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表面区域相关的仪器

  • RAM-020GM/H区域表面污染监测探头 RAM-020GM/H是上海怡星针对环境辐射监测开发的区域表面污染监测探头,是一个环境监测系统的部分。该环境监测系统可以由一个或者数百个探测器组成的庞大的监测网络。RAM-020GM/H可以通过不同的通讯方式,建立一个环境辐射监测网络,实现对辐射环境的实时监测和预警。 应用范围环境/工作场所辐射监测核医学/介入医学/放射医学场所监测射线装置/核辐射污染测量放射源库/射线装置场所表面污染监测核设施工业/区域人员表面污染监测 RAM-020GM/H支持HapCloud通用放射性监测系统。HapCloud系统可以实现对各种辐射监测仪器的数据采集、存储、远程展示、报警等功能,用户可网页等方式,快速访问每一个设备的状态。HapCloud系统可以扩展到上千个不同类型的探头,支持包括热电、伯托等进口*牌的各种类型的探测器。 产品特点可同时测量α、β、γ全金属外壳,坚固耐用,易去污金属柔性管,可调节方向结构紧凑报警阈值可设置内部数据存储采用*水接头支持MODBUS协议可独立工作 HapCloud一体化云数据平台RAM-020GM/H支持实时将测量数据上传到远程服务器中,配合使用本公司开发的HapCloud一体化云数据平台,实现对不同区域的实时连续监测。并且用户可以通过PC随时查看监测结果。
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  • 上海伯东代理比利时原装进口 Europlasma 是基于低压等离子技术的创新超薄纳米涂层设备. 专利等离子体涂层技术 Nanofics@ 和无卤素涂层技术 PlasmaGuard® . Europlasma 凭借超过25年的低压等离子体技术经验, 设计和生产真空等离子处理设备, 实现涂覆产品 IPX2 - IPX8 防水等级或医用产品亲水特性!Europlasma 提供各种规格的等离子表面处理设备, 等离子体室从 50升 到 2000升不等. 满足工业生产需要, Europlasma 还提供独特的卷绕涂层设备, 用于处理复杂电路, 薄膜, 织物和非织造布. 不论是非常小的特殊材料卷到大型织物卷 (宽度可达 2500毫米) 上海伯东 Europlasma 根据您产品的实际应用选择合适的机型和涂覆材料!CD 1000 ( 等离子体室 1000 x 700 x 700 mm ) CD 2400 ( 卷绕式 2400毫米 )Europlasma 等离子表面处理设备特点: 真空条件下, Europlasma 通过在材料浅表面实现低压等离子表面聚合或者原子层沉积, 从而赋予材料新的功能, 不影响材料本身的性能, 对三维结构以及复杂形状的材料表面都可实现均匀性涂覆.产品一致性强, 循环周期最短 可灵活集成到生产工艺中 穿透复杂的结构, 并覆盖所有表面, 包括锐利的边缘 所有表面都覆盖, 包括液体涂层无法触及的区域, 如深空腔和其他难以触及的区域 超薄涂层不会损坏被涂层的易碎物品, 如声学元件推出世界第一台 PlasmaGuard® 无卤素涂层设备, 更加安全, 环保!Europlasma 拥有先进的技术和不断增长的各项专利申请, 提高纳米涂层设备工艺技术!Europlasma 等离子表面处理设备适用于涂覆如下产品:1. 可穿戴电子设备: 无线耳机, 手环, 手表, 助听器等2. 薄膜: 锂电池行业, 精密仪器等3. 无纺布和功能性纺织物: 运动户外产品4. PCB 元器件5. 医用器材: 医用导管, 口罩, 针座活化, 其他防护设备等.Europlasma 拥有各种类型的化学原料, 包括氟化学产品( Nanofics 120 含 PFOA, Nanofics 110 不含 PFOA ) 和无卤素化学产品 ( Nanofics 10 以及 PlasmaGuard® 无卤素涂层技术), 提供定制设计. 同时姐妹公司 CPI 是基于薄膜基板的大气条件下, 提供高速等离子体卷绕解决方案的公司.若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请联络上海伯东叶女士上海伯东版权所有, 翻拷必究!
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  • 表面分析系统 400-860-5168转1594
    仪器简介:Model 805表面分析系统 光泽仪:测量样品光泽度,不受其形状、质地、颜色的影响 测量DOI(影象清晰度或鲜映性)和桔皮 测量区域大(最多可达240,000个数据点) 可测量超高光泽度 确保样品质量和一致性 能排除所有主观性的干扰 Model 805A表面分析系统测量和分析各种形状、质地、颜色的样品表面的光泽度、DOI(影象清晰度或鲜映性)、桔皮和雾影等指数。也经常被用于评价物体的表面结构。高清晰度的影象系统能迅速提供表面测量结果的数值。技术参数:电源:115/220 V ac, 50/60 Hz, 300 W 绝对精度:± 1.0%满量程 重复性:± 1.0%满量程 测试时间:20秒 稳定所需时间:启动后10分钟(典型) 测量光路:标准 60° 测量区域:直径约2.5英寸的区域 旋转样品台:直径17.8厘米(7英寸),旋转角度从0° 到 360°,增量为1° 样品高度调整:从0到7.6厘米主要特点:805A表面分析系统提供的定量的数值在判断表面特征时排除了所有的主观性的干扰。每次测试能测多达240,000个点。样品的特殊区域也能被单独测量。 所有的光泽测量都是直接源于系统提供的一个光泽参照。 DOI测量功能为高光泽产品的映像清晰度提供了一个定量的测量。 桔皮测量功能能精确测量那些显示桔皮特征的表面的“桔皮”和“波纹度”。 805A还能测量计算出雾影指数,同时具备测量和评价有织纹的表面的一直性的功能。 Model 805A常被用于磨损和风化研究中,量化表面特性和监督产品的一致性。它提供测量数据、显示影象、柱状图、比较数据、内部校正和其他深入的信息。 Model 805A由菜单操作。测量结果可以通过简单的按一个按钮保存数秒。操作者也能分析数据、观看柱状图。 仪器由样品测试室、电脑和显示器组成。系统能自动监控和自动校正以保证精度和易于使用。
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  • 表面沾污仪 400-860-5168转4433
    表面沾污仪产品介绍:是一种便携式电池供电的辐射计测量的α/β区活性和γ-射线的剂量当量率便携式,电池供电辐射计测量的α 和β的区域活动,以及光子剂量当量率伽马辐射应用领域:本地剂量学和工业事故剂量学核电厂研究和开发教育环境保护建筑业地质学废物处置技术参数:测量值区域活动(α/β辐射)显示范围范围10,01至19,99微西弗/小时范围20,1 199,9微西弗/小时测量范围阿尔法(0,1 199,9)贝可/厘米2KA(AM-241,KA = 6)仅供参考(0,1 199,9)贝可/厘米2KB(KB = 2,SR-90)伽玛(0,1 199,9)微西弗/小时在基准条件下的固有误差阿尔法25%的钴60辐射贝塔系数25%为SR-90辐射枷玛25%为AM-241-辐射能量范围贝塔开始在35千电子伏(开盾)枷玛20千电子伏到2兆电子伏检测器尾窗盖革-米勒管(面积质量密度2 mg/cm2的),没有能量补偿盾塑胶(的面积质量densitiy约200 mg/cm2的)显示方式液晶显示屏上的数字工作电压1,5 V(电池或蓄电池,C型)工作时间8〜 12小时(取决于辐射水平),低电量显示符号重量250克外形尺寸(长x宽x高)145毫米x 80毫米x 40毫米颜色黑褐色RAL 8022温度范围0°C至+ 50°C相对湿度90%+ 30°C机械强度DIN IEC 68,EB 6 - 150 - 1000/3
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  • 第一章 概述1.1 简介 表面电阻及表面电阻率测定仪器是采用高性能微处理器控制的绝缘电阻测试仪。七量程测试,输出电压连续可调,可以测试500Ω~9.9*PΩ的电阻,最大显示99999数,测试速度可达5次/秒。仪器拥有专业分选功能,具有10组设置存储数据,多样分选讯响设置,配备Handler接口,应用于自动分选系统完成全自动流水线测试。内置RS232接口及LAN接口,用于远程控制和数据采集与分析。 计算机远程控制指令兼容SCPI(Standard Command for Programmable Instrument可程控仪器标准命令集),高效完成远程控制和数据采集功能。仪器可测量各种电子元件、设备、介质材料和电线电缆等的绝缘电阻和漏电流;配套电极箱可测试材料的表面电阻和体积电阻率。1.2 性能特点外观:显示采用4.3寸高分辨率TFT屏显示,操作简单;机身小巧,功能强大;测试性能卓越:回读电压精度0.5%;绝缘电阻最大精度1%;快速测试:最小测试周期仅需200ms;恒压测试:采用恒压测试法快速测量绝缘电阻;丰富的接口配置:HANDLER接口;RS-232接口;以太网接口(选配);U盘接口;供电198~240 V电源供电电源频率47Hz~63Hz最大功耗 50W1.3 各部分的名称与操作概要正视图后视图侧视图按键说明功能键F1功能键F2功能键F3功能键F4功能退出键功能确定键[方向键],用于选择菜单项或设置数值[页面切换键]切换[测试页面]- [设定页面] - [保存页面] - [通讯页面] - [系统页面][0.ADJ键],进行调零电压设置键测试模式电阻/电流切换键[触发键],启动和终止测试[速度键],设置测量速率键锁键,长按[LOCK]键,锁定页面其它键失效,长按可解除锁定[上限设定键],用于设定上限数值[下限设定键],用于设定下限数值1.4 外形尺寸1.5 页面构成R测量页面I测量页面设定页面保存页面通讯页面系统页面第二章 测试前的准备2.1 测试流程预览仪器保持在电源关闭状态,按以下步骤进行测试前的准备。1.关闭仪器电源,连接测试线2.插入电源线保证电源线接地良好,有利于测试的稳定。3. 将仪器尾部的电源拨到“开”状态4. 设置测试参数(详细参见后面章节)5. 进行测试6. 测试结束,关闭电源2.2 基本参数设置流程2.3 测量前的检查在使用前,请先确认没有因保存和运输造成的故障,并在检查和确认操作之后再使用。确认为有故障时,请与本公司销售网点联系。本仪器与外围设备的确认检查项目处理方法本仪器是否损坏或有无龟裂之处?内部电路是否露出?有损伤时不要使用,请送修。端子上是否附着金属片等垃圾?附着时,请用棉签等擦净。测试线的外皮有无破损或金属露出?有损坏时,可能会导致测量值不稳定或产生误差。建议更换为没有损坏的电线。电源接通时的确认检查项目处理方法接通电源时是否屏幕全部点亮,测量画面显示是否正常?显示不同时,可能是本仪器内部发生了故障,请送修。2.4 测试线的连接方法前面板连线测试线连接1.连接带极性的被测件,例如电容器等带极性的被测件,必须区分正负极,按以下接线方式测试:Output 端输出负电压,连接被测件的负端。 Input 端连接被测件的正端。有极性器件(电解电容器等)请按正负极连接好,否则会对人身安全构成威胁。2.连接不带极性的被测件,例如电线电缆,橡胶材料等不带极性的被测件,无特殊要求,按以下接线方式测试;3.测量高电阻时,需要将GND接地,屏蔽外界干扰。2.5 电极箱的连接方法仪器配套电极箱可测试材料的表面电阻和体积电阻率,0305电极箱是选件,客户根据需要定制。测试表面电阻率时如上图接线,测试仪器的OUTPUT端接电极箱的Rs端;测试体积电阻率时,测试仪器的OUTPUT端接电极箱的Rv端,如下图接线。Input 仪器电流采样端与电极箱 Sample 电流采样端连接用于采样电流。仪器GND接地端与电极箱 GND 接地端连接用于屏蔽。Output 仪器电压输出端与电极箱Rs或Rv高压端连接给被测物加电压。第三章 基本设置3.1 设置测试电压仪器电压设定范围从 -1000V~-1V 之间。在测试界面按仪器上的【V-SET】键,再用方向键设置电压数值,按【ENTER】确认,ESC】取消;3.2 设置测试量程在测试界面,按【F3】选择“量程自动”选项,可以打开或关闭自动量程功能。切换到量程自动状态下,屏上显示指示“量程自动:ON”,也可以按【F1】【F2】手动选择测试量程。仪器共有7个测试量程,在自动量程和手动量程下都可以改变测试量程,在自动量程下改变量程号自动量程将关闭。3.3 设置测试速度完成一次采样是从测试产生 - 模数转换 - 运算 到显示测量结果和分选结果为止。这段时间称为采样时间。采样速率是指每秒能完成的采样次数。仪器提供了两种速率设置供用户选择,快速(5次/秒)和慢速(1次/秒),直接按仪器面板上的【RATE】键切换测试速度。