薄膜接触角测量

现货销售供应德国克吕士/Kruss-TVA100顶视法接触角测量仪TVA100，操作说明书，现货销售，特点：咨询热线，15300030867,010-82752485-815张经理，欢迎您的来电咨询！1. 由于光源和成像系统在同侧，所以测量可以不受样品大小的限制2. 适合测量凹凸表面内侧的接触角，比如隐形眼镜、96孔样品板、方形细胞培养瓶等3. 超低接触角时有非常优异的重复性4. 可作为升级模块添加在kruss其它型号的接触角测量仪上现货销售供应德国克吕士/Kruss-TVA100顶视法接触角测量仪TVA100，操作说明书，现货销售，特点，应用：1. 生物行业：多孔板、细胞培养瓶等2. 电子行业：复杂的电路板检测3. 硅片工业4. 卫浴陶瓷品5. 光学镜头检测，各种凹凸透镜技术参数 指标范围样品台尺寸 100×100mm 最大样品尺寸 300×∞×50mm（L×W×H）接触角测量范围 3.5°-23°（精度0.1°），23°-75°（精度1°），其它范围误差稍高光学系统 连续6..5倍放大，光源为双LED照明视频系统 标配60副照片/秒高速相机，含有红外滤膜，彻底消除光学失真，分辨率752×480像素，1/3英寸CCD,传输速度400M/s 注射系统 电子控制手动定量滴定样品台调节 手动或自动X-Y-Z轴调节接触角测量方法 顶视法（专利方法）固体表面能测量方法 Fowkes,extendedFowkes, Wu,Schultzl+II, Zismann,Owens-Wendt-Rabel, van Oss & Good, Neumann等九种测量总表面能、极性组成、路易斯酸碱组成、氢键组成等电源 110/220 V，50/60 Hz 数据接口 IE1394a

现货销售供应德国克吕士/Kruss-DSA25标准型接触角测量仪DSA25，销售现货，操作说明书，功能：咨询热线，15300030867,010-82752485-815，欢迎您的来电咨询！测量液体与固体之间的接触角测量固体表面能，计算能量分布测量液体的表面/界面张力现货销售供应德国克吕士/Kruss-DSA25标准型接触角测量仪DSA25，销售现货，操作说明书，功能，特点：多种规格的固体样品附件可选可选配温度计湿度控制腔手动，单一自动，双自动多种滴液系统可供选择现货销售供应德国克吕士/Kruss-DSA25标准型接触角测量仪DSA25，销售现货，操作说明书，功能，参数：接触角测量范围： 0-180°精度： ±0.1°表面张力测量范围：1×10-2—2000mN/m分辨率： 0.01mN/m光学系统： 6.5倍光学变焦，最高速度301幅图片/秒

现货供应销售德国克吕士/Kruss-DSA30研究型接触角测量仪，现货销售，操作说明书，主要特点，北京办事处：销售热线，15300030867,010-82752485-815张经理，欢迎您的来电咨询！﹡最新优化的成像系统，可以得到史无前例的清晰、锐利的图像精确的接触角、表面自由能和悬滴测量﹡丰富的进样系统，多种手动、自动可选，简单易用，并有专门用于高粘度、高污染样品的滴定系统﹡大小灵活可变的样品台，适应大样品的测量﹡采用快滴法放置液滴,操作简单、易于重复﹡软件通用性强，适应多变的测量控制现货供应销售德国克吕士/Kruss-DSA30研究型接触角测量仪，现货销售，操作说明书，主要特点，北京办事处，技术参数：● 最大可测样品体积：300 x ∞ x 50 mm（L×W×H）● 样品台尺寸：105 x 105 mm （L×W）● 接触角测量范围：0 to 180 °，（设计范围）分辨率：+/- 0.01 mN/m● 表面张力测量范围：1x10-2 to 2000 mN/m（设计范围），分辨率：+/- 0.01 mN/m● 光学系统：自动控制6.5 倍放大，聚焦 视野范围FOV 3.2 to 23 mm，软件控制光强调整, 高速相机（311幅照片/s），最高分辨率：780*580像素 (另有超高速全画幅相可选，最高可达20000帧/秒● 数据获取速度：800 M数据/秒● 方向控制：样品台可以x,y,z三维方向移动水平方向最大位移距离为100mm，垂直方向最大位移为38mm● 滴定系统：全自动多个注射系统，并含有相应的自动补液功能模块，液体自动选取模块，最小自动步进为0.01ul；手动注射系统一套；自动回洗清洗系统一套；50nl自动滴定系统一套● 软件:接触角测量：测量静态、动态接触角（前进角和后退角）和滚动角，测量过程可以拍摄存储或实时分析，提供多种多种自动拟合方法，并可自动测定粘附功，基线调整自动、手动、水平、曲面等方法。表面能计算：提供九种计算方程，可以给出浸润性分析图谱，可计算固体表面的极性力、色散力和氢键组成。表面张力测量：悬滴法（杨氏方程）测量液体表面/界面张力振荡滴发生和分析软件：可以控制振荡频率和振幅、调节各种响应参数，并分析液体的滞后效应，计算储能模量、损耗模量等参数。

