薄膜样品

我们这边测试薄膜样品时，以前都是用的20KV的电压，可最近发现一些薄膜样品上出现裂痕的现象，是不是电压设置高了还是怎么回事呢？可是以前都是好的啊！请教各位了

从开始学电镜，一直做得是薄膜对粘样品，偶尔做粉末，陶瓷块体的，但是对粘样品到现在也没做出来几个满意的样品，先说下我的过程，对粘后两面磨到30um以下，以前钉薄过，但是总是不小心钉碎，就直接磨薄上PIPS了，PIPS先是4kev 6°打一段时间，后来改成4°，出洞后低能清损伤。我的经验是：（1）薄膜对粘时，涂的G2胶尽量少且均匀，最后电镜下看到中间胶的厚度为500nm左右，否则胶太多，PIPS时胶都把薄膜粘掉了。（2）样品对粘后磨第二面一定要小心，不能出现大的划痕，否则PIPS很容易碎掉。（3）用内孔径小一点的铜环或钼环支撑时不容易磨碎。（4）PIPS时有的样品加液氮会好一些目前想起来也就这些，大家能不能分享下各自的经验啥的，PIPS时用的能量大小，角度大小啥的，这个对粘样品太纠结了，总是出现各种状况，我做的样品，磨得时候还好，PIPS后，要么碎掉一块，就没有薄区，要么洞周围薄区很少，完美的样品没有几块。

薄膜断面样品制备时,用离子减薄穿孔后,再小角度减,一般要减到什么程度为止

薄膜样品，镀在玻璃片上的硅薄膜，怎样才能把其制成透射样品。[em61] [em62]

我想作薄膜样品的DSC，不要破坏样品！各位大侠！help！

大家好： TEM薄膜样品（无机）制作分为机械减薄，手工研磨，离子减薄。在手工研磨时不知需要哪些试剂，工具。 还请描述的详细一点。

在做薄膜的平面样品时,采用了单面减薄,但是最后另外没有减的那面好象有东西附着,颜色变了,是因为单面减的原因?还是样品室被污染了,或者太热造成的.请高手指教啊,急的,谢谢!!!

如果做薄膜样品断面的扫描电镜,该怎么制样呀,厚度大概在几百个微米,上面涂了3层.谢谢!!!!

各位专家：我的测量物品是薄膜，大约50微米厚，请问可不可以直接用广角X射线衍射测量，若不能，需要怎样制作样品？

我制备的无机薄膜材料样品非常不好在扫描电镜下观看发现断口不平齐膜面翘起或者撕掉了，没有像别人文献里那样整齐清晰的断面按说高分子等有机膜会出现这种情况，需要液氮冷冻后脆断我的样品是5mm白玻璃上镀的SnO2和ITO膜，分别用APCVD和磁控溅射镀上去的这种无机硬膜也会翘起？不知道各位是怎样制备薄膜样品的小弟初来乍到，希望各位不惜赐教哈～

最近做的块体薄膜样品，用G2胶对粘之后，要么用切割机切成小块时开了，要么是磨样品磨着磨着开了，觉得很奇怪，胶水是好的，别人用都是正常的，样品清洗也比较干净，以前从未遇到过这种情况，样品薄膜很薄，大概十几纳米把，求助一下有谁遇见过类似情况吗？

为了进行圆二色谱（CD谱）测试，要在石英片上制备薄膜样品。这里用薄膜而不是溶液是因为这种特殊材料在溶液中没有旋光性，但是薄膜样品才表现出材料的手性。第一个问题：对于这个特殊的情况大家有没有遇到过？这样就只能通过旋涂（spin-coating)的部分在石英片上旋涂样品薄膜了。但是问题是这种样品是以氯仿为溶剂的，氯仿由于疏水性较强很难在石英片上形成均匀薄膜。于是引发了第二个问题：怎样在石英片上，以采用氯仿等作为溶剂的疏水性溶液制备均匀的薄膜样品？各位有什么建议？谢谢[em17] [em24] [em23] [em28]

我有一个薄膜样品，亚稳态的非晶材料，几十纳米，生长在玻璃上。请问如何制备TEM样品？谢谢了先！

小弟初来乍到，有一个问题想求教各位：我的样品是聚合物薄片上的有机薄膜，总厚度可能有毫米级了，上面的薄膜样品约有几十个微米，想观察基地上薄膜的断面形貌。所以整个样品就是很韧的聚合物膜（包括基底），不像成在硅片上这个好制备。用液氮脆断似乎也很困难，而使用超薄切片似乎也不合适。如果想做出一个不破坏基材结构的断面的话，大家有什么建议呢？？？十分感谢回复及关注的XDJM～

