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薄膜形貌

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  • 【求助】薄膜内部组织结构变化

    我们有一个塑料薄膜,材料是PPS的,厚度在2微米左右,表面镀了一层镍,我们一般是用一个金属盘采用不同的张紧力把它张紧,使它产生不同的频率,我们想了解一下在不同张紧力的作用下薄膜内部组织结构是否有变化,有什么差异,不知道用什么方式可以实现,上周我们去一个大学用扫描电镜看了一下,但是扫描电镜只能看到样品表面形貌的变化,看不到样品内部的组织结构。

  • 微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征DHM

    微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征DHM

    科研史上前所未有的观测手段——数字全息DHM可高速实时测量三维形貌,达到了亚纳米精度。克服了传统AFM、CLSM等需要扫描进行三维成像的特性。 表征透明/半透明三维形貌Ø 测量厚度从几纳米到几十微米Ø 可测最高三层透明薄膜Ø 测量薄膜折射率Ø 微纳器件动态三维形貌时序图(1000fps), 还可测频率响应(高达25MHz) 主要应用北京大学 搭建平面应变鼓膜实验平台测量纳米薄膜的动态力学性能天津大学 微结构表面形貌和运动特性测量华中科技大学 微纳制造与测试,微小光学元件检测,微电子制造封装与测试清华大学 透射式全息显微镜,测量透明样品形貌,还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等 • 超快速高精度的三维成像,大面积三维形貌表征,表面粗糙度,MEMS振动测量分析,表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试配合MEMS Analysis Tool、光学反射软件Reflectometry Analysis等专用软件实现更多功能[img=,600,400]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131406_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131407_01_1546_3.gif[/img][img=,690,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131406_02_1546_3.jpg[/img]

  • 微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征

    微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征

    科研史上前所未有的观测手段——数字全息可高速实时测量三维形貌,达到了亚纳米精度。克服了传统AFM、CLSM等需要扫描进行三维成像的特性。 表征透明/半透明三维形貌Ø 测量厚度从几纳米到几十微米Ø 可测最高三层透明薄膜Ø 测量薄膜折射率Ø 微纳器件动态三维形貌时序图(1000fps), 还可测频率响应(高达25MHz) 主要应用北京大学 搭建平面应变鼓膜实验平台测量纳米薄膜的动态力学性能天津大学 微结构表面形貌和运动特性测量华中科技大学 微纳制造与测试,微小光学元件检测,微电子制造封装与测试清华大学 透射式全息显微镜,测量透明样品形貌,还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等 • 超快速高精度的三维成像,大面积三维形貌表征,表面粗糙度,MEMS振动测量分析,表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试配合MEMS Analysis Tool、光学反射软件Reflectometry Analysis等专用软件实现更多功能[img=,690,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131349_01_1546_3.jpg[/img][img=,600,400]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131350_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131351_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131354_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131351_04_1546_3.gif[/img][img=,384,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131358_01_1546_3.jpg[/img]

  • 微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征DHM

    微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征DHM

    科研史上前所未有的观测手段——数字全息DHM可高速实时测量三维形貌,达到了亚纳米精度。克服了传统AFM、CLSM等需要扫描进行三维成像的特性。 表征透明/半透明三维形貌Ø 测量厚度从几纳米到几十微米Ø 可测最高三层透明薄膜Ø 测量薄膜折射率Ø 微纳器件动态三维形貌时序图(1000fps), 还可测频率响应(高达25MHz) 主要应用北京大学 搭建平面应变鼓膜实验平台测量纳米薄膜的动态力学性能天津大学 微结构表面形貌和运动特性测量华中科技大学 微纳制造与测试,微小光学元件检测,微电子制造封装与测试清华大学 透射式全息显微镜,测量透明样品形貌,还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等 • 超快速高精度的三维成像,大面积三维形貌表征,表面粗糙度,MEMS振动测量分析,表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试配合MEMS Analysis Tool、光学反射软件Reflectometry Analysis等专用软件实现更多功能[img=,600,400]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_01_1546_3.gif[/img][img=,690,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_02_1546_3.jpg[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_03_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_04_1546_3.gif[/img]

  • 【求助】聚合物薄膜 截面样品 制备方法求教!!!

    小弟初来乍到,有一个问题想求教各位:我的样品是聚合物薄片上的有机薄膜,总厚度可能有毫米级了,上面的薄膜样品约有几十个微米,想观察基地上薄膜的断面形貌。所以整个样品就是很韧的聚合物膜(包括基底),不像成在硅片上这个好制备。用液氮脆断似乎也很困难,而使用超薄切片似乎也不合适。如果想做出一个不破坏基材结构的断面的话,大家有什么建议呢???十分感谢回复及关注的XDJM~

  • [请教+讨论] 大家用SEM 观测到的薄膜样品的断面结构是什么样子的?