3.4 比较器功能按【UP-LIM】选择比较上限,按【F1】开启/关闭上限比较功能,开启后使用方向键设置上限数值,使用【F2】、【F3】切换数值单位倍率;按【LO-LIM】选择比较下限,按【F1】开启/关闭上限比较功能,开启后使用方向键设置下限数值,使用【F2】、【F3】切换数值单位倍率;关闭比较器上限和下限后,仪器分选系统将不再工作,同时与 Handler 接口中有关比较器输出的信号也关闭。3.5 分选结果的讯响模式在测试页面按【PAGE】切换到设定页面,使用方向键选择讯响模式;仪器有三种讯响模式:OFF、PASS、FAIL。按【F1】、【F2】、【F3】选择相应的讯响模式,按【ESC】退出设定页面。OFF:关闭讯响;PASS:分选合格时讯响;FAIL:分选不合格时讯响。3.6 表面电阻率在测试页面按【PAGE】切换到设定页面,使用方向键选择表面电阻;按【F1】关闭表面电阻,【F2】开启表面电阻,【F3】预设周长和距离,也可使用方向键手动设置待测物周长和距离;【ESC】退出,返回表面电阻率Rs测量页面;表面电阻率表面电阻率是单位面积的电阻值。表面电阻公式:ρs=Rs*(Pereimeter/Gap)其中:ρs 表面电阻率(Ω)Perimeter 有效周长(cm)Gap 主电极和副电极之间的距离(cm)Rs 测量的表面电阻(Ω)Perimeter 计算公式:Perimeter = π × (D2+D1)/ 2Gap 计算公式:Gap = (D2 - D1)/2其中:D1 主电极直径(cm)D2 副电极直径(cm)绝缘电阻电极箱参数说明参数说明有效值D1主电极直径5.0cmD2副电极直径6.0cmB有效面积系数0≤B≤1默认为 0AREA有效区域面积0 cm² ≤AREA≤9999.9cm² 默认为 19.635 cm² Perimeter有效周长0c≤Perimeter≤999.99cm默认值为 17.278cmGap主电极和副电极之间的距离0.001cm≤Gap≤99.99cm默认值为 0.5cm电极测量体积电阻率和表面电阻率的基本线路其中 1 - 被保护电极;2 - 保护电极;3 - 试样;4 – 不保护电极;d1– 被保护电极直径;d2 – 保护电极内径d3 – 保护电极外径d4 – 不保护电极直径g – 电极间隙h – 试样厚度a)测量体积电阻率线路 b)测量表面电阻率线路3.7 体积电阻率在测试页面按【PAGE】切换到设定页面,使用方向键选择体积电阻;按【F1】关闭体积电阻,【F2】开启体积电阻,【F3】预设厚度和面积,也可使用方向键手动设置待测物厚度和面积;【ESC】退出,返回体积电阻率Rv测量页面;体积电阻率体积电阻率是单位体积的电阻值,总的来说,体积电阻率的公式为:ρv = Area/t × Rv其中:ρv 体积电阻率(Ω -cm)Area 有效区域面积(cm2)t 样品厚度(cm)Rv 测量的体积电阻(Ω)有效区域面积可以按以下公式设定:其中:D1 主电极直径(cm)D2 副电极直径(cm)B 有效面积系数3.8 漏电流测量在电阻测量页面,按【R/I】切换电阻测量和漏电流测量。第四章 测量4.1 启动测试设置好相关参数(详见第三章);正确连接好测试线(详见第二章);按 键开始测试;4.2 测试量程仪器共有7个测试量程,在测试界面,按【F3】选择“量程自动”选项,可以打开自动量程功能。切换到量程自动状态下,屏上显示指示“量程自动:ON”。仪器将通过下表自动选择最合适的量程进行测量。量程号、电流量程及量程变动过程量程号电流量程报警升范围降范围12mA2mA 报警R:量程下超2.2mA220uA22uA2.2uA220nA22nA180uA18uA1.8uA180nA18nA1.8nA2200uA200uA 不报警R:量程下超320uA20uA 不报警R:量程下超42uA2uA 不报警R:量程下超5200nA200nA 不报警R:量程下超620nA20nA 不报警R:量程下超72nA2nA 不报警R:量程下超4.3 设定测试参数在测试页面按【PAGE】切换到设定页面,使用方向键选择需要设置的参数;测量定时:000.0S 设置连续测试时间,范围为 000.1-999.9S。充电延时:000.0S 设置充电时间,延时范围为000.1-999.9S,在单次或连续测试模式会根据充电时间进行延时。放电延时:000.0S 设置放电时间,延时范围为000.1-999.9S,在单次或连续测试模式会根据放电时间进行延时。表面电阻:设置表面电阻率参数。体积电阻:设置体积电阻率参数。显示位数:可设置测试界面电阻显示位数4或者5。讯响模式:设置讯响模式。测量模式:连续测量、合格停止、不合格停止。4.4 开路清零按【0.ADJ】键进入准备清零界面。在开始清零前请将Input端和电压输出Output端测试夹取下或悬空。按【ENTER】键确定开始清零,【ESC】退回测量界面。仪器进行清零,在自动量程下,仪器对所有量程进行清零。在手动模式下仪器仅对当前量程进行清零。如果清零成功,清零数据将保存在非易失性存储器中。清零完毕后仪器自动返回到测试状态。Input 端和电压输出端测试线必须开路并悬空,不要与任何物体接触。第五章 测量设置保存在测量页面按两次【PAGE】键切换到保存页面,【ESC】返回测量页面。5.1 保存测量设置1、在保存页面按【F1】保存当前测量参数;2、使用方向键和【F1-F4】功能键输入名称,【ENTER】确认,【ESC】取消;5.2 调取测量设置1、在保存页面使用上下方向键选择需要载入的文件名;2、在保存页面按【F2】载入选中文件,按【ENTER】确认,【ESC】取消。5.3 删除测量设置1、在保存页面使用上下方向键选择需要清除的文件名;2、在保存页面按【F3】清除,按【ENTER】确认,【ESC】取消;5.4 重命名测量设置1、在保存页面使用上下方向键选择需要载入的文件名;2、在保存页面按【F4】重命名,使用方向键和【F1-F4】功能键输入名称,【ENTER】确认,【ESC】取消。
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  • XY-2100便携式表面污染仪运用场所1、医院放射科,放疗室;2、核电站,核燃料厂,核燃料后处理厂,核相关科研实验机构等;3、同位素运用,辐照设备的相关单位;4、各级环境监测部门;5、各级卫生护防防疫站;产品概述XY-2100便携式表面污染仪主要用于α、β表面污染的测量,广泛用于因可能被污染而必须监测的场所,例如:核电厂,核废料处理厂,退役或被拆除的核设施、放射性废物处理厂、医院、研究所及各种环境中的应用,可对墙壁、地板、桌子、手、脚、衣服或其他物品进行表面污染监测。表面污染监测的目的是:防止放射性污染扩散、检查放射性污染控制是否有效或是否违反操作规程、把表面污染限制在一定的区域和一定的水平之内、以防止污染扩散和工作人员受到过量照射。从而为制定个人监测方案、系统监测方案以及操作规程提供资料。表面污染监测的主要辐射类型是:α、β射线。工作原理表面污染仪的工作原理是通过闪烁探测器(塑料闪烁体+ZnS(Ag))来检测放射性工作区域和工作人员衣物上的α、β放射性强度。当α、β射线通过闪烁体时,会发出光子,光子通过光电倍增管和放大电路后,形成电脉冲,再由窗甄别器甄别α、β信号,此信号被送到计数电路,通过计算和处理之后得出测量结果。功能特点1. 最优反射器的几何形状和表面确保很好的均匀性和效率;2. 按下相应的按钮,可开/关声音提示;3. 背光一键开关,可自动熄灭;4. 可通过USB连接器使用串行线连接到外部计算机;5. 仪表的表面易清理;6. 真空探测器,铝箔片可快速更换;7. 用户友好型,操作简单;8. 两个可调报警阈值;9. 体积小,重量轻,抗震设计;10. 灵敏度高,响应均匀;11. 同时测量αβ,α或β可分别单独测量;技术指标探测器:塑料闪烁体ZnS(Ag)窗口:含铝聚酯薄膜箔β能量:150kev~2.5Mev电池寿命:约150小时(不开背光灯)显示屏:128x64点阵有效面积:10×10 cm2探测上限:105cps电池:标准C号碱性电池或可充电电池重量:约1kg单位:cps,cps/cm2 ,Bq探测效率241Am ≥52%;14C ≥17%;204Tl ≥48%;90Sr+90Y ≥50%;137Cs ≥45%
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  • 普特勒等离子清洗机综合应用领域等离子表面处理这门工艺现在正应用于LCD、LED、IC,PCB,SMT、BGA、引线框架、平板显示器的清洗和蚀刻等领域。、等离子表面清洗过的IC可显著提高焊线邦定强度,减少电路故障的可能性;溢出的树脂、残余的感光阻剂、溶液残渣及其他有机污染物暴露于等离子体区域中,短时间内就能清除。PCB制造商用等离子处理来去除污物和带走钻孔中的绝,缘物。对许多产品,不论它们是应用于工业还是电子、航空、健康等行业,其可靠性很大一部分都依赖于两个表面之间的粘合强度。不管表面是金属、陶瓷、聚合物、塑料或是其中的复合物,经过等离子处理以后都能有效地提高粘合力,从而提高最终产品的质量。等离子表面处理在提高任何材料表面活性的过程中是安全的、环保的、经济的。 金属陶瓷、塑料、橡胶、玻璃等表面常常会有油脂油污等有机物及氧化层,在进行粘接绑定油漆键合焊接铜焊和PVD、CVD涂覆前,需用等离子表面处理来得到完全洁净和无氧化层的表面。等离子表面清洗技术在半导体行业、航空航天技术、精密机械、汽车工业、医疗、塑料、考古、印刷、纳米技术、科研开发、液晶显示屏、电子电路、通讯及手机零部件等广泛的行业中有着不可替代的应用。
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  • 中图仪器NS系列纳米级表面测量台阶仪是一种接触式表面形貌测量仪器,可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。NS系列纳米级表面测量台阶仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC,具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率,同时,其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术,使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。产品功能1.参数测量功能1)台阶高度:能够测量纳米到330μm或1050μm的台阶高度,可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料。2)粗糙度与波纹度:能够测量样品的粗糙度和波纹度,分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线,可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等数十项参数。3)应力测量:可测量多种材料的表面应力。2.测量模式与分析功能1)单区域测量模式:完成Focus后根据影像导航图设置扫描起点和扫描长度,即可开始测量。2)多区域测量模式:完成Focus后,根据影像导航图完成单区域扫描路径设置,可根据横向和纵向距离来阵列形成若干到数十数百项扫描路径所构成的多区域测量模式,一键即可完成所有扫描路径的自动测量。3)3D测量模式:完成Focus后根据影像导航图完成单区域扫描路径设置,并可根据所需扫描的区域宽度或扫描线条的间距与数量完成整个扫描面区域的设置,一键即可自动完成整个扫描面区域的扫描和3D图像重建。4)SPC统计分析:支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析,针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.双导航光学影像功能在NS200-D型号中配备了正视或斜视的500W像素的彩色相机,在正视导航影像系统中可精确设置扫描路径,在斜视导航影像系统中可实时跟进扫描轨迹。4.快速换针功能采用了磁吸式测针,当需要执行换针操作时,可现场快速更换扫描测针,并根据软件中的标定模块进行快速标定,确保换针后的精度和重复性,减少维护烦恼。磁吸针实物外观图(330μm量程)NS系列纳米级表面测量台阶仪对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求,样品适应面广,数据复现性高、测量稳定、便捷、高效,是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。应用场景适应性强,其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求,能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位。典型应用部分技术参数型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量,LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动,360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm(6吋),200mm(8吋)尺寸(L×W×H)mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC,50/60 Hz,200W使用环境相对湿度:湿度 (无凝结)30-40% RH温度:16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动:6.35μm/s(1-100Hz)音频噪音:≤80dB空气层流:≤0.508 m/s(向下流动)恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 光学表面测量系统 400-860-5168转2826
