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表面形貌

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  • 【原创大赛】碳钢表面局部腐蚀形貌

    【原创大赛】碳钢表面局部腐蚀形貌

    1、在腐蚀溶液总逐渐添加缓蚀剂后碳钢表面腐蚀形貌图1是Q235碳钢不同缓蚀剂的溶液中经过慢速动电位扫描达到孔蚀电位时的表面形貌。从图1可以看出,添加咪唑啉季铵盐后,金属表面孔蚀变化情况为小孔增多,但蚀孔深度有所下降,金属的溶解量减少。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271424_568111_2590289_3.png图1碳钢在含不同缓蚀剂的NaNO2+NaCl溶液中极化后的扫描电镜图2、未添加缓蚀剂时不同PH下碳钢表面孔蚀形貌不同pH条件下碳钢表面发生孔蚀时的表面形貌如图2所示。在pH =6.64时,蚀孔区域相对较集中,小孔周围覆盖有腐蚀产物,pH=10时试样表面蚀孔增多,但蚀孔一般较浅,蚀孔密集,有向全面腐蚀发展的趋势;pH=4时试验表面蚀孔区域与为发生孔蚀区域区分明显,孔蚀趋于多个连成一片,形成大的蚀坑。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271427_568114_2590289_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271427_568115_2590289_3.png图2不同pH条件下,碳钢在缓蚀剂溶液中的表面形貌3、 添加少量缓蚀剂时不同PH下碳钢表面孔蚀形貌当添加少量缓蚀剂时,不同pH条件下的孔蚀形貌变化如图3所示,与未添加咪唑啉季铵盐相比,试验表面在各个pH条件下小孔均有所增加,不同pH条件下的孔深变化情况基本与未添加咪唑啉季铵盐溶液体系保持一致。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271426_568112_2590289_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271426_568113_2590289_3.png图3添加少量缓蚀剂时,不同pH条件下的孔蚀形貌:(a)未调节pH;(b) pH =10;(c) pH=4 pH=7.02与pH=10时,试样表面小孔较多,且发生孔蚀的区域较大,当pH=4时,试样表面蚀孔明显减少,发生腐蚀区域较小,但是试样表面形貌变化较大,基本呈现坑蚀特征。4、缓蚀剂含量增加后,碳钢表面孔蚀形貌缓蚀剂含量增加后,不同pH条件下的孔蚀形貌变化如图4所示,与前两种体系相比:为确定pH条件下,体系蚀孔变浅,蚀孔数目相对于添加少量缓蚀剂时有减少,但仍比未添加咪唑时的蚀孔数目多;pH=10时,蚀孔数目明显减少,且深度变小;pH=4时,蚀孔深度和数目均减小,试验局部腐蚀得到明显的抑制。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271433_568116_2590289_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271433_568117_2590289_3.png图4缓蚀剂含量增加后,不同pH条件下的孔蚀形貌:(a)为调节pH;(b) pH =10;(c) pH=4

  • 【求助】请问金相显微镜能扫描电极表面形貌吗?

    没有用过金相显微镜,所以恳请高人指点。金相显微镜能做电极表面形貌的扫描吗?我在电极表面镀膜,但不知道好坏,想看看形貌。但做扫描电镜太贵,且也到不了nm级别,所以想放大放大看看,不知道行不行?另外,一般的金相显微镜放大倍数最大多少?仪器的价位怎样?

  • 关于AFM扫描细胞表面形貌的问题

    如果要在液体环境下扫描细胞表面形貌,应该用哪种模式呢?对探针的参数又有哪些要求?我用的是NT-MDT的AFM和配套探针CSG10/NSG10,锥形针尖,刚度分别为0.2N/M和12N/M,细胞是贴壁的狗肾上皮细胞,但效果都不太好。接触模式下,探针把细胞推来推去,轻敲模式也差不多,感觉是不是探针没用对。如果给细胞加载的话,是不是球形探针比较好。

  • AFM能获取表面微坑的三维形貌吗?