    SEM 观测薄膜表面的形貌特征相对容易一点,而观测薄膜的断面相对来说需要细致的制备和观测,特别对于多层薄膜的断面观测。想知道大家用SEM 测试的薄膜断面结构什么样子?也可以说,薄膜的纵向生长模式。如通常观测到的柱状生长方式等。。。请大家谈谈自己的看法吧[em61] (可根据实际测试的和文章中发表的sem images)

  • 请教一个PFM测试薄膜电畴的问题

    各位兄台,请教一个PFM测试薄膜电畴的问题我的实验过程:选择薄膜的一个微区,通过逐渐增大针尖与样品表面的contact force, 来观测其对区域内晶粒内部电畴变化的影响。最终分别得到了原始PFM图(包括形貌和畴图)和不同三个接触力下的PFM图。有图像看到,增加第一次接触力时,区域内的晶粒电畴颜色均变得更深,而再次增大力时,颜色又变得淡,最后一次增加力,衬度的颜色又变得更深。也就是说随着接触力的逐渐增加,电畴衬度颜色的变化规律呈现:浅—深—浅—深。请问一下,如何对这个其中的机理做出相应的解释。

  • 创新方法——超高速实时测3D形貌测量,样片展示

    创新方法——超高速实时测3D形貌测量,样片展示

    1、红细胞3D2、粗糙度表面形貌3、加热可降解材料的挥发4、石墨烯薄膜受力形变测量原理是全息术:CCD采集物光与参考光干涉形成的全息图包含了物体的相位信息,再实时数值重建3D形貌。优点:1、超高速大面积3D形貌非扫描实时成像,成像速率能做到1000fps 2、纵向能做到亚纳米分辨率 3、非接触成像,无损样品,无惧振动[img=红细胞3D,384,244]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_01_1546_3.png[/img][img=表面形貌粗糙度测量,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_02_1546_3.png[/img][img=加热可降解材料的挥发,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_03_1546_3.gif[/img][img=石墨烯薄膜形变,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_04_1546_3.gif[/img][img=微热板,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_05_1546_3.gif[/img][img=液体透镜结构形变,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_06_1546_3.gif[/img]

  • 测量材料动态的3D形貌,效果请看视频,基于菲涅尔衍射的数字全息重建技术

    数字全息显微镜DHM测量材料动态的3D形貌,亚纳米分辨率,基于菲涅尔衍射的数字全息重建技术 [table=100%][tr][td][img=动态3D细胞监测,690,138]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/11/201711241018_01_1546_3.jpg!w690x138.jpg[/img]仅0.001秒即可测出物体三维形貌,并且是亚纳米的分辨率。不同于传统白光干涉仪、共聚焦显微镜、扫描探针轮廓仪等需要扫描的成像方式,DHM仅需0.001秒采集单张全息图即可测出物3D形貌信息,做到了快速动态监测。 和传统全息术不一样的是没有采用干板而是采用CCD记录全息图,全息图中 光强图:提供与传统显微镜一样对比度的图像 相位图:提供量化数值,得以对被测物体进行精确三维测量 该系统为预放大全息显微镜,其中的相位图解析中用到了大量的算法,实时相位解包裹技术 实时形貌测量的案例二:石墨烯薄膜受力形变实时测量[img=薄膜形变实时测量,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/11/201711241030_01_1546_3.gif!w384x216.jpg[/img][img=MEMS面内面外运动测量,201,220]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/11/201711241030_02_1546_3.gif!w201x220.jpg[/img][/td][/tr][/table]