FEP薄膜FEP薄膜：也叫特氟龙薄膜，聚全氟乙丙烯薄膜；其特征主要有：1、耐高低温:-200～205℃ ，外观透明如保鲜膜，使用方便，环保；2、具有不粘性,拼水,拼油:水接触角θ=114о 电可靠性，高绝缘，不漏电；3、高透明度:透明度参考家用保鲜膜，对紫外线、可见光有很好的穿透性；4、耐强酸强碱，耐各种有机及无机化学溶剂，丙酮、醇类等各种腐蚀性溶剂；5、多作为封口膜，用于密封一些强腐蚀型瓶口；隔离实验室的一些腐蚀性溶剂；6、典型用途实例：中科院地化所常用来野外考察收集样品时，接收雨水用，通常会配套我公司同系列的FEP 透明管使用；规格参考：品名宽度（mm）厚度mmFEP薄膜 200-2500.02-0.0150.03-0.040.05-0.150.15-0.2可按照客户要求生产250-280250-300300-35050060080010001200 9、FEP系列产品：取样瓶、大口瓶、洗瓶、滴瓶、容量瓶、烧杯、离心管、离心瓶、移液管、吸管、分液漏斗、薄膜、透明管、消解管、消解瓶以及各种定制产品等。详情请来电咨询。 专注自然成！期待与您的合作！单位：南京瑞尼克科技开发有限公司

FEP薄膜：也叫特氟龙薄膜，聚全氟乙丙烯薄膜；其特征主要有：1、耐高低温:-200～205℃ ，外观透明如保鲜膜，使用方便，环保；2、具有不粘性,拼水,拼油:水接触角θ=114о 电可靠性，高绝缘，不漏电；3、高透明度:透明度参考家用保鲜膜，对紫外线、可见光有很好的穿透性；4、耐强酸强碱，耐各种有机及无机化学溶剂，丙酮、醇类等各种腐蚀性溶剂；5、多作为封口膜，用于密封一些强腐蚀型瓶口；隔离实验室的一些腐蚀性溶剂；6、典型用途实例：中科院地化所常用来野外考察收集样品时，接收雨水用，通常会配套我公司同系列的FEP 透明管使用；品名宽度（mm）厚度mmFEP薄膜 200-2500.02-0.0150.03-0.040.05-0.150.15-0.2可按照客户要求生产250-280250-300300-35050060080010001200 FEP材质其他产品FEP取样瓶、容量瓶、洗瓶、滴瓶、消解瓶、消解管、离心管、薄膜、移液管、透明管、烧杯、分液漏斗，其他实验室常用器皿耗材等等。

HTC350电加热高温样品室由德国LAUDA Scientific公司研发生产，是LAUDA Scientific新一代接触角测量仪LSA系列的可选附件，用于在高温下测量接触角和表界面张力等。

