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衰减全反射ATR法是验证分析和异物分析中广泛使用方法,峰强度和位置会根据样品性质和晶体材质而不同。本次使用金刚石、硒化锌好锗等3种晶体,对样品进行测定。本文介绍对晶体与样品的接触程度和不同样品性状得到的ATR光谱进行分析示例。ATR光谱的峰强度和峰位置根据晶体的折射率而发生变化。使用高级ATR校正功能,不仅可以是ATR光谱和透射光谱相似,还能对不同晶体得到的ATR光谱进行比较。
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