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Tempro系统在荧光寿命分析中的应用

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HORIBA Scientific提供的TemPro系统,采用功能强大的时域技术,可以测量宽范围荧光寿命(皮秒至秒范围),满足荧光和磷光寿命的测定。TemPro具有光源易替换的特点,脉冲激光二管覆盖宽范围波长(255nm至近红外区);可升级发射单色仪,实现时间分辨发射谱(TRES)的测量;配合偏振器,测定荧光各向异性。

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产品配置单

HORIBA(中国)为您提供《Tempro系统在荧光寿命分析中的应用》,该方案主要用于其他中null检测,参考标准《暂无》,《Tempro系统在荧光寿命分析中的应用》用到的仪器有null。

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