请问匀场时根据半高宽判断匀场是否合适时的数值依据,如氢谱的半高宽应小于多少,碳谱的半高宽应小于多少
如何求半高宽FWHM?半高宽有什么具体意义?手头有几张红外光谱图,不知道怎么分析,请大家帮忙!!谢谢了!
想得到红外光谱一些谱峰的半高宽,要和其他数据做统计,查看origin可以求半高宽,但拟合应该会引入一定的误差,不知道红外有没有什么专门的软件可以求谱峰的半高宽。请高手给予指导。
看到好多文献中用到谱峰的半高宽,但不知道这半高宽其中有什么内涵?能提供什么信息?还请高手赐教!
请教,拉曼仪器的附带软件里有没有能显示半高宽的?急!!!!!!!!
我用jade求解半高宽,方法是先进行谱图检索,然后从报告中读取半高宽。现在遇到的问题是:我同一个样品的同一个峰值,扣除背景后的半高宽居然比没有扣除背景的半高宽还大,为什么呢?所以,我就觉得在jade中读出的这个半高宽根本就不是真正所要求的样品的半高宽。附加问题:1、可以用来求解XRD半高宽的软件有哪些?其中哪个操作方便,哪个准确度高?2、一般从实验室拷回来的数据有没有扣除Si标准的谱,或者说有没有扣去仪器半高宽?我去我们那个实验室问了,他们从来没做过Si标准的测试。多谢关注!
从单晶衍射的azimuthal plot, 算半高宽是,发现同一个晶面的不同峰的半高宽不一样,在这里想请教一些关于测X-Ray 衍射峰的半高宽的方法,不知道哪本书有介绍这个方面的内容?谢谢。。。
看过一篇文献,用低碳低合金钢Fe的(211)峰半高宽测定不同回火温度后钢的位错密度,这样合适吗?半高宽都可以测定哪些参数?我个人认为位错密度变化规律和残余应力的变化规律一致,对吗?谢谢
我看论坛里的帖子都是说半高宽是指半峰高处的峰宽度(FWHM),但是我看到好多文献是指半峰高处的峰宽度的一半(HWHM),我不知道到底是用哪个值,这两者相差一倍啊。
raman光谱中半高宽变宽会由于哪些原因?固体材料
用谢了公式计算晶粒尺寸时,衍射峰的半高宽要扣除仪器本身的宽化,可是不知道怎样能得到仪器本身的半高宽,我在论坛里也看到了一些说法,其中有谈到:仪器本身半高宽与衍射角的位置也有关系,不同的衍射角对应的仪器本身的半高宽数据也不同,因此仪器本身的半高宽与衍射角的关系是一条曲线。怎么能得到这条曲线呢,要用什么标样测呢,改怎么测呢,希望大侠们赐教!
测定能谱分辨率规定用MnKa线的半高宽,这是为什么呢?谱线的半高宽与能量有关,不同能量的谱线半高宽不同。规定厂家用Fe55放射性元素进行测定更方便,而MnKa的能量与Fe55相同,对用户更方便。下图说明能量与半高宽的关系。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/08/201408201856_510990_1609375_3.jpg能量确定了,为什么用半高宽呢?因为谱峰的半高宽与谱峰的高度无关。下图中可以看到有5个不同高度的峰,他们的半高宽相同。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/08/201408201902_510991_1609375_3.bmp当然在测定时计数强度N还是要注意的,因为相对误差=N的平方根的倒数。
我前面发过一个帖子求教XRD半高宽计算的问题http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20091216/2273159/,黄老师帮我恢复中有这样一句“峰形拟合后,得到的半高宽是Kα1衍射的半高宽,因此,扣不扣除Kα2软件会自动识别。”各位老师、同学,这是不是说在求Jade求半高宽的时候,也需要峰形拟合啊?我当初的步骤仅仅是导入数据→谱图检索→读取报告中的FWHM三步。
美国PerkinElmer 的 ICP7000怎么求光谱的半高宽
[~159169~]请问XRD的半高宽是怎么算的?做实验时,第一次老师给了我半高宽数据。后来的都没给。可是,我用JADE寻峰后的半高宽和老师给的不一样,差别还很大。请问该怎么用JADE计算?第一次老师给的数据:Peak No.2thetaFWHMd-valueIntensity117.000.8715.21138686222.640.3293.92421597429.680.2823.00751208关于结晶度计算:文献说把17度和29度附近衍射峰的面积之和除以17度、25度、29度附近衍射峰的面积之和,就是它的结晶度。请问这个面积该从哪里开始划线计算?
