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THEVR已经发明了CryoscanTM这种技术,用于更大薄膜样品的快速常规鉴定。这种仪器运 用一种感应技术，可以对高温超导晶片的临界电流密度进行无损绘图。它可以精确测量薄 膜质量，以及临界电流二维，高分辨率的分布图。也可以选择一个附件，使得这台仪器可 以对单一和双面薄膜转移温度进行测定。