制系统。除水泥工业外,也可用于发电厂、砖瓦厂、冶金、石油、地质矿山等工矿部门的固体、液体和粉末样品中Na2O,MgO,Al2O3,SiO2,SO3,TiO2,K2O,CaO,Fe2O3等的浓度分析。特点快速同时––同时式(或称多道式),所需测量元素同时快速分析,一般几分钟给出浓度结果。高准确度––波长色散XRF分析技术,具有能量色散无法企及的极高分辨率,从而准确测量相邻轻元素。使用方便––样品粉碎压片或熔融,放入仪器后只需按[启动]键即可,真正实现一键操作。长期稳定––有恒温室、流气密度稳定、样品自旋等装置,还有可变增益数字多道,具极好的长期稳定性。高可靠性––固定道使仪器基本没有移动部件,且集成化程度高,环境适应能力强,从而可靠性高。软件强大––有比率或基体效应校正、偏差修正、合格率等统计、率值计算、出错提示等多种功能,还可免费 更新最新版本,根据用户要求增加软件功能。环保节能––射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品,无污染,无需化学试剂,也不需要燃烧。高性价比––无需水冷,运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半,适应我国国情。原理其原理如图2所示。X射线管垂直放置,直接向上照射样品,这样可使它们之间的距离尽可能的近,从而达到最大激发效率。样品接受X射线管所发出X射线的照射将产生X射线荧光,其将进入分光室进行分光。一种元素对应一个分光室。X射线荧光经狭缝(如果分光晶体用的是弯晶)或索拉狭缝(如果分光晶体用的是平晶)射向分光晶体,经晶体分光后满足衍射条件布拉格方程的对应该元素的特征X射线荧光再经狭缝或索拉狭缝射向探测器。经探测器探测并经后面的电子线路计数后将得到该元素特征X射线荧光的强度,再经校准方程计算得到元素的浓度。图2 多道 WDXRF分析技术原理图由于其X射线荧光是经晶体按波长来区分的,所以称之为波长色散。其分辨率与探测器无关只与晶体有关,所以有很高的分辨率,相比于能量色散的要高1个数量级。关键部件进口美国Varian公司生产的薄铍端窗X射线管采用美国Varian公司生产的EG-60薄铍端窗X射线管。该X射线管是端窗的,X射线束垂直于靶,焦斑到样品距离极短,从而提高激发效率。其窗用薄铍,靶材用的是铑,所以能高效地探测轻元素。其阴极接地,消除了对高度绝缘的灯丝变压器的需要,也消除了铍窗口的电子轰击和由此产生的加热。其功率为400W,只需用风冷而不需用水冷,由于是多道同时测量,其效果相当于扫描式(或称单道式)的4000W大型X射线管。其外形图见图3。图3 EG-60薄铍端窗X射线管进口美国Moxtek公司生产的0.6μm超薄聚酯窗对于轻元素的测量,比如Na、Mg,探测器的窗是很重要的,其必须足够薄并且足够牢。本仪器采用美国Moxtek公司生产的0.6μm厚的ProLINE系列20窗,其由超薄层聚合物和涂有200埃的铝的电荷耗散层连接到坚固的金属六边形支撑框架上,从而达到低能量x射线的高透射。B(Kα)的分析都是可能的。图4为其外形图。图5是其能量与透射率关系图。图4 Moxtek的超薄聚酯窗图5 ProLINE系列能量与透射率恒温室温度控制精度小于0.1℃波长色散分析仪是个精细的仪器,特别是晶体对机械尺寸的要求极高,当温度有一定的变化而造成尺寸那怕是微小的变化时会造成强度的变化,所以分光室必须恒温。本仪器的恒温室温度控制精度小于0.1℃,并且除分光室外,其他如探测部分及其电子线路等均在恒温室内,从而使仪器不受外界温度的影响。流气系统采用高精度流气密度稳定装置,压力稳定度小于3Pa本仪器所用探测器为本公司自己开发生产的流气正比计数管,其所流过的气体的密度必须恒定才能保证探测器的稳定,本仪器流气系统采用高精度流气密度稳定装置,压力稳定度小于3Pa。具有样品自旋装置以消除样品不均匀所产生的测量误差。样品若用粉末压片的方法制备的话,如含SiO2,由于其硬度很高,磨得的颗粒大小不一,从而使样片的表面不均匀。所以本仪器设计安装了样品自旋装置以最大程度的消除样品不均匀所产生的测量误差。校准X荧光分析方法是一种参考方法,校准是为得到定量的结果所必须的。XRF光谱仪通过比较已知标样与未知样的光谱强度来得到定量分析的结果。其某元素的浓度计算式(即校准曲线)为:C=D+EIC+FIC 2 (1)式中,IC =f(I0),I0为原始强度,IC 为处理后强度,D、E、F是由校准确定的系数。校准的方法是:用光谱仪测量一系列校准标准样品或有证标准样品的每种元素强度,利用回归分析,例如最小二乘法,确定(1)式的系数。用已知浓度的11个国家水泥生料标准样品对光谱仪进行校准,得到的数据如表1。表1. 