想请教各位一个问题xps分峰时由不同化学键所代表的各自的峰半高宽也是固定值吗?比如C-H和C-C键峰的位置是在284.8附近,其半高宽也有个相应的固定值吗?如何设定比较好?在分峰时如果不知道的话让软件自动拟合误差会不会很大?
请问,在XPS分峰过程中所有的峰的半高宽都要接近才算分峰正确吗?比如Sn3d谱有两个峰,分成5/2, 3/2, 5/2,3/2四个峰(每个原峰中分成两个小峰,5/2,3/2),他们的半高宽分别为:1.36, 1.36, 3.33, 3.33, 这样算合理吗?是否这四个小峰都得相近,而不是像这里的结果那样,相差差不多2?
想利用Voigt函数计算晶面垂直方向的微晶尺寸大小Dhkl和晶面垂直方向的晶格畸变应力,应该怎样利用Highscore剥离Ka2后计算对应于Ka1的半高宽和积分宽呢?
问下大家,增加扫描次数半高宽是不是会变化呢?是不是扫描次数越多越精确呢?多谢!!
我们实验室在弄一台能量色散型光谱仪,我对探测器分辨率的概念一直挺模糊,希望大神能给指点迷津。能量色散X射线荧光光谱仪分辨率以5.9keV处Mnkα线最大幅度一半处的谱线宽度(FWHM)来表示,我一直想不明白的是,在测量时间不同时和元素含量不一样时,这个半高宽度难道不变吗?到底该怎么样理解这个分辨率的定义?
求助各位大虾,谢乐公式中的B-半高宽度怎么算出
[size=3]是不是首先要知道这个峰需要用什么进行拟合?而不一定是高斯拟合那?如何确定要用什么拟合那?然后再去求半高宽[/size]
请问下能用jade软件计算半高宽非对称因子吗?另外在分析报告中的shape和skew是什么参数?http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/11/201211091846_402772_2496367_3.jpg
材料在穿、轧热变形形过程中会产生局部变形量、变形速率的差异,同时在后续热处理过程中,由于温度场分布的不均匀及加热冷却速度的不同,因此会在材料中不同程度的存在残余应力,而残余应力的差异直接体现在材料内部位错密度上。通过对公司产品质量异议的分析中发现,材料性能分布不均匀会引起诸多问题,如服役过程中产生应力集中、降低服役安全系数、使用寿命缩短、抗腐蚀敏感性差异大等。因此准确的测量材料中的位错密度能够分析性能不均匀的分布状态,能够从微观上对其进行定量分析,重要性不言而喻。因此开发X射线衍射法对材料的位错密度进行测量。1. 位错密度及其对性能的影响 位错密度 ( dislocationdensity):单位体积内位错线的总长度定义为位错密度,ρ=L/V,式中V为晶体的体积,L为体积V中各位错线长度的总和。为了方便研究,认为位错线都是平行的直线,则位错的密度等于垂直于位错线单位面积中穿过的位错数上式中N为S面积中穿过的位错数。对材料来说,位错密度对材料的韧性,强度等有影响。位错密度越大,材料强度越大,塑性、韧性越不好。位错密度取决于材料变形率率的大小(穿轧过程中的变形)。在高形变率荷载下,位错密度持续增大,因为高应变率下材料的动态回复与位错攀岩被限制,因而位错密度增大,材料强度增大,同时通过热处理也可以改变材料的位错密度分布。2、测试材料位错密度的方法 位错密度的测量传统的方法是采用金相法,通过观察位错露头的个数,计算位错密度。高分辨电镜是个办法,也是很多人用的办法,但是做过相关研究的人都会知道该方法的固有缺陷。(1)好的高分辨电镜晶格花样不宜获得,就算是可以获得,也通常只在一个很小的区域,因此得到的值缺乏统计性。(2)获得高质量高分辨花样后,位错通常是很难辨别的,因为晶格通常不是很清楚,通常要通过傅立叶变化的方法去处理花样,但是傅立叶变换会引入很多误差,有些本来不是位错的地方看起来也像是位错,因为透射电镜晶格像的面积非常小,所以如果多出几根位错也会使结果产生数量级的误差。通过X射线衍射方法测量金属材料是目前较为认可的手段,不但速度快、效率高,而且相对准确性高。因此最终选择X射线衍射方法测定材料中的位错密度。3、X射线衍射法测量位错密度的基本原理 对于理想完整的单晶体,X射线Bragg衍射峰的体征半高宽β0很小,而实际测试到得半高宽要比本征半高宽大很多。影响其半高宽展宽的因素有很多,入射束发散度βd、晶体中存在的缺陷βa等。 实际测量的半高宽可以表达为这些因素的平方和[align=center] β2m=β20+β2d+β2a (1)[/align]入射束发散度βd的加宽主要取决于样品的曲率半径和入射束的限束装置,对于高分辨率X射线衍射来说,以上的加宽很小,可以忽略,因此对于我们测试到的Bragg衍射峰的半高宽βm,可以近似的认为[align=center] β2m≈β2a (2)[/align]其半高宽主要由位错加宽和晶粒尺寸加宽两部分组成,根据谢乐公式[align=center] β=[img=,12,23]http://bbs.instrument.com.cn/xheditor/xheditor_skin/blank.gif[/img][img=,55,43]http://bbs.instrument.com.cn/xheditor/xheditor_skin/blank.gif[/img]+tanθεm (3)[/align]式中β为扫描峰宽FWHM,θ为Bragg角,λ为波长,L为生长方向位错的距离,εm为生长方向上的非均匀应变。关于位错加宽,根据Gay的分析,可以用位错密度D和位错的Burgers适量b的经验公式表示[align=center] D=β2/2ln2πb2 (4)[/align]将测试数据带入式(3)和(4),可以计算样品由位错产生的β。