脉动液滴控制模块 这是全新的专门为光学接触角仪定制的脉动液滴控制模块，由软件来控制液滴大小的脉动调制。它主要通过在E-3到E2 Hz频度震级范围内振动液滴来发生作用。整个过程中不但控制了频率和振幅，而且还可以控制波形（如正弦波，三角波，方波等）。在研究表面活性剂的应用中，通过这个设备可以更加快捷方便的提供如粘弹性等界面流变学的信息。适合用来测量空气/水或者油/水界面层的粘弹特性。本附件还包括管子。频率和振幅可以非常容易地调节到试验所需要的要求。 比较以往的脉动液滴控制模块，本设备在如下几个方面做了改进： 1． 即插即用，无需校正。 2． 和原有软件更加兼容。 3． 一体化的脉冲模块，无需声卡。

ATS-360N全自动倾斜台由德国LAUDA Scientific公司研发生产，是LAUDA Scientific接触角测量仪的可选附件，角度范围：0---360°。ATS-360N全自动倾斜台由软件控制，自动记录倾斜过程中液滴的形状变化，倾斜角度和位置移动，自动测量滚动角、前进角和后退角等相关参数，软件实时显示样品台倾斜状态和角度。

GC非接触温度测量仪的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 带激光瞄准的MiniTemp MT4非接触温度测量仪 特色和优势 Ø 显示温度测量读数，单位° C或° F Ø 简单的点射红外技术，仪器小巧玲珑 Ø 非常适用于仪器量热测试确认，包括 Ø 气象色谱注射器口和检测器测量、恒 热液相色谱瓶和酶水解水浴。 型号 MiniTemp MT4 温度范围 -18到400 ° C(0到750 ° F) 距离:光斑大小 (D:S) 8:1 响应时间 500m/sec 放射率 预设为0.95 精确度 ± 2%, or ± 2° C (± 3° F) 以数值大的为准，特别 最大目标(光斑)距离 最大1.5m(4ft) 激光对准 有 最小温度 MT4 N9306074 基础工具包 工具配备工具盒，方便储存和使用 N9301327 gon工具包包括： 开口扳手套装(6件), 螺丝刀套装 (6件.), 可调扳手 (6in), 链嘴钳(窄), 管钳,和剥线机 豪华工具包 用塑料工具盒装运，以便于储存 N9301328 工具包包括： 开口扳手套装(6件.), 螺丝刀套装( 6件.), 可调扳手( 6in), 链嘴钳(窄), 剪钳, 剥线机, 滑钳( 6in), 长鼻钳 No.5不锈钢镊子(43/8 英寸), 锉刀套装( 6件.), 艾伦内六角扳手套装 ( 11件. 英制规格), 以及艾伦内六角扳手 (9件. 公制规格)

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薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用

薄膜溶解测量仪用于实时监测薄膜在液体过程中的薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化，是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意为薄膜溶解测量仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品，使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部，距离玻璃窗口非常接近，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据。另外，根据需要，我们还能够在测量区域下安装搅拌装置stirrer，提供力学激励振动。孚光精仪还特意为薄膜溶解测量仪提供垂直的样品夹具，以固定小尺寸的硅样品或3' ' ，4' ' 直径的Si 晶圆。根据溶解过程的不同，如溶解速度的不同，它能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。还能够测量几十个纳米厚度的光致抗蚀剂和聚合物薄膜堆的溶解过程，而且还可以测量薄膜的膨胀等特殊现象。对于薄膜厚度的测量，薄膜溶解测厚仪需要光滑，具有反射性的衬底，对于光学常数测量，平整的反射衬底即可满足测量需要。如果衬底是透明的，衬底的背面不能具有反射性。能够给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量，已经成功应用于测量反射衬底（Si晶圆）上各种光滑，透明或轻度吸收薄膜的溶解过程，可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蚀剂薄膜，聚合物薄膜层等。薄膜溶解测量仪参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：15kg 电力要求：110/230VAC薄膜溶解测量仪应用：聚合物薄膜光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 在线测量光学镀膜测量 能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统，可以结合显微镜测量薄膜的吸收率，透过率，反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量，测量点处的薄膜厚度，薄膜光学常量（n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是：光栅光谱仪（200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜（可选）。其中目镜适配器包含镜头，可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果（20X物镜）薄膜厚度测试仪配件软件 这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制，光谱测量和薄膜测量功能的软件，具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率，透过率，反射率和荧光光谱，并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置，所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数，如signal integration也能测量出来。对于反射率测量，该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度（《10nm到100微米）， 光学常量（n & k)。 薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚： 10nm-150微米； 波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 光源：使用显微镜光源 光斑大小：由显微镜物镜决定 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口； 尺寸：120x120x120mm 重量：1.2kg 薄膜厚度测试仪配件应用 测量薄膜吸收率,透过率 测量化学薄膜和生物薄膜测量 光电子薄膜结构测量 半导体制造 聚合物测量 在线测量 光学镀膜测量