    具有最佳的精确度和可重复性您所查看的产品表面是否具有比较陡峭的坡度还是具有复杂的形貌?使用高清共聚焦显微镜能够实现2纳米的垂直分辨率。您所查看的产品平面是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑?可从以下三种干涉测量模式中选择:垂直扫描干涉测量(VSI);相移干涉测量(PSI)或者适用于分辨率高达0.1纳米的扩展相移干涉测量(ePSI)。如果您需要快速绚丽的高清二维图像,则Leica DCM8可提供明视场模式和暗视场模式。快速捕捉表面数据Leica DCM8采用创新性高清微显示扫描技术。由于传感器头部未使用运动部件,因此设备能够实现快速和可重现的捕捉数据。集成式高清CCD摄像头具有较大的视场,能够观察较大的样本面积。对于具有较大面积区域的样本来说,为获得无缝和精确的模型,只需要选择超快XY地形拼接模式即可。很容易匹配您的样本能够对Leica DCM8进行配置以便适用于您的样本,从反光性表面,到透明层下的表面,再到需要较大工作距离的样本-我们都能够提供满足您需求的高品质物镜。对于大尺寸样本来说,从我们的可调整镜筒和电动载物台系列中进行选择。除此之外系统还采用了四种不同颜色的LED灯,能够使您选择适用于具体材料观察的波长。能够有效地对结构进行分析我们的用户友好型LeicaSCAN软件能够控制Leica DCM8设备。配方方案,多样本和统计分析能够优化工作流程。您是否还需要执行更为复杂的三维测量任务?那就选择我们的徕卡Map软件,以及全套高级分析工具。当然,如果您只需要二维图像,则徕卡应用程序套件(LAS)将会进一步扩展系统的测量功能。获取高质量的图像通过将卓越性能的光学元件与高清CCD摄像头、红色、绿色、蓝色和白色LED光源相结合,Leica DCM8能够提供具有逼真的高清彩色图像。再加上LED的连续性,能够确保每个像素都能够记录真彩信息。分辨率和对比度提高的结果就是能够为您的样本提供水晶版清晰透彻的图像。目前和将来都够获取非常可靠的结果高清微显示扫描技术未配置任何运动部件,CCD摄像头和4个LED灯均布置在兼顾紧凑的传感器头中。这种创新性设计能够实现快速、可复制且无噪声的图像结果。值得一提的是,设备还具有较高的耐久性,实际上在较长的使用寿命期限内设备几乎不需要任何维护操作。材料性能最优化不管您是用于生产用途还是研究用途,Leica DCM8均能够提供您所需要的精确、且可重复的测量分析结果,以便实现材料性能的优化。
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  • 中图仪器NS200探针纳米级表面测量台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器,其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。NS200探针纳米级表面测量台阶仪通常使用2μm半径的金刚石针尖来测量这些小特征。一个精密的xy载物台联合扫描轴R和转台θ,在测针下移动样品,测针中的垂直位移被转换为与特征尺寸相对应的电信号。然后将这些电信号转换为数字格式,在其中它们可以显示在计算机屏幕上并进行操作以确定有关基材的各种分析信息。可以微调扫描长度和扫描速度,以增加或减少分析时间和分辨率。此外,测力可调以适应硬质或软质材料表面。结构主要组成部分1、测量系统(1)单拱龙门式设计,结构稳定性好,而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响,提高了测量精度。(2)线性可变差动电容传感器(LVDC),具有亚埃级分辨率,13μm量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差,使得产品能扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。(3)传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和正常力测量。测力恒定可调,以适应硬质或软质材料表面。超低惯量设计和微小电磁力控制,实现无接触损伤的精准接触式测量。2、工件台 (1)精密的XY平台结合360°连续旋转电动旋转台,可以对样品的位置以及角度进行调节,三维位置均可以调节,利于样品调整。(2)超高直线度导轨,有效避免运动中的细微抖动,提高扫描精度,真是反映工件微小形貌。3、成像系统500万像素高分辨率彩色摄像机,即时进行高精度定位测量。可以将探针的形貌图像传输到控制电脑上,使得测量更加直观。4、软件系统测量软件包含多个模块。5、减震系统防止微小震动对测量结果的影响,使实验数据更加准确。NS200探针纳米级表面测量台阶仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC,具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率,同时,其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术,使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。应用场景适应性强,其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求。产品功能1.参数测量功能1)台阶高度:能够测量纳米到330μm或1050μm的台阶高度,可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料。2)粗糙度与波纹度:能够测量样品的粗糙度和波纹度,分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线,可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等数十项参数。3)应力测量:可测量多种材料的表面应力。2.测量模式与分析功能1)单区域测量模式:完成Focus后根据影像导航图设置扫描起点和扫描长度,即可开始测量。2)多区域测量模式:完成Focus后,根据影像导航图完成单区域扫描路径设置,可根据横向和纵向距离来阵列形成若干到数十数百项扫描路径所构成的多区域测量模式,一键即可完成所有扫描路径的自动测量。3)3D测量模式:完成Focus后根据影像导航图完成单区域扫描路径设置,并可根据所需扫描的区域宽度或扫描线条的间距与数量完成整个扫描面区域的设置,一键即可自动完成整个扫描面区域的扫描和3D图像重建。4)SPC统计分析:支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析,针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.双导航光学影像功能在NS200-D型号中配备了正视或斜视的500W像素的彩色相机,在正视导航影像系统中可精确设置扫描路径,在斜视导航影像系统中可实时跟进扫描轨迹。4.快速换针功能采用了磁吸式测针,当需要执行换针操作时,可现场快速更换扫描测针,并根据软件中的标定模块进行快速标定,确保换针后的精度和重复性,减少维护烦恼。磁吸针实物外观图(330μm量程)应用场景介绍部分技术参数型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量,LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动,360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm(6吋),200mm(8吋)尺寸(L×W×H)mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC,50/60 Hz,200W使用环境相对湿度:湿度 (无凝结)30-40% RH温度:16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动:6.35μm/s(1-100Hz)音频噪音:≤80dB空气层流:≤0.508 m/s(向下流动)恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 中图仪器SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪以白光干涉技术原理,用于对各种精密器件表面进行纳米级测量。通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌,专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。典型结果包括:表面形貌(粗糙度,平面度,平行度,台阶高度,锥角等等);几何特征(关键孔径尺寸,曲率半径,特征区域的面积和体积,特征图形的位置和数量等等);SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能;(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能; (6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。性能特色1、高精度、高重复性1)采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统,保证测量精度高;2)隔振系统,能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动,消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声,保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用,获得高测量重复性;2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰,在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外,另在Z轴上设计有机械电子传感器,当镜头触碰到样品表面时,仪器自动进入紧急停止状态,最大限度的保护仪器,降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机,在无外接气源的条件下也可稳定工作。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求,中图仪器SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪的复合型EPSI重建算法,解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下,只需要确定起点和终点,即可自动扫描,重建其超光滑的表面区域,不见一丝重叠缝隙。具有的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例:部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配:3孔手动选配:5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸(长×宽×高)700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 中图仪器SuperViewW白光干涉仪三维表面形貌测量系统让轮廓测量价格更为实惠。