薄膜样品

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Prolene膜、ROHS测试膜、XRF有方形托架的圆片薄膜--美国Chemplex--3018# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。 品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO：3018产品信息：Prolene膜，厚度4.0μm，直径63.5mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 现货供应：XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。

chemplex样品薄膜型号：090，250品牌：chemplex产地：美国 一、产品介绍： 在用x荧光光谱仪进行rohs检测，weee检测和一般材料成分分析时，由于样品的不规则（特别是液体、粉末等），需要借助样品杯和薄膜辅助检测；但不合适的样品薄膜往往造成样品污染并影响材料成分分析的x射线信号和检测结果。选择适当的薄膜材料对于分析结果至关重要。 在现有的众多不同的物质类型中，只有为数不多的几种具备能满足光谱化学需要的一致性和化学、物理属性。 如何选择薄膜样本支撑窗材料？适当的薄膜样本支撑窗的选择主要以满足首要重要的实验室要求为基础： 使用方便快捷； 避免造成待测样品污染； 优越的分析物透射比与强度； 对待测样品的耐化学性。chemplex industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是x射线光谱仪（xrf）配件耗材领域的全球知名厂商。chemplex xrf样品杯和样品薄膜用于rohs、weee专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的x射线荧光光谱仪。chemplex样品薄膜薄膜张力特性极/佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注，使得chemplex xrf样本杯、样品薄膜在xrf物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。chemplex的许多xrf样本杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国专利商标局授予知识产权地位。美同达作为美国chemplex公司的中国代理商，提供chemplex所有系列用于对应欧盟rohs和weee环保检测仪器——x射线荧光光谱仪（xrf）的检测实验消耗产品！我们不仅能够为您提供样品薄膜、样品杯, 还可根据您的样品应用为您选择、定制合适的样品薄膜、样品杯。 二、适用仪器：德国斯派克spectro、英国牛津oxford、日本堀场horiba、飞利浦/帕纳科philips/panalytical、德国布鲁克 bruker、美国赛默飞世尔科技（热电）thermo，瑞士arl及日本理学rigaku, siemens, spectrace,jordan, kevex, metorex,fisons, asoma，venus 200,valley等生产的x荧光光谱仪(xrf)。（适用x 射线荧光光谱仪品牌型号：所有x射线荧光光谱仪包括：尼通(niton)：xlt797z 、xlt794、xlt898 ；伊诺斯(innov-x)：alpha6000；牛津(oxford)：met-5000；帕纳科(panalytical)：minipal4、 minipal2；精工(seiko)：sea1000a；斯派克（spectro）：xepos、midex m；热电(thermo)：arl quant’x；日本电子（jeol）jsx－3400r；horriba等。） 三、spectromembrane® 样品薄膜随着spectromembrane® 样本支撑托架的面世，在处理薄膜时用户不再需要担心静电附着或潜在的污染风险或吸引空中颗粒等问题。除样本杯外，薄膜不再近距离接触其它任何物体。薄膜处理将通过使用集成的托框完成，托框能够在组装过程中自动分离，留下绷紧的薄膜样本平面。spectromembrane® 薄膜样本支撑托架由一块粘在托架上作为支撑物的薄膜样本支撑物质组成。在把薄膜物质粘在xrf样本杯上时，薄膜物质并不会被直接处理，这就消除了污染的可能性。接近完成或在完成附着时，薄膜将自动从托架上分离，留下绷紧的无皱样本支撑窗。

X-RAY样品膜、XRF測試用的Prolene膜、XRF样品膜、ROHS测试膜、迈拉膜--美国Chemplex 416# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。 品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO：416产品信息：Prolene膜，卷轴，厚度4.0 μm，宽7.6cm x 长91.4m，1卷/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 产品详细信息：Pre-Perforated Thin-Film Sampel SupportsPROLENE® FILMCAT. NO：416Gauge：0.00016”，4.0 μm；0.16mil，40,640ATypical Impurities，PPM：Ca, P, Fe, Zn, Cu, Zr, Ti, AlChemplex® INDUSTRIES，INC.ROLL：3” x 300’ (7.6cm x 91.4m)； Lot No：082176。 现货供应：XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。

1，适用于测试玻璃，薄膜等透明固体样品2，适用于本公司所有常规型号光度计

SpectroMembrane® 薄膜样品载体框架由薄膜样品载体物质组成，该薄膜样品载体物质附着在用作载体的框架上。在将薄膜物质粘贴到XRF样品杯时，不直接处理薄膜材料并且完全消除污染可能性。接近或完成附着时，薄膜自动从载体框架上分离，留下一个拉紧的无褶皱样品支撑窗口。用户选择的薄膜样品支撑窗口连接到处理框架上，以便连接到Chemplex® 样品杯