  • 没有做不到,只怕想不到——如何得到一张电池薄膜的真实的SEM图像

    没有做不到,只怕想不到——如何得到一张电池薄膜的真实的SEM图像

    一直以来,我们都在为“什么样的形貌才是电池薄膜的真实形貌”而困扰。因为这类样品又不导电,又软,又不耐打,简直可以用作应用工程师毕业考试的最后一题。毫无疑问,本版专家RoadCH提供了一个正确的实验方向,那就是——低着陆电压,更低着陆电压,超低着陆电压。这次有幸接触了许多电池薄膜的样品,于是在干法和湿法薄膜中各挑了一个难度较高并具代表性的,和大家分享一下实验流程。实验一:湿法薄膜;实验机:FEI Nova NanoSEM 450。样品来源:首字母N的公司产品;难点要点:还原“主筋”上的骨节并保护最细的拉丝。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304172120_435815_1602497_3.jpg↑ 不开减速的情况下,由于荷电和边缘效应,样品立体感消失,因此该条件不适合作为观察条件L。但是由于着陆电压低,细丝得到较好保护。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304172134_435833_1602497_3.jpg↑ 减速1.5kV下,荷电和边缘效应得到改善,样品细节也逐步体现。但是由于信号被加速,大量流失,信噪比还不如减速前的图像,因此该条件不适合作为观察条件L。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304172136_435834_1602497_3.jpg↑ 减速0.5kV下,信号量增加,图像信噪比改善。减速消除了荷电和边缘效,低的着陆电压在还原样品细节的同时,也保护了样品本身,因此该条件适合作为观察条件J。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304172142_435835_1602497_3.jpg↑ 减速0.2kV下,虽然分辨能力略有降低,但是由于信号更趋于表面,图像也体现出相当的立体感。另外,该条件为样品本身提供了最大限度的保护,因此该条件适合作为观察条件J。下面的一套20k×放大倍数的照片顺序相同。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304172146_435836_1602497_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304172146_435837_1602497_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304172146_435838_1602497_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304172147_435839_1602497_3.jpg实验二:干法薄膜;实验机:FEI Nova NanoSEM 450。样品来源:首字母U的公司产品;难点要点:样品小孔不能发生形变。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304172149_435840_1602497_3.jpg↑ 不开减速的情况下,由于荷电和边缘效应,样品的“筋”不可见,立体感消失,样品小孔形变严重,因此该条件不适合作为观察条件L。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304172152_435841_1602497_3.jpg↑ 减速的情况下,除了降低了荷电和边缘效应,其余没有任何改善,因此该条件不适合作为观察条件L。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304172154_435842_1602497_3.jpg↑ 减速0.5kV下,信号量增加,图像信噪比改善,薄膜的“筋”开始浮现,呈现出一定的立体感。但是样品小孔依然存在较严重的形变,因此该条件不适合作为观察条件L。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304172155_435844_1602497_3.jpg↑ 减速0.2kV下,样品的凹凸感非常明显,且样品孔道狭长,已非常接近样品原貌。作为综合考量,该条件可以作为观察条件J。下面的一套20k×放大倍数的照片顺序相同。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304172158_435845_1602497_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304172158_435846_1602497_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304172158_

  • 创新方法——超高速实时测3D形貌测量,样片展示

    创新方法——超高速实时测3D形貌测量,样片展示

    1、红细胞3D2、粗糙度表面形貌3、光敏聚合物受光形变4、石墨烯薄膜受力形变测量原理是全息术:CCD采集物光与参考光干涉形成的全息图包含了物体的相位信息,再实时数值重建3D形貌。优点:1、超高速大面积3D形貌非扫描实时成像,成像速率能做到1000fps 2、纵向能做到亚纳米分辨率 3、非接触成像,无损样品,无惧振动[img=,384,244]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710091001_01_1546_3.png[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710091001_02_1546_3.jpg[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710091001_03_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710091001_04_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710091001_05_1546_3.gif[/img]

  • 钙钛矿膜的形貌表征

    钙钛矿由于本身材料的稳定性不好,在电镜表征时易发生形貌上的变化。有不少透射电镜研究其降解晶体结构的改变,研究机理,但扫描对其研究不多,所以我想做做扫描电镜对它的测试。不知需要考虑样品哪些条件:选用哪种材料的钙钛矿?我觉得MAPbX3文献报道得比较多,是不是选这个好。另外是否需要考虑涂膜的膜厚度?

  • 听清华大学朱永法教授和国家纳米科学中心刘忍肖老师在线讲述“纳米材料的形貌及粒度表征”,网络讲座不容错过!

    听清华大学朱永法教授和国家纳米科学中心刘忍肖老师在线讲述“纳米材料的形貌及粒度表征”,网络讲座不容错过!