水泥生料标准样品校准结果数据成分系数D系数E系数F相关系数γNa2O-0.12816.7578×10-600.8296MgO-0.22926.0429×10-500.9968Al2O3-0.10961.2584×10-400.9945SiO2-5.11162.1326×10-500.9727SO3-0.22071.1990×10-500.9687K2O0.02677.0202×10-600.9952CaO11.48801.1060×10-500.9980Fe2O3-1.71809.9915×10-600.9967这些校准曲线的相关系数γ大部分都大于0.99,表示DM8000多元素分析仪(波散)的线性误差极小。重复性对同一水泥生料样品,进行11次测量,得到各元素的重复性数据如表2。表2. 生料标准样品重复性测量数据分析(%)XS1标样Na2OMgOAl2O3SiO2SO3K2OCaOFe2O3标准值0.092.594.2714.430.240.3039.841.96平均示值0.072.514.3114.340.260.2939.951.95最大示值0.072.544.3614.390.270.2939.981.96最小示值0.072.504.2914.290.260.2939.921.94极差00.040.070.10.0100.060.02示值标准偏差0.0010.010.020.020.0020.00140.020.0053倍示值标准偏差0.0030.030.060.060.0060.00420.060.015GB/T176的重复性限0.050.150.200.200.150.100.250.15DM8000与国标的符合性远优远优优优远优远优优远优GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的重复性要求,光谱仪的重复性必须满足:其示值标准偏差的3倍不大于GB/T176的重复性限。从表2可以看出DM8000多元素分析仪(波散)可以实现优异的重复性。主要技术指标X射线管电压:≤50keV,电流:≤8.0mA,功率:≤400W探测器超薄窗流气正比计数管可测元素或其氧化物种类从Na到U的任意十种元素或其氧化物,以水泥为例(下同)具体是:Na2O,MgO,Al2O3,SiO2,SO3,TiO2,K2O,CaO,Fe2O3等。测量范围Na2O,MgO,Al2O3,SiO2,SO3,TiO2,K2O,CaO,Fe2O3等分析范围均可调节,通过校准选定测量范围宽度Na2O max—Na2O min≤5%,MgO max—MgO min≤5%,Al2O3max—Al2O3min≤5%,SiO2 max—SiO2 min7≤%,SO3 max—SO3 min≤5%,TiO2 max—TiO2 min≤5%,K2O max—K2O min≤5%,CaOmax—CaOmin≤7%, Fe2O3 max—Fe2O3 min ≤5%。测量精度SNa2O≤0.01%,SMgO≤0.03%,SAl2O3≤0.04%,SSiO2≤0.04%,SSO3≤0.01%,STiO2≤0.01%,SK2O≤0.01%,SCaO≤0.03%,SFe2O3≤0.02%。符合标准GB/T 176—2017,JC/T1085—2008,JB/T11145—2011等系统测量时间1~999s,推荐值:180s恒温室温度36℃±0.1℃使用条件环境温度:15~28℃,相对湿度:≤75%(25℃),供电电源:220V±20V,50Hz,≤1.0kW尺寸及重量790mm(W)× 760mm(D)× 1200mm(H),195kg
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  • 仪器简介:面对美国CPSIA/HR4040法案、ASTM F963-08标准;欧盟RoHS/WEEE、EN-71法令,各出口型企业纷纷使出浑身解数积极应对,产品品质管控重点在于如何把握“供应商来料”、“生产过程”、“最终出货”三个环节,然而高昂的送检费用与漫长的检测周期让许多企业苦不堪言,原料成本的上涨和生产效率的低下更让众多企业雪上加霜,Thermo Scientific Niton XRF提供一系列的解决方案,为您的企业保驾护航。Thermo Scientific Niton XRF Analyzers问世于1987年,拥有二十多年生产及应用经验,经过无数客户的验证,得到行业的肯定,并且已经成为现场材料分析的检测标准。在航天航空、石油化工、矿产勘测、合金分析、废金属回收、环境分析、消费品制造等领域以及对应CPSIA/HR4040、RoHS/WEEE、EN-71等法令的检测均有广泛应用。*全球第yi台便携式XRF*美国海关及欧盟多国海关均在使用*美国消费品安全委员会(CPSC)及欧洲产品安全实施委员会(PROSAFE)均在使用*全球销量已经突破20000台赛默飞世尔科技(Thermo Fisher Scientific纽约证交所代码:TMO),是全球科学服务领域的专业生厂商。我们致力于帮助客户使世界更健康,更清洁,更安全。公司年销售额超过105亿美元,拥有员工约34,000人,在全球范围内服务超过350,000家客户。