应用领域广泛,操作简便,可自动聚焦测量工件获取2D,3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数,适用于各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、孔隙间隙、台阶高度、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、波纹度、面形轮廓、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。SuperViewW白光干涉仪三维表面形貌测量系统采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统,保证测量精度高。除初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外,另在Z轴上设计有机械电子传感器,当镜头触碰到样品表面时,仪器自动进入紧急停止状态,保护仪器,降低人为操作风险。产品功能1)样件测量能力:单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量;2)单区域自动测量:单片平面样品或批量样品切换测量点位时,可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能;3)多区域自动测量:可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位,一键实现自动条纹搜索、扫描等功能;4)自动拼接测量;支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能,配合影像导航功能,可自定义测量区域,支持数千张图像的无缝拼接测量;5)编程测量功能:支持测量和分析同界面操作的软件模块,可预先配置数据处理和分析步骤,结合自动单测量功能,实现一键测量;6)数据处理功能:提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能;7)数据分析功能:提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能:可根据需求参数定制数据处理和分析模板,针对同类型参数实现一键批量分析;9)数据报表导出:支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能,支持图像、数值结果的导出;10)故障排查功能:配置诊断模块,可保存扫描过程中的干涉条纹图像;11)便捷操作功能:设备配备操纵杆,支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等;12)环境噪声评价:具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能,定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率,为设备调试和故障排查提供定量依据;13)气浮隔振功能:采用气浮式隔振底座,可有效隔离地面传导的振动噪声,确保测量数据的高精度;14)光源安全功能:光源设置无人值守下的自动熄灯功能,当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源,防止光源高亮过热损坏,并有效延长光源使用寿命;15)镜头安全功能:双重防撞保护,软件ZSTOP防撞保护,设置后即以当前位置为位移下限位,不再下移且伴有报警声;设备配备压力传感器,并在镜头处进行了弹簧结构设计,确保当镜头碰撞后弹性回缩,进入急停状态,大幅减小碰撞冲击力,有效保护镜头和扫描轴,消除人为操作的安全风险。应用领域对各种产品、部件和材料表面的粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求,SuperViewW白光干涉仪三维表面形貌测量系统的复合型EPSI重建算法,解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下,只需要确定起点和终点,即可自动扫描,重建其超光滑的表面区域,不见一丝重叠缝隙。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配:3孔手动选配:5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸(长×宽×高)700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 价格货期电议上海伯东 Europlasma 等离子活化工艺实现 PMMA 亚克力板亲水改性通过对亚克力板 PMMA 进行表面等离子活化处理, 可以有效改善亚克力板表面能低, 疏水性强, 表面张力弱, 附着力差等问题. 与传统磨面, 涂料处理方式对比, 上海伯东 Europlasma 等离子机提供 Activation 等离子活化工艺, 绿色环保无污染, 可以提高亚克力板的表面能, 将疏水表面变为亲水表面, 经过等离子活化工艺处理后的水接触角最低可以达到 WCA 10°, 并且长时间保持 WCA<50°, 满足生物培养耗材, 微流控芯片行业要求.上海伯东 Europlasma 亚克力板亲水处理案例某高科技生物耗材公司生产 PMMA 亚克力板细胞实验耗材和 PS 细胞培养皿, 要求表面亲水处理后水接触角 WCA<50°, 亲水效果要持续1年以上, 针对客户要求, 推荐使用 Europlasma CD 1200 PLCPMMA 亚克力板亲水效果记录使用设备: Europlasma CD 1200 PLC工艺: Activation 等离子活化处理日期: 2022年5月4日样品: 3批次样品数据来源: 该企业样品实际量测数据以下数值均为水接触角 WCA 检测日期样品 1平均值样品 2平均值样品 3平均值5月12日41.543.245.543.439.438.740.239.441.238.946.442.25月17日37.938.843.940.242.540.744.242.537.63741.338.65月22日36.449.149.344.939.148.143.643.638.240.542.740.5从记录数据来看, 3批次样品经过活化处理, 放置 19天后, 水接触角依然均值 40°左右. Europlasma 等离子机表面活化过程1. 将产品依次放置在托盘上, 摆放于 CD 1200 PLC 的真空腔内, 启动真空泵, 把腔体真空度抽至设定真空度.2. 腔体真空度稳定后通入工艺气体 (最多5种) 到真空腔,并打开 RF 等离子发生器, 产生高能量高浓度的气体等离子体3. 气体等离子体在产品表面发生各种物理和化学反应, 控制反应时间在 15-30min之间, 达到产品表面亲水改性和活化的效果.4. 处理完后关闭设备, 取出托盘和被处理过的产品, 再放置新一批的产品, 可以实现设备 24h 循环使用.上海伯东 Europlasma 等离子机特点: 真空条件下, Europlasma 通过在材料浅表面实现低压等离子表面聚合或者原子层沉积, 从而赋予材料新的功能, 不影响材料本身的性能, 对三维结构以及复杂形状的材料表面都可实现均匀性涂覆. 产品一致性强, 循环周期最短 可灵活集成到生产工艺中 穿透复杂的结构, 并覆盖所有表面, 包括锐利的边缘, 所有表面都覆盖, 包括液体涂层无法触及的区域, 如深空腔和其他难以触及的区域, 超薄纳米涂层不会改变元件的结构和性能, 如声学元件. 2019 年 Europlasma 推出世界第一台 PlasmaGuard® 无卤素涂层设备, 更加安全, 环保!若您需要进一步的了解 Europlasma 等离子机详细信息或讨论, 请联络上海伯东叶女士现部分品牌诚招合作代理商, 有意向者欢迎联络上海伯东 叶女士上海伯东版权所有, 翻拷必究!
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  • COMO170 便携式表面沾污仪产品介绍:COMO170 便携式表面沾污仪一个关键优势是创新的检测器技术,该技术根本不使用任何气流或充气检测器。使用薄层塑料闪烁探测器。这种类型的探测器对 α 和 β/γ 都敏感。如果探测器箔片发生机械损坏,探测器无需由制造商维修。不再需要耗时且昂贵的维修(普通探测器或氙气探测器)。使用功能:&bull 使用放射性物质可能会导致人员和表面污染(例如核学),根据辐射防护条例要求,如果您离开受控区域,应检查是否存在表面污染物并确定相关极限值。&bull 对于直接和间接的污染测量(通过涂抹测试样品)应用领域:&bull 疾控卫生&bull 核学&bull 洁净测量&bull 公众防护&bull 工业生产产品特点:&bull 新型塑料闪烁探测器无需充气, 避免充气式探测器漏气 (氙气探测器)带来的高维修成本&bull 2合1仪器:仅使用一个检测器即可进行α和β/γ污染测量,无需更换检测器&bull 自动检测α辐射&bull 典型的探测效率&bull 具有170cm² 检测器表面的标准版CoMo170,具有300cm² 检测器表面的特殊版本CoMo300&bull 黑暗时自动显示照明&bull 微电子控制测量&bull 以 cps 或核素相关的测量值显示 Bq,Bq /cm2&bull 核素选择菜单(预设核素,另外可自定义核素)&bull 也可以用可定义的核素进行双核素显示&bull 数字和模拟测量值显示&bull 用背景扣除法测量总值或净值&bull 特殊的矢量测量值显示(作为时间函数的计数率)例如用于表面的洁净测量&bull 界面友好的菜单结构,通过 5 个功能按钮进行操作&bull 带有密码保护设置(防止错误更改探测核素、效率)&bull 测量值存储(750 个数据记录)并具备打印功能&bull 用于读取和进一步处理测量数据的软件&bull 可以连接外部探测器,例如用于管道中的剂量率测量或 污染测量,自动探针识别,多种可用探针&bull 可通过 PC 进行软件更新&bull 使用固定壁挂式工作台检查手部,具有集成的电源和可定义的测量时间&bull 可以与涂抹测试台结合以评估涂抹测试样品&bull 可以连接额外的显示器用于外部指示&bull 各种配件(保护箱,测试源 ...)可选配件:剂量率探头&bull 外部剂量率探头将移动式污染监测仪变成一个灵活的剂量率计。管壁套件&bull 专为全面检测管道而设计。管道探测器可以测量α和β/ γ污染。导向装置和套环确保检测器位于管道内。锅式污染探测器&bull 锅式污染探测器具有合适的尺寸, 可以更快发现热点或检查内部。平板探测器&bull 使用平板检测器可以轻松检测由于 CoMo170的外壳尺寸而无法进 入的区域。提灯式探测器&bull 带有4个检测器表面的提灯式探测 器可用于监视存储容器内等位置是否受到污染,例如在燃料运输容器(油箱)中。拐角探测器&bull 在进行间隙区域测量时,尤其是在核设施退役期间,该探测器可用于拐角点的测量。我们的拐角检测器在拐角边缘没有死区。这种类型的检测器也已证明可以用于瓦楞纸 的角落测试。