带激光瞄准功能的MiniTemp MT4非接触式温度测量仪特点和优势：以°C或°F的形式显示热量测定读数简单的点射红外技术可通过口袋大小的仪器而实现特别适合用来确认仪器热量测试值，其中包括GC进样端口和检测器测定值、恒温LC瓶以及酶水解浴规格型号MiniTemp MT温度范围-18至400°C（0 - 750 °F）间距与光斑大小之比（D:S）8:1响应时间500 m/sec发射率预设为0.95准确度±2%或±2°C（±3 °F）（以准确度更高的数值为准）与目标光斑的典型距离不超过1.5 m（4 ft）激光对准与否是受欢迎的MiniTemp MT4也具有用以辅助瞄准的单点激光对准功能。本品附带9伏电池。不需要进行再校准。带激光瞄准功能的MiniTemp MT4非接触式温度测量仪订货信息：产品描述部件编号MiniTemp MT4N9306074基础工具包产品描述部件编号装在工具箱中以便于储存和使用的工具N9301327本品包括：开口扳手套装（6件）、螺丝刀套装（6件）、可调式扳手（6英寸）、链用钳（窄）、剪钳和剥线器。豪华工具包产品描述部件编号运输时装在一个塑料工具箱内以便于储存N9301328本品包括：开口扳手套装（6件）、螺丝刀套装（6件）、可调式扳手（6英寸）、链用钳（窄）、剪钳、剥线器、滑动接口钳（6英寸）、5号长鼻不锈钢镊子（4-3/8英寸）、针式锉刀套装（6件）、艾伦扳手套装（11件、英制规格）和艾伦扳手套装（9件、公制规格）。

? 产品名称：带激光瞄准的MiniTemp MT4非接触温度测量仪仪器厂商：PerkinElmer/美国 珀金埃尔默 价格：面议 库存：是 说明 零件编号 最小温度 MT4 N9306074 基础工具包 工具配备工具盒，方便储存和使用gon工具包包括：开口扳手套装(6件), 螺丝刀套装(6件.), 可调扳手(6in), 链嘴钳(窄), 管钳,和剥线机 N9301327 豪华工具包 用塑料工具盒装运，以便于储存开口扳手套装(6件.), 螺丝刀套装(6件.), 可调扳手(6in), 链嘴钳(窄), 剪钳, 剥线机, 滑钳(6in), 长鼻钳No.5不锈钢镊子(43/8 英寸), 锉刀套装(6件.), 艾伦内六角扳手套装 (11件. 英制规格), 以及艾伦内六角扳手 (9件. 公制规格)工具包包括： N9301328 ?

聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg)，热分解温度，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据，能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量，这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5%分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg 电力要求：110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

SuperChip芯片片基，氨基丙基硅烷包被，主要用来PCR 产物点样，制作DNA芯片。又称DNA芯片片基。最高品质的玻璃、低荧光背景，SuperChip系列产品稳定、卓越的表面包被技术确保DNA均匀固着其上。SuperChip结合DNA探针能力非凡，而与标记目标的非特异结合极低，这样确保整个芯片反应后背景清晰。这个芯片的制造严格控制在HEPA环境，适于商业芯片点样和检测。 片基特性：l 边缘：平切l 表面质量：60/40 scratch-digl 接触角：40° ± 5°l 标准尺寸：25.10 x 75.36 ±0.38 mml 厚度：1.00 – 0.02 mml 平坦度：10μm variable across a diagonal of 21mm x 75mm slidel Maximum edge chip: 0.5 mml 点样区域：20 x 70 mm 订购信息：货号产品名称规格63475-APAminopropylsilane (APS) Coated Substrates20/盒63475-BCAminopropylsilane (APS) Coated Substrates , Barcode 20/盒63475-ESminopropylsilane (APS) Coated Substrates, ES20/盒