我用离子束溅射沉积的纳米薄膜，由于在试样切割和测试时表面不小心印上了手印，还有其他的一些类似尘土之类的东西，不知道用什么试剂擦洗一下可以不破坏和污染薄膜表面？薄膜厚度在100nm以内，实在不敢做传统的金相处理，请大家帮忙！

天瑞EDX1800B随机送的样品薄膜用完了，但不知道用的是哪种型号的薄膜，上淘宝搜了有很多种，而且特别贵，这个型号的仪器用的是哪种？有什么差异吗？为什么一定要用这么贵的薄膜，普通的保鲜膜不可以吗？

天瑞EDX1800B随机送的样品薄膜用完了，但不知道用的是哪种型号的薄膜，上淘宝搜了有很多种，而且特别贵，这个型号的仪器用的是哪种？有什么差异吗？为什么一定要用这么贵的薄膜，普通的保鲜膜不可以吗？

请问做一个薄膜样品的tem需要多少钱？

我的薄膜样品沉积在3*3*0.5mm的衬底上，想测薄膜的透射光谱。但是，因样品太小，无法夹在样品架子上，不知道有没有什么好的办法？

求教高手：分光光度计添加一个反射附件（有反射角或积分球）用来测量薄膜样品的表面反射率已经是一个逐渐广泛应用的手段了。问题是：使用有角度的反射附件或积分球时，是用基准镜或副白板做参比样品还是使用与样品有关的基片做参比？

TEM截面制样，包括：第一，对粘10分钟，将薄膜清洗后，相对地用AB胶粘住。第二，烘干2h，将胶水热固化。第三，冷却1h，自然冷却固化好的样品。第四，腊粘2h，将对粘样品用腊粘在研磨托上，并自然冷却。第五，研磨2h，分别用500，1000，2000，3000和5000号砂纸研磨并抛光表面。第六，反粘2h，将抛光面反粘在研磨托上，并自然冷却。第七，研磨3h，分别用500，1000，2000，3000和5000号砂纸将样品研磨到小于10微米，并抛光表面。第八，去蜡5h，用丙酮浸泡自然去蜡。第九，粘环3h，将样品用AB胶粘在铜环上，热固化并自然冷却。第十，离子减薄2h，用离子减薄制作薄区。

我测得是沉积在si片上的薄膜，放在固体样品支架上很难测到峰，要不停的换位置，可能运气好才能测到 。是不是我的片子太小了的原因？还有他的强度和片子大小有关系吗？

薄膜样品如何测紫外可见光吸收光谱？直接测量就可以吗？好像看文献都是把薄膜样品刮下来，溶解在溶液里然后再测，是不是这样？另外看到紫外吸收光谱图，横坐标为wavelength/nm是波长，纵坐标是Reflectance /a.u.作何解呢？单位是什么？本人对分析化学实在不是很懂，忘大侠们指教，多谢！

材料的价带谱既可以利用紫外光电子能谱（UPS）得到，也可以在测量 X 射线光电子能谱（XPS）时测得。透明薄膜样品在测量价带谱时存在对焦困难的问题，如果调节高度有误将导致谱峰灵敏度降低、信噪比变差，因此透明薄

我想求购一台XRF，笼统的要求大概如下：1，以测试薄膜样品为主；2，检测元素范围从Na开始最好；3，测试样品面积较大（大于300mm*300mm） 能满足前三项要求的，请予以联系我。yulafeng@yahoo.cn

10-20um的塑料薄膜上镀有10-30nm的金属层，想通过断面确定镀层的厚度，怎么制样才能得到不被破坏的截面？

[em0709] [img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=67852]金属薄膜样品的制备方法[/url]

我是做超导薄膜的，让薄膜外延生长在陶瓷材料上，然后做成截面电镜样品。但我有个问题：薄膜导电，但是陶瓷不导电，我用在样品上喷碳吗？不喷碳能不能看啊？谢谢各位指点。

我是新手，请教，什么型号的紫外分光光度计可以测薄膜样品？[em31]

谁能告诉我，什么型号的紫外分光光度计可以测薄膜样品？