主要客户类型包括:医药和生物公司,医院和临床诊断实验室,大学、科研院所和政府机构,以及环境与工业过程控制装备制造商等。公司借助于Thermo Scientific和Fisher Scientific这两个主要的品牌,帮助客户解决在分析化学领域从常规的测试到复杂的研发项目中所遇到的各种挑战。技术参数:重量 <1.3kg尺寸 9.60×9.05×3.75英寸 (244×230×95.5mm)激发源 高性能微型X射线管 金靶,50kV/40uA 、银靶,用于选配充氦装置,可分析轻元素探测器 高性能Si PIN 探测器电池 可充电锂离子电池 (可续航使用10个小时)显示器 角度可0~90度调节的高亮度VGA彩色触摸屏标准分析范围 从Ti到U中,28个标准元素:Cl,Br,As,Hg,Cd,Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Sn, Hf, Ta, W, Re, Pb, Bi, Se, Sb (非标准元素亦可分析,需根据具体情况协商确定)充氦装置 选购充氦装置可增加对轻元素的分析:Mg、Al、Si、P、Ru数据存储 可存储超过10,000个数据和谱图模式 金属分析模式、塑胶分析模式、全自动分析模式、产品油漆涂层模式数据输入 触摸屏及键盘主要特点:●精度高,接近实验室水平的分析精度●角度可调的VGA彩色触摸屏,用户界面先进、直观,操作方便●简体中文显示●高强度、高密封性设计,防水及抗冲击性好●可实现对现场材料进行完全无损的快速检测●仪器无需外接PDA,抗电脑病毒能力强●仪器一体化程度高,具有防尘防水功能,操作便捷●通过内置USB接口或蓝牙通讯设备,可直接向电脑或网络存储设备传输数据●随机配置NDT软件,可进行数据上传或下载,可编辑、输出PMI分析报告,可实现PC机远程控制●自动存储10,000点以上的分析数据及图谱●XL3t系列不含放射性同位素激励源●具有自动校准、诊断和故障报告功能●可通过Internet实现软件升级●操作简便,即使是非技术人员也可轻松掌握●体积小,重量轻,仅1.3kg●NITON NDT软件可对仪器进行定制,设置用户权限,生成定制报告和打印分析证书,还可以实现对仪器的远程操控●选配充氦装置,仪器可增加S、Mg、Al、Si、P等轻元素的分析●选配3mm小点瞄准模式,满足小面积不同材料之检测需要●选配集成CCD摄像头,可实时对检测区域进行拍照
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  • 技术性能及指标 元素分析范围从硫(S)到铀(U); 元素含量分析范围为1PPm到99.99%; 测量时间:100-300秒; 能量分辨率为149±5电子伏特; 温度适应范围为15℃至30℃; 电源:交流220V±5V;(建议配置交流净化稳压电源。) 外观尺寸:380×370×360mm 样品腔尺寸:310×280×60mm 重量:31Kg 产品特点 EDX8000是专门针对分析合金和液体中金属元素而设计得一款产品。 打破传统仪器直线的设计,采用流线体的整体化设计,仪器时尚大方。 采用美国z新型的Si-pin探测器,电致冷而非液氮制冷,体积小、数据分析准确且维护成本低。 采用自主研发的SES信号处理系统,有效提高测量的灵敏度,让测量更精确。 一键式自动测试,使用更简单,更方便,更人性化。 八种光路校正准直系统,根据不同样品自动切换。 多重防辐射泄露设计,辐射防护级别属于同类产品zui高级。 先进的一体化散热设计,使整机散热性能得到极大提高,保证了核心部件的运行安全。 独有的机芯温控技术,保证X射线源的安全可靠运行,有效延长其使用寿命,降低使用成本。 多重仪器配件保护系统,并可通过软件进行全程监控,让仪器工作更稳定、更安全。 全元素专用测试软件,标准视窗设计,界面友好,操作方便。 本机采用USB2.0接口,有效地保证了数据准确高速有效的传输。 仪器硬件部分主要配置 Si-pin电制冷半导体探测器:(新型探测器) Si-pin电制冷半导体探测器;分辨率:149±5电子伏特 放大电路模块:对样品特征X射线进行探测;把探测采集的信息,进一步放大。 X射线激发装置: 灯丝电流zui大输出:1mA; 属于半损耗型部件,50W,空冷。 高压发射装置: 电压z大输出:50kV; zui小5kv可控调节 自带电压过载保护 数字多道分析器: 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件。 z大道数:4086; 包含信号增强处理 光路过滤模块 降低X射线光路发送过程中的干扰,保证探测器接收信号准确。 将准直器与滤光处整合; 工作曲线自动选择模块 自动选择工作曲线,摒弃手动选择,避免人为操作失误,将自动化和智能化 演绎得更完美,使操作更人性,更方便。 专用软件XRAYAnalyzer 软件简介 专门针对全元素检测而开发,对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。 功能介绍 操作界面简洁直观,使用方便,无需专业人士操作 可自动选择适合的校准曲线,测量更方便,更准确。 中英文界面自动切换,并具有第三方语言订制功能 自动校准仪器。 自带样品材质定性分析,防止手动用户选择错误曲线 多种报告形式打印。 可同时显示多个光谱图 独有的机芯温度监控技术,保证X射线源的安全可靠运行,有效延长其使用寿命,降低使用成本。联系电话:丁舒菁
