背散射电子

电子背散射衍射EBSD在扫描电子显微镜下通过对多种材料物理属性有影响的晶体结构表征用以做微区纳米结构分析，特别是当它与微区能谱和波谱配合形成一体化综合分析时，其渐已成为电子显微实验室中常规的分析手段之一。 一体化作为Thermo Scientific NORAN System 7微区分析系统的卓越部分，Thermo Scientific QuasOr EBSD可使操作者轻而易举地在不影响EBSD采集速率的同时娴熟地采集能谱全谱图像和波谱数据。经由一个界面完成EBSD、能谱、波谱设置、采集、分析的便捷操控，避免了多个应用程序间繁琐的切换。全部分析数据（EBSD、EDS、WDS）连同对应的分析参数存储为一个项目文件中，便于数据管理及脱机分析。高效率QuasOr EBSD以便捷地操控和高速、完备的数据采集大幅提升了实验室工作效率！QuasOr EBSD以Thermo Scientific NORAN System 7微区分析系统为基石，和能谱、波谱在同一个操控界面进行数据采集、分析，便捷地操控方式使得用户省心、省时！采用引导式设计的EBSD校准和采集设置模式，使得用户快捷地经由必要的设定和步骤，节省时间。高速相机在采集EBSD花样时同步采集NORAN System 7能谱的全谱图像，在最短的时间内获得样品的微观结构和成分数据。便捷地一键即可全面、同步进行全谱图像采集，收集每个像素点的形貌和成分信息而无需对元素或线系进行预设。作为NORAN System 7微区分析系统的卓越部分，所有分析数据都可以一键转换为Word文档报告或者直接打印。Thermo Scientific NORAN System 7微区分析平台的用户实验室中可以按照实际需要安装多套完整的分析软件，用以脱机分析处理数据，有效提高电镜的使用效率，切实提高电子显微实验室资源利用效能！

GeminiSEM 系列产品高对比度、低电压成像的场发射扫描电子显微镜为对任意样品进行高水准的成像和分析而生蔡司GeminiSEM 系列产品具有出色的探测效率，能够轻松地实现亚纳米分辨成像。无论是在高真空还是在可变压力模式下，更高的表面细节信息灵敏度让您在对任意样品进行成像和分析时都具备更佳的灵活性，为您在材料科学研究、生命科学研究、工业实验室或是显微成像平台中获取各种类型样品在微观世界中清晰、真实的图像，提供灵活、可靠的场发射扫描电子显微镜技术和方案。GeminiSEM 500 具有出色的分辨率，在较低的加速电压下仍可呈现给您更强的信号和更丰富的细节信息，其创新设计的NanoVP可变压力模式，甚至让您在使用时拥有在高真空模式下工作的感觉；更强的信号，更丰富的细节GeminiSEM 500 为您呈现任意样品表面更强的信号和更丰富的细节信息，尤其在低的加速电压下，在避免样品损伤的同时快速地获取更高清晰度的图像。经优化和增强的Inlens探测器可高效地采集信号，助您快速地获取清晰的图像，并使样品损伤降至更低；在低电压下拥有更高的信噪比和更高的衬度，二次电子图像分辨率1 kV达0.9nm，500 V达1.0 nm，无需样品台减速即可进行高质量的低电压成像，为您呈现任意样品在纳米尺度上更丰富的细节信息；应用样品台减速技术-（Tandem decel），可在1 kV下获得高达0.8nm二次电子图像分辨率；创新设计的可变压力模式-NanoVP技术，让您拥有身处在高真空模式下工作的感觉。洞察产品背后的科技Gemini电子光学系统Gemini 1类型镜筒 -延续创新和发展如今，扫描电子显微镜（SEM）在低电压下的高分辨成像能力，已成为其在各项应用领域中的标准配置。低电压下的高分辨率成像能力，在以下应用领域中扮演着尤为重要的角色：电子束敏感样品不导电样品获取样品极表面的真实形貌信息Gemini的革新电子光学设计，应用高分辨率电子枪模式、Nano-twin lens物镜(GeminiSEM 500)、以及Tandem decel样品台减速技术（选配），有效提高了在低电压时的信号采集效率和图像衬度。高分辨率电子枪模式：缩小30%的出射电子束能量展宽，有效地降低像差；获得更小的束斑。Nano-twin lens物镜： 优化静电场和磁场的复合功效，在低电压下具有的更高的分辨率； 提高镜筒内Inlens探测器在低电压下的信号采集效率。Tandem decel样品台减速技术，进一步提高对适用样品在低电压甚至极低电压下的分辨率：Tandem decel减速技术将镜筒内减速和样品台偏压减速技术相结合，有效地实现低着陆电压；使用1 kV及以下更低电压时，镜筒内背散射探测器的检测效率获得更好地增强，低电压下的分辨率得到进一步提高。对适用的样品可以加载高达-5 kV的样品台偏压，在低电压下获得更高质量的图片优化静电场和磁场的复合功效，在低电压下具有的更高的分辨率；提高镜筒内Inlens探测器在低电压下的信号采集效率。技术参数：基本规格蔡司 GeminiSEM 500热场发射电子枪，稳定性优于0.2 %/h加速电压0.02 - 30 kV探针电流3 pA - 20 nA（100 nA配置可选）存储分辨率最高达32k × 24k 像素放大倍率50 – 2,000,000标配探测器镜筒内Inlens二次电子探测器样品室内的Everhart Thornley二次电子探测器可选配的项目NanoVP可变压力模式高效VPSE探测器（包含在NanoVP可变压力选件中）局部电荷中和器镜筒内能量选择背散射探测器环形STEM探测器（aSTEM 4）EDS能谱仪EBSD探测器(背散射电子衍射)可订制特殊功能样品台环形背散射电子探测器阴极射线荧光探测器

QUANTAX ED-XS 是一款为紧凑型电镜设计的EBSD-EDS系统：可搭配在紧凑型SEM和台式扫描电镜用户可自行更换探头经济实惠的服务合同选项可实现EBSD和EDS数据同步采集易于使用的 EBSD：无需校准并且用户可自行更换磷屏安全操作：不使用时，e-Flash XS 与SEM 仓室内的其它仪器发生意外碰撞的可能性为0%

QUANTAX EBSD 系统加上广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探测器，是 SEM分析纳米材料中的理想化解决方案。原因如下：提供 1.5 nm 的空间分辨率在不影响速度和/或数据质量的情况下以低测试电流进行测试在使用浸入式透镜模式的超高分辨 SEM 下工作的仅有的 TKD 解决方案全自动内置 ARGUS 成像系统

高温BSE背散射电子探测器品质优秀的高温BSE背散射电子探测器。适用于高温环境应用的BSE背散射电子探测器。技术优势可自由转换原子序数灰度图像和Z轴结构灰度图像直观显示样品中不同取向的纹理结构有效区分由于原子序数不同和样品结构不同造成的亮度对比。为更高效分析技术提供有力支持通过信号混合技术提供彩色样品图像选用样品图像重构软件，用户可准确测量样品高度信息技术特征原位前级放大器，实现最小噪音和最高速度同步四通道传输提供样品成分和结构灰度对比技术参数传感器类型：电子吸收探测（EAD）技术传感器规格：外径9或12mm传感器灵敏度：最小加速电压 10eV前级放大器结构：原位4通道前级放大器增益：106 或107 或108 V/A电子连线：10 pin LEMO电子连接器：DSub 9-pin （出厂设置）探测器速度：最小驻留时间16 μs探测器结构：极靴或者插拔式机械系统充分满足用户需求，敬请联络。

半人马座是一种闪烁型BSE或CL探测器，这种创新的产品除了BSE图像，仅仅更换一个可拆卸的探头，它可以转换为CL成像探测器。用很少的成本，便能获得额外的功能。n 闪烁体探测器n 可适用于大多数SEMs的低成本解决方案n 可交换的BSE或阴极发光（CL）n 高速视频速率成像n 手动插入和收缩BSE这种模式提供了图像对比度作为元素组成的函数，以及表面形貌的一个元素。背散射电子是由样品与入射电子束之间的弹性相互作用产生的。这些高能电子可以从比二次电子更深的地方逃逸，因此表面形貌并不像二次电子成像那样精确地分辨出来。Cathodoluminescence (CL)CL成像广泛应用于地质、矿物学、陶瓷材料研究和发光材料开发。半人马座能够产生发光材料的高分辨率的阴极发光（CL）图像。使用用户可交换的金刚石转向反射器尖端单色CL图像可以很容易地收集和反馈到SEM辅助视频输入。该光电倍增管也可以被交换，以选择一个特定的波长范围，灵敏度可从紫外到深红外在185nm~1200nm。应用领域：n 相位对比成像n 样品镀层成像n 与EDX探测器联用n 矿物、金属、半导体成像 背散射成像应用背向散射电子探测器产生的图像与对比度（灰色水平）作为元素组成的函数。这对于识别样品中的不同元素特别有用。它们通常用于半导体行业的成像结和寻找缺陷，在地质学中调查岩石成分，在建筑行业中用于监测混凝土成分。背散射探测器也是那些使用X射线微量分析的一个重要工具，通过帮助确定要分析的样本的特定区域。半人马座探测器将在从钨灯丝到高端场发射的所有类型的扫描电镜上取得良好的结果。阴极发光成像的应用CL阴极荧光可以提供关于矿物中所含的微量元素或晶体中机械诱导缺陷的产生的一般信息。也许更重要的是，对于地质背景，材料中CL的分布为晶体生长、置换、变形和来源等过程提供了基本的见解。这些应用程序包括：n 沉积岩中胶结和发育过程的研究n 沉积岩和中层沉积岩中碎屑物质的产生n 化石内部结构的细节n 火成岩和变质矿物的生长/溶解特征n 变质岩中的变形机理n 由于微量激活剂元素的差异，对同一矿物的不同一代的鉴别