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  • 产品简介中图仪器SuperVieW白光干涉表面粗糙度检测仪基于白光干涉原理,用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。产品功能(1)SuperVieW白光干涉表面粗糙度检测仪提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能;(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。 应用范例:性能特色1、高精度、高重复性1)采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统,保证测量精度高;2)隔振系统,能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动,消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声,保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用,获得高测量重复性;2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰,在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外,另在Z轴上设计有机械电子传感器,当镜头触碰到样品表面时,仪器自动进入紧急停止状态,最大限度的保护仪器,降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机,在无外接气源的条件下也可稳定工作。SuperVieW白光干涉表面粗糙度检测仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求,中图仪器SuperView W1的复合型EPSI重建算法,解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下,只需要确定起点和终点,即可自动扫描,重建其超光滑的表面区域,不见一丝重叠缝隙。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配:3孔手动选配:5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸(长×宽×高)700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • SDW-500便携式表面污染仪产品介绍: SDW-500便携式表面污染仪主要用于α、β表面污染的测量,广泛用于因可能被污染而必须监测的场所,例如:核电厂,核废料处理厂,退役或被拆除的核设施、放射性废物处理厂、医院、研究所及各种环境中的应用,可对墙壁、地板、桌子、手、脚、衣服或其他物品进行表面污染监测。 SDW-500便携式表面污染仪表面污染监测的目的是:防止放射性污染扩散、检查放射性污染控制是否有效或是否违反操作规程、把表面污染限制在一定的区域和一定的水平之内、以防止污染扩散和工作人员受到过量照射。从而为制定个人监测方案、系统监测方案以及操作规程提供资料。表面污染监测的主要辐射类型是:α、β射线。运用场所:1、医院放射科,放疗室;2、核电站,核燃料厂,核燃料后处理厂,核相关科研实验机构等;3、同位素运用,辐照设备的相关单位;4、各级环境监测部门;5、各级卫生护防防疫站; 工作原理:表面污染仪的工作原理是通过闪烁探测器(塑料闪烁体+ZnS(Ag))来检测放射性工作区域和工作人员衣物上的α、β放射性强度。当α、β射线通过闪烁体时,会发出光子,光子通过光电倍增管和放大电路后,形成电脉冲,再由窗甄别器甄别α、β信号,此信号被送到计数电路,通过计算和处理之后得出测量结果。功能特点:1. 反射器的几何形状和表面确保很好的均匀性和效率;2. 按下相应的按钮,可开/关声音提示;3. 背光一键开关,可自动熄灭;4. 可通过USB连接器使用串行线连接到外部计算机;5. 仪表的表面易清理;6. 真空探测器,铝箔片可快速更换;7. 用户友好型,操作简单;8. 两个可调报警阈值;9. 体积小,重量轻,抗震设计;10. 灵敏度高,响应均匀;11. 同时测量αβ,α或β可分别单独测量;技术指标:探测器:塑料闪烁体ZnS(Ag)窗口:含铝聚酯薄膜箔β能量:150kev~2.5Mev电池寿命:约150小时(不开背光灯)显示屏:128x64点阵有效面积:10×10 cm2探测上限:105cps电池:标准C号碱性电池或可充电电池重量:约1kg单位:cps,cps/cm2 ,Bq,Bq/cm2探测效率241Am ≥52%;14C ≥17%;204Tl ≥48%;90Sr+90Y ≥50%;137Cs ≥45%
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  • XY-2100便携式α、β表面污染仪运用场所1、医院放射科,放疗室;2、核电站,核燃料厂,核燃料后处理厂,核相关科研实验机构等;3、同位素运用,辐照设备的相关单位;4、各级环境监测部门;5、各级卫生护防防疫站;产品概述XY-2100便携式表面污染仪主要用于α、β表面污染的测量,广泛用于因可能被污染而必须监测的场所,例如:核电厂,核废料处理厂,退役或被拆除的核设施、放射性废物处理厂、医院、研究所及各种环境中的应用,可对墙壁、地板、桌子、手、脚、衣服或其他物品进行表面污染监测。表面污染监测的目的是:防止放射性污染扩散、检查放射性污染控制是否有效或是否违反操作规程、把表面污染限制在一定的区域和一定的水平之内、以防止污染扩散和工作人员受到过量照射。从而为制定个人监测方案、系统监测方案以及操作规程提供资料。表面污染监测的主要辐射类型是:α、β射线。工作原理表面污染仪的工作原理是通过闪烁探测器(塑料闪烁体+ZnS(Ag))来检测放射性工作区域和工作人员衣物上的α、β放射性强度。当α、β射线通过闪烁体时,会发出光子,光子通过光电倍增管和放大电路后,形成电脉冲,再由窗甄别器甄别α、β信号,此信号被送到计数电路,通过计算和处理之后得出测量结果。功能特点1. 最优反射器的几何形状和表面确保很好的均匀性和效率;2. 按下相应的按钮,可开/关声音提示;3. 背光一键开关,可自动熄灭;4. 可通过USB连接器使用串行线连接到外部计算机;5. 仪表的表面易清理;6. 真空探测器,铝箔片可快速更换;7. 用户友好型,操作简单;8. 两个可调报警阈值;9. 体积小,重量轻,抗震设计;10. 灵敏度高,响应均匀;11. 同时测量αβ,α或β可分别单独测量;技术指标探测器:塑料闪烁体ZnS(Ag)窗口:含铝聚酯薄膜箔β能量:150kev~2.5Mev电池寿命:约150小时(不开背光灯)显示屏:128x64点阵有效面积:10×10 cm2探测上限:105cps电池:标准C号碱性电池或可充电电池重量:约1kg单位:cps,cps/cm2 ,Bq探测效率241Am ≥52%;14C ≥17%;204Tl ≥48%;90Sr+90Y ≥50%;137Cs ≥45%
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  • KD2683B体积表面电阻率测试仪一、产品概要 KD2683B体积/表面电阻率测试仪是运用环形三电极法原理测量固体、液体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率的多用途综合测量装置,电阻测试范围10KΩ~10TΩ 电阻率测试范围10KΩ.cm~10TΩ.cm 微电流测试范围10pA~1mA.本仪器符合 标准GB/T 1410-2006/IEC 60093:1980:《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》;液体电极根据GB1672-88标准制造。仪器拥有分选功能,配备Handler接口,并配有USB/232/485接口,通过上位机软件可以对测试结果进行记录、分析和打印。 可测量的项目:包括电容器端子间绝缘电阻;电池端子与外壳之间的绝缘电阻;共模具滤波器的线圈间绝缘电阻;绝缘击穿电压的确认;薄膜等的表面电阻率与体积电阻率;液体试料的绝缘电阻等。二、主要特点与功能1、高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD显示:显示像素为:480*272,多种参数同时显示。2、多种触发方式:内部触发、外部触发、脚踏开关触发、接口触发。3、校正功能:全量程开路清零功能。4、比较器(分选)功能:内建有4档分选数据,可对被测件进行PASS/FAIL判断。● 比较器功能显示:直接在LCD使用标志显示。● 比较器输出:可通过选配Handler接口、RS232接口输出更为详细的分选结果。● 讯响:可设置合格/不合格报警,也可关闭讯响功能。5、可编程的顺序测试模式:可设置材料充电时间、等待时间、测量时间、放电时间。6、5组测试参数可供保存在仪器内部。7、支持脚踏开关启动8、接口功能:● Handler接口:分选结果和EOM结束信号输出,触发信号输入。● RS232接口:使用三线简易型串行接口,和上位机进行通讯和连接。● RS485接口:RS485接口,和上位机进行通讯和连接。● USB HOST:使用USB通讯电缆,和上位机进行通讯和连接。● USB DEVICE:使用U盘接入仪器,保存测试数据。并可远程升级固件。三、产品介绍(各部分的名称与功能)1、正面描述① 商标及型号——仪器商标及型号。② LCD液晶显示屏——480×272 像素,,24 位色,彩色TFT IPS液晶屏,用于设置测试条件及测量结果的显示等。③ 键区二——一组多功能按键,包括数字按键,方向键,ESC键等。④ USB DEVICE——USB DEVICE 接口。用于测试数据在U盘上的保存和固件升级。⑤ PASS/FALL 指示灯——分选合格指示灯。绿灯亮代表测试数据合格,红灯亮代表测试数据不合格。⑥ 测试端(输入端)——三端测试端。输入端用于连接测试电缆,对被测件进行测量。Output:电压输出端(负端);Input:电流采样输入端(正端);GUARD:接地屏蔽端。⑦ 软键区域——用于选择LCD液晶屏下边对应的功能。⑧ 电源待机键开关——长按待机键,仪器处于待机状态,待机键显示红色,再按待机键可以转为工作状态,仪器转为工作状态,同时待机键显示绿色,待机时如需切断电源可以关闭机箱后部的电源开关。 1.1、键区一:主功能软键 位于液晶屏下端,用于选择LCD液晶屏下方的功能。见右上图所示。屏幕下方按键上的五个无字的“深灰色”键为键区一,即主功能键。键区一五个键的功能是“软”的,即它们的功能不是固定的,在不同的显示页面有着不同的功能,而它们的当前功能被相应的显示在液晶屏下面的“软键”显示区域。1.2、键区二:数字键、方向(上、下、左、右)键、确认(OK)、ESC键、退格(←)键、键锁(LOCK)键、触发(TRIG)键、设置(SET)键、显示主界面(DISP)键。1)万能方向键上、下、左、右四个方向键,用于移动光标,选择设置参数。2)确认(OK)键用于设置数值等参数后的确认。3)显示主界面[DISP]菜单键测量主菜单键。按[DISP]键,进入“测量显示”界面。4)设置[SET]菜单键系统设置主菜单按键。进入仪器系统设置页面。在该页面可以更改系统的设置项5)数字键“0~9”、小数点“.”、“+/-”,用于键入数值。具体数值的输入方法详见4.1。6)[ESC]键在测量显示界面执行放电操作。7)退格[←]键数值输入时的退格键。8)键锁[LOCK]键键锁键。长按约2秒,按键锁定,键锁灯亮;再次长按2秒,按键解除锁定,键锁灯灭。9)触发/充电[TRIG]键在测量显示界面执行测试开始,即输出高压/充电测试的操作。1.3、测量显示界面---主界面(显示区域的定义) 仪器采用了 480*272 液晶显示屏,本仪器有如下界面:测量显示界面、测量显示清零界面、测量设置界面、分选设置(档计数)界面、内部文件系统界面、外部文件系统界面、系统设置界面等。显示的内容被划分成如下的显示区域。见下图所示。操作: 开机后会自动进入测量显示界面;按下[DISP]菜单键,测量显示页面将显示在屏幕上。1.状态栏显示区域该区域指示当前显示页面的名称、操作或状态提示(充电/等待/测试/放电的状态)、U盘提示符及时间。如右图所示:2.测量参数显示区域该区域指示当前显示设置仪器的功能、测量参数和各个测试步骤的时间(倒计数)。如下图所示:这些测量参数可在“测量设置界面”中进行设置。3.测量结果显示区域 该区域显示测试的参数结果如右图所示 4.测量状态显示区域该区域分为档显示区域、警示标志和测量状态的部分。如右图所示:档显示区域:该区域用于显示系统测试过程中的档分选结果(分选功能打开时)。警示标志:该区域用来闪烁显示一些警示信息,比如:当此处显示高压时,就是提醒仪器使用者此时仪器测试端有高压输出,要注意安全。 测量状态:该区域用来显示仪器测试是否完成。5.功能软键显示区域该区域用于显示光标区域对应的功能菜单。在本界面可以通过软键区域相对应的按键实现如下功能。如下图箭头所示键:2、后面板概述1、铭牌——用于指示仪器的具体型号及编号。2、接地柱——该接线端与仪器金属外机壳相连。用于保护或屏蔽接地连接。3、电源插座、保险丝及电源开关——电源插座用于输入交流电源,旁边带保险丝座(用于插入保险丝保护仪器)。电源开关用于开启或光闭电源。开关在:“I”位置为电源开启,“O”位置为电源关闭。4、脚踏开关(TRIG)接口——脚踏启动开关:分内部触发和外部触发2种。当为内部触发信号时:可使用脚踏开关进行仪器的充电和放电操作。当为外部触发信号时:可使用脚踏开关(KD25100选购件)进行触发测量。5、HANDLER接口——通过 HANDLER 接口,可方便地组成自动测试系统,实现自动测试。仪器通过该接口输出分选比较结果信号和结束信号,同时通过该接口获得“启动”信号。6、RS232(或RS485)接口——使用DB-9电缆连接。实现与上位机(电脑)进行232/485串行通讯。7、USB接口——USB HOST接口使用方口USB电缆连接。用于仪器与上位机进行USB通讯,实现电脑控制KD2683B。8、空板——备用。需要注意的是为了避免触电事故,请勿拆下空板。3. 仪器底座支架 仪器手柄可以调节,双手同时握住手柄两侧,箱两侧轻拉,然后旋转手柄。靠近前面的手柄可撑起;调整手柄时,将手柄向外拉开、收起仪器手柄。仪器手柄可以调节到四个位置,如下图所示。手柄可以拆卸,以便安装在设备机架上。注意事项:请不要在放置支架竖立的状态下从上方施加强力。