    ”纳米材料的形貌及粒度表征“网络主题研讨会会议时间:2015年12月9日 14:00-17:00报告日程:报告一:纳米材料的形貌和粒度分析方法及应用报告人:朱永法清华大学化学系教授、博导,分析化学研究所副所长,国家电子能谱中心副主任。从事半导体薄膜材料的表面物理化学、纳米材料的合成与性能、环境催化以及光催化的研究工作。报告概要:主要讲述了纳米材料最常用的三种形貌分析方法的原理和应用特点以及粒度分析的方法和在纳米材料研究方面的应用实例。目前最常用的形貌分析方法是扫描电子显微镜、透射电子显微镜和原子力显微镜。扫描电镜视场广,样品制备简单,不会产生信息失真,可以观察形貌以及实现颗粒大小的分布统计。透射电镜可以观察纳米材料的形貌和颗粒大小,但视野范围小,样品制备过程容易产生大颗粒的丢失现象,但可以区分聚集态和一次粒子的信息。原子力显微镜可以观察薄膜的颗粒大小,也可以观察分散态的纳米材料的形貌及大小。此外,还可以测量颗粒的厚度以及薄膜的粗糙度分布。激光粒度仪是测量颗粒大小常用的方法,但无法观察纳米材料的形貌,是一种统计颗粒直径分布,容易失真。此外,很多纳米材料分散在溶液中,可能是水合方式存在,获得的是水合颗粒大小的分布,并不是真实的材料颗粒大小,但可以获得粒度分布的信息。此外,通过XRD和拉曼光谱还可以获得纳米材料晶粒大小的数据。报告二:基于PeakForce Tapping模式的纳米材料表征报告人: 孙昊布鲁克中国北方区客户服务主管报告提纲:PeakForce Tapping是由Bruker公司发明的一种新的基本成像模式。与传统的Contact、Tapping模式相比,PeakForce Tapping具有探针-样品作用力小、能够自动优化反馈回路、能够进行定量力学成像等优点。基于PeakForce Tapping模式,Bruker公司发展了一系列扩展成像技术,如智能成像(ScanAsyst),它可以轻易实现绝大部分常见样品的扫描参数自动优化,使刚入门的客户也能非常容易地得到专家级的图像;定量纳米力学成像(PeakForce QNM)可以在扫描形貌的同时实时定量地分析出样品的模量与粘滞力,为纳米力学测量带来了革新;峰值力表面电势测量(PFKPFM)与峰值力导电性测量(PFTUNA)使得在软样品表面同时的电学和力学测量成为可能。在这个Webinar中,我们将介绍基于PeakForce Tapping的一系列新的成像技术在纳米表征中的应用。报告三:纳米材料的粒度表征报告人:方瑛HORIBA 应用工程师报告概要: 颗粒的尺寸会影响纳米材料的各种性能,而溶液的电位则会影响纳米乳液的稳定性。纳米颗粒分析仪可以表征纳米颗粒的粒径和电位,报告会介绍粒径和Zeta电位的测试原理,重点会介绍颗粒分析在纳米材料中的应用。报告四:尺度表征用纳米标准样品报告人:刘忍肖博士,高级工程师,国家纳米科学中心/中科院纳米标准与检测重点实验室,主要工作领域为纳米技术标准化,承担了十余项纳米技术标准制修订、纳米标准物质/标准样品的研制工作;从事与纳米技术相关的标准化科研工作,参与两项国家重大科学研究计划项目和一项质检公益性行业科研专项,承担国家自然科学基金和北京市自然科学基金项目。报告提纲:纳米标准样品概况;尺度表征用纳米标准样品;示例:粒度、台阶高度纳米标准样品。报名条件:仪器信息网个人用户,自助报名当天参会。报名方式:扫描下方二维码或点击链接。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511231436_574762_2507958_3.png仪器信息网“纳米材料的形貌及粒度表征”网络主题研讨会http://www.instrument.com.cn/webinar/Meeting/subjectInsidePage/1749

  • 扫描电镜进行3D形貌模拟

    扫描电镜图像进行3D形貌模拟的基本方法或者原理是什么?有资料吗?看很多厂家的SEM都带有这个软件功能?

  • 测量薄膜的紫外可见最大吸收波长的对薄膜的要求?

    测量薄膜的紫外可见最大吸收波长的对薄膜的要求?

    请问各位大侠,在测量薄膜的紫外可见最大吸收波长时,要求薄膜时透明的吗?乳白的的可以吗?我的是PET薄膜,通过不同的溶解方法再旋转涂膜得到两种完全不同的薄膜,见图,一种是乳白色不透明,一种无色透明我的实验目的是在PET薄膜中加入一种染料使其变色,以不加染料的PET薄膜作为参比,测量加染料薄膜的紫外可见最大吸收波长请问各位大侠前辈哪种才适用于我的目的呢?现在还没有做出加染料的薄膜。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304122026_435158_2341438_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304122026_435159_2341438_3.jpg

  • 【求助】薄膜xrd掠入射能看薄膜的择优取向吗?谢谢!

    各位大侠帮忙解答:1. 我看文献上有的说xrd掠入射看薄膜物象鉴定,常规的θ/2θ扫瞄看薄膜的择优取向。薄膜xrd掠入射能看薄膜的择优取向吗?2. 我做常规的θ/2θ扫瞄时只有衬底峰没有薄膜信息,所以只能做掠入射,我是在单晶SiC片子上磁控溅射AlN薄膜(约500nm厚),但是我要对比不同参数下薄膜的择优取向,我该怎么测呢?3. 我用的设备是日本理学D/MAX 2500PC X射线粉末衍射仪,做掠入射时加了薄膜附件,采用2θ扫瞄模式,θ角固定(2.5、3、5、8、15、30度),不管θ角多大都没出现衬底峰只有薄膜峰,但是随着θ角的增大,AlN (0002)峰强也增大,而.(10-13)峰强则减小直到消失,这是为什么?另外,掠入射时θ角越小x线在薄膜中的光程应该越大,反应的薄膜信息应该越丰富对吗?为什么我做θ角0.5度和1度时什么峰都没有呢?

