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小角X射线散射(SAXS)是一种无损技术,能够测试1-250nm范围内的材料结构,并且只需要很简单的样品制备过程。它提供了宏观体积范围(通常为1mm3)的统计相关信息。因此,它对于只提供局部信息的电镜技术,是一种理想的补充。虽然传统意义上SAXS用于表征实验室定义明确的小体积样品的尺寸分布,但本应用手册展示了SAXS与独特的数据分析算法结合,成功地应用于表征工业用途不同工艺步骤的纳米颗粒的尺寸分布。Nanomakers是一家生产纳米颗粒和纳米复合材料的制造商[2]。SAXS是目前唯一一种能够准确测定干粉、分散液和纳米复合材料的纳米粒径的技术,这为Nanomakers提供了整个生产链的纳米结构信息。
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赛诺普(苏州)科学仪器有限公司为您提供《赛诺普Xenocs小角X射线散射仪检测固体粉末、颗粒分散液及复合材料的纳米粒径分布》,该方案主要用于其它中纳米粒径检测,参考标准《暂无》,《赛诺普Xenocs小角X射线散射仪检测固体粉末、颗粒分散液及复合材料的纳米粒径分布》用到的仪器有Xenocs小角X射线散射仪Nano-inXider。
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