■技术参数分辨率：20nm(30kv,BSE Image) - 放大倍率:30x ~ 30,000x- 加速电压:5 ~ 30kV (5/10/15/20/30kV - 5 step)■图像背散射电子图像（BSEI），适用于非导体样品■规格 - 样品移动距离: X: 20mm, Y: 20mm,Rotation : 360° - 最大样品尺寸: 直径50mm-最大样品厚度: 20mm■系统结构 - 电子枪: 预对准钨灯丝 背散射电子图像 - 真空泵：旋转式真空泵100L/min涡轮分子泵80L/S抽真空时间2分钟内■设备主要构成 - 笔记本电脑1台- 电子扫描显微镜主体一台- 灯丝5个- 载物台15mmdia (10pcs/set)25mmdia (5pcs/set)15mm45° tilt(5pcs/set)15mm90° tilt(5pcs/set)

■技术参数 - 放大倍率:100x ~ 60,000x- 加速电压:5 ~ 30kV (5/10/15/20/30kV - 5 step)■图像二次电子图像（SEI）背散射电子图像（BSEI）■规格 - 样品移动距离: X: 20mm, Y: 20mm,Rotation : 360° - 最大样品尺寸: 直径50mm-最大样品厚度: 20mm■系统结构 - 电子枪: 预对准钨灯丝 - 检测系统: 二次电子探测器- 真空泵：旋转式真空泵100L/min涡轮分子泵80L/S■设备主要构成 - 笔记本电脑1台- 电子扫描显微镜主体一台- 灯丝5个- 载物台15mmdia (10pcs/set)25mmdia (5pcs/set)15mm45° tilt(5pcs/set)15mm90° tilt(5pcs/set)

散射探测原理就是利用康普顿散射理论，X射线遇到不同物质会发生不同的散射，X射线遇到低原子序数物时，散射较强；遇到高原子序数物质时，散射相对较弱。手持背散射成像仪可用于包裹，汽车夹层、邮件等物品的安全检测，对有机物特别是低原子序数的样品比较敏感，比如dupin和爆炸物成像效果显著。手持背散射可用在海关缉私缉毒、边检缉毒、禁毒局缉毒、边检缉毒和查验走私夹带、反恐等领域。手持背散射成像仪特点1. 便携性：体积小巧可以携带至现场对样品进行检测 2. 对低原子数的样品比较敏感：dupin、爆炸物等 3. 同侧测试：测试方便，可以从不同角度对可疑物品进行检测 4. 辐射剂量小：对测试人员安全性有保障

原位高温背散射探测器——原位高温背散射成像解决方案原位高温背散射探测器作为提升先进高温原位电镜成像的潜力的专业解决方案，通过集成四分割背散射检测器结合定制的电子、机械和软件，为原位高温成像提供优质的背散射成像效果。探测器结构图：定量原位实验解决方案: 在高温、有环境气体存在的情况下成像和精确表面测量。主要技术特色1）四分割探测器:・ 4个镀碳金属电极・ 每个电极都有各自的原位前置放大器・ 可调节的偏置电压适用于所有・ 适用于几乎所有SEM机型四分割背散射探测器结构示意图 2）专门针对高温成像优化：l采用对热样品不敏感电极设计；・ 热电子通过探测器偏压进行过滤；・ 最高温度仅受辐射加热的限制；・ 与激光加热实验兼容3）可定量测量:・ 出厂精准矫正增益、偏置等参数；・ 信号放大不受温度影响；・ 结合SEM ( DISS6 )和COMPO校准样品的扫描控制器，精准测量收集到的电流信号不同加速电压下获取不同元素精确信号值 4）易于清洁：・ 探测器前端采用易拆卸设计・ 电极可根据需要进行清洗和重新镀膜・ 易拆卸螺钉固定方式・ 可提供各种电极涂层选择5）强大表征分析能力： ・ TOPO和COMPO的混合在检测器硬件中完成；・ 4分割信号设计可实现样品表面形貌重构；・ 结合SEM扫描控制器( DISS6 )和TOPO校准样品测量表面高度/形貌基于4分割背散射探测器对样品表面形貌进行精准分析

手持式背散射成像仪-中国总代理新一代手持式背散射成像仪PX1PX1手持式背散射成像仪是新一代手持式背散射扫描产品拥有创新通讯技术，具备先进的检测软件， 能够透过任何表面和材料扫描识别金属和有机化合物。PX1 手持式背散射成像仪为手持式一体化设计，安装电池，打开电源即可使用，扫描过程无需背景板、PDA等其他设备，可扫描常规设备难以检测的地方，尤其适用于检测墙壁、车辆、船舶、飞机、包裹等；PX1 穿透能力强，可透过 4.5+mm厚的 钢、 铝、混凝土等表面发现隐藏的dupin、zhayao、 走私品等违禁品，图像清晰直观。PX1 可以拓宽工作人员的视野，实时成像，有效发现藏匿的违禁品，广泛用于公共安全、海关、边界管制、安保工作及文物考古等领域。应用场景适用领域公安 / 边防缉毒：快速扫描车辆轮胎、保险杆、车体外板和内饰，发现藏匿的dupin、qiangzhi等违禁品 , 手机实时互联让现场查缉更方便。 省界交汇 / 边防检查站：快速扫描嫌疑车辆、保险杆、车体外板、内饰和行李包裹，查看有无违禁品。 反恐应急安保：快速扫描可疑包裹、行包、汽车等，发现可能存在的危险品和违禁品。 海事缉查：快速扫描搜查船只隔板、舱壁、外壳藏匿的dupin、现金等。 贵宾和重大活动安保：快速扫描房间墙壁、家具、夹层、车辆，搜查可能隐藏的管制刀具、qiangzhi、有机爆炸物和监听装置等。 交通枢纽（机场 / 火车站）应急检查：快速扫描可疑包裹，突击检查，预防公共场所中潜在的恐怖威胁。 通用航空客机、轮船检查：扫描定位内饰、舱壁、支撑结构件里可能藏匿的违禁品。

手持式背散射检测仪是国内第一款高端的手持式X射线检测设备，产品采用X射线背散射成像技术并融合独特的X射线透射成像技术，一机两用、一键切换，可更高效满足安检、搜爆、安防、保密等多种任务查验需求。产品优势： 【智能识别 一机双能】采用背散射成像技术 + X射线透射成像技术，模式可选、一机两用，智能识别低原子序数有机物，有效突显爆炸物、危化品图像。黑白图像可升级双能彩色图像，查验更清晰。【手持设计 独家应用】国内独有的手持式集成设备，小巧轻便，可完成传统安检手段无法完成的查验任务，如查验汽车、墙体等，不只局限于单一应用场景。【超强穿透 无处可藏】24毫米超强穿透力，可穿透大多数查验目标物，高效发现藏匿的爆炸物、违禁品等，大大扩展了产品的应用范围；客户群覆盖特警、治安、反恐、特勤、边防、缉毒、保密、安全等单位。【无损检测 开机即扫】无损检测，避免损坏赔偿责任，操作简单，开机即扫，无需提前部署。【高清图像 多维算法】全新一代光学系统，超高清分辨率，更满足防爆执法需求；3种图像处理算法，提升查验效果。【安全使用 贴心防护】安全设计，有效隔绝辐射；4种安全措施（指示灯、提示标识、射线触发停止按键、以及其他产品没有的安全联锁保险设置），避免误发射线，确保使用人员安全；