四、关于本仪器的放置和环境条件● 环境条件KD2683B 系列必须在下列环境条件下使用:1) 使用温湿度范围 温度:0 ~ 40 ℃、湿度:80%RH 以下(没有结露)2) 保证精度的温湿度范围 温度: 23 ± 5 ℃、湿度: 80%RH 以下(没有结露)3) 本测试仪器为了确保通风良好,切勿阻塞通风孔。4) 仪器特别是连接被测件的测试导线应远离强电磁场,以免对测量产生干扰。● 放置方法1) 为了防止本仪器的温度上升,放置时请确保与周围保持指定的距离。2) 请将底面向下放置。本仪器可在支架立起时使用。注意事项:请不要将本仪器放置在以下场所,否则会造成本仪器的故障或事故。●日光直射的场所或高温场所●产生腐蚀性气体、爆炸性气体的场所●产生强电磁波的场所或带电物件附近●机械震动频繁的场所●潮湿、结露的场所●灰尘多的场所●感应加热装置附近(高频感应加热装置、IH电磁炉等)●受水、油、化学剂与溶剂等影响的场所五、电源要求KD2683B系列 只能在以下电源条件下使用 1) 供电电压范围:AC 220V±10% 供电频率:50Hz/60Hz 功率:≤30VA2) 测量范围:电阻:10KΩ-10TΩ电流:0.01nA-1mA (1000V)3) 电源输入相线L、零线N、地线E 应与本仪器电源插头相同4) 本仪器已经经过仔细设计以减少因AC电源端输入带来的杂波干扰,然而仍应尽量使其在低噪声的环境下使用,如果无法避免,请安装电源滤波器。注意事项:● 为防止电击危险,请将电源地线可靠的接到大地。● 如果用户更换了电源线,请确保该电源线的地可靠连接。如果用户更换了电源线,请确保该电源线的地可靠连接。● 请在使用前确认电源线、测试线等的外皮有无破损或金属露出。由于这些损伤会造成触电事故,所以请换上本公司指定的型号。● 在接通电源前,请确认本仪器的电源连接部分上所记载的电源电压与您使用的电源电压是否一致,如果使用指定范围以外的电源电压,会造成仪器损坏或电气事故。● 为防止触电事故并确保本仪器的安全,请把电源线接到三相插座上。 六、保险丝1) 仪器出厂已配备了保险丝,用户应使用本公司配备的保险丝。2) 仪器保险丝的更换。打开后面板电源插座上的保险丝盒进行更换。● 拔去电源线并使用螺丝刀取出保险丝座。如下图示:● 更换保险丝,如下图示:注意事项:为了避免人身伤害,更换保险丝前请切断电源。 七、仪器附件八、可选配件注意事项:1. 为防止触电事故,请不要拆下主机外壳;内部有高电压及高温部分。2.请不要进行改造、拆卸或修理。否则会导致事故、或人员受伤。3.请不要淋湿本仪器,或者用湿手进行测量。否则会导致触电事故。4.为了防止仪器损坏,在搬运及使用时请避免震动、碰撞。尤其要注意因掉落而造成的故障。运输本仪器时,请使用送货时的包装材料。5.请不要在产生噪声的装置附近使用。如果噪声影响到测试物,则可能会导致测量值不稳定。6.切断仪器供电的方法可以是拔下电源插头;紧急时可拔下电源线的插头以立即断电;因此请确保不妨碍充分的操作空间。7.请勿放置在不稳定的台座上或倾斜的地方。否则可能会因掉落或翻到而导致人员受伤或主机故障。九、公司简介 武汉雷科电力有限公司坐落于国家网络安全人才与创新基地东西湖区,是一家专注于智能电网诊断技术的高新技术企业。专注于电力系统二次测试、在线监测、检测设备的研发、生产与销售,集电力系统检测方案、电气试验及新能源检测服务于一体。经过多年匠心耕耘,公司已成为分布式故障诊断技术行业的标准制定者和领航者,公司“输电线路分布式故障诊断系统”在长达23余万公里的输电线路上累计应用超过2.8万套,成功诊断线路故障3300余次,产品质量及应用成熟度在行业内受高度认可。 雷科电力秉承“专业专注,创新创业”的企业精神。在技术上不断开拓、创新,雷科电力产品先后获得了包括国家科技进步奖、中国电力科技进步一等奖、中国南方电网公司科技进步一等奖在内的众多荣誉 在服务上周到、细致,公司建立了覆盖全国的服务网络,为客户提供7*24小时快捷、专业、标准的技术服务。雷科电力致力于成为全球智能电网诊断技术解决方案提供商。销售服务电话:、公司电话: 手机号码: 微信号码: 同手机号 网址:
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  • 产品简介:ST500型三维表面形貌仪是一款高速的三维形貌仪,采用国际领先的白光共聚焦线光源技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度超快测试,具有测量精度高,速度快,重复性好的优点,主要用于测量大尺寸样品表面的三维表面形貌。产品原理:采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率 - 利用白光点光源,光线经过透镜后产生色差,不同波长的光分开后入射到被测样品上。 - 位于白光光源的对称位置上的超灵敏探测器系统用来接收经被测点漫反射后的光。 - 根据准共聚焦原理,探测器系统只能接收到被测物体上单点反射回来的特定波长的光,从而得到这个点距 离透镜的垂直距离。- 再通过点扫描的方式可得到一条线上的坐标,即X-Z坐标 - 最后以S路径获得物体每个点的三维X-Y-Z坐标- 最后将采集的三维坐标数据交给专业的三维处理软件进行各种表面参数的分析。 - 软件能够自动获取用户关心的表面形貌参数。产品特性:- 采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率- 测量具有非破坏性,测量速度快,精确度高- 测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛 光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、 合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…); - 尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面 - 不受环境光的影响 - 测量简单,样品无需特殊处理 - Z方向测量范围大:为27mm主要功能: - 可创建任意区域的2D曲线图或2D等高线分布图;- 可创建任意区域的3D图像;- 自动得到样品的一维线粗糙度参数(Ra,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Rq,Rsk,Rku); - 自动得到样品的二维面粗糙度(Sa,Sp,Sq,Sv,Sz,Ssk,Sku); - 可得到样品的平整度,波纹度等参数; - 自动校准功能,例如粗糙度,一般情况下对于曲面样品,首先展平,然后自动给出粗糙度的参数;- 具有尺寸测量:长度,宽度,角度,深度,台阶高度;- 可测孔洞磨损面积,磨损体积等参数;- 具有功率谱密度测试功能; - 具有分形统计功能; ...... 主要技术参数:- XY全自动最大扫描范围:400×300(mm)- XY扫描步长:0.1μm- 最大扫描速度:200mm/s- Z方向最大测量范围:27mm- Z方向测量分辨率:2nm 产品应用: MEMS、半导体材料、太阳能、摩擦磨损、汽车、腐蚀、砂纸、岩石等。
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  • 中图仪器NS系列纳米级高精度台阶仪接触式表面形貌测量是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器,其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。它采用了线性可变差动电容传感器LVDC,具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率,同时,其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术,使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。台阶仪工作原理当触针沿被测表面轻轻滑过时,由于表面有微小的峰谷使触针在滑行的同时还沿峰谷作上下运动。触针的运动情况就反映了表面轮廓的情况。结构主要组成部分1、测量系统(1)单拱龙门式设计,结构稳定性好,而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响,提高了测量精度。(2)线性可变差动电容传感器(LVDC),具有亚埃级分辨率,13μm量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差,使得产品能扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。(3)传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和正常力测量。测力恒定可调,以适应硬质或软质材料表面。超低惯量设计和微小电磁力控制,实现无接触损伤的精准接触式测量。2、工件台(1)精密的XY平台结合360°连续旋转电动旋转台,可以对样品的位置以及角度进行调节,三维位置均可以调节,利于样品调整。(2)超高直线度导轨,有效避免运动中的细微抖动,提高扫描精度,真是反映工件微小形貌。3、成像系统500万像素高分辨率彩色摄像机,即时进行高精度定位测量。可以将探针的形貌图像传输到控制电脑上,使得测量更加直观。4、软件系统测量软件包含多个模块。5、减震系统防止微小震动对测量结果的影响,使实验数据更加准确。NS系列纳米级高精度台阶仪接触式表面形貌测量应用场景适应性强,其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求,能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位,其对表面微观形貌参数的准确表征,对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。产品功能1.参数测量功能1)台阶高度:能够测量纳米到330μm或1050μm的台阶高度,可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料。2)粗糙度与波纹度:能够测量样品的粗糙度和波纹度,分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线,可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等数十项参数。3)应力测量:可测量多种材料的表面应力。2.测量模式与分析功能1)单区域测量模式:完成Focus后根据影像导航图设置扫描起点和扫描长度,即可开始测量。2)多区域测量模式:完成Focus后,根据影像导航图完成单区域扫描路径设置,可根据横向和纵向距离来阵列形成若干到数十数百项扫描路径所构成的多区域测量模式,一键即可完成所有扫描路径的自动测量。3)3D测量模式:完成Focus后根据影像导航图完成单区域扫描路径设置,并可根据所需扫描的区域宽度或扫描线条的间距与数量完成整个扫描面区域的设置,一键即可自动完成整个扫描面区域的扫描和3D图像重建。4)SPC统计分析:支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析,针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.双导航光学影像功能在NS200-D型号中配备了正视或斜视的500W像素的彩色相机,在正视导航影像系统中可精确设置扫描路径,在斜视导航影像系统中可实时跟进扫描轨迹。4.快速换针功能NS系列纳米级高精度台阶仪接触式表面形貌测量采用了磁吸式测针,当需要执行换针操作时,可现场快速更换扫描测针,并根据软件中的标定模块进行快速标定,确保换针后的精度和重复性,减少维护烦恼。 磁吸针实物外观图(330μm量程)应用场景介绍