产品特点：薄膜铝样品架薄膜铝样品架（产品编号204-58909） 所有机型通用用于夹住薄膜或滤光片等薄状样品进行测定的池架。测定试样的尺寸最小16(W)×30(H)mm 最大80(W) × 40(H) × 20(t)mm请注意使用UVmin 系列，MultiSpec-1500 时，需用样品室组件（产品编号 206-60184)。钕镨混合稀土滤光片（产品编号202-30242）钬滤光片（产品编号202-30242-05）（所有机型通用）样品室连样品室组件样品室组件（产品编号206-60184）（用于UVmini 系列，MultiSpec-1500）在UVmini 系列和Multispec-1500 上使用其他各类比色皿（微量池，微量流动池，方形长吸收池，圆筒池，薄膜架，恒温池等）时需用此样品室组件。取下标准池架，换装上该样品室组件即可。联池样品室在样品一侧最多可安装6 个10mm 方形池的比色皿定位装置。没有调温功能。吸收池数： 样品侧…6 个 参比侧…1 个（UVmini-1204 用只有样品侧）※ 吸收池不包括其中，请另购。订购信息：样品室 品名 产品编号 Uvmini 系列 1750 系列 2600/2700 系列 3100 系列 MultiSpec -1500204-00850-01○○○×○204-06158×××○×联池样品室 品名 产品编号UVmini系列1750系列2600/2700 系列MultiSpec -1500206-60605-02○××○206-69160×○○×

薄膜铝样品架薄膜铝样品架（产品编号 204-58909） 所有机型通用用于夹住薄膜或滤光片等薄状样品进行测定的池架。测定试样的尺寸最小 16(W)×30(H)mm最大 80(W) × 40(H) × 20(t)mm请注意 使用 UVmin 系列，MultiSpec-1500 时，需用样品室组件（产品编号 206-60184)。钕镨混合稀土滤光片（产品编号 202-30242）钬滤光片（产品编号 202-30242-05）（所有机型通用）

土壤样品杯膜、XRF測試用的麥拉膜材質、美国Premier样品膜TF-260#（SKY-260） permier新产品SKY-260: 裁剪更方便 catalong NoFilm TypeSKY-115TF-115SKY-125TF-125SKY-130TF-130SKY-135TF-135SKY-160TF-160SKY-240TF-240SKY-260TF-260 迈拉膜、样品薄膜、麦拉膜、XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品薄膜、EDX薄膜、样品薄膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪用样品膜、光谱仪样品薄膜 本公司供应美国premier所有型号产品，欢迎采购， 卷：( 直径：3.0" (76mm)；91.4m卷/盒) 序号CAT.No薄膜材料厚 度1TF-260#Polypropylene膜6.0μ(0.24mil) 品名：XRF样品膜Sample Film 型号： CAT. NO TF-260# 品牌：美国Premier Lab (原装进口） 货期：现货 起订量：1盒以上。 一、美国Premier XRF样品膜：美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film）以其极低的（几乎不含）杂质和厚度均匀而严格生产，极好的柔韧性和抗化学腐蚀性，保证检测结果的可靠性和重现性，被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。 二、Premier 样品膜特点： 有卷状和片状，多种规格、尺寸、数量可供选择； 柔韧性强、方便、耐用； 的X-ray射线穿透性，适合各类XRF光谱仪； 的抗化学腐蚀性能，不溶于有机溶剂，不污染待测样品； （几乎不含）痕量杂质，特别适合于轻质元素的限量检测。 三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录：美国Premier X-ray样品膜种类：（1）、Hostaphan膜；（2）、Kapton膜：聚酰亚胺膜，卡普顿膜；（3）、Mylar膜：聚酯薄膜，迈拉膜，麦拉膜；（4）、Polypropylene膜：聚丙烯膜。目录编号：CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述 TF-260 Polypropylene膜 6.0μ(0.24mil) 76mm x91.4m 1卷/盒 Polypropylene Rolls连续卷轴