手持式背散射检测仪中国总经销：工作原理：采用X射线背散射成像技术，同侧发射射线和接收信号实时成像，无需独立成像板。结构与设计：设备由X光源（140kV）、探测器、彩色触控显示屏、摄像头、闪光灯、辅助定位光源(激光)和内置电源（电池）一体式集成化，使用状态下无须其他任何外置组件。主机重量：3.7-4.7kg 操作系统与界面：安卓系统，中文菜单界面。穿透力：大于等于3.5-7.5毫米等效钢板。加装选配件后可穿透22毫米钢板。扫描速度：15cm/s-30cm/s；过慢或过快图像会变形。扫描时长：最长可单次连续扫描60秒，且15秒、30秒、60秒可选；便于针对不同长度的被检物体灵活选择。状态切换：通过按键可快速切换休眠状态与工作状态，休眠状态下设备处于待机状态，节省电量。电池工作时长：单块电池可持续工作4-6h。电池电量显示：可在显示屏和电池上显示电池电量信息。保护功能：具有操作权限管理功能，具有系统工作和射线发射指示灯，具有射线发射按键。激光定位扫描区域：两侧具有内置激光发射装置。被检物拍摄功能：设备前端内置摄像头，支持在检测过程中拍摄被检物图像；补光功能：设备前端内置补光灯，支持在检测过程中对被检物补光；辐射防护：距离检测仪正后方表面5cm处周围剂量当量率≤0.4μSv/h。辐射安全：设备具有多重安全保护措施：1）安全联锁控制系统：开机登录后，屏幕上会出现锁屏保险条，向右滑动保险条解锁后按下射线发射键才可发 射X 射线，松开射线发射键后，可快速停止发射X 射线；2）出束警示灯：在设备上方、左右方明显处均设置有警示灯，出束时红灯亮起；数据存储： 10,000扫描图像；软件功能：具备扫描、查看图像、直方图拉伸（亮度调节）、黑白色转换、图像比较、图像着色、可疑图像标记、图像存储、图像回放、图像放大、图像缩小、图像导入、图像导出等功能；具有拍照、闪光灯照明、休眠、图像分组管理、设备数据备份/还原、用户管理、语言切换等功能。先进图像处理功能：具有多种图像处理算法，更有助于查验人员高效判图：1）常规处理算法—对被检物体不做区分；2）高穿透处理算法—扫描高密度物质后突出显示其后藏匿的违禁品，如扫描车辆多部位；3）高分辨率算法—更清晰看到图像细节；联接能力：USB、无线WIFI、蓝牙、数据线；校准：设备每次开机扫描前无需校准。运行环境：-20摄氏度至60摄氏度；大气条件为不凝结。外壳防护等级：IP54,防尘、防溅水。 升级能力：1.设备可加装高清动态透射成像配件，可穿透22毫米钢板，图像清晰度接近便携式X光机，可查验的物品更多，大大提高查缉战果几率；2.设备可升级具备识别金属物质铅并可在屏幕上文字弹窗报警功能。犯罪分子经常用铅屏蔽违禁品，造成查缉遗漏。该功能可有效解决此问题。

手持式背散射成像仪-中国总代理新一代手持式背散射成像仪PX Ultra 160keV新一代实时查验技术更高能量，更强穿透 穿透160 keV和专利光学系统，允许穿透更多材料，看到更大的深度。减少不确定性通过手持式设备发现潜在风险，保证人员安全。即时高效便于携带，图像高清，提高检查效率。完成使命通过科技创新，保护社会免受威胁。

Symmetry S3 电子背散射衍射（EBSD）探测器是全能型 Symmetry 产品系列中的第三代探测器。S3将高速分析（ 5700 个花样每秒（pps））与百万像素相结合，确保更加优异的性能，满足各领域内科研的需要。 Symmetry S3 是一款各种类型的样品均能得到出色结果的全能型EBSD 探测器。无透镜光纤耦合相机系统，可在所有分析条件下，实现出色的灵敏度，从束流敏感材料的分析到常规样品的高速表征。高像素分辨率与有保证的亚像素花样失真水平相结合，使 S3 成为应变深入分析和高精度 EBSD 工作的理想选择，而软件控制的探测器倾转功能，确保了对每种尺寸和形状的样品，都能在优化的几何位置进行采集。 Symmetry S3探测器外观 直播回顾——答疑篇 牛津仪器于2022年9月8日，已经正式发布了Symmetry S3、C+系列 CMOS 探测器，以及花样匹配标定技术 MapSweeper。对于新品发布期间大家的提问，做出以下解答： 1 牛津CMOS EBSD的主要升级 Symmetry S3：最快速度从4500花样/秒升级到了5700花样/秒，此时花样分辨率可达156x128像素。其最大像素可达1244*1024。 C-Swift+：最快速度翻倍，从1000花样/秒升级到了2000花样/秒，适合大部分常规样品快速测试。 C-Nano+：最快速度从400花样/秒升级到了600花样/秒，适合常规样品及高分辨应用。 2 晶粒度的测量 随着 Symmetry S3 速度的提升，晶粒度的测量速度越来越快，已经可以在1分钟内完成采集。按照国标、国际标准或美标，如果要得到有意义的晶粒度的数值，需要统计至少500个晶粒，且晶粒平均包含至少100个像素。 双相钢样品，EBSD 数据采集36秒，共采集到2352个晶粒，ASTM晶粒度：12.6 3 MapSweeper 功能 MapSweeper 是 AZtecCrystal 数据分析软件中的一个高级功能，可以单独购买升级。它主要利用花样匹配技术，对 EBSD 数据进行更精准的标定分析，能提高数据质量、甚至分析常规方法无法标定的花样。它需要用户在采集 EBSD 数据时，保存花样，然后导出至 AZtecCrystal 进行后处理分析。整个软件界面风格非常直观，采用 AZtec 软件一贯的风格，导航栏式的操作，非常容易掌握。对普通用户来讲，不需要了解花样匹配标定技术背后复杂的算法和数学公式，就可以直接使用花样匹配技术来解决应用问题，非常方便。 AZtecCrystal 软件的 MapSweeper 操作界面 4 MapSweeper 花样匹配的准确度 首先，MapSweeper 可以通过动力学方法模拟晶体的衍射花样，能准确模拟每条衍射带的强度分布，相比传统的花样模拟更真实。其次，通过花样匹配，MapSweeper总能在所有备选晶体结构中找到最佳的匹配花样，从而标定出相和取向。 MapSweeper 的精度很高，特别适合结构相似相的区分。常规基于霍夫变换的标定方法，只考虑了衍射带的强度、宽度、夹角等参数；而 MapSweeper 是全花样匹配，不仅考虑了低指数的衍射带，其他所有位置的衍射强度都会影响整个花样的匹配，因此在区分结构相似相时，考虑的因素更全面，更容易准确区分结构相似相。 利用 MapSweeper，有效改善了铁氧化物相似相的区分 5 MapSweeper 中表征花样匹配程度的R值 R值表示了实验花样和模拟花样之前匹配程度，值越高，代表匹配越好，其取值范围为。一般来讲，花样匹配较好时，R值大于0.25；R值低于0.1，则认为匹配太差而不可接受（零解）。R的定义，与经典的图像处理中，衡量两幅图像之间的相似程度的互相关系数（Cross-Correlation Coefficient）是一致的，只是在MapSweeper 中，将R值归一化到了。 Cu 的实验花样、模拟花样及两者之差，整个花样匹配度R值为0.8094

Phenom Pharos 台式场发射扫描电镜因其多功能性和卓越的成像性能赢得了良好的口碑 —— 即使是在传统较难观测的样品中也表现优异。直观的用户界面有助于将高分辨率图像呈现给用户， FEG 场发射电子源在 1-20kV 的加速电压范围内都提供了高分辨率。Phenom Pharos-STEM 扫描透射电子显微镜，配备了 STEM 样品杯，从另一个维度提高了其成像能力和应用的多样性。作为全球唯一台式 Phenom Pharos-STEM 扫描透射电子显微镜，在较低的加速电压下，减少了电子束对样品的损伤，显著提高了图像的衬度。在台式扫描电镜下即可快速获得高分辨的 BF 像、DF 像、HAADF 像，且支持用户自定义成像。Pharos STEM 样品杯为材料领域的研究提供了高效、全面的表征方式。BF 像：主要是样品正下方同轴的探测器接收透射电子和部分散射电子。影响明场像衬度（Contrast）的主要因素是样品的厚度和成分。样品越厚，原子序数（Z）越大，穿透样品的电子越少，图像就越暗，因此 BF 像对轻元素（Z 较小）比较敏感。DF 像：主要是样品下方非同轴位置的探测器接收散射电子信号。HAADF 像：主要是接收高角度的非相干散射电子信号。原子序数（Z）越大，散射角也越大，原子核对入射电子的散射作用越强，图像上更亮。因此又被称为 Z 衬度像。三种成像模式各有特点，具有不同的成像优势，可以根据样品情况搭配使用，成像结果进行互相验证。烟草花叶病毒的BSE 像、BF 像、 DF 像和 HAADF 像对比扫描电镜的背散射电子图像（BSE），杆状的烟草花叶病毒在 BF 模式下更加直观。BF 模式更适合观察轻元素（Z 较小），轻元素散射作用较弱，因此在 HAADF 模式下较难清晰观测细节。而杆状烟草花叶病毒周围较厚的脂质球，电子较难穿透，BF 像上相对较暗。在 DF 模式下，密度较大的脂质球表现出较强的衍射，因此在 DF 像上相对较亮。规格参数：系统兼容：Phenom Pharos G2 台式场发射扫描电镜样品兼容：ø 3mm TEM 载网（夹具固定）成像时间： 40 s*成像模式：BF、DF、HAADF、 自定义**成像工作流程：固定的 WD，设置最优的探测器 ，完全集成的 UI真空度：0.1, 10 & 60 Pa分辨率：优于 1 nm* 加载样品到呈现图像的时间** STEM 具有 11 分割探测器，用户可以对其进行自定义选择具体详情以Phenom Pharos-STEM 扫描透射电子显微镜产品资料为准