  • 压电薄膜传感器_压电薄膜传感器详情

    话说这个压电薄膜传感器是具有一种很独特的特性的,它是一种动态模式的应变性传感器,一般通过在人体的皮肤表层进行植入或者植入到人体内部,用来监测人体的一些生命迹象以及特征。其中压电薄膜传感器里面的一些薄膜元件是非常灵敏的,可以隔着外套探测出人体的脉搏。OFweek Mall传感器商城网说一下压电薄膜传感器在医疗行业的应用。1、压电薄膜传感器工作原理当你拉伸或弯曲一片压电聚偏氟乙烯PVDF高分子膜(压电薄膜),薄膜上下电极表面之间就会产生一个电信号(电荷或电压),并且同拉伸或弯曲的形变成比例。一般的压电材料都对压力敏感,但对于压电薄膜传感器来说,在纵向施加一个很小的力时,横向上会产生很大的应力,而如果对薄膜大面积施加同样的力时,产生的应力会小很多。因此,压电薄膜传感器对动态应力非常敏感,28μm厚的PVDF的灵敏度典型值为10~15mV/微应变(长度的百万分率变化)。使用'动态应力'这个术语是因为形变产生的电荷会从与薄膜连接的电路流失,所以压电薄膜传感器并不能探测静态应力。当需要探测不同水平的预应力时,这反而成为压电薄膜传感器的优势所在。薄膜只感受到应力的变化量,最低响应频率可达0.1Hz。2、压电薄膜传感器特点压电薄膜很薄,质轻,非常柔软,可以无源工作,因此可以广泛应用于医用传感器,尤其是需要探测细微的信号时。显然,该材料的特点在供电受限的情况下尤为突出(在某些结构中,甚至还可以产生少量的能量)。而且压电薄膜传感器极其耐用,可以经受数百万次的弯曲和振动。3、压电薄膜传感器医疗应用利用压电薄膜传感器的动态应变片特性,可以轻松的将压电薄膜直接固定在人体皮肤上(例如手腕内侧)。精量电子—美国MEAS传感器的产品型号1001777是一款通用传感器,传感器的一侧涂有压力敏感胶。但这款胶未经生物兼容性认证,在短期试验中可以将3M9842(聚亚安酯胶带)固定在皮肤上,再将压电薄膜传感器粘贴在3M胶带上。压电薄膜之所以即能探测非常微小的物理信号又能感受到大幅度的活动,是因为PVDF膜的压电响应在相当大的动态范围内都是线性的(大约14个数量级)。多数情况下,只要能明显区分目标信号和噪声的带宽,细小的目标信号都可以通过过滤器采集到。类似的压电薄膜传感器已在睡眠紊乱研究中用于探测胸部,腿部,眼部肌肉和皮肤的运动。另外,传感器可以通过探测肌肉(例如拇指和食指之间的肌肉)对电击的反应作为检验麻醉效果的指示器(神经肌肉传导)。压电薄膜传感器包含范围:[color=#333333]气体流量传感器丨微型压力传感器丨绝对压力变送器丨微量氧传感器丨[/color][color=#333333]数字温湿度[/color][color=#333333]传感器丨煤气检测传感器丨气压感应器丨一氧化碳传感器丨h2传感器丨压阻式压力变送器丨硫化氢传感器丨co2气体传感器丨光离子传感器丨ph3传感器丨百分氧传感器丨bm传感器[/color][color=#333333]丨[/color][color=#333333]风速传感器丨voc传感器丨[/color][color=#333333]光纤应变传感器[/color][color=#333333]丨位置传感器丨[/color][color=#333333]meas压力[/color][color=#333333]传感器丨[/color][color=#333333]称重传感[/color][color=#333333]器丨甲烷传感器丨微流量传感器丨光纤应变传感器丨称重传感器丨三合一传感器丨sst传感器丨gss传感器丨ch4传感器丨氟利昂传感器丨硫化物传感器丨o3传感器丨双气传感器丨[url=http://mall.ofweek.com/1877.html]压电薄膜传感器[/url]丨一氧化氮传感器丨透明度传感器丨二氧化硫传感器丨氰化氢传感器丨煤气检测传感器丨燃气检测传感器丨电流氧传感器[/color]

  • 谈谈薄膜真空计(1)