Chemplex样品薄膜、麦拉膜、迈拉膜、XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品薄膜、EDX薄膜、样品薄膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品薄膜、CAT.NO：106麦拉膜、CAT.NO：150麦拉膜、CAT.NO：250麦拉膜、CAT.NO：256麦拉膜、CAT.NO：257麦拉膜、CAT.NO：416麦拉膜、CAT.NO：426麦拉膜、3014麦拉膜、欢迎咨询 美国Chemplex 杯膜 XRF样品杯，又名X荧光光谱仪样品杯、XRF样品杯、X-ray光谱仪样本杯、ROHS专用样品杯、高纯度聚脂测试杯，是应用于X荧光光谱仪XRF上的一次性量杯，广泛应用于牛津、斯派克、岛津、热电、帕纳科、日本理学等各种品牌的XRF光谱仪。 产品类型：XRF样品杯Sample Cups 品 牌：美国Chemplex型 号：所有型号（欢迎来电索取产品目录）产 地：美国 产品介绍： Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注，使得Chemplex XRF样本杯在XRF物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国专利商标局授予知识产权地位。 Chemplex独有的SpectroCertified? X荧光光谱仪（XRF）样本杯的质量始于一种特别配置的聚乙烯！ Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令； 2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染； 6、低微量元素杂质。 Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的全球知名厂商。从产品研发和设计新概念，在内部生产，Chemplex工业公司是形成了样品制备方法的基础的重大贡献。样本杯的设计始于一个开发一种用于承装和处理X射线分析的液体和粉末状样本物质的方法的创意。 谱飞科技作为美国Chemplex公司的中国代理商，提供Chemplex所有系列用于对应欧盟ROHS和WEEE环保检测仪器——X射线荧光光谱仪（XRF）的检测实验消耗产品！主要有：高纯度聚脂样品杯，铝制样品杯，样品薄膜等。 我们不仅提供各种尺寸和属性的XRF样本杯、样品薄膜，还能根据您的样品类型和仪器品牌/型号为您选择合适的样品杯、样品薄膜。 二、XRF样品杯尺寸、属性和仪器兼容性： 为了对样本杯与仪器提供的样本夹持设备（金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等）进行匹配，购买样本杯前请告知您使用的X荧光光谱仪品牌和型号，或请直接测量仪器样本夹持设备的内径、高度和孔径。 我们列出了各种类型的样本杯的属性以更好地服务于应用，有需要的客户请联系本公司。本公司免费为客户提供包括样品杯的式样、尺寸、价格、编号、适用仪器型号等信息的产品目录。 适用仪器： 德国斯派克Spectro、英国牛津Oxford、日本堀场Horiba、飞利浦/帕纳科Philips/Panalytical、德国布鲁克Bruker、美国赛默飞世尔科技（热电）Thermo，瑞士ARL及日本理学Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma，Venus 200,Valley等生产的X荧光光谱仪(XRF)。 （适用X射线荧光光谱仪品牌型号：所有X射线荧光光谱仪包括：尼通(NITON)：Xlt797z 、Xlt794、Xlt898 ；伊诺斯(Innov-X)：AlPHA6000；牛津(Oxford)：Met-5000；帕纳科(Panalytical)：Minipal4、Minipal2；精工(Seiko)：SEA1000A；斯派克（Spectro）：XEPOS、 MIDEX M；热电(Thermo)：ARL Quant’X；日本电子（JEOL）JSX－3400R；Horriba等。） 三、Chemplex产品系列： 注册商标有：Chemplex、SpectroCertified、SpectroSulfur?、SpectroMicro?、TrimLessTM、ThermoPlasticTM、TrimLessTM、FunnelShapeTM等XRF样品杯。 四、产品系列：1000系列带有紧固套的单和双开口32和40mm薄膜支撑样品杯,和带有紧固盖和排气室的45mm样品杯 1300系列带有旋转咬合盖和咬合圈的双开口32和40mm样品杯 1400系列带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯 1500系列带有多孔薄膜和咬合附件的双开口32和40mm样品杯 1545系列适用于样品表面水平和样品表面倾斜的XRF系统的样品杯 1700系列带有咬合排气和排气室的单开口32和40mm样品杯 1800系列带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯 1080,1085,1850系列带有排气装置和排气室的单和双开口47mm样品杯。 1、1000系列：TRIMLESS?套筒样本杯与SPECTROSULFUR?分析仪杯，TRIMLESS?套筒能套住薄膜样本支撑窗并清除过量剪屑。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix，Panalytical Venus与Rigaku（日本理学株式会社）仪器。产品编号：10601双开端、1065单开端、1070双开端、1075单开端、1080双开端、1083单开端、1085单开端、1095双开端带通风盖与球形柄。2、1300系列：可重复密封的可通风式XRF样本杯，集成外部溢流储液槽，并可选择使用集成的薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1330双开端、1330-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1340双开端。3、1400系列：单开端可通风XRF样本杯。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。 产品编号：1430单开口端ThermoPlastic?密封排气、1430-SE、1440单开口端密封排气、1440L* 特长单开口端。4、1500系列：双开口端XRF样本杯。 适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix等仪器。产品编号：1530 双开口端、1530-SE直接固定环带有集成的薄膜修整器、1540 双开口端。5、1600系列：狭缝通风样本杯盖，适用于1500系列XRF样本杯。样品编号：1630样本杯盖、1640样本杯盖。6、1700系列：集成的咬合式通风XRF样本杯。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1730 咬合式通风、1730-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1740Snap-Post通风。7、1800系列：单开口端XRF样本杯，集成的外部溢流储液槽，通风装置；与可选用的集成薄膜样本支撑窗修整器。 适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1830 ThermoPlastic?密封通风、1830-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1840ThermoPlastic?密封通风。8、1850系列：单开口端SPECTROSULFUR?分析仪样本杯，Thermoplastic Seal?通风，集成外部溢流储液槽和排泄装置，适用于X射线光学系统“SINDIE?”仪器与其它硫分析仪。9、1900系列：双开口端XRF样本杯，顶部样本注入与可选用的集成薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器；适应于Oxford Lab-X仪器。产品编号：19301双开口端、1930-SE1直接固定拥有集成的薄膜修整器、19401双开口端、1940L2 双开口端。10、1935-OX系列：双开口端XRF样本杯与通风盖，适用于牛津分析仪。用作替换的腔室和盖子，适用于牛津CK-100，耗材元件，零件编号54-CK-100。11、2100系列：双开口端TRIMLESS?套筒XRF样本杯、内部溢流储液槽，通风的直接固定盖，TRIMLESS?套筒薄膜样本支撑窗附着。产品编号：2132 、2135、2140、2143、2144、2145、2146、2195。12、3100系列：SPECTROMICRO?样本杯，采用“FUNNELSHAPE?”（漏斗形）样本杯技术。产品编号：3106、3110、3115、3120。更多信息咨询美同达科技

岛津 UV 薄膜铝样品架 薄膜铝样品架（P/N 204-58909） 适用范围：所有机型通用 用途：用于夹住薄膜或滤光片等薄状样品进行测定的池架。 测定试样的?最小尺寸：16（W）*30（H）mm 测定试样的?最小尺寸：80（W）*40（H）*20（t）mm 请注意使用UVmini系列，MultiSpec-1500时，需用样品室组件（206-60184） 岛津 UV 薄膜铝样品架滤光片部件号描述适用范围202-30242钕镨混合稀土滤光片所有机型通用202-30242-05钬滤光片所有机型通用