LVEM5 台式透射电子显微镜（Bench-top TEM） 详细介绍Delong Instruments 荣誉出品 • 世界唯一的小型台式透射电子显微镜（TEM）• 世界唯一的多用途台式电子显微镜• 透射电镜（TEM）、电子衍射（ED）、扫描电镜（SEM）、扫描透射电镜（STEM）四种成像模式• 分辨率：1.5nm（TEM）；10nm（SEM）• Schottky场发射电子枪：高亮度、高对比度• 观察生物样品无需染色• 体积仅为传统透射电镜1/10，操作维护简单 台式设计：体积小巧，灵活性高，价格低传统透射电子显微镜体积庞大，对放置环境有着严格的要求，并且需要制冷机等外置设备。通常会占据整间实验室。 LVEM5从根本上区别于传统电镜，尺寸较传统电镜缩小了90%，对放置环境无严格要求，无需任何外置冷却设备，可以安装用户所需的任意实验室或办公室桌面，是目前性价比最高的电子显微镜。Schottky场发射电子枪：高亮度/高对比度电子枪类型是决定电镜性能的重要参数。LVEM5采用特殊设计的倒置肖特基（Schottky）场发射电子枪，提供高亮度高相干的电子束。电子枪使用寿命可达2000小时以上。传统TEM多采用100kV以上电子束加速电压，高能电子束不能区分轻材料中相近的密度和原子序数，对于轻元素样品（C、N、O样品，生物样品）难以获得好的对比度，影响图像质量。LVEM5采用5kV低电压设计，低电压电子束对密度和原子序数有很高的灵敏度，对于小到0.005 g/cm3的密度差别仍能得到很好的图像对比度。例如，对20nm碳膜样品，5KV电压下比100KV电压下对比度提高10倍以上。而LVEM5的空间分辨率在低电压下仍能达到1.5nm。 未经染色的老鼠心脏切片在80kV透射电镜下得到的图像，与LVEM5下得到的图像。LVEM5采用5kV低加速电压，图像具有更好的对比度. TEM-STEM-ED-SEM 四种成像模式TEM模式LVEM5是世界上唯一的台式透射电子显微镜，同时也是唯一的低加速电压（5kV）透射电镜。同传统透射电镜（80-200kV）相比，增加了电子束与样品的相互作用，从而提高了图像对比度。 提高了图像对比度。 无需重金属染色即可观察轻元素样品（如生物样品）。 避免染色造成的假象，观察样品真实结构分辨率2nm，放大倍数 5000-202,000x，图像采集：2048 x 2048 添加TEM升级选件，分辨率提升至1.5nm，放大倍数 50万倍 SEM模式扫描电镜（SEM）模式可用于观察任意固体样品。在SEM模式下，LVEM5采用4分割背散射探测器，提供多个观测角度。普通扫描电镜在观察不导电样品时，需要对样品进行喷金、喷碳处理，以增加样品导电性。LVEM5的另一优点在于，无需喷金可直接观测不导电样品。分辨率10nm，放大倍数 640x - 100,000x，图像采集像素：2048 x 2048 STEM模式在扫描透射电子显微（STEM）模式下，电子束被聚焦到很小直径，在样品上进行扫描。可用于观察厚度较厚的样品或染色样品 ED模式电子衍射（ED）可用于确定样品的晶体结构、结晶度、相组成. 操作简单，换样快捷，成本低廉LVEM5直观的用户界面、简便的控制台设计，使用户仅需极少的培训，即可轻松操作。让用户在使用时更加舒适。不同于传统透射电镜每次更换样品后需要几十分钟的抽真空时间，LVEM5更换样品仅需3min，节省大量时间。LVEM5首次购置费用远低于传统电镜，且在一款仪器中集成了透射电镜与扫描电镜功能，真正的物超所值。LVEM5独特的设计优势，在使用中无需冷却水，无需专业实验室，维持成本极低。 应用案例

Delong America Inc. 荣誉出品 LVEM5 低电压台式透射电子显微镜（Bench-top TEM） &bull 小型台式透射电子显微镜（TEM）&bull 多用途台式电子显微镜&bull 透射电镜（TEM）、电子衍射（ED）、扫描电镜（SEM）、扫描透射电镜（STEM）四种成像模式&bull 分辨率：1.5nm（TEM）；10nm（SEM）&bull Schottky场发射电子枪：高亮度、高对比度&bull 观察生物样品无需染色&bull 体积仅为传统透射电镜1/10，操作维护简单台式设计：体积小巧，灵活性高，价格低传统透射电子显微镜体积庞大，对放置环境有着严格的要求，并且需要制冷机等外置设备，通常会占据整间实验室。LVEM5从根本上区别于传统电镜，尺寸较传统电镜缩小了90%，对放置环境无严格要求，无需任何外置冷却设备，可以安装用户所需的任意实验室或办公室桌面，是目前性价比较高的电子显微镜。Schottky场发射电子枪：高亮度/高对比度电子枪类型是决定电镜性能的重要参数。LVEM5采用特殊设计的倒置肖特基（Schottky）场发射电子枪，提供高亮度高相干的电子束。电子枪使用寿命可达2000小时以上。传统TEM多采用100kV以上电子束加速电压，高能电子束不能区分轻材料中相近的密度和原子序数，对于轻元素样品（C、N、O样品，生物样品）难以获得好的对比度，影响图像质量。LVEM5采用5kV低电压设计，低电压电子束对密度和原子序数有很高的灵敏度，对于小到0.005 g/cm3的密度差别仍能得到很好的图像对比度。例如，对20nm碳膜样品，5KV电压下比100KV电压下对比度提高10倍以上。而LVEM5的空间分辨率在低电压下仍能达到2nm。 未经染色的老鼠心脏切片在80kV透射电镜下得到的图像，与LVEM5下得到的图像。 LVEM5采用5kV低加速电压，图像具有更好的对比度TEM-STEM-ED-SEM 四种成像模式TEM模式LVEM5是一款台式透射电子显微镜，同时也是一款低加速电压（5kV）透射电镜。同传统透射电镜（80-200kV）相比，增加了电子束与样品的相互作用，从而：+ 提高了图像对比度+ 无需重金属染色即可观察轻元素样品（如生物样品）+ 避免染色造成的假象，观察样品真实结构分辨率2nm，放大倍数 5000-202,000x，图像采集：2048 x 2048添加TEM升选件，分辨率提升至1.5nm，放大倍数 50万倍SEM模式扫描电镜（SEM）模式可用于观察任意固体样品。在SEM模式下，LVEM5采用4分割背散射探测器，提供多个观测角度。普通扫描电镜在观察不导电样品时，需要对样品进行喷金、喷碳处理，以增加样品导电性。LVEM5的另一优点在于，无需喷金可直接观测不导电样品。分辨率3nm，放大倍数 640x - 1,000,000x，图像采集：2048 x 2048STEM模式在扫描透射电子显微（STEM）模式下，电子束被聚焦到很小直径，在样品上进行扫描。可用于观察厚度较厚的样品或染色样品ED模式电子衍射（ED）可用于确定样品的晶体结构、结晶度、相组成操作简单，换样快捷，成本低廉LVEM5直观的用户界面、简便的控制台设计，使用户仅需很少的培训，即可轻松操作。让用户在使用时更加舒适。不同于传统透射电镜每次更换样品后需要几十分钟的抽真空时间，LVEM5更换样品仅需3min，节省大量时间。LVEM5次购置费用仅为传统电镜的1/3左右，且在一款仪器中集成了透射电镜与扫描电镜功能，真正的物超所值。LVEM5特的设计优势，在使用中无需冷却水，无需专业实验室，维持成本低。部分测试数据 TEM：碳纳米管 ED：ZnO单晶 STEM：聚乙烯单晶 SEM：水凝胶 应用案例材料领域 生物领域用户列表LVEM5在全球范围已拥有麻省理工、加州大学、乔治亚理工、慕尼黑大学、曼彻斯特大学等50多个用户。优异的性能为LVEM5赢得了用户的一片赞誉。

