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Xenocs小角X射线散射仪无过渡金属制备聚乙烯基阴离子交换膜

检测样品 其它

检测项目 聚乙烯(PE)骨架的阴离子交换膜(AEM)

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方案详情

我们报道了一种制备氨功能化聚乙烯材料作为AEMs的新方法。这种简便、可扩展的合成方法使用商业EVA作为起始材料,而且不依赖任何过渡金属催化剂。更重要的是,阳离子官能团的身份和掺入比例可以很容易地调整,从而合成和比较了一系列高性能的三甲基铵和哌替啶功能化PE-AEMs。例如,PE13-A1膜在80℃时表现出104 mS/cm的氢氧化物电导率,在超过500%的应变下表现出20 MPa的断裂应力,在60◦C、5 M KOH条件下表现稳定30天。用无贵金属电催化剂将膜组装成AEMWEs,在60◦C下使用0.1 M KOH电解质,在2.0 V电压下产生高达0.753 A cm-2的电流密度。

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聚乙烯(PE)骨架的阴离子交换膜(AEM)通常具有突出的化学稳定性、平衡的刚度和韧性、与各种离子官能团的良好相容性和无芳香结构等优点。然而,以前无芳族聚乙烯基AEM的制备依赖于复杂的单体合成和昂贵的过渡金属催化剂(用于复分解、氢化、配位聚合等)。在此我们提出了一种新的方法,使用商用聚(乙烯-乙酸乙烯酯共聚物)(EVA)方便地制备一系列三甲基铵和哌啶基功能化的聚乙烯基AEMs。合成过程包括Mitsunobu衍生化以形成氨基官能化的PE中间体,而不使用任何过渡金属催化剂。所得的AEM具有高的氢氧根电导率和优异的碱性稳定性,在80°C下氢氧根电导率高达129 mS/cm,在60°C下在5 M KOH中30天电导率基本不变。另外,我们所得到的AEM具有良好的AEM水电解性能。基本不变。另外,我们所得到的AEM具有良好的AEM水电解性能。

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赛诺普(苏州)科学仪器有限公司为您提供《Xenocs小角X射线散射仪无过渡金属制备聚乙烯基阴离子交换膜》,该方案主要用于其它中聚乙烯(PE)骨架的阴离子交换膜(AEM)检测,参考标准《暂无》,《Xenocs小角X射线散射仪无过渡金属制备聚乙烯基阴离子交换膜》用到的仪器有Xenocs小角X射线散射仪Xeuss 3.0 UHR、X-ray Scattering Analysis and Calculation Tool、赛诺普 GeniX 3D X射线光源、赛诺普 无散射狭缝。

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