薄膜铝样品架（P/N 204-58909） 所有机型通用 用于夹住薄膜或滤光片等薄状样品进行测定的池架。 ■ 测定试样的尺寸 最小16（W）*30（H）mm 最大80（W）*40（H）*20（t）mm 请注意使用UVmini系列，MultiSpec-1500时，需用样品室组件（206-60184）

迈拉膜、麦拉膜、XRF样品膜、EDX样品膜、X-ray样品膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、美国Chemplex样品膜-100# 品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO：100产品信息：Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜），卷轴，厚度2.5 μm，宽7.62cm x 长91.4m，1卷/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 一、简介美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的全球知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性极佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国**商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。 二、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 三、XRF样品膜目录：目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度（直径） 数量/盒 Rolls连续卷轴，宽7.6cm x长91.4 m： 100 Mylar® 迈拉 2.5 μ 0.00010” 0.10 mil 0.00254mm 7.6cm x91.4 m 1卷

美国Chemplex公司专业从事样品前处理设备、XRF耗材研发和生产，是X荧光光谱仪XRF配件耗材领域的全球知名厂商。美国Chemplex样品杯和样品膜广泛应用于X荧光光谱仪XRF的样品制备和分析检测过程，Chemplex样品膜薄膜张力特性佳，与Chemplex样品杯组合使用，可盛放各类金属重物、液体、浆状或粉末样品，适用于所有品牌厂家的X荧光光谱仪XRF。产品介绍：独有的SpectroCertified? X荧光光谱仪（XRF）样本杯的质量始于一种特别配置的高密度聚乙烯！ 样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。 产品规格：序号CAT.No薄膜材料厚 度1426Prolene® 4.0 μ 0.00406mmChemplex样品薄膜、麦拉膜、迈拉膜、XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品薄膜、EDX薄膜、样品薄膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品薄膜、CAT.NO：106麦拉膜、CAT.NO：150麦拉膜、CAT.NO：250麦拉膜、CAT.NO：256麦拉膜、CAT.NO：257麦拉膜、CAT.NO：416麦拉膜，美同达提供原装进口chemplex产品，具体货期以及产品信息请电话咨询

薄膜铝样品架 钕镨混合稀土滤光片 （P/N202-30242） 钬滤光片 (P/N202-30242-05) (所有机型通用)

XRF Sample Cup Thin-film Window Chemical Resistance Test PaperXRF 样品杯薄膜窗片防化学腐蚀试纸 产品货号描述若干圈/包6150化学防腐蚀薄膜窗口试纸500

x射线定硫仪消耗品样品薄膜，迈拉膜，样品杯 Chemplex样品薄膜 型号：090，250 品牌：Chemplex 产地：美国 一、产品介绍： 在用X荧光光谱仪进行ROHS检测，WEEE检测和一般材料成分分析时，由于样品的不规则（特别是液体、粉末等），需要借助样品杯和薄膜辅助检测；但不合适的样品薄膜往往造成样品污染并影响材料成分分析的X射线信号和检测结果。 选择适当的薄膜材料对于分析结果至关重要。 在现有的众多不同的物质类型中，只有为数不多的几种具备能满足光谱化学需要的一致性和化学、物理属性。 如何选择薄膜样本支撑窗材料？ 适当的薄膜样本支撑窗的选择主要以满足首要重要的实验室要求为基础： 使用方便快捷； 避免造成待测样品污染； 优越的分析物透射比与强度； 对待测样品的耐化学性。 Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的全球知名厂商。 Chemplex XRF样品杯和样品薄膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品薄膜薄膜张力特性佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注，使得Chemplex XRF样本杯、样品薄膜在XRF物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。Chemplex的许多XRF样本杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。 美同达为美国Chemplex公司的中国代理商，提供Chemplex所有系列用于对应欧盟ROHS和WEEE环保检测仪器——X射线荧光光谱仪（XRF）的检测实验消耗产品！ 我们不仅能够为您提供样品薄膜、样品杯, 还可根据您的样品应用为您选择、定制合适的样品薄膜、样品杯。 二、适用仪器： 德国斯派克Spectro、英国牛津Oxford、日本堀场Horiba、飞利浦/帕纳科Philips/Panalytical、德国布鲁克 Bruker、美国赛默飞世尔科技（热电）Thermo，瑞士ARL及日本理学Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma，Venus 200,Valley等生产的X荧光光谱仪(XRF)。 （适用X 射线荧光光谱仪品牌型号：所有X射线荧光光谱仪包括：尼通(NITON)：Xlt797z 、Xlt794、Xlt898 ；伊诺斯(Innov-X)：AlPHA6000；牛津(Oxford)：Met-5000；帕纳科(Panalytical)：Minipal4、 Minipal2；精工(Seiko)：SEA1000A；斯派克（Spectro）：XEPOS、MIDEX M；热电(Thermo)：ARL Quant’X；日本电子（JEOL）JSX－3400R；Horriba等。） 三、SPECTROMEMBRANE?样品薄膜 随着SpectroMembrane?样本支撑托架的面世，在处理薄膜时用户不再需要担心静电附着或潜在的污染风险或吸引空中颗粒等问题。除样本杯外，薄膜不再近距离接触其它任何物体。薄膜处理将通过使用集成的托框完成，托框能够在组装过程中自动分离，留下绷紧的薄膜样本平面。 SpectroMembrane?薄膜样本支撑托架由一块粘在托架上作为支撑物的薄膜样本支撑物质组成。在把薄膜物质粘在XRF样本杯上时，薄膜物质并不会被直接处理，这就消除了污染的可能性。接近完成或在完成附着时，薄膜将自动从托架上分离，留下绷紧的无皱样本支撑窗。 x射线定硫仪消耗品样品薄膜，迈拉膜，样品杯 106麦拉膜、CAT.NO：150麦拉膜、CAT.NO：250麦拉膜、CAT.NO：256麦拉膜、CAT.NO：257麦拉膜、CAT.NO：416、CAT.NO：426等Cat. No. Type Thickness Format Size Qty/Pack446-5 Kapton? 7.5 μm (0.3mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 50090 Ultra-Polyester? 1.5μm (0.06mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)95 Etnom? 1.5μm (0.06mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)100 Mylar? 2.5μm (0.1mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)100-PP Mylar? 2.5μm (0.1mil) Roll - PrePerf 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)106 Mylar? 2.5μm (0.1mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 500107 Mylar? 2.5μm (0.1mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 1000150 Mylar? 3.6μm (0.14mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)150-PP Mylar? 3.6μm (0.14mil) Roll - PrePerf 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)156 Mylar? 3.6μm (0.14mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 500157 Mylar? 3.6μm (0.14mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 1000250 Mylar? 6.0μm (0.24mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)250-PP Mylar? 6.0μm (0.24mil) Roll - PrePerf 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)256 Mylar? 6.0μm (0.24mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 500257 Mylar? 6.0μm (0.24mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 1000美国Chemplex工业公司自1971年成立以来，一直坚持专注于X射线光谱分析的样品制备领域，拥有多系列独有的特色产品线以及产权，以质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉全球。美国Chemplex公司一直以产品创新、质量保证、、服务周到、准时交货为原则，几乎所有的产品有库存。美同达代理美国Chemplex工业公司旗下系列产品：XRF样品杯、XRF样品膜、X-ray光谱仪样本杯、ROHS专用样品杯、符合ROHS方法的PE/PVC高分子聚合物（块/粉）、XRF/XRD化学试剂盒套包装等。全线供应给各大中石油、中石化、中海油旗下研发质检实验室，是一家专业的油品实验室进口配件耗材打包供应专家！