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  • 真空型矿产元素分析仪EDX 9000B矿产检测专家Simply the Best美国AmpTek -SDD探测器, 高分辨率高计数率真空测试环境提供最优轻元素检测效果无损元素分析涵盖11Na to 92U适应各种复杂矿物样品测试,固体,液体,合金,粉末和泥浆多组合滤光片系统,有效提高微量元素检出限坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境EDX9000B能量色散荧光光谱仪-矿产分析专家作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光(EDXRF)元素分析仪,新款EDX9000B配置了最先进的基于Windows基本参数算法的FP(Fundamental parameter)软件,同时配备了最优的高性能硬件,来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体,合金,粉末,液体或者浆液,EDX9000B都可以轻松实现从钠(Na)到铀(U)元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度,更精确的测试结果,更稳定的仪器性能, 使得EDX9000B成为了客户进行元素分析的最佳工具之一。ESI英飞思EDX9000B光谱仪主要应用于在采矿过程的所有阶段进行材料元素成分分析。从勘探样品到矿物精矿,从选矿到尾矿,EDX9000B都在苛刻的采矿环境中均具有出色的灵活性,分析性能和稳定性。EDX9000B专注于对地质材料的主量,微量和痕量元素进行定性和定量分析,其中包括:• 铁矿• 铜矿• 铝土矿• 贵金属矿产• 稀土矿• 原料• 磷酸盐• 煤炭• 铅锌矿• 锰矿• 镍矿• 石灰石• 粘土• 石膏• 玻璃• 土壤• 水泥• 耐火材料及其他等EDX9000B操作简单,分析性能出色,同时还可拓展到以下应用塑胶及有机物:塑料材料PE,PVC,添加剂等元素分析石油化工:燃料,润滑油监测,添加剂,磨损金属等中的硫元素分析环境:废水,空气污染,土壤和地面,排放控制等涂层厚度和薄膜:分析多层涂层,钢涂层,杂质等刑侦及公安:证据分析,材料匹配,爆炸物等食品,化妆品和药品:添加剂控制,原材料,有害金属,包装材料等产品特点作为一款专业为矿产元素分析而设计和生产的光谱仪,EDX-9000B兼顾了耐用性,易于操作和高性价比。其显著优势主要有:• 无需或者很少的样品制备,全程无损分析,一到三分钟即可出结果• 强大的基于Windows的FP(基本参数算法)软件降低了基体效应的影响• 50 kV 光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性,而且具有出色的元素峰分辨率• 能同时进行元素和氧化物成分分析• 多重仪器硬件保护系统,并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全• 特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P)的测试灵敏度和准确性,同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性都有了明显的提高• 友好的用户界面,可定制的分析报告,可一键打印测试报告,包括分析结果,样品信息,光谱信息和样品图像• 八种光路准直系统,根据不同样品大小自动切换,亦可测试样品不同位置再求平均值,降低样品不均匀性造成的误差• 高清内置摄像头,清晰地显示仪器所检测的样品部位矿产元素检测专家EDX9000B仪器参数仪器外观尺寸: 560mm*380mm*410mm超大样品腔:460mm*310mm*95mm半封闭样品腔(抽真空时):Φ150mm×高75mm仪器重量: 45Kg元素分析范围:Na11-U92硫到铀可分析含量范围:1ppm- 99.99%探测器:AmpTek 高分辨率电制冷SDD硅漂移检测器多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器X光管:50W高功率铍窗光管高压发生装置:电压最大输出50kV,自带电压过载保护电压:220ACV 50/60HZ环境温度:-10 °C 到35 °C仪器配置标准配置可选配置纯Ag初始化标样磨样机真空泵压片机矿石专用样品杯烘干箱USB数据线熔片机电源线电子秤测试薄膜矿石标准样仪器出厂和标定报告交流净化稳压电源保修卡150目筛子功能强大而界面友好的测试软件界面清晰易用。