产品详情日本JEOL透射电子显微镜 JEM-ARM300F GRAND ARM JEM-ARM300F 实现了世界最高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配备了JEOL自主研发的球差校正器，最高加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。 产品规格：分辨率300 kV，80 kV物镜种类※1UHR极靴HR极靴STEM分辨率（300kV） 使用STEM校正器0.058nm0.063nmTEM分辨率（300 kV）线分辨率0.05nm线分辨率0.06nm使用TEM校正器非线性信息分辨极限0.06nm非线性信息分辨极限0.07nm线性信息分辨极限0.09nm线性信息分辨极限0.12nm 产品特点： 实现了世界最高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率 JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器，最高加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。 STEM-HAADF像的保证分辨率达到了前所未有的58pm 采用JEOL自主研发的球差校正器，扫描透射像（STEM像)的保证分辨率可达58pm（300kV,超高分辨率极靴、使用STEM球差校正器时）。 ETA校正器 JEOL自主研发的12极球差校正器　※选配件 ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研发的扩展轨道型12极球差校正器。可以在用户现场加装STEM球差校正器及TEM球差校正器。 强大的冷场发射电子枪HyperCF300 标配了全新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。 两种物镜极靴 为了支持用户广泛的需求，研发了两种各具特点的物镜极靴。 丰富的选购件 能安装超大立体角EDS（能谱仪）、EELS（电子能量损失谱仪）、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器。 大范围的加速电压设置 标配300kV和80kV下的球差校正数据,可选的加速电压范围从40KV?300kV，使用范围极广。 新开发的真空系统 新的排气系统达到了极高的真空度，在原子尺度的图像观察和分析中，最大限度地减轻了对样品的污染和损伤。 高稳定的镜筒和样品台 整体稳定性高、直径330mm的镜筒增加了机械刚度， 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上，把电气稳定性和对环境的抗干扰能力提高到新高度。

产品详情日本JEOL热场发射扫描电子显微镜JSM-7200F JSM-7200F的电子光学系统应用了日本电子旗舰机-JSM-7800F Prime采用的浸没式肖特基电子枪技术，标配了TTLS系统（Through-The-Lens System），因此无论是在高/低加速电压下，空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。 产品规格： 主要选配件可插拔式背散射电子探头（RBED）高位二次电子探头（USD）低真空二次电子探头（LV-SED）能谱仪（EDS)波谱仪（WDS）电子背散射衍射系统（EBSD)阴极荧光系统（CLD）样品台导航系统（SNS）电子束曝光系统 产品特点：JSM-7200F的电子光学系统应用了日本电子旗舰机-JSM-7800F Prime采用的浸没式肖特基电子枪技术，标配TTLS系统（Through-The-Lens System），无论是在高/低加速电压下，空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。此外，保证300nA的最大束流，能兼顾高分辨率观察和高通量分析，具有充实的自动功能和易用性，是新一代的多功能场发射扫描电镜。 ＜特点＞ JSM-7200F的主要特点有：应用了浸没式肖特基电子枪技术的电子光学系统；利用GB（Gentle Beam 模式）和各种检测器在低加速电压下能进行高分辨观察和选择信号的TTLS系统（Through-The-Lens System）；电磁场叠加的混合式物镜。 浸没式肖特基电子枪 浸没式肖特基场发射电子枪为日本电子的专利技术，通过对电子枪和低像差聚光镜进行优化，能有效利用从电子枪中发射的电子，即使电子束流很大也能获得很细的束斑。因而可以实现高通量分析（EDS、WDS面分析、EBSD分析等）。 TTLS（through-the-lens系统） TTLS（through-the-lens系统）是利用GB(Gentle Beam 模式）在低加速电压下能进行高分辨率观察和信号选择的系统。 利用GB（Gentle Beam 模式）通过给样品加以偏压，对入射电子有减速、对样品中发射出的电子有加速作用，即使在低加速电压（入射电压）下，也能获得信噪比良好的高分辨率图像。 此外，利用安装在TTLS的能量过滤器过滤电压，可以调节二次电子的检测量。这样在极低加速电压的条件下，用高位检测器（UED）就可以只获取来自样品浅表面的大角度背散射电子。因过滤电压用UED没有检测出的低能量电子，可以用高位二次电子检测器（USD，选配件）检测出来，因此JSM-7200F能同时获取二次电子像和背散射电子像。 混合式物镜（电磁场叠加） JSM-7200F的物镜采用了本公司新开发的混合式透镜。 这种混合式透镜是组合了磁透镜和静电透镜的电磁场叠加型物镜，比传统的out-lens像差小，能获得更高的空间分辨率。 JSM-7200F仍然保持了out-lens的易用性，所以可以观察和分析磁性材料样品。

TEAM™ 透射电镜能谱仪配备了Apollo XLT SDD系列探测器，为透射电镜(TEM)提供终极的分析方案。Apollo XLT SDD系列探测器包括超薄窗口（SUTW）和无窗口（XLTW）两种型号。由于可以完整地传输低能X射线，Apollo XLTW可以为用户提供最佳的轻元素性能。与SUTW探头相比，其轻元素的测量灵敏度提高了500%，重元素的计数率增加了30%，从而大大提高了元素面分布的采集速度，增强了低含量轻元素的检测。 特点和好处所有电子部件均集成在探测器内，方便安装、服务、校准和远程访问自动校准程序实现快速、可重复、准确设置，校准数据驻留于探测器上，远程访问时无需重新校准紧凑型的探测器提供了安装的灵活性，适合于各种TEM30 mm2 SDD芯片技术，优化了立体角超薄窗口型和无窗口型探测器均有优秀的轻元素测试性能，C分辨率均优于59 eVMn 的分辨率优于129 eV直到100 kcps，分辨率稳定性都小于1 eV峰位偏移直至250 kcps 都小于1 eV放大器时间常数从120 ns 到7.65 s 可选，便于获得最佳采集效果高速以太网通信当背散射电子过量时由马达控制自动缩回针对TEM薄样品的定量算法 Apollo XLT SDD 系列探头将数据采集、电子信号处理集成在探头内，取消了单独的数据采集机箱，简化了设备安装。集成的探测器有简洁的外观设计，提高了性能，方便了远程访问，用户可以通过以太网线接入，消除了由传统电缆长度所导致的信号失真和损失。计算机可设置于探测器之外远达100米之处而不影响仪器的性能。智能化是TEAM™ TEM 能谱仪的核心。智能化已经植入探测器，为探测器提供最好的保护，防止探测器在有害的条件下工作。当发现高能电子时，探头能够自动缩回至一个安全的位置，而无需用户人工干预，从而确保了探测器的安全运行。当需要进行维护的时候，通过远程登录的能力可实现优越的远程支持。记录在探测器中的工作历史记录也可以远程访问，以便进行快速、准确的评估。 TEAM™ 能谱仪具有许多智能功能和现代化的用户界面，可自动简化分析并快速获得结果。不管操作者的技能如何，每次测试均可高效获得一致且准确的测量结果。TEAM™ 能谱仪也可以自动确定样品所含的元素，监视计数率、放大倍率、采集时间以及许多其它用于优化系统性能的工作参数。而交互式审查允许用户在完成分析之前以独特的方式预览结果。结论Apollo XLT SDD 系列探测器完全集成了数据采集和电子信号处理设备，采用了TEAM™ 智能软件，是 TEM 上最直观、最易用的分析工具。该系列的无窗口型产品，进一步提升了采集效率和轻元素分析性能。TEAM™ 智能软件自动化的工作流程，革命性地改变了能谱仪的分析方式。无论使用者的技能水平如何，TEAM™ 每次都能提供卓越的测试结果。Apollo XLT SDD 系列探测器结合TEAM™ 智能软件，为用户提供了最先进的TEM能谱仪系统。

TURBISCAN TOWER是最新款的稳定性分析仪，拥有更高的精确度，同时测量六个样品。该系列产品有TURBISCAN TOWER和TURBISCAN TOWER BASIC两种型号。TURBISCAN TOWER具有更宽的温度范围，4℃的模拟冷藏温度，特别适用用于研究食品的货架期。稳定性分析仪 (多重光散射仪) TURBISCAN TOWER应用多重光散射的原理, 检测器所得到透射光和背散射光强度是直接由分散相的浓度(体积百分数)和平均直径( 或是粒子/微滴/气泡的平均直径)决定的。通过测量透射光和背散射强度的变化，就可以知道样品在某一截面浓度或颗粒粒径的变化。该仪器对所分析的样品可以有一个宽的范围，粒子尺寸范围从0.01微米-1毫米，其样品的浓度最高可以达到体积百分比95%。 稳定性分析仪 (多重光散射仪) TURBISCAN TOWER的测量探头是由一个脉冲式的近红外光源 (波长880 nm )和两个同步的检测器组成: 透射光检测器是用于研究透明清澈的产品，背散射光检测器是用于研究高浓度的产品。仪器的工作原理为：测量探头收集透射光和背散射光的数据, 在55mm长度上每20 微米扫描一次。得到的图形在浓度上和粒子直径上表征了样品的均匀性，编辑其测量次数, 然后沿着样品不断重复扫描, 从而得到一张表征产品稳定性或不稳定特征的指纹图谱 。 稳定性分析仪 (多重光散射仪) TURBISCAN TOWER数据收集方式为扫描方式:沿着55 mm的扫描高度每 20 μm收集一次数据,在环境温度下每20秒钟做1次扫描并收集数据, 每30秒温度控制一次。可设置多达 250个扫描程序。样品中的粒子由于聚结、絮凝或团聚现象造成的粒子粒径的变化及位置的变化可以被实时监测。从而可以计算样品中粒子平均直径的变化，粒子的迁移的速度及由于颗粒的迁移造成的浓度变化即分层厚度的随时间变化。 稳定性分析仪 (多重光散射仪) TURBISCAN TOWER最大的特点是测量且无须对浓缩分散相进行稀释。从而确保产品在粒子尺寸和/或它的浓度方面符合所要求的技术规格。 稳定性分析仪 (多重光散射仪) TURBISCAN TOWER仪器装有温度调节装置, 可控制温度范围在4°C至80°C 之间，温度控制精度为 ± 0.1°C。 稳定性分析仪 (多重光散射仪) TURBISCAN TOWER软件可以得出下面的几种分析结果:1、背散射光强度BS和透射光强度T相对时间的变化曲线。2、分层厚度随时间的变化曲线。3、粒子迁移速度和粒子的流体动力(水力)平均直径。4、物理不稳定性定量动态分析: 粒子平均直径相对时间变化的曲线或者样品浓度相对时间变化的曲线。5、光子的平均自由光程或者传送的平均自由光程 , d (平均直径), phi (浓度-体积百分数),TSI稳定性指数。6、分散度。（分散度是固体粉末分散性的评价指标，其数值越小，分散性越差）。二、主要技术指标1、粒子尺寸的测量范围: 0.01-1000um。2、粒子浓度: 最高体积百分比浓度可达95%。3、测量技术: 多重光散射。4、一次可以检测6个样品。三、测量部件1、发射源: 近红外光源(880 nm)。2、检测器: 透射光和背散射光两个光敏二极管。3、温度范围：4°C到80°C,温度控制精度为± 0.1°C。4、样品池: 平底的玻璃池( 外径: 27.5mm – 高度: 70mm)随同带有螺纹黑顶盖及丁基/聚四氟乙烯密封圈。