    薄膜真空计是迄今为止唯一得到公认的可作为低真空测量(0.01--100Pa)工作副标准的一种真空仪器,也是我国唯一具有法定计量校准检定规程的一种真空度计量器具(校准参照规程:Q/WHJ46-1998标准型电容薄膜真空计校准规程)电容薄膜真空计是一种绝压、全压测量的真空计,原理是把加于电容薄膜上的压力变化产生膜片间距离的变化,即产生了电容的变化,再通过鉴频器把电容变化转换成为电流或电压的变化,组成为输出信号,所以,它的测量是直接反映了真空压力的变化值,而且只与压力有关,与气体成分无关,即:薄膜真空计是一种直接测量式的、全压型的真空计。而我们的真空设备的真空度测量控制常用的真空计往往是电阻计、热偶计等等间接测量的真空计,是一种热传导型的真空测量方法,简单一点来说,就是通过测量感受气体温度的方法来间接测量气体压强(真空度),是一种类似于大家很熟悉热电阻、热电偶的测量方法,。由于测量原理上的先天不足,这类真空计的测量精度、测量稳定度是很不好的。其测量误差一般比薄膜真空计大1~2个以上数量级(误差大于30%,行业标准是50%),尤其是在低真空段,误差更大,另外,使用过电阻计、热偶计的度知道,这些仪表测量前还需要零点、满度校正,怎么能够用于在线测量控制呢?另外,遇到氢气等小质量的气体就无法测量了,如果要测,也查表换算,到底真空度是多少?猜吧。不过,它确实也有它的优点的:制造容易、价格低廉,在许多的要求较低真空设备上还普遍使用着,……用过电阻计的都领教过它的烦心。许多人抱怨花了3、4千元买到进口的真空传感器也误差大、毛病多?就是因为老外的这个价位的产品还是老的热传导测量机理的真空传感器。所以选择真空计、真空传感器、首先要看看什么原理、什么类型的,而不是数字、智能,测量机理陈旧,再怎么数字、怎么智能,也于事无补的。未完待续

  • 《薄膜物理》

    薄膜物理[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=15937]薄膜物理[/url]

  • 请教介孔薄膜的做法

    我刚刚学习介孔材料的合成,想合成SBA-15的介孔薄膜,我看了赵东元的文献中提到需要在酸度ph2,加热温度在35-140之间才能得到有序的SBA-15,而在2002年Peter C. A. Alberius等人在CM上发表的介孔薄膜中却使用了PH=2,温度不超过35度的条件,这不与赵等人的条件不符合嘛?不知薄膜制备条件和粉体关键区别在哪?另外,合成的薄膜怎么拨下来进行透射电镜观察?向牛人们虚心请教!非常感谢!

  • 荧光薄膜测试

    实验室有一台,970CRT荧光分光光度计,目前在做石英玻璃上的荧光薄膜,想用这个仪器去测。请教两个问题,这台仪器可以测薄膜的荧光吗,能测的话,具体的操作步骤是什么呢,用过将石英玻璃插入比色皿中去测荧光,但是光谱上会有发射的荧光峰,怎么消除玻璃带来的反射峰呢,谢谢大家啦

  • 【原创】机械键盘和薄膜键盘

    一般我们常见的键盘都是薄膜键盘,所谓薄膜,就是我们把键盘拆开以后,有一层电路薄膜,而这层薄膜就是用来当作开关来控制电源的。 同理,所谓机械键盘,被用作键盘接触的开关是金属,其稳定性是薄膜键盘不能比的。随着近年来电子竞技的高速发展,游戏玩家对游戏要求越来越高,机械结构=的键盘等高端产品开始进入人们的视线,其实大多数机械键盘并不是专为游戏而设计,但是机械结构本身的特性决定了它可以在游戏中有上佳的表现。更多的游戏玩家开始关注机械键盘,但是市场上机械键盘品牌较少,昂贵的价格让人们难以接受这样的产品。另外,很多人并没有真正感受过机械键盘的手感,甚至对机械键盘产生一种神秘感,例如单键寿命高达几千万次、弹簧结构、黄金触点、黑、茶、青、白四种轴、二色成型键帽、激光刻蚀等等这些名词让更多朋友产生迷惑。 其实,机械键盘并不陌生,只是接触过的人相对较少而已,早在十几年年之前就已经被应用在行业用户和特殊环境当中,比如一些大型服务器配的键盘,在国内最常见的就是学校早年间的机房内的电脑和银行等窗口行业使用的电脑配备的键盘。可能有些朋友见过实达给银行系统生产的机械键盘,至今在某些地方仍然能见到。