    但愿我找对地方了,请大神们支招!各种金属材质,表面有微坑,直径从几十微米到几百微米,深度也深浅不一,估计有一百到几百微米就是想看看微坑的三维形貌,比如坑是圆柱形还是圆锥形用SEM试过不行,因为高度差比较大,成像只能在某一层上,其他高度都虚化了不知AFM可以不,要获得真实形貌,而不是通过软件合成之类的谢谢了,另:如果不行,有没有其他设备可以实现

  • 微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征DHM

    微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征DHM

    科研史上前所未有的观测手段——数字全息DHM可高速实时测量三维形貌,达到了亚纳米精度。克服了传统AFM、CLSM等需要扫描进行三维成像的特性。 表征透明/半透明三维形貌Ø 测量厚度从几纳米到几十微米Ø 可测最高三层透明薄膜Ø 测量薄膜折射率Ø 微纳器件动态三维形貌时序图(1000fps), 还可测频率响应(高达25MHz) 主要应用北京大学 搭建平面应变鼓膜实验平台测量纳米薄膜的动态力学性能天津大学 微结构表面形貌和运动特性测量华中科技大学 微纳制造与测试,微小光学元件检测,微电子制造封装与测试清华大学 透射式全息显微镜,测量透明样品形貌,还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等 • 超快速高精度的三维成像,大面积三维形貌表征,表面粗糙度,MEMS振动测量分析,表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试配合MEMS Analysis Tool、光学反射软件Reflectometry Analysis等专用软件实现更多功能[img=,600,400]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131406_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131407_01_1546_3.gif[/img][img=,690,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131406_02_1546_3.jpg[/img]

  • [求助]我的样品端面的形貌怎么看

    我的样品的NiTi合金板表面镀膜,我想看膜的断面形貌,想把板子折断,但NiTi合金韧性很好,不好折断,线切割的话,高温会把断面氧化破坏了断面!!请问高手,怎么整!!!

  • 微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征

    微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征

    科研史上前所未有的观测手段——数字全息可高速实时测量三维形貌,达到了亚纳米精度。克服了传统AFM、CLSM等需要扫描进行三维成像的特性。 表征透明/半透明三维形貌Ø 测量厚度从几纳米到几十微米Ø 可测最高三层透明薄膜Ø 测量薄膜折射率Ø 微纳器件动态三维形貌时序图(1000fps), 还可测频率响应(高达25MHz) 主要应用北京大学 搭建平面应变鼓膜实验平台测量纳米薄膜的动态力学性能天津大学 微结构表面形貌和运动特性测量华中科技大学 微纳制造与测试,微小光学元件检测,微电子制造封装与测试清华大学 透射式全息显微镜,测量透明样品形貌,还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等 • 超快速高精度的三维成像,大面积三维形貌表征,表面粗糙度,MEMS振动测量分析,表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试配合MEMS Analysis Tool、光学反射软件Reflectometry Analysis等专用软件实现更多功能[img=,690,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131349_01_1546_3.jpg[/img][img=,600,400]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131350_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131351_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131354_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131351_04_1546_3.gif[/img][img=,384,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131358_01_1546_3.jpg[/img]

  • 微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征DHM

    微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征DHM

    科研史上前所未有的观测手段——数字全息DHM可高速实时测量三维形貌,达到了亚纳米精度。克服了传统AFM、CLSM等需要扫描进行三维成像的特性。 表征透明/半透明三维形貌Ø 测量厚度从几纳米到几十微米Ø 可测最高三层透明薄膜Ø 测量薄膜折射率Ø 微纳器件动态三维形貌时序图(1000fps), 还可测频率响应(高达25MHz) 主要应用北京大学 搭建平面应变鼓膜实验平台测量纳米薄膜的动态力学性能天津大学 微结构表面形貌和运动特性测量华中科技大学 微纳制造与测试,微小光学元件检测,微电子制造封装与测试清华大学 透射式全息显微镜,测量透明样品形貌,还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等 • 超快速高精度的三维成像,大面积三维形貌表征,表面粗糙度,MEMS振动测量分析,表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试配合MEMS Analysis Tool、光学反射软件Reflectometry Analysis等专用软件实现更多功能[img=,600,400]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_01_1546_3.gif[/img][img=,690,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_02_1546_3.jpg[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_03_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_04_1546_3.gif[/img]

  • AFM表征球面形貌!!!!!

    有没有人用AFM表征过球面形貌,如直径2-3mm的钢球、红宝石球,Si3N4球。做的过程中需要注意些什么?请各位大虾指导!