Prolene 样品薄膜 - （100/盒）Prolene Sample Film - Box of 100订货号：203984-01薄膜厚度：4um薄膜可与样品杯一起用作样品支撑窗口。只需将薄膜贴在新样品杯的一端即可。与Clora，Signal，Maxine和Phoebe台式分析仪配合使用适用仪器型号：HD Maxine® (#401754-02m)HD Maxine® with Accu-Flow (#401754-02mFT)Phoebe® (#401852-01m) Phoebe® with Accu-Flow (#401852-01mFT)Clora® 2XP (#402494-02mXR)Signal® (#401560-02m)已停产分析仪：HD Maxine® (#401617-01) HD Maxine® (#401754-02)

Polypropylene （聚丙烯）样品薄膜 - （100/盒）Polypropylene Sample Film - Box of 100订货号：200335-04薄膜厚度：12um薄膜可与样品杯一起用作样品支撑窗口。只需将薄膜贴在新样品杯的一端即可。与Rocksand分析仪配合使用。 适用仪器型号：HD Rocksand® (#402176-02)

Atlas™ 标准薄膜制样机与高温薄膜制样系统Specac的等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定，根据热压制膜原理，所得到的样品是纯样品，谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求，提供三种等厚度薄膜制样工具，不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜，还能将粒状，块状或板材，如药包材料，包装材料，特殊包裹材料等不规则的聚合物变成可以检测的薄膜。 GS15800高温薄膜制样系统技术参数： 最高操作温度高达400℃ 满足高端科研的要求 一周期40分钟 通过CE安全认证 集成的供热制冷设备? 2T的载荷极限 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250, 0.500mm 薄膜直径29mm 压力范围0-2吨 一体式加热盘系统 双数字显示，精度1度 安全切换装置：70℃ 切断加热希同/55℃ 重启加热系统 一体式冷却盘高温薄膜制样机P/N GS15800有一组加热板是嵌入到薄膜制样机中的，所以当P/N GS15800装载在压 片机上时， 是不需要额外的Atlas 加热压盘P/NGS15515的。订购信息GS15640标准薄膜制样机特点：独立加热压盘，满足不同直径薄膜需要独立冷却盘，可缩短制膜周期重现性哈，制备过程简单 制膜过程无需化学品，成本低6种不同厚度的垫圈，适合各种高分子材料技术参数： 操作温度高达300℃ 一周期30分钟 4T的载荷极限 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250, 0.500mm 薄膜直径29mm 双数字显示，精度℃ 可配套加热板P/N GS15515使用 冷却系统停止时切断加热系统 冷却水流速大于0.2/min时重启加热系统 独立冷却盒订购信息GS15640 Atlas™ 标准薄膜制样机包括: 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250和0.500 mm 垫圈铝膜 直径40mm(200 片)Specacards 卡夹式，圆形通光孔直径10mm，样品架(20张)不锈钢镊子GS15800 Atlas™ 高温薄膜制样系统包括: 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250and 0.500 mm 垫圈铝膜直径40mm(200 片)制作铝膜样品杯的工具Specacards 卡夹式，圆形通光孔直径10mm，样品架(20张)不锈钢镊子高稳定性及高精度的温度控制器(400℃) 薄膜制样套装GS15631 Atlas™ 标准型薄膜制样套装1包括: 薄膜制样系统(GS15640) 加热板和加热压盘以及数字全自动温控器(300°C) (GS15515)GS15633 Atlas™ 标准型薄膜制样套装2包括: 薄膜制样系统(GS15640)加热板和加热压盘以及数字温控器(300oC) (GS15515)15T手动液压机(GS15011)(对于GS15800,GS15631和GS15633，请指定220V或110V电压和使用的国家。)GS15800 Atlas™ 高温薄膜制样系统套装 包括: 高温薄膜制样系统(GS15800) 15T手动液压机(GS15011)(请指定220V或110V电压和使用的国家。)备件及耗材GS03800 卡夹式，圆形通光孔直径10mm，样品架 (100张/盒)GS03805 用于固定易伸缩薄膜样品的尼龙卡簧(20)GS03810 10mm x 25mm 矩形通光孔Specacards (100)GS03820 磁性薄膜样品架 圆形通光孔直径25mmGS15627 直径为40mm的铝膜(200)GS15641 冷却盒 用于标准薄膜制样系统 替换GS15642 标准薄膜制样压盘套装GS15629 标准薄膜制样机可替换的垫圈组件GS15805 高温薄膜制样机可替换的垫圈组件