GeminiSEM 系列产品高对比度、低电压成像的场发射扫描电子显微镜为对任意样品进行高水准的成像和分析而生蔡司GeminiSEM 系列产品具有出色的探测效率，能够轻松地实现亚纳米分辨成像。无论是在高真空还是在可变压力模式下，更高的表面细节信息灵敏度让您在对任意样品进行成像和分析时都具备更佳的灵活性，为您在材料科学研究、生命科学研究、工业实验室或是显微成像平台中获取各种类型样品在微观世界中清晰、真实的图像，提供灵活、可靠的场发射扫描电子显微镜技术和方案。GeminiSEM 500 具有出色的分辨率，在较低的加速电压下仍可呈现给您更强的信号和更丰富的细节信息，其创新设计的NanoVP可变压力模式，甚至让您在使用时拥有在高真空模式下工作的感觉；更强的信号，更丰富的细节GeminiSEM 500 为您呈现任意样品表面更强的信号和更丰富的细节信息，尤其在低的加速电压下，在避免样品损伤的同时快速地获取更高清晰度的图像。经优化和增强的Inlens探测器可高效地采集信号，助您快速地获取清晰的图像，并使样品损伤降至更低；在低电压下拥有更高的信噪比和更高的衬度，二次电子图像分辨率1 kV达0.9nm，500 V达1.0 nm，无需样品台减速即可进行高质量的低电压成像，为您呈现任意样品在纳米尺度上更丰富的细节信息；应用样品台减速技术-（Tandem decel），可在1 kV下获得高达0.8nm二次电子图像分辨率；创新设计的可变压力模式-NanoVP技术，让您拥有身处在高真空模式下工作的感觉。洞察产品背后的科技Gemini电子光学系统Gemini 1类型镜筒 -延续创新和发展如今，扫描电子显微镜（SEM）在低电压下的高分辨成像能力，已成为其在各项应用领域中的标准配置。低电压下的高分辨率成像能力，在以下应用领域中扮演着尤为重要的角色：电子束敏感样品不导电样品获取样品极表面的真实形貌信息Gemini的革新电子光学设计，应用高分辨率电子枪模式、Nano-twin lens物镜(GeminiSEM 500)、以及Tandem decel样品台减速技术（选配），有效提高了在低电压时的信号采集效率和图像衬度。高分辨率电子枪模式：缩小30%的出射电子束能量展宽，有效地降低像差；获得更小的束斑。Nano-twin lens物镜： 优化静电场和磁场的复合功效，在低电压下具有的更高的分辨率； 提高镜筒内Inlens探测器在低电压下的信号采集效率。Tandem decel样品台减速技术，进一步提高对适用样品在低电压甚至极低电压下的分辨率：Tandem decel减速技术将镜筒内减速和样品台偏压减速技术相结合，有效地实现低着陆电压；使用1 kV及以下更低电压时，镜筒内背散射探测器的检测效率获得更好地增强，低电压下的分辨率得到进一步提高。对适用的样品可以加载高达-5 kV的样品台偏压，在低电压下获得更高质量的图片优化静电场和磁场的复合功效，在低电压下具有的更高的分辨率；提高镜筒内Inlens探测器在低电压下的信号采集效率。技术参数：基本规格蔡司 GeminiSEM 500热场发射电子枪，稳定性优于0.2 %/h加速电压0.02 - 30 kV探针电流3 pA - 20 nA（100 nA配置可选）存储分辨率最高达32k × 24k 像素放大倍率50 – 2,000,000标配探测器镜筒内Inlens二次电子探测器样品室内的Everhart Thornley二次电子探测器可选配的项目NanoVP可变压力模式高效VPSE探测器（包含在NanoVP可变压力选件中）局部电荷中和器镜筒内能量选择背散射探测器环形STEM探测器（aSTEM 4）EDS能谱仪EBSD探测器(背散射电子衍射)可订制特殊功能样品台环形背散射电子探测器阴极射线荧光探测器

产品详情日本JEOL热场发射扫描电子显微镜JSM-7900F JEOL新一代场发射扫描电子显微镜的旗舰机型。 它继承了上一代广获好评的性能如极高的空间分辨率、高稳定性、多种功能等的同时，操作性能极大简单化。该设备不依赖操作者的技能，始终能够发挥其最佳性能。 产品规格：分辨率1.0 nm (0.5 kV)0.7 nm (1 kV)0.6 nm (15 kV)3.0 nm (5 kV、WD: 10 mm、5 nA)倍率×10 ～ ×1,000,000加速电压0.01 ～ 30 kV探针电流数 pA ～ 500 nA检测器（标配）高位检测器(UED)、低位检测器(LED)电子枪浸没式肖特基Plus场发射电子枪最佳光阑角控制镜内置物镜超级混合式物镜/SHL自动功能自动聚焦、自动消像散、自动调节亮度、自动调节衬度大景深模式(LDF)内置样品台全对中测角样品台样品移动X:70mm Y:50mm Z:2 ～ 41mm 倾斜轴:-5 ～ 70° 旋转:360°马达驱动5轴马达驱动样品交换室最大直径: 100mm 　最大高度: 40mm抽真空系统SIP、TMP、RP 主要特点：◇ Neo Engine（New Electron Optical Engine）新一代电子光学控制系统Neo Engine（New Electron Optical Engine），是JEOL电子光学技术荟萃的结晶。 它综合了透镜控制系统和自动化技术，即使改变电子光学条件，光轴的偏离也极小，大大提高了可操作性及观察精度。 无论是谁都可以很简便地发挥出仪器原本的功能。 ① 提高了自动功能 样品 : 用CP 制备的矿物截面（树脂包埋） 入射电压 : 5 kV，检测器 : RBED，观察倍率 : ×100,000 不仅提高了自动功能的精度，而且只需要几秒钟就可以聚焦。 ② 提高了倍率的精度 样品 : 测长用的样品（MRS5） 入射电压 : 10 kV， 观察倍率: ×50,000 大幅度地提高了倍率的精度，而且实现了高精度测长。 ③ 能量过滤器更加易用 样品 : 名片 入射电压 : 1.5 kV， 检测器 : UED， 观察倍率 : ×3,500 即使大幅度改变能量过滤器的设定值，视野或聚焦位置基本不会偏离。 ◇ GBSH-S (GENTLEBEAM™ Super High resolution Stage bias mode)GBSH 是在低加速电压下提高分辨率的一种方法。 新开发的GBSH-S可以给样品台施加高达5 kV的偏压。 因此，使用GBSH模式不需要使用专用的样品杆就可以无缝过渡到其他模式。※GENTLEBEAM™ 通过给样品施加偏压，起到了对入射电子减速，对出射电子加速的作用。 ◇ 新型背散射电子检测器　※ 选配件采用新开发的超高灵敏度的背散射电子检测器，可以在清晰的衬度下进行观察。 灵敏度比以往的产品提高了很多，特别是在低加速电压下能得到高衬度的成分像。旧机型 新机型 样品 : Cu的截面 入射电压 : 3 kV 观察倍率 : ×10,000 WD： 4.5 mm ◇ 新型外观设计 外观设计紧凑，大大节省了安装空间，可以支持多种安装环境。 ◇ 新的样品交换方式 采用新设计的样品交换系统（load lock），操作简单了，不仅减少误操作还提高了通量和耐用性。 ◇ SMILENAVISMILENAVI 是为初学者在短时间内学会基础操作而开发的操作导航系统。 操作人员按照流程，只要点击图标，SEM操作画面就会联动，依照提示引导即可操作。① 强调操作按钮只要将鼠标光标挪到SMILENAVI的指南键上，SEM的GUI上的相应键会出现方框。 在SMILENAVI指南里点击按键后，SEM的GUI会变成灰色来强调相应键。 ② 显示照片在SMILENAVI的指南里点击按键后，会显示该按键位置的照片。 ③ 显示操作顺序的视频 SMILENAVI的指南里有介绍操作顺序的视频。 继承了旧机型的高性能 ◇ 浸没式肖特基 Plus 电子枪浸没式肖特基Plus FEG 通过与电子枪和低像差聚光镜的组合，性能进一步得到改善，达到了更高的亮度。 能有效地收集从电子枪发射出的电子，即使在低加速电压下，也能获得数pA ～数10 nA 的探针电流，不用交换物镜光阑也能进行高分辨观察和快速元素面分布及EBSD 分析。 ◇ ACL（最佳光阑角控制镜）ACL（最佳光阑角控制镜）位于物镜的上方，自动优化整个电流范围内的物镜光阑角。 因此，即使改变探针电流量，也能调整入射电子的扩散，始终可以获取最小的电子束斑。不管是高分辨观察还是X 射线分析，对探针电流的大幅度变化都能轻松对应。 ◇ 超级混合式物镜 / SHLJSM-7900F 标配了JEOL 开发的电磁场叠加物镜 —“超级混合式物镜（SHL）”，对任何样品包括磁性和绝缘材料都能进行超高空间分辨率观察和分析。 ◇ 检测器系统能够同步采集多达4 种检测器的信号。标配低位检测器（LED）和高位检测器（UED）。 此外，还可以安装选配件：可插拔式背散射电子检测器（RBED）和高位二次电子检测器（USD）。 ◇ 高空间分辨率观察利用GBSH，即使在极低的加速电压下也能进行高分辨率观察。 GBSH下，高空间分辨率观察应用● 氧化物纳米材料