  • 【原创大赛】【微观看世界】+ 石墨的形貌观察

    【原创大赛】【微观看世界】+ 石墨的形貌观察

    【微观看世界】+ 石墨的形貌观察 电池专用石墨主要用于低汞无汞碱性电池正极材料,提高电池的电流,电压,延长放电时间.特别是电池专用石墨用量少,与国内同类产品相比,可降低用量32.5%,增加了锰粉的用量,有效地延长了电池的放电时间.特别是无汞碱性电池专用膨胀石墨粉在50-80目状态下,经过膨胀粉碎分级处理,可使电池正极中的导电物质含量下降,活性物质含量增加,减小电池欧姆内阻,增加电池容量.下面就来关注下他的微观形貌吧。测试仪器:SEM+EDS仪器型号:JEOL JSM-6460LV测试标准:JY/T 010-1996测试条件:见图片标识测试结果:见图片http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409061448_513034_2042772_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409061448_513035_2042772_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409061448_513036_2042772_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409061448_513037_2042772_3.jpg

  • 【求助】薄膜成分测定

    最近有几个薄膜样品,知道化学元素但不知道化学配比,表面薄膜大概几个微米厚,用什么方法测比较好?

  • 薄膜包衣技术难点及解决方案

    20世纪50年代初,第一个真正意义的薄膜包衣片在美国诞生了。从那时算起,薄膜包衣技术已经经历了半个世纪的发展。而我国起步较晚,20世纪70年代末,才陆续出现少数医药研究单位和药厂研制的各种包衣液和薄膜包衣工艺,并逐渐推广应用。到了20世纪90年代中期,我国才逐渐出现了薄膜包衣技术“热”。但是从整体上看,这项技术在我国的发展仍然比较缓慢。许多制药企业由于技术上的原因,在应用上仍旧存在着不少问题。在片心表面通过喷雾的方法均匀地喷上一层比较稳定的高分子聚合物衣料,形成数微米厚的塑性薄膜层,使之达到一定的预期效果,这一工艺过程称为薄膜包衣。应用薄膜包衣技术是制药行业的需求和发展趋势。有些人认为薄膜包衣片没有糖衣片好,没有糖衣片那么光亮,事实上薄膜包衣与传统的包糖衣技术相比,有许多优点,如包衣耗时短,更能防潮、避光,药物稳定性更强等。包薄膜衣必须改变过去包糖衣的观念,这一点非常重要。一直以来,一些制药企业把薄膜包衣技术简单地看做是片剂生产中的独立环节,包薄膜衣就像包糖衣一样只是单纯包衣。其实,并不是那么简单。作为一项新技术,包薄膜衣对片心的要求相对于包糖衣而言要严格得多,片的硬度要求较高,而且它对各个工序之间的相互配合、生产过程中的一系列技术指标及要求的调整和相互配套都有所要求。所以,必须本着科学、求实的态度来对待薄膜包衣技术的引进及应用,只有这样,包出的片才能达到理想的效果。良好的片心质量对薄膜包衣起到决定性的影响。有时片心的机械质量太差,就根本无法进行薄膜包衣,即使勉强进行,衣膜质量也很难保证。在所有影响片心机械性能的因素当中,片的硬度和脆碎度最为重要,而脆碎度又比硬度显得更为突出。一般而言,适合包薄膜衣的中药片硬度应该在5kg/cm3,西药片硬度应该在4kg/cm3左右。如何检查呢?最简单的方法是硬度计检测;或将一素片垂直向上抛2米,使之自由落地,两次以上不断裂者为硬度合格。检查脆碎度的简单方法是用手指用力刮片的边缘或片的表面,没有片粉脱落者为宜;另一个方法是将30片左右的素片置于250ml的玻璃杯中,用力摇两分钟左右,以片的表面、片的边缘不磨损者为宜。对于吸湿性大的素片,硬度要求则更高。应用薄膜包衣技术进行包衣时,不管是采用高效包衣机、流化床包衣机,还是发行的糖衣锅进行包衣,都应遵照如下原则:一是片心硬度要够硬,否则开始包衣时,片心与锅壁反复摩擦,将会出现松片、麻面等现象;二是片床温度要保持恒定;三是设备中溶剂蒸发量与喷液过程中带入的溶剂量要保持平衡,即溶剂蒸发与喷液速率处于动态平衡。片面平整、细腻的关键在于整个过程中要掌握锅温、喷量、转速三者之间的关系,这是薄膜包衣操作过程中的重中之重。操作时,包衣液的雾化程度直接影响包衣所成衣膜的外观质量,而喷液的雾化效果直接由雾化压力以及雾化系统决定。