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  • ASAP 2020 PLUS系列功能强大,应用广泛,是一台功能强大的台式仪器,能够提供高质量的比表面、孔隙度和化学吸附等温线数据以满足材料分析实验室不断增加的分析需求。随着ASAP系列产品全球使用量的增长,ASAP系列产品已成为世界各国研究人员获取高精度、高质量气体吸附数据的首选仪器,是在物理吸附研究领域发表论文中被引用最多的仪器。通过多种可选配置以获取更高级的功能 提供多种选配件以便于日后根据用户分析需求的变化升级仪器,最大限度地利用仪器和用户投资。可选择蒸汽吸附、微孔测试。 可添加低温循环浴、外部检测器或抗化学腐蚀系统。当仪器可在腐蚀性蒸汽下工作时,这台ASAP 2020 PLUS系列几乎可以满足实验室任何表面表征的需求。独特的、创新的等温夹套冷却区域控制等温夹套保证了仪器的使用寿命,确保样品管和 (P°) 管上下温度保持一致。多功能设计两套独立的真空系统:可以同时进行两个样品的制备和一个样品的分析,实现劳动生产率的最大化和最大程度地节省时间。连续的饱和压力 (P0) 检测盒独特的等温夹具冷却区域控制给饱和压力与吸附测量提供了稳定的温度环境。使用户更专注于检测结果,无需耗费时间在控温上。ASAP 2020 PLUS 系列具有多种选配件,可满足用户特定的分析需求。研究级仪器,用户可自行配置以满足对介孔、微孔和低比表面积等各种材料分析的不同应用ASAP 2020 PLUS系列-物理吸附 可编程全自动SOP样品制备双站脱气系统独立的P0传感器能够在与吸附测试相同的条件下更快速地分析和提供P°值包含六个进气口、单独的蒸汽站和自由空间氦气进气口,提供了更大的灵活性和对预处理、回填和分析气体的全自动选择成熟的等温夹套冷却区域控制提供精确的、可重复的温度控制长效和可复填充的杜瓦瓶使分析时间几乎无限制标准的两套独立真空系统(一个用于分析,另一个用于样品制备),同时提供无油真空泵选件独立的传感器设计,提供无与伦比的稳定性、超快的响应速度、超低的滞后现象,从而提高了精度,改善了信噪比带涂层和温控的不锈钢歧管提供无污染的惰性表面ASAP 2020 PLUS系列的MicroActive软件美国麦克仪器创新的交互式数据软件MicroActive使用户能够以交互方式评估等温线数据。利用交互式、可移动的计算条,可快速地选择/排除实验数据,你和所需范围的实验数据点。还可实时查看在每个模型的线性和对数刻度等温线。物理吸附报告等温线BET 比表面积Langmuir 比表面积t-Plot曲线Alpha-S 方法BJH 吸附和脱附Dollimore-Heal 吸附和脱附Temkin 和 Freundlich方程Horvath-Kawazoe理论MP方法DFT 孔径和表面能 Dubinin-Radushkevich理论Dubinin-Astakhov理论用户自定义报告能够快速进行计算和调节,可通过选择条简单快速地选择数据范围数据处理特点交互式软件,可直接获取吸附数据,通过简单地移动计算条,可立即更新文本属性。一键即可访问重要参数。交互式数据操作模式,尽量减少使用对话框和到达指定参数的路径更强的数据叠加对比能力,最多可叠加25个文件,包含与压汞仪数据和其他同类产品数据地添加和删除。可通过图形界面直接在BET、t-plot、Langmuir、DFT等模型中选择数据范围。MicroActive包含NLDFT模型计算孔径分布报告选项编辑器使用户能够自定义报告,并可在屏幕上预览。每一份报告都有总结、表格和图像等信息ASAP 2020 PLUS HD88系列的MicroActive软件包含Python编程语言,这种强大的脚本语言允许用户在仪器的应用中扩展标准报告库 Gifford-McMahon制冷循环单级低温循环浴。它利用从氦气压缩机出来的氦气提供各种分析温度,稳定性可达0.1%K。伙伴关系和支持网络只需拨打一个电话400-630-2202即可得到专业的应用支持。每一位麦克仪器用户都可以得到经验丰富的专家支持响应快速的全球服务和技术支持,使用户使用更安全和安心,确保您的样品和产品开发途径不断进步在权威期刊发表的文章被广泛引用,ASAP 2020将带你进入一个庞大并不断增长的用户群配置参数:压力范围:0到950mmHg分辨率:高达1x10-7torr(0.1 mmHg传感器)精度:0.15% 读数范围脱气系统:环境温度到450 °C, 1 °C 温度步长系统配置:1个分析站,2个脱气站低温系统:3L, 72 h杜瓦瓶,可复填加制冷剂,无分析时间限制等温夹套技术:连续P0监测
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  • 简介Lumina AT1光学表面缺陷分析仪可对玻璃、半导体及光电子材料进行表面检测。Lumina AT1既能够检测SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料,又能对Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板进行检测,其价格优势使其成为适合于研发/小批量生产过程中品质管理及良率改善的有力工具。 Lumina AT1结合散射测量、椭圆偏光、反射测量与表面斜率等基本原理,以非破环性方式对Wafer表面的残留异物,表面与表面下缺陷,形状变化和薄膜厚度的均匀性进行检测。1.偏振通道用于薄膜、划痕和应力点;2.坡度通道用于凹坑、凸起;3.反射通道用于粗糙表面的颗粒;4.暗场通道用于微粒和划痕;二、 功能l 主要功能1. 缺陷检测与分类2. 缺陷分析3. 薄膜均一性测量4. 表面粗糙度测量5. 薄膜应力检测l 技术特点1.透明、半透明和不透明的材料均可测量,比如硅、化合物半导体或金属基底;2.实现亚纳米的薄膜涂层、纳米颗粒、划痕、凹坑、凸起、应力点和其他缺陷的全表面扫描和成像;3.150mm晶圆全表面扫描的扫描时间为3分钟,50x50mm样品30秒内可完成扫描并显示结果;4.高抗震性能,系统不旋转,形状无关,可容纳非圆形和易碎的基底材料;5.高达300x300mm的扫描区域;可定位缺陷,以便进一步分析;技术能力三、应用案例1. 透明/非透明材质表面缺陷检测 2. MOCVD外延生长成膜缺陷管控3. PR膜厚均一性评价4. Clean制程清洗效果评价5. Wafer在CMP后表面缺陷分析6. 多个应用领域,如AR/VR、Glass、光掩模版、蓝宝石、Si wafer等
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  • LAUDA TD3 表面张力仪 400-860-5168转3461
    德国LAUDA TD 3 表面张力测定仪可以自动测量表面张力和界面张力以及相关液体样品的密度,配置珀耳帖控温单元,精确测定恒定温度下的表面张力和界面张力。 满足EN 14210,EN14370,ASTM D971,ISO 304 的要求。 原理表面张力和界面张力通常被称为“静态”和“准静态”测试,当样品处于一个稳定的外部环境,如没有任何变化,停止变化或缓慢变化时,样品因此处于或无限接近的热力学平衡过程。此时通过威廉片法和杜诺氏环法测定液体的表面张力和其他相关数据,从而计算出该样品的表面张力和界面张力。该方法已经被广泛的应用并制定相关标准ATM D971 和DIN 53914。杜诺氏环法在全自动测量和质量控制过程中更具优越性。组成紧凑型TD 3 表面张力测定仪,整个系统完全自动化运作。1. 精确的电磁测压元件2. 摆动阻尼器-有效保证设备底部平稳性3. 液晶大屏幕Command 控制器-多功能的图形液晶显示器,实时显示所有相关信息4. 珀耳帖控温单元PTT-新型带搅拌功能的PTT,紧凑的外观设计使其在同级别实验室控温产品中具有最小体积,包含了开闭环电路系统,控温系统和微型磁力搅拌器。应用- 测定变压器机油的界面张力从而确定其老化程度和绝缘性能- 饮料- 食品- 表面活性剂研究- 制药领域特性- 底座标配摆动阻尼器- 抗化学腐蚀表面材料- 标配珀耳帖控温单元PTT- 友好的操作界面- 样品区域照明设计标准配件 推荐配件- 杜诺氏杯(2-支架) - 珀耳帖控温单元PTT- 500mg 校准砝码 - 杜诺氏杯(4-支架)- 塞子(玻璃) - 威廉测试片- 镊子 - 500mg 校准砝码(带DKD 证书)- 样品杯套装(10 只) - 样品杯套装(10 只)- 塑料部件套装 - 针式打印机- 计算机传输软件
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  • 表面残余应力分析仪器可快速、轻松分析齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中产生的残余应力。有效避免有害的残余应力对工件的抗疲劳强度和耐蚀性能的降低,延长工件使用寿命,避免造成重大事故。而有些零件引入有益的残余应力,如滚压、喷丸等可提高工件的表面性能。因此,残余应力的精确测量变得非常必要。 表面残余应力分析仪器其轻便精巧的设计,大大扩展了设备的使用领域,使得设备能够走出实验室,在现场甚至户外的使用变得有效可行。 表面残余应力分析仪器软件 ◆ 操作系统: Windows ◆ X射线的发生和控制 ◆ 实时监控高压系统 ◆ 多种X射线曝光模式 ◆ 可同时进行测量、计算和其它功能操作 ◆ 多点d-sin2Ψ曝光模式,互相关法计算峰位移 ◆ 丰富的材料数据库◆ 对无应力铁粉测量误差可控制到±6.9MPa以内测角仪 主机◆ 结构紧凑,小巧轻便 ◆ 全电脑控制 ◆ 各种安全锁 ◆ 密闭循环冷却系统,带强冷装置 ◆ 各种接口 电 源100-240 VAC,50/60Hz X射线管 微型X射线管,5~30KV/0~10mA/300W可调,Cr、Cu、Co、Ti、Mn等各种靶材可供选择。无需专用工具,X射线管能在几分钟内更换完毕。 Stresstech Oy总部设在芬兰,是生产各类应力分析仪和磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂,自成立以来,就服务于各地的客户,提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。
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  • SuperViewW中图仪器光学非接触式表面轮廓测量仪以白光干涉技术为原理,用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。它以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸,典型结果包括:表面形貌(粗糙度,平面度,平行度,台阶高度,锥角等等);几何特征(关键孔径尺寸,曲率半径,特征区域的面积和体积,特征图形的位置和数量等等)。SuperViewW中图仪器光学非接触式表面轮廓测量仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。产品功能1)样件测量能力:单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量;2)单区域自动测量:单片平面样品或批量样品切换测量点位时,可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能;3)多区域自动测量:可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位,一键实现自动条纹搜索、扫描等功能;4)自动拼接测量;支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能,配合影像导航功能,可自定义测量区域,支持数千张图像的无缝拼接测量;5)编程测量功能:支持测量和分析同界面操作的软件模块,可预先配置数据处理和分析步骤,结合自动单测量功能,实现一键测量;6)数据处理功能:提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能;7)数据分析功能:提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能:可根据需求参数定制数据处理和分析模板,针对同类型参数实现一键批量分析;9)数据报表导出:支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能,支持图像、数值结果的导出;10)故障排查功能:配置诊断模块,可保存扫描过程中的干涉条纹图像;11)便捷操作功能:设备配备操纵杆,支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等;12)环境噪声评价:具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能,定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率,为设备调试和故障排查提供定量依据;13)气浮隔振功能:采用气浮式隔振底座,可有效隔离地面传导的振动噪声,确保测量数据的高精度;14)光源安全功能:光源设置无人值守下的自动熄灯功能,当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源,防止光源高亮过热损坏,并有效延长光源使用寿命;15)镜头安全功能:双重防撞保护,软件ZSTOP防撞保护,设置后即以当前位置为位移下限位,不再下移且伴有报警声;设备配备压力传感器,并在镜头处进行了弹簧结构设计,确保当镜头碰撞后弹性回缩,进入急停状态,大幅减小碰撞冲击力,有效保护镜头和扫描轴,消除人为操作的安全风险。