手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)，薄膜厚度测量范围为350-1000nm，不需要电线连接，也不需要实验室安装空间，它从USB连接中获取工作电源，这种独特设计方便客户移动测量，只需USB线缆从计算机控制测量即可，采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪，具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源，光源寿命高达20000小时，手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电，不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 15nm-90微米；波长范围: 360-1050nm 探测器：3648像素Si CCD阵列，16bit A/D精度：1nm 斑点大小：0.5mm 光源：LED混合光源（ 360-1050nm )所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：300x110x500mm 重量：600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

透射电镜（TEM）用氧化硅薄膜窗格 氧化硅与氮化硅薄膜窗格比较： 相比氮化硅薄膜，氧化硅薄膜更适合用于含氮样本。在EDS研究中，如基片薄膜含氮，则会与样本造成混淆。 样本安置面：对多数用户来说，样本应安置在薄膜窗格的&ldquo 覆膜面&rdquo 而非&ldquo 蚀坑面&rdquo 。但我们也知道在一些特殊情况下，蚀坑面也可安置样本。除对样本进行原子力显微镜（AFM）观测外，蚀坑面本质上并非不可用于放置样本。实际上，没有一个显微镜的悬臂可以伸至蚀坑内&ldquo 看清&rdquo 薄膜表面。 产品规格： 氧化硅薄膜窗特点： 清洗：采用等离子清洗，无有机物残留，改善成像质量； 均匀性：减少了不同区域的不均匀性； 稳定性： 耐高温，1000℃； 良好的化学稳定性：图像分辨率和机械强度达到理想的平衡； 化学计量比的SiO2：可用于氮气环境下的EDX分析； 氧化硅薄膜窗规格 窗口类型薄膜厚度窗口尺寸框架尺寸框架厚度20nm2x1阵列，100X1500μmΦ3mm200μm40nm2x1阵列，100X1500μmΦ3mm200μm20nm3x3阵列，窗口100X100μmΦ3mm200μm40nm3x3阵列，窗口100X100μmΦ3mm200μm8nm窗口0.5x0.5mm，氮化硅薄膜200nm；24个网格，网格大小70x70μmΦ3mm200μm18nm窗口0.5x0.5mm，氮化硅薄膜200nm；24个网格，网格大小60x60μmΦ3mm200μm 40nm窗口0.5x0.5mm，氮化硅薄膜200nm；24个网格，网格大小50x50μmΦ3mm200μm 优点： SEM应用中，薄膜背景不呈现任何结构和特点。 x-射线显微镜中，装载多个分析样的唯一方法。 无氮 应用： 氧化硅薄膜应用范围非常广，甚至有时使不可能变为可能，但所有应用都有无氮要求（因样本中有氮存在）： ● 惰性基片可用于高温环境下，通过TEM、SEM或AFM（某些情况下）对反应进行动态观察。 ● 作为耐用（如&ldquo 强力&rdquo ）基片，首先在TEM下，然后在SEM下对同一区域进行&ldquo 匹配&rdquo 。 ● 作为耐用匹配基片，对AFM和TEM图像进行比较。 ● 聚焦离子束（FIB）样本的装载，我们推荐使用多孔薄膜，而非不间断薄膜。 氧化硅薄膜TEM网格操作使用： 如果正确操作，氧化硅薄膜将会拥有非常好的性能。相反，若用工具直接接触薄膜，则会即刻损坏薄膜。为防损坏，可用尖嘴镊子小心夹取，就像夹取其他TEM网格一样。 使用前清洁： 氧化硅薄膜窗格在使用前不需进行额外清洁。有时薄膜表面边角处会散落个别氧化物或氮化物碎片。由于单片网格需要从整个硅片中分离，并对外框进行打磨，因此这些微小碎片不可避免。尽管如此，我们相信这些碎片微粒不会对您的实验产生任何影响。 如果用户确实需要对这些碎片进行清理，我们建议用H2SO4 : H2O2 (1:1)溶液清洁有机物，用H2O:HCl: H2O2 (5:3:3)溶液清洁金属。 通常不能用超声波清洗器清洁薄膜，因超声波可能使其粉碎性破裂。 详细请咨询：021-35359028/ admin@instsun.com