成卷的或预先切成方形或圆形的Prolene，超聚酯，聚丙烯，Mylar，聚碳酸脂和聚酰亚胺样品支撑薄膜。 成卷的薄膜(7.6cm×15.2m） 正方形薄膜（63.5mm×63.5mm） 圆形薄膜（直径63.5mm） 多孔聚丙烯薄膜（6.4cm×5.1m）

specac_迷你等厚度薄膜制样套装 等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理，所得到样品是纯样品，谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求，提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜，还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。 视频：http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频

迷你薄膜制样套装一款5分钟就能实现红外透射分析专用的聚合物薄膜制样机特点：液压机与加热压盘以及温控器一体化的设计体积小巧，方便存储，携带薄膜重现性好，使用快捷 无需化学品，成本低,6种不同的垫圈这种设计允许加热板先进行预加热，温度升高至样品所需的熔点，并保持这个温度。样品在被引入到预加热板之前，薄膜制样机就可以独立的为几克的样品准备好相应的载荷和合适的定型圈。当薄膜制样机达到预设温度并稳定后，通常使用0.5T负载转动丝杆来热压薄膜。一旦从热压机上移走，低温块体薄膜制备制样机可以在冷却板上快速冷却到室温，压制成型的薄膜可以移除。薄膜样品可被镶嵌在一个3×2英寸的自粘帖卡片(Specacard) 上以用于红外透射光谱分析使用。与传统方法相比，这个过程可缩短薄膜制备的周期，实际上，制作一个薄膜样品的周期可小于5分钟。如何制备薄膜样品放置好隔热板, 选择好定型圈和较小的铝膜，放到下方组件上。1) 将样品放到铝膜的中央位置，然后在上面覆盖上较大的铝膜和上方组件2) 将准备好的以上组件整体放置到预加热板平面间，再施加1T位的载荷。3) 一旦样品完成压缩从压片机取出，分开组件，小心的将铝膜从样品上剥离。4) 制成的薄膜放入Specacard，然后一同放置到光谱仪器中进行分析。 技术参数： 快速，可重复的制备薄膜样品 样品熔点范围从室温到260℃ 标准薄膜厚度15,25，50, 100,250和500μm 直径15mm 压力范围0-2吨 制样包包括液压机和集成的加热板 周期5分钟 加热压盘直径25mm 加热压盘最大功率：35W 温度控制器：双数字显示，精度1℃ 加热压盘可调距离0-20mm 独立冷却盘 重量5.7kg 订购信息 迷你薄膜制样套装 GS03970 迷你薄膜制样套装 备件及耗材 GS03971 迷你薄膜制样组件 (包括压板组件，隔热板， 下压板组件，定型圈组件) GS03972 定型圈(15, 25, 50, 100, 250 和500 μm GS03973 铝膜(200 对) GS03974 迷你薄膜制样机冷却板 GS03975 迷你薄膜制样机压板(包括上压板，隔热板，下压板) GS03800 Specacards (100包) 直径10mm的圆形通光孔 GS15628 不锈钢镊子