5、具体应用典型材料为研究对象进行测量(结果见表1),衍射峰宽=晶粒尺寸半峰宽+位错密度半峰宽,而晶粒尺寸引发的半峰宽=K×[img=,77,44]http://bbs.instrument.com.cn/xheditor/xheditor_skin/blank.gif[/img]因此,衍射峰宽=K×[img=,83,47]http://bbs.instrument.com.cn/xheditor/xheditor_skin/blank.gif[/img]+位错密度半峰宽表1 测量数据 [table][tr][td] [/td][td]半高宽[/td][td]晶粒尺寸[/td][td]位错密度半高宽[/td][/tr][tr][td] [align=center]1[/align] [/td][td] [align=center]0.561[/align] [/td][td] [align=center]275[/align] [/td][td] [align=center]1.32231E-05[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]2[/align] [/td][td] [align=center]0.538[/align] [/td][td] [align=center]288[/align] [/td][td] [align=center]1.20563E-05[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]3[/align] [/td][td] [align=center]0.569[/align] [/td][td] [align=center]271[/align] [/td][td] [align=center]1.36164E-05[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]4[/align] [/td][td] [align=center]0.549[/align] [/td][td] [align=center]282[/align] [/td][td] [align=center]1.25748E-05[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]5[/align] [/td][td] [align=center]0.472[/align] [/td][td] [align=center]333[/align] [/td][td] [align=center]9.01803E-06[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]6[/align] [/td][td] [align=center]0.513[/align] [/td][td] [align=center]304[/align] [/td][td] [align=center]1.08206E-05[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]7[/align] [/td][td] [align=center]0.51[/align] [/td][td] [align=center]306[/align] [/td][td] [align=center]1.06797E-05[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]8[/align] [/td][td] [align=center]0.448[/align] [/td][td] [align=center]354[/align] [/td][td] [align=center]7.97983E-06[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]9[/align] [/td][td] [align=center]0.591[/align] [/td][td] [align=center]259[/align] [/td][td] [align=center]1.49074E-05[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]10[/align] [/td][td] [align=center]0.611[/align] [/td][td] [align=center]250[/align] [/td][td] [align=center]0.000016[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]11[/align] [/td][td] [align=center]0.552[/align] [/td][td] [align=center]280[/align] [/td][td] [align=center]1.27551E-05[/align] [/td][/tr][/table]使用谢乐公式D=Kλ/Bcosθ,其中K为常数0.89,λ为波长0.154nm,B为积分半高宽,D为晶粒尺寸,其中B为XRD测试的半高宽角度转换成弧度而得。由谢乐公式得出晶粒尺寸,代入到式中,最终得到的总积分半高宽=晶界引起的积分半高宽+晶内位错引起的积分半高宽总积分半高宽数值原始角度数值与转换后的积分半高宽如下表:表2 转换后的积分半高宽情况 [table][tr][td] [align=center] [/align] [/td][td]角度(度)[/td][td]弧度[/td][td]晶粒尺寸(A)[/td][td]晶界引起的积分半高宽[/td][td]晶内位错引起的积分半高宽[/td][/tr][tr][td] [align=center]1[/align] [/td][td]0.561[/td][td]0.00979[/td][td] [align=center]275[/align] [/td][td] [align=center]0.00776[/align] [/td][td] [align=center]0.00203[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]2[/align] [/td][td]0.538[/td][td]0.00939[/td][td] [align=center]288[/align] [/td][td] [align=center]0.00741[/align] [/td][td] [align=center]0.00198[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]3[/align