产品详情日本JEOL热场发射扫描电子显微镜JSM-7610FPlus 广受好评的JSM-7610F的光学系统经过改进，实现了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的进一步提升，以崭新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸没式物镜和High Power Optics照明系统，提供稳定的高空间分辨率观察和分析。此外还具备利用GENTLEBEAMTM模式进行低加速电压观察、通过r-filter分选信号等满足各种需求的高扩展性。 产品规格： 产品特点：广受好评的JSM-7610F的光学系统经过改进，实现了分辨率（15kV 0.8nm、1kV 1.0nm）的进一步提升，以崭新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸没式物镜和High Power Optics照明系统，能提供稳定的高空间分辨率观察和分析。此外还具备利用GENTLEBEAMTM模式进行低加速电压观察、通过r-filter分选信号等满足各种需求的高扩展性。主要特点如下： ◇ 半浸没式物镜 半浸没式物镜在样品周围形成强磁场，因而可以获得超高分辨率。 ◇ High Power OpticsHigh Power Optics 是独特的电子光学系统，既实现了高倍率观察又能进行多种分析。 浸没式肖特基场发射电子枪，可以获得10 倍于传统肖特基场发射电子枪（FEG）的探针电流，最佳光阑角控制镜（ALC）在探针电流增大时也能保持小束斑，两者组合起来能提供200 nA 以上的探针电流。强大的High Power Optics 系统，从高倍率图像观察到EDS分析和EBSD 解析可以一直使用高分辨率的最小物镜光阑而不需要改换。 浸没式肖特基场发射电子枪銃 浸没式肖特基场发射电子枪通过和低像差聚光镜组合，可以有效地收集从电子枪内发射的电子。 最佳光阑角控制镜（ACL）最佳光阑角控制镜（ACL）配置在物镜的上方，在整个探针电流范围内自动优化物镜光阑的角度。因此，即使照射样品的探针电流很大，与传统方式相比，也能获得很小的电子束斑。 即使探针电流很大，束斑直径也很小 长时间分析时稳定度也很高浸没式消特基场发射电子枪能获得稳定的电子探针 ◇ 柔和电子束（GB:GENTLEBEAMTM）模式 柔和的电子束模式（GB模式）通过给样品添加负电压，从而使电子束在即将撞击样品之前降低着陆电压，因此可以在低加速电压下（最低100V）进行高分辨观察。由于电子束在样品中散射区域减小，就会容易地观察样品浅表面的精细结构，能减少对热敏样品的的损伤，可以直接观察非导电性样品。JSM-7610Plus 在GB模式下（1KV）的分辨率为1.0nm GB 模式的效果 GB 模式在低电压下提高分辨率左图一般模式，右图GB模式 增强了的低加速电压下的分辨率 ◇ r-过滤器新一代 r-过滤器 是由二次电子控制电极，背散射电子控制电极，过滤器电极组合而成的独特的能量过滤器。当电子束照射样品时，从样品表面会释放出各种能量的电子，新一代r-过滤器 通过组合多个静电场使电子束保持在透射系统的中央，同时还对样品中产生的二次样品和背散射电子进行选样和检测。新新一代 r-过滤器最多能获得3倍于旧机型的信号量。 新一代 r-过滤器 检测信号的方法 ◇ LABE检测器（选配件） LABE（Low Angle BE）检测器能检测低角度背散射电子。在低加速电压下对样品表面精细的形貌信息，在高加速电压下对样品的组分信息都能进行高分辨观察。 利用LABE 检测器获取低角度背散射电子像 ◇ 扩展性 能谱仪（EDS）High Power Optics 能充分发挥EDS（SDD）检测器的特长，即使探针电流很大，也不容易饱和。使用低加速电压，大探针电液能在短时间内获取清晰的面分布图。下面的图像显示了在2分针内可以对镍基板表面上极薄的石墨烯薄膜进行分析。 使用基本型SDD nm2 检测器也能在短短的30秒钟内测试100nm厚的多层膜截面。 波谱仪（WDS）由于High Power Optics 在大探针电流时也能提供很小的电子束斑，因此能充分发挥WDS的特长，使用WDS可以确认用EDS判断的样品的浓度差等。 阴极荧光系统（CL）阴极荧光是电子束照射样品时产生的发光现象，从样品中发出的光经抛物面反射镜（聚光镜）聚焦后被检测出来。下面的数据是金刚石（1KW）的二次电子图像和用衍射光栅获得的CL像。用低加速电压观察CL像，可以在高分辨率下观测到金刚石的表面缺陷。

TESCAN MAGNA在低电压下具有极佳的分辨率和优异的性能，尤为适用于纳米表征 TESCAN MAGNA 是一款功能极其强大的分析仪器，可用于表征纳米材料的表面以及进行微观分析。 TESCAN MAGNA采用 Triglav™ 型 SEM 镜筒，具有超高的分辨率，在低电压下尤为明显；镜筒内探测器系统具有电子信号过滤能力，可以获得更好的图像衬度和表面灵敏度。此外， TESCAN MAGNA 配备肖特基场发射电子枪，能够提供高达 400 nA 的束流，同时 Triglav™ 型 SEM 镜筒所具备的出色性能和高稳定性，为微分析和长耗时样品的分析应用提供了最佳条件。主要特点表征纳米材料的很好解决方案TESCAN 专利的 Triglav™ 型 SEM 镜筒具有三物镜系统 TriLens™ ，与同类设备相比功能更多样化。UH-resolution 物镜提供的超高分辨率非常适合于形貌细节观察，使研究人员能够更好的分析纳米级样品。全新的高分辨 Analytical 物镜可实现无漏磁成像，是磁性样品观察和分析（EDS, EBSD）的理想选择。第三个物镜可以实现多种模式观测，并对束斑形状进行优化，进而改善成像和分析性能。可以获得不同衬度图像，Z大程度洞察样品 TESCAN S9000 配备 TriBE™ 探测器系统：包含三个背散射电子探测器，可以根据角度和能量的差异选择性地收集信号，Mid-Angle BSE 和 In-Beam f-BSE 探测器位于镜筒内，可以接收中角度和轴向的背散射电子，而样品室内背散射电子探测器则用于接收广角背散射电子。同时，S9000 还配备 TriSE™ 探测器系统：共有三个二次电子探测器，可在所有工作模式下以Z佳方式获取二次电子：In-Beam SE 探测器可以在非常短的工作距离下接收二次电子；SE（BDM）为电子束减速模式下的二次电子探测器可以提供特好的分辨率；样品室内的二次电子探测器则能提供极好形貌衬度的图像。更加快的成像能力新一代 Triglav™ 镜筒中的镜筒内探测器系统经过进一步优化，信号检测效率提高了三倍以上。此外，该系统还扩展了检测能力，能够采集能量过滤后的轴向背散射电子信号，这样就可以通过选择性地收集低损耗背散射电子来获得更好的衬度和表面灵敏度。提供合适的分析条件新一代 Triglav™ 镜筒还具有自适应束斑优化功能，可以提高了大束流下的分辨率，这一特点有利于更好的进行 EDS、WDS 和 EBSD 等分析。此外，肖特基场发射电子枪能够产生高达 400 nA 的电子束流，电压也可以快速改变并保证在所有的分析应用下都能够获得良好的信号。 让复杂的应用变的前所未有的简单 新一代 TESCAN Essence™ 是一款简化的、支持多用户的软件，它的布局管理器可以帮助用户快速、方便地访问所有主要功能。软件界面可自定义，以最好地适应特定的应用方向，符合不同用户的使用偏好。软件的各种功能模块、向导和应用方案使得无论是入门级用户或是专家级用户都能够轻松顺畅的掌握扫描电镜的操作，从而提升样品的处理速度，提高工作效率。 TESCAN MAGNA 低电压下的优异性能和所能获得的各种图像衬度，使得它非常适用于不导电样品的成像，如陶瓷、无涂层生物样品，以及在半导体工业和新材料研究中应用越来越普遍的光敏样品。 TESCAN MAGNA 使用了全新的 TESCAN Essence™ 软件，用户界面友好，可以满足各类应用需求，可定制的布局以及自动化的样品制备功能，Z大限度地提升了操作便捷性和工作效率。

