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使用两种方法测量单晶光学材料的折射率
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在先进材料的生产中，需要对材料参数进行快速、准确且节省人力的测定。光学材料（特别是晶体）应用所需的主要参数之一是折射率 (n)。常用的折射率测定方法有三种[1-3]：1) 测角法利用测角仪-光谱仪测量一定角度下的透射（包括光的最小偏向角），并根据斯涅尔定律计算 n。该方法需要呈大三棱镜形式的透明样品，且在底平面与抛光工作平面之间具有精确的角度。2) 椭圆偏振测量法利用椭圆偏振计直接测量反射光的振幅比和相移。该方法需要针对每种材料的特定光学模型。商业软件包中包含标准光学模型，但是如果需要测量未知材料或新材料，这些软件包中可能不包含相应的光学模型。3) 分光光度法配备采样附件的分光光度计可用于将样品和检测器旋转到能够收集绝对镜面反射数据（或角度透射数据）的角度。分光光度法可进一步细分为 3 种最常用的方法：
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安捷伦科技(中国)有限公司为您提供《用于折射率测量的分光光度法》，该方案主要用于陶瓷中折射率测量检测，参考标准《暂无》，《用于折射率测量的分光光度法》用到的仪器有Cary 5000 紫外可见近红外分光光度计。
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