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SurPASS 应用报告A48IA31-Bwww.anton-paar.com 材料电导率对硅晶片zeta电位的影响 导电表面：：： ：：：流动电流测试方法可以给出导体表面正确的zeta电位。 与流动电势数据相结合，可以了解材料表面电导的数值信息。 近几年zeta电位的研究在理解和调整表面性能方面已经占据增进的重要地位。Zeta电位能灵敏指示表面电荷。表面电导率影响着zeta电位的数值测定。 在日常应用如半导体领域里金属膜以及腐蚀现象及涂层整体质量控制等方面上，表面电导的分析有着重大意义。 在不考虑研究样品的表面电导情况下，常用流动电势数值来估算，因此这影响着得到的zeta电位数值大小。相反地，由测流动电流得出的zeta电位并不受材料表面电导的影响。 在毫微安范围内测流动电流方法具有更高的可靠性，因此要得到导电性材料的准确zeta电位，必须要用流动电流方法。 另外，流动电流和流动电势得到的不同结果，这可以用来说明未知材料的表面电导。 对于绝缘体来说(例如二氧化硅)，两个结果是一样的；而对有着较大的表面电导的金属材料来说，二者则有很大的不同。 通过流动电流和流动电势方法测得的zeta电位(103MKCI， pH5.5) SiO ：热生成二氧化硅的硅片 Au： 表面有金涂层的硅片 Cu：表面有铜涂层的硅片 表面电导是通过zeta电位的准确值和表观值计算出来的。 ( ：：： see also Application Flash A48IA32-A： Corrosion inhibition of stainless steel by protective coating )
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安东帕(上海)商贸有限公司为您提供《材料电导率对硅晶片zeta电位的影响》，该方案主要用于其他中null检测，参考标准《暂无》，《材料电导率对硅晶片zeta电位的影响》用到的仪器有固体表面Zeta电位分析仪SurPASS。
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