] [/td][td]0.569[/td][td]0.00993[/td][td] [align=center]271[/align] [/td][td] [align=center]0.00787[/align] [/td][td] [align=center]0.00205[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]4[/align] [/td][td]0.549[/td][td]0.00958[/td][td] [align=center]282[/align] [/td][td] [align=center]0.00756[/align] [/td][td] [align=center]0.00201[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]5[/align] [/td][td]0.472[/td][td]0.00823[/td][td] [align=center]333[/align] [/td][td] [align=center]0.00641[/align] [/td][td] [align=center]0.00183[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]6[/align] [/td][td]0.513[/td][td]0.00895[/td][td] [align=center]304[/align] [/td][td] [align=center]0.00702[/align] [/td][td] [align=center]0.00193[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]7[/align] [/td][td]0.51[/td][td]0.0089[/td][td] [align=center]306[/align] [/td][td] [align=center]0.00697[/align] [/td][td] [align=center]0.00193[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]8[/align] [/td][td]0.448[/td][td]0.00782[/td][td] [align=center]354[/align] [/td][td] [align=center]0.00603[/align] [/td][td] [align=center]0.00179[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]9[/align] [/td][td]0.591[/td][td]0.01031[/td][td] [align=center]259[/align] [/td][td] [align=center]0.00824[/align] [/td][td] [align=center]0.00207[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]10[/align] [/td][td]0.611[/td][td]0.01066[/td][td] [align=center]250[/align] [/td][td] [align=center]0.00853[/align] [/td][td] [align=center]0.00213[/align] [/td][/tr][tr][td] [align=center]11[/align] [/td][td]0.552[/td][td]0.00963[/td][td] [align=center]280[/align] [/td][td] [align=center]0.00762[/align] [/td][td] [align=center]0.00201[/align] [/td][/tr][/table]6、结论 用X射线衍射的方法对材料材料的位错密度进行了定量分析,建立了晶粒尺寸、半高宽、晶界位错密度及晶内位错密度的关系,结果相对准确可靠,可以为以后材料内部织构的分析提供重要信息,能更更好的探索材料内部结构与外在性能的关系,为提高产品质量及新钢种的研发提供了新的方向。
现在想了解,国内外色谱、光谱谱峰除了我们常用的峰高、峰面积、半峰宽表征,还可以用其他指标进行表征吗,比如峰面积与峰高比值、半峰宽处峰面积[color=#333333](0.5A)图中斜线部分的面积、0.4A 、0.6A等等。如果想知道使用哪个指标表征更准确,用什么统计学参数进行评价?欢迎大家就此进行讨论,如果有这方面的资料可以发到我的邮箱[email]chensk984@163.com[/email] 谢谢![/color]
XRD分析 半峰宽和峰高各表征什么,有何关系?谢谢
FWHM顾名思义就是高度为一半的时候的峰的宽度,这个没问题吧?而Origin中高斯峰拟和的时候,其公式为 y=y0 + (A/(w*sqrt(PI/2)))*exp(-2*((x-xc)/w)^2)在这里当x-xc=0.5w时,根据公式计算出此时数值约为0.6Hmax,不是真正的Half max啊?这是怎么回事?难道origin中高斯峰拟和出来的W不是半高宽?那它又是什么呢?多谢了~[em09504]
找了会儿,没有找到Fe和Cr的半高宽值,不知道有没有人可以提供一下呢?或者告诉我找的方法也行。谢谢~~
NMR代谢组学中的个问题:由于我们的同组样品在得分图上有较大的离散趋势,审稿人认为这可能是由于NMR重复性不佳的原因引起,需要我们提供TSP的半峰宽数据 (TSP line width),我们的30个样品的TSP半峰宽在1.3 Hz ~ 2.0 Hz之间,相对误差在7~20%。有国外代谢组学实验室规定该值应小于1.6Hz。请问TSP半峰宽与谱图重现性有些什么关系?这些数据能用吗?......
各位大虾: 请问,在GC中,半峰宽,斜率,变参时间,漂移,最小峰面积/峰高这几个参数是如何设定的?为什么半峰宽的值不同,相同的目标峰的峰高会有变化?谢谢了!