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半导体中元素分析检测方案(ICP-AES)

检测样品 集成电路

检测项目 化学性质

关联设备 共2种 下载方案

方案详情

ICP-MS 作为一种金属元素分析仪器应用于半导体产业链,始于 20 世纪 80 年代。随着半导体制程的不断迭代,整个行业对 ICP-MS 的性能提出了越来越高的要求。过去 30 年来,位于日本东京的安捷伦 ICP-MS 全球研发中心与半导体产业链端客户密切合作,引领着 ICP-MS 在全球半导体产业链中的应用不断创新。

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ICP-MS 作为一种金属元素分析仪器应用于半导体产业链,始于 20 世纪 80 年代。随着半导体制程的不断迭代,整个行业对 ICP-MS 的性能提出了越来越高的要求。过去 30 年来,位于日本东京的安捷伦 ICP-MS 全球研发中心与半导体产业链端客户密切合作,引领着 ICP-MS 在全球半导体产业链中的应用不断创新。

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产品配置单

安捷伦科技(中国)有限公司为您提供《半导体中元素分析检测方案(ICP-AES)》,该方案主要用于集成电路中化学性质检测,参考标准《暂无》,《半导体中元素分析检测方案(ICP-AES)》用到的仪器有Agilent 5800 ICP-OES、Agilent 8900 ICP-MS/MS。

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