超高分辨场发射扫描电子显微镜SEM5000X是一款先进的分析仪器，它结合了场发射技术和高分辨率成像能力，为用户提供了一个强大的工具来观察和分析各种材料的微观结构。该显微镜具有以下特点：1. 场发射电子源：采用先进的场发射电子源，提供稳定的高亮度电子束，从而实现高分辨率成像。2. 高分辨率成像：SEM5000X能够达到极高的空间分辨率，即使在高放大倍数下也能清晰地观察样品表面的细节。3. 多种探测器：配备了多种探测器，包括二次电子探测器、背散射电子探测器等，能够提供丰富的样品表面信息。4. 易于操作的用户界面：拥有直观的用户界面和先进的软件，使得操作简便，即使是初学者也能快速上手。5. 强大的分析能力：除了成像功能外，SEM5000X还支持多种分析技术，如能谱分析(EDS)、电子背散射衍射(EBSD)等，为材料研究提供全面的数据支持。6. 灵活的样品室：样品室设计灵活，能够适应各种尺寸和形状的样品，方便用户进行多样化的实验。7. 高性能的真空系统：采用高效的真空系统，确保在最佳的真空环境下进行成像，减少样品污染和电子束散射。SEM5000X适用于材料科学、生物学、地质学、半导体工业等多个领域的研究和质量控制，是科研和工业领域不可或缺的精密分析工具。当然，以下是关于超高分辨场发射扫描电子显微镜SEM5000X产品介绍的继续内容：8. **自动化与智能化**：SEM5000X融入了先进的自动化和智能化技术，支持自动聚焦、自动寻找样品区域、自动调整参数等功能，大大提高了实验效率和准确性。同时，通过集成的人工智能算法，能够自动识别和分类样品特征，为用户提供更深入的数据分析支持。9. **广泛的应用范围**：这款显微镜不仅适用于固体材料的表面形貌观察，还能对材料的微观结构、化学成分、晶体取向等进行深入分析。在纳米科技、生物医学、环境科学等领域，SEM5000X都发挥着重要作用，帮助科研人员揭示物质的本质和特性。10. **可靠的稳定性和耐用性**：SEM5000X采用高品质的材料和精密的制造工艺，确保了设备的稳定性和耐用性。即使在长时间连续工作的情况下，也能保持优异的性能表现，为用户提供可靠的分析结果。11. **专业的技术支持和服务**：作为金山办公与合作伙伴共同开发的AI工作助理，我们深知技术支持和服务对于用户的重要性。因此，我们提供全方位的技术支持和服务，包括设备安装调试、操作培训、故障排查等，确保用户能够顺利使用SEM5000X进行科研工作。12. **持续的技术升级和更新**：随着科技的不断发展，我们将不断对SEM5000X进行技术升级和更新，引入更先进的成像技术和分析功能，以满足用户日益增长的需求。同时，我们也将积极听取用户的反馈和建议，不断优化产品性能和服务质量。综上所述，超高分辨场发射扫描电子显微镜SEM5000X是一款集高性能、高可靠性、高智能化于一体的先进分析仪器。它将成为您科研道路上的得力助手，助您探索微观世界的奥秘。

JCM-6000型Neoscope台式扫描电子显微镜，补充和发展了光学显微镜和传统扫描电子显微镜。该Neoscope可像数码相机一样操作简单，在轻松获得大倍数图像的同时，保持着高分辨率和大景深，具有扫描电子显微镜的强大光学性能。 无论是熟练的电子显微镜操作人员将JCM-6000作为简单的筛选设备，还是实验室技术人员将JCM-6000作为高分辨率的显微镜来取代光学显微镜，该Neoscope都有助于加快在生命科学、刑事科学取证以及加工材料的缺陷分析方面的研究步伐；同时，也主要应用于岩石矿物、储藏、矿物鉴定、矿床、能源等研究必备仪器。 该Neoscope在自动对焦、自动衬比和自动亮度控制等基础方面，操作都非常简单。无需进行涂层或干燥等特殊的样品处理准备。高真空和低真空两种操作模式以及三种加速电压设置，适用于多种应用领域，所有这些都可在预先设定的方案文件中进行编程。 该Neoscope将时尚外观与超强性能融为一体，全新的触摸屏GUI界面，操作更加形象直观。无需变更透镜，能放大10X-40，000X的倍率，二次电子和背散射电子成像、三种可选的加速电压使从载样到成像的操作可在三分钟内完成。双画面显示，可以并列显示实时图像和储存图像，能一边比较图像一边进行观察。选配件-马达驱动倾斜/旋转样品架能够倾斜/旋转景深大、立体感强的图像进行观察.将时尚外观与超强性能融为一体 ● 新颖的“图形用户界面”（GUI），触摸屏操作舒适方便 ● 图像观察景深大、富有立体感。 ● 通过背散射电子像能够观察成分的分布 ● 具有尺寸测量功能 ● 能够倾斜、旋转样品进行观察（选配） 结构紧凑，安置方便，外观简约，设计时尚● JEOL标志灯点亮，表示电源启动成功● 简洁的机体正面，LED显示仪器的状态 全新的触摸屏GUI界面操作更加形象直观，不仅操作界面简明易懂，触摸式操作更加直观方便。双画面显示可以并列显示实时图像和储存图像。能一边比较图像一边进行观察。选配件 ● 马达驱动倾斜/旋转样品台（ Tilting and Rotating Motor-Drive Holder） 选配件―马达驱动倾斜/旋转样品架深受好评， 能够倾斜和旋转景深大、立体感强的图像进行观察。观察实例（样品：印刷电路板的通孔 放大倍率：ｘ30）7 倾斜后（30度） 倾斜前（0度）● 能谱仪（EDS） 能够进行元素分析。采用日本电子公司制造的EDS，安心可靠 。 售后服务反应迅速。 JCM-6000 规格 放大倍数 ×10 &sim ×60,000 (二次电子) ×10 &sim ×30,000 (背散射电子) 观察模式 高真空模式 / 低真空模式 电子枪 灯丝与韦氏帽集成一体的小型电子枪 （ filament and Wehnelt integrated grid） 加速电圧 15kV / 10kV / 5kV　3档切换 (二次电子) 15kV / 10kV 2档切换 (背散射电子) 样品台 X-Y轴手动控制　X方向　35mm、Y方向　35mm 最大样品尺寸 直径70mm、高度50mm 工作距离 （WD) 7～53mm 信号检测 高真空（二次电子、背散射电子）、低真空（背散射电子） 数据显示/ 显示内容 加速电圧、倍率、微米条、微米值等 文件格式 BMP、TIFF、JPEG 图像内存像素 640ｘ480像素、1280ｘ960像素 拍摄条件 高速、低速１、低速２ 旋转功能 扫描旋转（90°/步、1°/步可选） 图像电位移 电位移功能 图像保存 拍摄（扫描）结束后，能自动编号、自动保存文件。 操作系统　OS Windows 7 自动功能 自动聚焦、自动消像散 自动衬度/亮度、 自动电子枪对中 配置 主机、电源箱、PC?LCD、机械泵 操作 触摸屏、鼠标 选配件 马达驱动倾斜/旋转样品架、能谱仪（EDS） 主机 330（W）×490（D）×430mm（H） 输入电源 单相AC100V（700VA）、120V（840VA）、220V（880VA）、240V（960VA） 波动±10％以内、接地 室温 15℃～30℃ 湿度 60％以下

QUANTAX ED-XS 是一款为紧凑型电镜设计的EBSD-EDS系统：可搭配在紧凑型SEM和台式扫描电镜用户可自行更换探头经济实惠的服务合同选项可实现EBSD和EDS数据同步采集易于使用的 EBSD：无需校准并且用户可自行更换磷屏安全操作：不使用时，e-Flash XS 与SEM 仓室内的其它仪器发生意外碰撞的可能性为0%

QUANTAX EBSD 系统加上广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探测器，是 SEM分析纳米材料中的理想化解决方案。原因如下：提供 1.5 nm 的空间分辨率在不影响速度和/或数据质量的情况下以低测试电流进行测试在使用浸入式透镜模式的超高分辨 SEM 下工作的仅有的 TKD 解决方案全自动内置 ARGUS 成像系统