固体废物中硫、氯、氟元素含量检测方案(能散型XRF)

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安科慧生|掌握XRF硬核技术 固体废物(硫、氯、氟))元素含量同步测定方案Simultaneous Determination of (S， Cl， F) in Solid Waste 应用概述 随着我国工业化与城市化进程，各行业产生的固体废物逐年递增，对各种固体废物的合理处置成为关系国计民生的重要问题。回收和处置企业出于对处置设备腐蚀以及环境空气污染排放等要素考虑，需要及时确定危害元素含量。分析固体废物中硫含量需要燃烧与库伦滴定法，分析氯和氟需要将样品消解后电位滴定。传统分析方法费时费力，无法满足实时快速以及高通量分析需求。 单波长 X射线荧光光谱仪 MERAK-SC 通过单色化聚焦激发技术，大幅提升轻元素灵敏度，可以同步分析样品中氟、硫、氯以及主量元素含量。快速基本参数法 (FASTFP)大幅提升了分析精度和拓宽样品适应性，同时样品处理简单、检测速度快，为固体废物回收和处置提供科学数据支持。 单波长X射身荧光光谱仪 MERAK-SC 二、 方法原理 1.硬件核心技术：单波长X射线荧光光谱仪(MERAK-SC) 单色化聚焦激发 X射线管入射谱经双曲面弯晶单色化聚焦入射样品，降低了X射线管连续散射线背景干扰，同时增加 SDD 探测器接受样品元素荧光射线强度，从而提升元素特征荧光峰信噪比，提升灵敏度。 2.软件核心技术：快速基本参数法 (FastFP2.0@) 采用基本参数库和先进数学模型进行待测元素间谱线干扰校正、基体效应与元素间吸收增强效应、背景扣除等计算，采用少量定值样品进一步校正计算偏差，提高元素定量准确性和样品适应性。 三、 性能数据 元素分析范围 元素 N/O F Na\Mg\Al SiP\S\C1 K~Zn 检出限 1.5% 0.15% 0.03% 0.005% 0.003% 分析范围 5%~90% 0.5%~50% 0.1%~50% 0.02%~50% 0.01%~20% 说明：元素检出限与基体成分有关，本实验中数据采用水基体进行测试得到。 元素谱图 图一：1%NaF分析普图 图二：0.1%S， Cl 分析谱图 精密度 F重复性 S重复性 Cl重复性 测试次数 标准值 测试值 标准值 测试结果 标准值 Raw FP 1% 0.957% 0.112% 0.093% 0.105% 0.093% 2 1% 1.114% 0.112% 0.097% 0.105% 0.094% 3 1% 0.976% 0.112% 0.096% 0.105% 0.093% 1% 1.087% 0.112% 0.096% 0.105% 0.095% 5 1% 1.186% 0.112% 0.096% 0.105% 0.095% 6 1% 0.92% 0.112% 0.098% 0.105% 0.096% 7 1% 1.076% 0.112% 0.099% 0.105% 0.096% 平均值 1% 1.045% 0.112% 0.096% 0.105% 0.095% RSD 9.2% 1.8% 1.2% 四、 操作步骤 液体样品：用移液管取4ml 样品装入液体样品杯 固体样品：取4g以上样品，压片机20Mpa 将样品压成片 将处理好的样品，置入仪器，5分钟即可得到测试结果 五、 特点优势 样品适应范围宽 适用于液体、粉末、固体等样品类型元素分析 元素分析范围宽 危害元素：S、C1、F，，常量元素：： Na-Zn 分析速度快 样品处理简单，分析速度5分钟/样品 准确度高 与标准方法有较高的数据一致性 操作简单 从硬件到软件“傻瓜式”操作，简单可靠 原创声明：本文除注明引用之外属于安科慧生(Ancoren)公司原创，若有转发和引用，必须注明出处，否则可能涉及侵权行为! 更详细技术信息，请咨询安科慧生工作人员! 北京安科慧生科技有限公司Beijing Ancoren Science&Technology Co.，ltd 固体废物（硫、氯、氟）元素含量同步测定方案Simultaneous Determination of (S, Cl, F) in Solid Waste一、       应用概述随着我国工业化与城市化进程，各行业产生的固体废物逐年递增，对各种固体废物的合理处置成为关系国计民生的重要问题。回收和处置企业出于对处置设备腐蚀以及环境空气污染排放等要素考虑，需要及时确定危害元素含量。分析固体废物中硫含量需要燃烧与库伦滴定法，分析氯和氟需要将样品消解后电位滴定。传统分析方法费时费力，无法满足实时快速以及高通量分析需求。单波长X射线荧光光谱仪MERAK-SC通过单色化聚焦激发技术，大幅提升轻元素灵敏度，可以同步分析样品中氟、硫、氯以及主量元素含量。快速基本参数法（FAST FP）大幅提升了分析精度和拓宽样品适应性，同时样品处理简单、检测速度快，为固体废物回收和处置提供科学数据支持。 单波长X射线荧光光谱仪MERAK-SC 二、       方法原理1.     硬件核心技术：单波长X射线荧光光谱仪（MERAK-SC）     单色化聚焦激发X射线管入射谱经双曲面弯晶单色化聚焦入射样品，降低了X射线管连续散射线背景干扰，同时增加SDD探测器接受样品元素荧光射线强度，从而提升元素特征荧光峰信噪比，提升灵敏度。2.     软件核心技术：快速基本参数法（Fast FP2.0®）采用基本参数库和先进数学模型进行待测元素间谱线干扰校正、基体效应与元素间吸收增强效应、背景扣除等计算，采用少量定值样品进一步校正计算偏差，提高元素定量准确性和样品适应性。三、       性能数据l  元素分析范围元素N/OFNa\Mg\AlSi\P\S\ClK~Zn检出限1.5%0.15%0.03%0.005%0.003%分析范围5%~90%0.5%~50%0.1%~50%0.02%~50%0.01%~20% 说明：元素检出限与基体成分有关，本实验中数据采用水基体进行测试得到。  l  元素谱图F:Ka 图一：1% NaF分析谱图图二：0.1% S, Cl分析谱图l  精密度F重复性S重复性Cl 重复性测试次数标准值测试值标准值测试结果标准值Raw FP11%0.957%0.112%0.093%0.105%0.093%21%1.114%0.112%0.097%0.105%0.094%31%0.976%0.112%0.096%0.105%0.093%41%1.087%0.112%0.096%0.105%0.095%51%1.186%0.112%0.096%0.105%0.095%61%0.92%0.112%0.098%0.105%0.096%71%1.076%0.112%0.099%0.105%0.096%平均值1%1.045%0.112%0.096%0.105%0.095%RSD——9.2%——1.8%——1.2%  四、       操作步骤液体样品：用移液管取4ml样品装入液体样品杯固体样品：取4g以上样品，压片机20Mpa将样品压成片将处理好的样品，置入仪器，5分钟即可得到测试结果五、       特点优势l  样品适应范围宽适用于液体、粉末、固体等样品类型元素分析l  元素分析范围宽危害元素：S、Cl、F，常量元素：Na-Znl  分析速度快样品处理简单，分析速度5分钟/样品l  准确度高与标准方法有较高的数据一致性l  操作简单从硬件到软件“傻瓜式”操作，简单可靠          原创声明：本文除注明引用之外属于安科慧生（Ancoren）公司原创，若有转发和引用，必须注明出处，   否则可能涉及侵权行为！更详细技术信息，请咨询安科慧生工作人员！