选择方法并输入样品识别信息后即可开始测量。软件内核-基本参数法(FP)可轻松分析未知样品。EDX9000B已在工厂预安装了软件并进行了数据标定,客户运行软件即可立刻开始测试。无需每天重复标定。强大的软件功能还提供了一键初始化仪器,基体自动匹配自动定性,半定量和定量分析,不同样品测试谱图可实时对比光谱处理和校正,去除双倍峰和逃逸峰干扰,降低元素吸收增强效应影响光谱背景扣除,有效提高微量元素检测精度可实时刷新测量结果简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线可定制化测试报告,一键打印磁铁矿样品10次测试稳定性报告测量次数/元素Fe(%)SiO2(%)TiO2(%)MnO(%)Zn(%)S(%)P(%)Pb(%)K2O(%)1_165.40146.69360.11230.04890.00900.83090.01180.00760.06841_265.43366.65750.10380.04650.00950.90920.01210.00750.06671_365.36036.71270.11320.04950.00930.89030.01190.00710.06771_465.39356.72330.12780.04830.00970.83030.01170.00680.06841_565.38126.71450.10580.04930.00970.83030.01170.00660.06841_665.39056.74210.10210.05030.00970.83030.01170.00650.06841_765.36036.70410.10750.04950.00930.89030.01190.00710.06771_865.41616.72800.10860.04610.00930.89380.01150.00740.06681_965.43206.70360.11820.05120.00960.90050.01200.00790.06691_1065.45466.77070.10720.05020.00970.88680.01210.00670.0677平均值Average65.40246.71500.11070.04900.00950.86930.01180.00710.0677标准偏差SD0.03160.03000.00770.00160.00020.03400.00020.00050.0007相对标准偏差RSD0.0483%0.4466%6.9348%3.3142%2.5743%3.9090%1.6512%6.6142%1.0337%测量次数/元素Na2O (%)MgO (%)Al2O3 (%)As (%)Cr (%)Ni (%)Cu (%)Sn (%)CaO (%)1_10.02030.75230.52220.00650.16360.07600.04760.01310.63591_20.02320.81340.52300.00610.15840.07870.04880.01140.63361_30.02130.80590.54070.00710.16670.07960.04940.01440.63451_40.02160.76350.52340.00720.16400.07610.04850.01310.62671_50.02230.78150.53340.00720.16400.07510.04850.01310.62671_60.02220.73110.55120.00720.16400.07410.04850.01310.62671_70.02120.75590.54070.00710.16670.07560.04940.01440.63451_80.02490.77370.52330.00680.15760.07600.04710.01310.63241_90.02040.77120.51230.00640.16590.07500.04750.01400.62411_100.02360.80170.54350.00710.16630.07300.04890.01300.6414平均值Average0.02210.77500.53140.00690.16370.07590.04840.01330.6317标准偏差SD0.00150.02610.01230.00040.00330.00200.00080.00090.0054相对标准偏差RSD6.6056%3.3702%2.3177%5.8244%1.9863%2.5892%1.6256%6.5508%0.8578%
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