  • 镀锡层黑斑的表面形貌

    铜镀纯锡后焊接有黑斑,用SEM看黑斑形貌如下。用EDX打开裂的地方Sn:O 大约1比2。那些发亮的团簇,打出来Sn:O都1:4, 1:5。Cu元素含量都很少,在5% at左右。不知道各位高手是否有经验,这开裂的和发亮的团簇各是什么?http://image.keyan.cc/data/bcs/2015/0714/bw134h881039_1436883403_774.jpg

  • 【求助】SEM中如何解决样品形貌对EDS信号产额的影响?

    今天有人问我SEM样品喷金对EDS的影响。我觉得金肯定会对低能信号产生明显吸收,这样定量结果就不可信。但是如果如果能看到信号,定性分析不会受太大影响。我对SEM经验很少,完全是根据TEM的经验这么说的。由此我想到另一个问题。如果样品表面起伏比较大,比如有个小山包,或者球形颗粒,那么背向EDS探头的一侧的信号是否会受明显影响?这种影响在定量分析中如何考虑?虽然软件里都有ZAF校正,但是那个只考虑样品内部对X光信号的影响,样品形貌千差万别,这个因素是无法预先设定的。我用TEM比较多,把样品朝EDS探头转动十多度可以有效避免样品内部对低能信号的吸收。形貌的影响不必考虑,因为TEM样品表面不会有太大起伏。形貌的因素可以忽略。但是在SEM里,这个因素好象不能轻易忽略。

  • 【求助】Al片表面SEM

    【求助】Al片表面SEM

    请大家帮忙看看这张照片,是一个Al片采用碱处理后的表面形貌,图上的是凹坑还是凸起。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/06/201106132025_299691_1872735_3.jpg

  • 【求助】请教:高密度聚乙烯形貌观察?

    请版内高手赐教:1.试样非常软,表面一直有划痕,光镜、SEM等都观察不到本体形貌,刻蚀后仍有划痕。2.不知道上海哪有做聚合物的冷冻超薄切片,想直接做透镜,复旦、交大都不能做冷冻。

  • 原子力显微镜的表面电势模式

    本节微课主要介绍了原子力显微镜的表 面电势模式,它主要用于研究材料微区 形貌和表面电势分布图像,这里介绍了 其工作原理和应用。

  • 创新方法——超高速实时测3D形貌测量,样片展示

    创新方法——超高速实时测3D形貌测量,样片展示

    1、红细胞3D2、粗糙度表面形貌3、加热可降解材料的挥发4、石墨烯薄膜受力形变测量原理是全息术:CCD采集物光与参考光干涉形成的全息图包含了物体的相位信息,再实时数值重建3D形貌。优点:1、超高速大面积3D形貌非扫描实时成像,成像速率能做到1000fps 2、纵向能做到亚纳米分辨率 3、非接触成像,无损样品,无惧振动[img=红细胞3D,384,244]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_01_1546_3.png[/img][img=表面形貌粗糙度测量,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_02_1546_3.png[/img][img=加热可降解材料的挥发,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_03_1546_3.gif[/img][img=石墨烯薄膜形变,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_04_1546_3.gif[/img][img=微热板,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_05_1546_3.gif[/img][img=液体透镜结构形变,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_06_1546_3.gif[/img]

  • 【原创大赛】双相不锈钢点蚀试样电镜形貌对比分析

    【原创大赛】双相不锈钢点蚀试样电镜形貌对比分析

    双相不锈钢点蚀试样电镜形貌对比分析 利用扫描电镜对A厂和B厂的2205双相不锈钢点蚀试样表面形貌进行观察,见图1。A厂2205点蚀坑均为开放性蚀坑,尺寸较小,较浅;而B厂2205蚀坑存在封闭型与开放型,且以封闭型为主,尺寸较大,封闭蚀坑表皮鼓起,与下面基体脱离,开放型蚀坑尺寸也较大,且很深。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/11/201411250935_524454_1722674_3.jpg http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/11/201411250935_524455_1722674_3.jpgA厂2205点蚀后形貌http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/11/201411250936_524456_1722674_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/11/201411250937_524457_1722674_3.jpgB厂2205点蚀后形貌图1不同厂家 2205点蚀试样形貌 利用能谱仪对蚀坑部位进行微区成分分析,A厂2205点蚀坑内各别点Cr元素含量高于基体,图1,表1;B厂2205封闭型蚀坑表面为一层氧化铁皮,见图图3,表2,且B厂2205开放型蚀坑内发现少量的硫化物,见图4,表3。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/11/201411250937_524458_1722674_3.jpg图2 A厂2205点蚀坑成分分析对于点表1 A厂2205点蚀坑成分分析结果谱图OSiCrMnFeNiMo总的谱图 12.250.4925.451.1263.993.233.48100.00谱图 20.50[/t