应用领域SuperViewW中图仪器光学非接触式表面轮廓测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中,对各种产品、部件和材料表面的粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求,中图仪器SuperView W1的复合型EPSI重建算法,解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下,只需要确定起点和终点,即可自动扫描,重建其超光滑的表面区域,不见一丝重叠缝隙。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配:3孔手动选配:5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸(长×宽×高)700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 电筒式表面检查灯SL8300-G 可调光 手电筒式 可调光表面检查电筒SL8300-G-绿光简介因为人的眼睛对绿色的光源比较敏感,在绿光下比在白色光源下更容易看清楚物体表面的轻微刮花痕迹,灰尘等异物。我公司研发的系列表面检查灯使用光学镜片的技术,产品的检查效果能达到国外同类水平,某些方面还超过同行。应用在晶圆、屏幕、设备清洗检查、半导体表面异物检查等方面特点1.520-525NM窄波段输出2.真正冷光源,100%纯的LED灯3.LED使用寿命高达3万个小时 。4.发黄光和绿光,人眼易感知且又不伤眼5.可精确检查到10um以下的刮痕或微粒子6.使用3.7V 4800毫安的锂电池,连续使用超过4小时 技术参数1:产品型号:SL83002:光源:1*个5W 大功率LED和光学透镜 3.照度:距离30cm → 80000 lx;距离45cm → 60000x(我们掌握了核心技术,我们可以提供不同照度的平行灯,它们可满足不同客户的要求)4.照射面积:? 8-40在45cm的距离5:外壳材料:阳极氧化高强度铝合金 6:产品尺寸:216 *46毫米 重量:328克不带附件 7:电源: 电源:3.7V 4800毫安26650锂电池 工作时间:4小时(连续) 8:附件:荧光增强眼镜 特征 1.SL8300-G超级手电筒即启即用,立即能提供大的照度能量,特别适用于快速检查或不易接近的区域检查。 2.SL8300-G绿色表面光可调光手电筒有高聚光灯的绿光的照度,检查灯的能量80000LM 实现高强度的刺激 ,这样一来,即使是轻微的缺陷,即使是低亮度的痕迹清晰可见.3.相对于传统的汞灯, SL8300-G手电筒不仅可以在聚光灯模式下使用:一个集成的对焦环,实现从聚光灯下的照射强度的无级变速调节。这个变量焦距调节可以允许SL8300-G表面检查LED手电筒的非常广泛的应用。应用LCD滤光片、偏光板、晶圆、半导体、 玻璃或金属表面刮痕及灰尘检查
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  • SuperViewW1中图光学3D表面形貌轮廓仪基于白光干涉原理,以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。它结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量。SuperViewW1中图光学3D表面形貌轮廓仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能;(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。 针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求,中图光学3D表面形貌轮廓仪的复合型EPSI重建算法,解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下,只需要确定起点和终点,即可自动扫描,重建其超光滑的表面区域,不见一丝重叠缝隙。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例:光学3D表面轮廓仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。仪除主要用于测量表面形貌或测量表面轮廓外,具有的测量晶圆翘曲度功能,非常适合晶圆,太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量,应变测量以及表面形貌测量。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配:3孔手动选配:5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸(长×宽×高)700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 产品简介ST400型三维表面形貌仪是一款多功能的三维形貌仪,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,具有测量精度高,速度快,重复性好的优点,该仪器可用于测量大尺寸样品,并具有多种选项,包含360°旋转工作台,原子力显微镜模块,光学显微镜,特征区域定位等多种功能模块。产品特性采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率测量具有非破坏性,测量速度快,精确度高测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…);尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面不受样品反射率的影响不受环境光的影响测量简单,样品无需特殊处理Z方向,测量范围大:为27mm主要技术参数扫描范围:150mm×150mm(最大可选600mm*600mm)扫描步长:0.1μm扫描速度:20mm/sZ方向测量范围:27mm方向测量分辨率:2nm产品应用MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶瓷和先进材料的研发。
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  • 中图仪器SuperViewW3D轮廓仪粗糙度表面形貌仪基于白光干涉原理,以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸,典型结果包括:表面形貌(粗糙度,平面度,平行度,台阶高度,锥角等等);几何特征(关键孔径尺寸,曲率半径,特征区域的面积和体积,特征图形的位置和数量等等)。SuperViewW3D轮廓仪粗糙度表面形貌仪是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能;(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能; (6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例:SuperViewW光学3D表面轮廓仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。SuperViewW3D轮廓仪粗糙度表面形貌仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。其特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。 部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM 标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜(10×物镜,光学ZOOM 0.5×)XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。
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  • SPRm 200 系列 表面等离子体共振和光学显微镜完美结合开辟研究细胞膜蛋白相互作用的新前沿SPRm200 表面等离子共振显微镜 工作原理基于表面等离子共振(SPR)技术。是将表面等离子体共振技术和光学显微镜巧妙结合为一体的生物传感检测仪。可以同时得到细胞原位明场成像、SPR成像、及SPR动力学曲线定量亲和常数、结合解离常数,它为免标记研究分子相互作用的领域开辟一个崭新的前沿。专门针对细胞膜蛋白和相关分子免标记检测而设计的SPRm200, 使您在不需要从细胞中提取和分离膜蛋白的前提下实时观察细胞结构并同时测量药物和靶点在细胞上的结合过程。还可进行对药物和在天然状态下的膜蛋白之间相互作用的测量,高分辨SPR成像,可以同时实现单个或多个细胞的研究,从而实现细胞与药物结合的异质性及统计学分析。由于出色的灵敏度和稳定性,SPRm200能够测量纳米尺度上的结合行为,可用于研究细菌或病毒与抗菌性药物的相互作用,以及发展新型药物载递纳米颗粒。(1)小分子药物(200Da)与单细胞结合筛选与分析(2)小分子药物(200Da)与多细胞/活细胞结合筛选与单个细胞精度统计学分布分析,研究细胞异质性差异(3)抗体药物与单个/多个活细胞结合筛选与单个细胞精度统计学分布分析,研究细胞异质性差异(4)细菌或病毒与抗菌性药物的相互作用(5)其他分子细胞/活细胞层面原位研究主要功能实时定量活细胞分子相互作用单个细胞/多个细胞动力学&定量分析(Ka,Kd,KD,C)及统计分布明场成像、SPR成像结合单点动力学分析生物标记检测, 药物靶向研发小分子免标分析(200Da)电化学同步分析小分子、DNA、抗体、肽段、蛋白、病毒、细菌、细胞技术特点细胞原位:真正实现细胞层面的原位分子互作,无需提纯,可以直接原位分析药物在细胞层面与分子互作,尤其为膜蛋白受体(糖蛋白、GPCR)等提供了研究解决方案;通量:SPR视场600um*600um,可以同时进行多个细胞与分子互作的研究,从而实现药物统计学分析,和细胞异质性研究精度:良好灵敏度,可以实现200Da 小分子药物与细胞的互作研究高分辨动态可视化:可以动态可视化观察药物分子与细胞反应的全过程及成像,同时可以得到定量的SPR分析曲线,从而得到定量Ka,Kd ,KD。高分辨率,1um SPR成像分辨,从而可以得到单个细胞的分辨成像与定量数据应用实例:基于原位细胞分子互作的研究小分子药物常用药物中,小分子药物可占总量98%,小分子药物通常是信号传导抑制剂,它能够特异性地阻断肿瘤生长、增殖过程中所必需的信号传导通路,从而达到治疗的目的。多通过浓度梯度提供动力被吸收。1. 小分子药物与HEK 293细胞GPR39受体相互作用图(a)SPR成像,亮暗反映不同细胞、不同区域的结合作用的强弱;图(b),明场成像,可以得到不同细胞的观察与选区;图(C)多个兴趣选区,每个区域的SPR信号曲线,图(e、f、g)分别为多个兴趣选区,亲和常数/解离常数/结合常数的统计分布:KD:413nM(42nM标准偏差),kd = 4.27E-3 s-1 (0.720E-3 标准偏差),ka = 6.92E3 M-1 s-1 (0.721E3 标准偏差)2. 小分子药物与细胞ASIC 酸敏感离子通道受体相互作用研究抗体药物单克隆抗体(mAb)疗法已成为治疗癌症、自身免疫性疾病、哮喘和许多其他疾病的既定方法。单克隆抗体(mAb)药物占整个生物制药50%的份额,其中超过60%都是膜蛋白受体。SPRm200可以在单细胞层面定量研究单克隆抗体(mAb)和膜蛋白结合作用。传统SPR是直接将纯化的蛋白固定在芯片表面,对于膜蛋白而言是有问题的,膜蛋白从细胞环境中提取并保持自身形态非常困难。基于病毒、细菌载体分子互作的研究1.快速ASTs实验:抗生素与大肠杆菌(Live E.Coli O157.H7)代谢活性研究ASTs实验是确定抗生素易感性和细菌菌株耐药性的重要实验。目前大多数AST实验是基于细胞培养,需要几天时间才能完成。快速AST检测可以降低发病率死亡率和帮助制定早期窄谱抗生素治疗方案。通过SPRm200,我们使用等离子成像和PIT技术跟踪单个细菌细胞的运动。监测随着细胞代谢和抗生素的投入的Z向变化。可以看到,抗生素可以明显减弱细菌细胞的活动,并且可以定量计算,从而成为快速AST检测方法2. 基于SPRm200,病毒载体微阵列研究多种不同GPCR受体与配体的相互作用的研究SPRM电化学阻抗方法定量检测分子互作通过电化学SPRM阻抗分析,测量了传感器表面病毒肽配体和不同GPCR受体的结合动力学常数。
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