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

Chemplex样品薄膜、麦拉膜、迈拉膜、XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品薄膜、EDX薄膜、样品薄膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品薄膜、CAT.NO：106麦拉膜、CAT.NO：150麦拉膜、CAT.NO：250麦拉膜、CAT.NO：256麦拉膜、CAT.NO：257麦拉膜、CAT.NO：416麦拉膜、CAT.NO：426麦拉膜、3014麦拉膜、欢迎咨询美同达！Cat. No.型号Open Ends开放口方试Outside Dia.外径Max O.D. 外径Height 样品杯高度Aperture 样品杯内孔径Vol.cc 毫升1060Double1.23" 31.2mm1.23" 31.2mm0.93" 23.6mm0.96" 24.4mm91065Single1.23" 31.2mm1.23" 31.2mm0.93" 23.6mm0.96" 24.4mm81070Double1.52" 38.6mm1.52" 38.6mm0.90" 22.9mm1.19" 30.2mm131075Single1.51" 38.4mm1.51" 38.4mm0.90" 22.9mm1.21" 30.7mm131080Double1.69" 42.9mm1.84" 46.7mm0.80" 20.3mm1.43" 36.3mm151083Single1.69" 42.9mm1.84" 46.7mm0.73" 18.5mm1.43" 36.3mm121085Single1.69" 42.9mm1.84" 46.7mm0.80" 20.3mm1.43" 36.3mm121095Double1.71" 43.4mm1.76" 44.6mm1.57" 39.9mm1.50" 38.1mm301330*Double1.21" 30.7mm1.21" 30.7mm0.90" 22.9mm0.97" 24.6mm71330-SEDouble1.21" 30.7mm1.21" 30.7mm0.90" 22.9mm0.97" 24.6mm71340Double1.54" 39.1mm1.54" 39.1mm0.91" 23.1mm1.26" 32.0mm121430*Single1.22" 31.0mm1.22" 31.0mm0.88" 22.4mm0.97" 24.6mm91430-SESingle1.22" 31.0mm1.22" 31.0mm0.88" 22.4mm0.97" 24.6mm91440Single1.55" 39.4mm1.55" 39.4mm0.88" 22.4mm1.27" 32.3mm151440LSingle1.55" 39.4mm1.55" 39.4mm1.38" 35.1mm1.28" 32.5mm251530*Double1.22" 31.0mm1.22" 31.0mm0.91" 23.1mm0.94" 23.9mm91530-SEDouble1.22" 31.0mm1.22" 31.0mm0.91" 23.1mm0.94" 23.9mm91540Double1.55" 39.4mm1.55" 39.4mm0.91" 23.1mm1.22" 31.0mm161630N/A1.26" (32mm)N/AN/AN/AN/A1640N/A1.57" (40mm)N/AN/AN/AN/A1730Single1.21" 30.7mm1.21" 30.7 mm0.91" 23.1 mm0.97" 24.6 mm71730-SESingle1.21" 30.7mm1.21" 30.7 mm0.91" 23.1 mm0.97" 24.6 mm71740Single1.54" 39.1mm1.54" 39.1 mm0.93" 23.6 mm1.26" 32.0 mm111830Single1.22" 31.0mm1.22" 31.0mm0.87" 22.1mm0.96" 24.4mm71830-SESingle1.22" 31.0mm1.22" 31.0mm0.87" 22.1mm0.96" 24.4mm71840Single1.54" 39.1mm1.54" 39.1mm0.93" 23.6mm1.25" 31.8mm121850*Single1.69" 42.9mm1.87" 47.5 mm0.77" 19.6 mm1.41" 35.8 mm131930Double1.23" 31.2mm1.23" 31.2mm0.84" 21.3mm0.96" 24.4mm81930-SEDouble1.23" 31.2mm1.23" 31.2mm0.84" 21.3mm0.96" 24.4mm81935-OXDouble1.23(31.2mm)N/A1.51"(38.4mm)1.16"(29.5mm)1940Double1.55" 39.4mm1.55" 39.4mm0.84" 21.3mm1.27" 32.3mm151940LDouble1.55" 39.4mm1.55" 39.4mm1.39" 35.3mm1.27" 32.3mm252131Double1.22" 30.9mm1.36" 34.5mm1.15" 29.2mm1.04" 26.4mm92132Double1.24" 31.5mm1.36" 34.5mm1.15" 29.2mm1.04" 26.4mm92135Double1.35" 34.3mm1.46" 37.1mm1.17" 29.7mm1.10" 27.9mm112140Double1.58" 40.1mm1.70" 43.2mm1.17" 29.7mm1.38" 35.0mm192143Double1.58" 40.1mm1.62" 41.1mm1.17" 29.7mm1.38" 35.0mm192144Double1.58" 40.1mm1.62" 41.1mm1.33" 33.8mm1.38" 35.0mm192145Double1.76" 44.7mm1.81" 46.0mm1.16" 29.5mm1.57" 39.9mm222146Double1.76" 44.7mm1.81" 46.0mm1.32" 33.5mm1.20" 30.5mm0.91" 23.1 mm0.79" 20mm1.5