  • 【原创大赛】SPM观察金属表面局部电位变化

    【原创大赛】SPM观察金属表面局部电位变化

    1、SPM原位分析扫描电化学显微镜可用于原位检测电极表面微区电位、电流分布以及检测微观尺寸上的STM形貌分布。采用XMU-BY电化学扫描显微镜研究碳钢试样在孔蚀电位Eb及亚稳态孔蚀电位Em下恒电位极化时,碳钢试样表面的微区电位分布的变化。SPM技术是一种新型的观测金属表面的测试技术,包括扫描隧道显微镜(STM) 、原子力显微镜(AFM) 、磁力显微镜(MFM) 等。相较于其他表面分析技术,SPM不仅能够采用高分辨率的三维表面成相与测量,还能够对材料的性质差别进行研究。对于SPM的运用也从最初的测试工具发展为加工、制造等微观精密领域的应用。本文中所使用的XMU-BY扫描电化学工作站可用于原位检测电极表面微区电位、电流分布以及检测微观尺寸上的STM形貌分布。此外,XMU-BY扫描电化学工作站特有的定点测试功能,可以自动地将扫描探针定位到感兴趣的区域,然后可以进行局部点位置多种电化学信息的跟踪测试,比如电位随时间的变化测试、电位随X/Y/Z方向距离的变化测试、物质分布变化的测试以及形貌变化的测试。另外,还通过与恒电位仪联用,进行了外加恒电位条件下试样表面形貌的原位分析,实验用恒电位仪为。图1为联用系统结构原理框图,原理框图如下:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271337_568105_2590289_3.png图1扫描探针显微镜与恒电位仪联用系统结构原理框图 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271337_568106_2590289_3.png图2扫描探针显微镜与恒电位仪联用系统实物图图2为根据原理结构框图我们所建立的恒电位下扫描探针显微镜实物图。从图中可看出, XMU-BY扫描电化学工作站由5部分组成:扫描平台(包括扫描探头、扫描平台底座、扫描器、探针架和探针)、控制机箱、恒电位仪、电机控制器、计算机控制系统。2、实验与讨论在碳钢孔蚀电位Eb下进行恒电位极化,得到Q235碳钢表面电位变化。每隔5min得到一张电位微区分布图,连续恒电位测量1h,将所得的图片使用CSPM Imager图片编辑软件进行分析,绘制出三维图像。图3为实时监测电位分布图,图4为将得到数据进行三维处理后的电位分布图。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271349_568107_2590289_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271349_568108_2590289_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271349_568109_2590289_3.jpg图3 SPM恒电位极化下,碳钢表面电位分布http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271352_568110_2590289_3.png图4 恒电位Eb下Q235碳钢表面随时间变化的电位分布图3、结论在电位Eb恒电位极化下,碳钢表面微区电位同样呈现不均匀性,存在活性阳极与活性阴极区。

  • 紧急求救:扫描电镜观察块状固体的晶体形貌时遇到的问题

    前两天,发现用扫描电镜做块状固体的晶体型貌时,选用背散射电子,但是很难观察到"晶体"形貌,后检查发现,当使用背散射电子观察晶体形貌时,操作盘的CONTRAST控制键失效,BRIGHT控制键有效,当使用二次电子观察"表面"形貌时,两控制键都有效,这使得我们不能观察晶体形貌.请问各位有何解决办法?谢谢!

  • 如何测定重金属表面腐蚀产物

    本人需要确定金属铅在硫酸溶液中电化学腐蚀后的表面腐蚀产物,从理论上说,只可能是PbO2、PbO和PbSO4三种产物,用什么手段可以检测以上三种腐蚀产物的含量分布、最好还要看腐蚀产物形貌,用SEM-EDS很难做到,可以很好的看到形貌,但是成分很难确定,请问还有什么方法?电子探针是不是可以做到?请高手指点迷津,感激不尽!

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