THGA石墨接触柱这些石墨接触柱在设计上可实现精确贴合，从而使可能影响分析性能的电气接触偏差降至最小。进样孔区域得到改进的接触柱有助于最大限度减少冷凝并改善对复杂基质的分析性能。标准THGA石墨接触柱产品描述部件编号1对B05040355对B0504036 改进型THGA石墨接触柱产品描述部件编号1对B30021035对B3002102配件和备件产品描述部件编号O形圈（接触柱后面、正面和背面）B0500748接触柱拆卸工具B3120405THGA滤筒（50件）B0509065用于通风系统的备用石墨头B0506722

SuperChip?芯片片基，氨基丙基硅烷包被，主要用来PCR 产物点样，制作DNA芯片。又称DNA芯片片基。最高品质的玻璃、低荧光背景，SuperChip?系列产品稳定、卓越的表面包被技术确保DNA均匀固着其上。SuperChip?结合DNA探针能力非凡，而与标记目标的非特异结合极低，这样确保整个芯片反应后背景清晰。这个芯片的制造严格控制在HEPA环境，适于商业芯片点样和检测。 片基特性：l 边缘：平切l 表面质量：60/40 scratch-digl 接触角：40° ± 5°l 标准尺寸：25.10 x 75.36 ±0.38 mml 厚度：1.00 – 0.02 mml 平坦度：10μm variable across a diagonal of 21mm x 75mm slidel Maximum edge chip: 0.5 mml 点样区域：20 x 70 mm 订购信息：货号产品名称规格63475-APAminopropylsilane (APS) Coated Substrates20/盒63475-BCAminopropylsilane (APS) Coated Substrates , Barcode 20/盒63475-ESminopropylsilane (APS) Coated Substrates, ES20/盒

石墨接触柱用于HGA石墨炉的石墨接触柱在设计上可实现精确贴合，从而使可能影响分析性能的电气接触偏差降至最小。石墨接触柱的形状经过了专门设计，以使其能完全嵌入石墨管内。这样，石墨管就定位于一个明确的惰性环境中，从而可确保加热条件一致并且石墨管持久耐用。石墨接触柱用于HGA-900/850/800/700/600/300石墨炉包括左侧接触柱、右侧接触柱和屏蔽环订货信息：产品描述部件编号1套B01284955套B3130086用于塞曼炉包括左侧接触柱和右侧接触柱订货信息：产品描述部件编号1套B01168235套B0180361