XRF样品膜、XRF测试薄膜、、EDX样品膜、EDX薄膜样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜样品薄膜XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜样品薄膜美同达提供chemplex各种样品薄膜和样品杯，如有需要，请。 Chemplex样品杯是使用方便简捷，无污染的测试用样品杯，广泛应用于牛津、斯派克、岛津、热电、帕纳科、日本理学等各种品牌的XRF光谱仪。 产品详情： 1、1000系列：样本杯与SPECTROSULFUR分析仪杯，TRIMLESS套筒能套住薄膜样本支撑窗并清除过量剪屑。 适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix，Panalytical Venus 与Rigaku（日本理学株式会社）仪器。 产品编号：10601双开端、1065单开端、1070双开端、1075单开端、1080双开端、1083单开端、1085单开端、1095双开端带通风盖与球形柄。 2、1300系列：可重复密封的可通风式XRF样本杯，集成外部溢流储液槽，并可选择使用集成的薄膜样本支撑窗修剪器。 适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。 产品编号：1330双开端、1330-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1340双开端。 3、1400系列：单开端可通风XRF样本杯。 适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。 产品编号：1430单开口端ThermoPlastic?密封排气、1430-SE、1440单开口端密封排气、1440L*特长单开口端。 4、1500系列：双开口端XRF样本杯。 适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix等仪器。 产品编号：1530双开口端、1530-SE直接固定环带有集成的薄膜修整器、1540双开口端。 5、1600系列：狭缝通风样本杯盖，适用于1500系列XRF样本杯。 样品编号：1630样本杯盖、1640样本杯盖。 6、1700系列：集成的咬合式通风XRF样本杯。 适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。 产品编号：1730咬合式通风、1730-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1740Snap-Post通风。 7、1800系列：单开口端XRF样本杯，集成的外部溢流储液槽，通风装置；与可选用的集成薄膜样本支撑窗修整器。 适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。 产品编号：1830ThermoPlastic?密封通风、1830-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1840ThermoPlastic?密封通风。 8、1850系列：单开口端SPECTROSULFUR?分析仪样本杯，Thermoplastic Seal?通风 ，集成外部溢流储液槽和排泄装置，适用于X射线光学系统“SINDIE?”仪器与其它硫分析仪。 9、1900系列：双开口端XRF样本杯，顶部样本注入与可选用的集成薄膜样本支撑窗修剪器。 适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器；适应于Oxford Lab-X仪器。 产品编号：19301双开口端、1930-SE1直接固定拥有集成的薄膜修整器、19401双开口端、1940L2双开口端。 10、1935-OX系列：双开口端XRF样本杯与通风盖，适用于牛津分析仪。用作替换的腔室和盖子，适用于牛津CK-100，耗材元件，零件编号54-CK-100。 11、2100系列：双开口端TRIMLESS?套筒XRF样本杯、内部溢流储液槽，通风的直接固定盖，TRIMLESS?套筒薄膜样本支撑窗附着。 产品编号：2132 、2135、2140、2143、2144、2145、2146、2195。 12、3100系列：SPECTROMICRO?样本杯，采用“FUNNELSHAPE?”（漏斗形） 样本杯技术。 产品编号：3106、3110、3115、3120。

手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)，薄膜厚度测量范围为350-1000nm，不需要电线连接，也不需要实验室安装空间，它从USB连接中获取工作电源，这种独特设计方便客户移动测量，只需USB线缆从计算机控制测量即可，采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪，具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源，光源寿命高达20000小时，手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电，不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 15nm-90微米；波长范围: 360-1050nm 探测器：3648像素Si CCD阵列，16bit A/D精度：1nm 斑点大小：0.5mm 光源：LED混合光源（ 360-1050nm )所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：300x110x500mm 重量：600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

Etnom 样品薄膜 (100/盒）Etnom Sample Film - Box of 100订货号：200335-02薄膜厚度：3um 薄膜可与样品杯一起用作样品支撑窗口。只需将薄膜贴在新样品杯的一端即可。与Clora台式分析仪配合使用。适用仪器型号：Clora® (#400641-01m)Clora® Accu-Flow (#400641-01mFT)Clora® Extended Range (#400641-01mXR)Clora® Extended Range (Catalysts) (#400641-01mXRC)Clora® Extended Range (Catalysts) with Accu-Flow (#400641-01mXRCFT)Clora® Extended Range with Accu-Flow (#400641-01mXRFT)Clora® with Autosampler (#401430-01m)Clora® Extended Range with Autosampler (#401430-01mXR)已停产的分析仪： Clora® Gen1 Extended Range (#400641-01XR)Clora® Gen1 (#400641-02) Clora® (#400641-02m)Clora® Gen1 AutoSampler (#401430-01) Clora® Gen1 AutoSampler Extended Range (#401430-01XR)Clora® Extended Range Catalyst (#402192-01mXR) Clora® Extended Range Catalyst Autosampler (#402193-01mXR)

薄膜溶解测量仪用于实时监测薄膜在液体过程中的薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化，是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意为薄膜溶解测量仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品，使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部，距离玻璃窗口非常接近，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据。另外，根据需要，我们还能够在测量区域下安装搅拌装置stirrer，提供力学激励振动。孚光精仪还特意为薄膜溶解测量仪提供垂直的样品夹具，以固定小尺寸的硅样品或3' ' ，4' ' 直径的Si 晶圆。根据溶解过程的不同，如溶解速度的不同，它能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。还能够测量几十个纳米厚度的光致抗蚀剂和聚合物薄膜堆的溶解过程，而且还可以测量薄膜的膨胀等特殊现象。对于薄膜厚度的测量，薄膜溶解测厚仪需要光滑，具有反射性的衬底，对于光学常数测量，平整的反射衬底即可满足测量需要。如果衬底是透明的，衬底的背面不能具有反射性。能够给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量，已经成功应用于测量反射衬底（Si晶圆）上各种光滑，透明或轻度吸收薄膜的溶解过程，可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蚀剂薄膜，聚合物薄膜层等。薄膜溶解测量仪参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：15kg 电力要求：110/230VAC薄膜溶解测量仪应用：聚合物薄膜光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 在线测量光学镀膜测量 能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom?、ROHS测试膜--美国Chemplex-3026# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。 品名：XRF样品膜Sample Film目录编号：CAT. NO：3026产品信息：Etnom?，厚度:3.0μm，直径76.2mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 CAT. NO：3026： Etnom? 3.0 μ 0.00012” 0.12mil 0.00305 mm 3.0”(76.2mm) 100片

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.