喷雾开始时,掌握喷速和吹热风温度的原则是:使片面略带湿润,又要防止片面粘连,温度不宜过度过低。若温度过高,则干燥太快,成膜容易粗糙,片色不均;若温度过低,或喷速过快,则会使锅内湿度过度高,很快就会出现片的粘连等现象。锅的转速与包衣操作之间的关系是:转速低,衣膜附着力强;转速高,衣膜附着力差,易剥落。包衣过程中,温度过低,喷量过大,片子流动滞留,则有可能会出现粘片现象。这时可加大转速使其改善,必要时还可适当调节温度和喷量、喷程等加以克服。在使用包衣粉质量不变的情况下,包衣操作中常出现的问题及解决的方法如下:1、粘片:主要是由于喷量太快,违反了溶剂蒸发平衡原则而使片相互粘连。出现这种情况,应适当降低包衣液喷量,提高热风温度,加快锅的转速等。2、出现“桔皮”膜:主要是由于干燥不当,包衣液喷雾压力低而使喷出的液滴受热浓缩程度不均造成衣膜出现波纹。出现这种情况,应立即控制蒸发速率,提高喷雾压力。3、“架桥”:是指刻字片上的衣膜造成标志模糊。解决的办法是:放慢包衣喷速,降低干燥温度,同时应注意控制好热风温度。4、出现色斑:这种情况是由于配包衣液时搅拌不匀或固体状特质细度不够所引起的。解决的方法是:配包衣液时应充分搅拌均匀。5、药片表面或边缘衣膜出现裂纹、破裂、剥落或者药片边缘磨损:若是包衣液固含量选择不当、包衣机转速过快、喷量太小引起的,则应选择适当的包衣液固含量,适当调节转速及喷量的大小;若是片心硬度太差所引起,则应改进片心的配方及工艺。6、衣膜表现出现“喷霜”:这种情况是由于热风湿度过高、喷程过长、雾化效果差引起的。此时应适当降低温度,缩短喷程,提高雾化效果。7、药片间有色差:这种情况是由于喷液时喷射的扇面不均或包衣液固含量过度或者包衣机转速慢所引起的。此时应调节好喷枪喷射的角度,降低包衣液的固含量,适当提高包衣机的转速。8、衣膜表面有针孔:这种情况是由于配制包衣液时卷入过多空气而引起的。因而在配液时应避免卷入过多的空气。薄膜包衣技术在中药制药中的应用薄膜包衣是一种新型的包衣工艺,指在片芯之外包上比较稳定的薄层聚合物衣膜。自30年代以来就陆续出现了有关薄膜包衣的研究指导,但由于当时薄膜材料、包衣工艺和设备等条件尚不能适应生产要求,实际应用受到一定的限制。到了50年代,美国雅培药厂(AbbottLab)首先生产出新型的薄膜片剂,并用“Filmtab”商标取得专利。经过近40年的研究发展,生产设备和工艺的不断改进和完善,高分子薄膜材料的相继问世,使薄膜包衣技术得到了迅速发展,尤以日本的薄膜包衣技术发展得最快,已有80%片剂改为薄膜包衣。薄膜包衣工艺可广泛用于片剂、丸剂、颗粒剂,特别对吸温性强、易开裂、易退色的中药片剂更显示其优越性。进入90年代,薄膜包衣技术在中药行业有了一定发展,主要用于片剂的薄膜包衣。薄膜包衣与包糖衣比较,主要有以下优点:(1)时间较短(包一锅片剂只需2小时左右,而包一锅糖衣片需要约16小时),操作简便,干燥速度快,药物受热影响小,有利于提高药品的质量。(2)薄膜包衣工艺节约劳动力(1~2名操作工人)、厂房及设备(只需一间标准厂房及一台包衣锅),节约材料,所以成本较低,而前期投入也十分有限。(3)应用薄膜包衣工艺的片剂仅使片芯重增加2%~4%,而糖衣片剂(其中主要辅料成分是国外已淘汰的滑石粉)往往可使片芯重量增大50%~100%。(4)薄膜包衣工艺能减少工作场所的粉尘飞扬,有利于环保和劳动保护,亦可节约包装材料等。(5)应用薄膜包衣工艺的片剂压在片上的标志在包薄膜衣后仍清晰可见,便于患者辨别和使用。(6)薄膜包衣的片剂坚固耐磨,不易开裂;薄膜包衣材料有优异的物理性能,大多数材料均能抗湿抗热,可提高产品质量,延长产品的有效期。(7)薄膜包衣有众多的材料可供选择。除了能达到一般的包衣目的外,还可通过选择薄膜材料和设计包衣处方,使形成的包衣膜在一定的pH范围内溶解或崩解;也可控制膜的渗透性,使所包的药物在体内通过扩散作用陆续释放出来,达到定时、定位释放药物的目的。这是薄膜包衣具有广泛发展前途的一个重要原因。(8)生产工艺过程和材料用量可以标准化基于以上因素,国际上已基本淘汰了糖衣片,取而代之以薄膜包衣片,国内也在加速这个进程。目前,我国的中药薄膜包衣工艺的应用尚处在起步阶段,国内中药片剂主要还是以糖衣片为主,薄膜包衣的市场前景十分广阔,所以薄膜包衣技术的进一步的研究开发和提高,应引起我们的重视.

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