chemplex样品薄膜型号：090，250品牌：chemplex产地：美国 一、产品介绍： 在用x荧光光谱仪进行rohs检测，weee检测和一般材料成分分析时，由于样品的不规则（特别是液体、粉末等），需要借助样品杯和薄膜辅助检测；但不合适的样品薄膜往往造成样品污染并影响材料成分分析的x射线信号和检测结果。选择适当的薄膜材料对于分析结果至关重要。 在现有的众多不同的物质类型中，只有为数不多的几种具备能满足光谱化学需要的一致性和化学、物理属性。 如何选择薄膜样本支撑窗材料？适当的薄膜样本支撑窗的选择主要以满足首要重要的实验室要求为基础： 使用方便快捷； 避免造成待测样品污染； 优越的分析物透射比与强度； 对待测样品的耐化学性。chemplex industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是x射线光谱仪（xrf）配件耗材领域的全球知名厂商。chemplex xrf样品杯和样品薄膜用于rohs、weee专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的x射线荧光光谱仪。chemplex样品薄膜薄膜张力特性极/佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注，使得chemplex xrf样本杯、样品薄膜在xrf物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。chemplex的许多xrf样本杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国专利商标局授予知识产权地位。美同达作为美国chemplex公司的中国代理商，提供chemplex所有系列用于对应欧盟rohs和weee环保检测仪器——x射线荧光光谱仪（xrf）的检测实验消耗产品！我们不仅能够为您提供样品薄膜、样品杯, 还可根据您的样品应用为您选择、定制合适的样品薄膜、样品杯。 二、适用仪器：德国斯派克spectro、英国牛津oxford、日本堀场horiba、飞利浦/帕纳科philips/panalytical、德国布鲁克 bruker、美国赛默飞世尔科技（热电）thermo，瑞士arl及日本理学rigaku, siemens, spectrace,jordan, kevex, metorex,fisons, asoma，venus 200,valley等生产的x荧光光谱仪(xrf)。（适用x 射线荧光光谱仪品牌型号：所有x射线荧光光谱仪包括：尼通(niton)：xlt797z 、xlt794、xlt898 ；伊诺斯(innov-x)：alpha6000；牛津(oxford)：met-5000；帕纳科(panalytical)：minipal4、 minipal2；精工(seiko)：sea1000a；斯派克（spectro）：xepos、midex m；热电(thermo)：arl quant’x；日本电子（jeol）jsx－3400r；horriba等。） 三、spectromembrane® 样品薄膜随着spectromembrane® 样本支撑托架的面世，在处理薄膜时用户不再需要担心静电附着或潜在的污染风险或吸引空中颗粒等问题。除样本杯外，薄膜不再近距离接触其它任何物体。薄膜处理将通过使用集成的托框完成，托框能够在组装过程中自动分离，留下绷紧的薄膜样本平面。spectromembrane® 薄膜样本支撑托架由一块粘在托架上作为支撑物的薄膜样本支撑物质组成。在把薄膜物质粘在xrf样本杯上时，薄膜物质并不会被直接处理，这就消除了污染的可能性。接近完成或在完成附着时，薄膜将自动从托架上分离，留下绷紧的无皱样本支撑窗。

薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪介绍：LQJ211万能材料试验机有着超大数显控制系统-为主机曲线、力值、速度和变形动态显示，加上电脑可实现微机操作，参数随意设定，可以做不同材料30KN以内的拉伸、压缩、弯曲、剥离、撕裂、剪切、刺破、低调疲劳等多项力学试验.可根据国际标准ISO.JIS.ASTM.DIN等国际标准和国外标准进行试验和提供数据.以windows操作系统使试验数据曲线动态显示,试验数据可以任意删加,对曲线操作更加简便.轻松.随时随地都可以进行曲线遍历.叠加.分离.缩放.打印等全电子显示监控. 薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪技术参数 Main specifications 1、最大负荷Load Accuracy： 30KN（任意选） 2、荷重元精度Load Accuracy： 0.01% 3、测试精度Measuring accuracy： ± 0.5% 4、操作方式Control： 全电脑控制,windows模式操作 5、有效试验宽度Valid width： 约420mm 6、有效拉伸空间Stroke： 约800mm 7、试验速度Tetxing speed : 0.001~500mm/min 8、速度精度 Speed Accuracy：: ± 0.5%以内； 9、位移测量精度Stroke Accuracy： ± 0.5%以内； 10、变形测量精度Displacement Accuracy： ± 0.5%以内 11、安全装置 Safety device： 电子限位保护，紧急停止键 Safeguard stroke 12、机台重量Main Unit Weight ： 约140kg

产品特点：石墨接触柱用于HGA 石墨炉的石墨接触柱在设计上可实现精确贴合，从而使可能影响分析性能的电气接触偏差降至最小。石墨接触柱的形状经过了专门设计，以使其能完全嵌入石墨管内。这样，石墨管就定位于一个明确的惰性环境中，从而可确保加热条件一致并且石墨管持久耐用。用于HGA - 900/850/800/700/600/300/PinAAcle H 石墨炉● 包括左侧接触柱、右侧接触柱和屏蔽环??订货信息： 石墨接触柱产品描述部件编号1套B01284955套 B3130086HGA 接触柱拆卸工具产品描述部件编号HGA900/AA700/800/PinAAcle900B3121301HGA 仪器观察镜用于优化干燥温度和时间产品描述部件编号HGA 仪器观察镜B0080259

试验机薄膜夹具，包装带等，可定制 最大负荷: 5000N 适用范围：非金属薄板，胶带，双面胶，复合材料，包装带等各种材料的拉力测试