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【原创】香港城市大学材料微观分析及性能测试专业服务

综合仪器采购

  • 香港城市大学材料微观分析及性能测试专业服务
    Materials Micro-analytical Characterization and Testing Services
    ( M2CTS )
    香港城市大学深圳研究院材料微观分析与性能测试专业服务
    地址:深圳市南山区科技园虚拟大学园A-413
    电话:0755-26712113传真:0755-26017717
    邮箱:indshuogong@cityu.org.cn
    联系人:龚硕 先生

    http://www.cityu.org.cn
    http://www.cityu.org.cn/service/demo_file.pdf
    http://www.cityu.org.cn/service/introduction_file.doc

    主要实验室

    一、金相实验室
    • Leica DM/RM 光学显微镜
    主要特性:用于金相显微分析,可直观检测金属材料的微观组织,如原材料缺陷、偏析、初生碳化物、脱碳层、氮化层及焊接、冷加工、铸造、锻造、热处理等等不同状态下的组织组成,从而判断材质优劣。须进行样品制备工作,最大放大倍数约1400倍。
    • Leica 体视显微镜
    主要特性:1、用于观察材料的表面低倍形貌,初步判断材质缺陷;
    2、观察断口的宏观断裂形貌,初步判断裂纹起源。
    • 热振光模拟显微镜
    • 图象分析仪
    • 莱卡DM/RM 显微镜附 CCD数码 照相装置

    二、电子显微镜实验室
    • 扫描电子显微镜(附电子探针) (JEOL JSM5200,JOEL JSM820,JEOL JSM6335)
    主要特性:
    1、用于断裂分析、断口的高倍显微形貌分析,如解理断裂、疲劳断裂(疲劳辉纹)、晶间断裂(氢脆、应力腐蚀、蠕变、高温回火脆性、起源于晶界的脆性物、析出物等)、侵蚀形貌、侵蚀产物分析及焊缝分析。
    2、附带能谱,用于微区成分分析及较小样品的成分分析、晶体学分析,测量点阵参数/合金相、夹杂物分析、浓度梯度测定等。
    3、用于金属、半导体、电子陶瓷、电容器的失效分析及材质检验、放大倍率:10X—300,000X;样品尺寸:0.1mm—10cm;分辩率:1—50nm。
    • 透射电子显微镜(菲利蒲 CM-20,CM-200)
    主要特性:
    1、需进行试样制备为金属薄膜,试样厚度须<200nm。用于薄膜表面科学分析,带能谱,可进行化学成分分析。
    2、有三种衍射花样:斑点花样、菊池线花样、会聚束花样。斑点花样用于确定第二相、孪晶、有序化、调幅结构、取向关系、成象衍射条件。菊池线花样用于衬度分析、结构分析、相变分析以及晶体精确取向、布拉格位移矢量、电子波长测定。会聚束花样用于测定晶体试样厚度、强度分布、取向、点群、空间群及晶体缺陷。

    三、X射线衍射实验室
    • XRD-Siemens500—X射线衍射仪
    主要特性:
    1、专用于测定粉末样品的晶体结构(如密排六方,体心立方,面心立方等),晶型,点阵类型,晶面指数,衍射角,布拉格位移矢量,已及用于各组成相的含量及类型的测定。测试时间约需1小时。
    2、可升温(加热)使用。
    • XRD-Philips X’Pert MRD—X射线衍射仪
    主要特性:
    1、分辨率衍射仪,主要用于材料科学的研究工作,如半导体材料等,其重现性精度达万分之一度。
    2、具备物相分析(定性、定量、物相晶粒度测定;点阵参数测定),残余应力及织构的测定;薄膜物相鉴定、薄膜厚度、粗糙度测定;非平整样品物相分析、小角度散射分析等功能。
    3、用于快速定性定量测定各类材料(包括金属、陶瓷、半导体材料)的化学成分组成及元素含量。如:Si、P、S 、Mn、Cr、Mo、Ni、V、Fe、Co、W等等,精确度为0.1%。
    4、同时可观察样品的显微形貌,进行显微选区成分分析。
    5、可测尺寸由φ 10 × 10mm至φ280×120mm;最大探测深度:10μm
    • XRD-Bruker—X射线衍射仪
    主要特点 :
    1、有二维探测系统,用于快速测定金属及粉末样品的晶体结构(如密排六方、体心立方、面心立方等)、晶型、点阵类型、晶面指数、衍射角、布拉格位移矢量。
    2、用于表面的残余应力测定、相变分析、晶体织构及各组成相的含量及类型的测定。
    3、测试样品的最大尺寸为100×100×10(mm)。
    • 能量散射X-射线荧光光谱仪 (EDXRF)
    主要特点:
    1、用于快速定性定量测定各类材料(包括金属、陶瓷、半导体材料)的化学成分组成及元素含量。如:Si、P、 S 、Mn、Cr、Mo、Ni、V、Fe、Co、W等等。
    2、同时可观察样品的显微形貌,进行显微选区成分分析。
    3、最大可测尺寸为:φ280×120mm


    目标
    •    领导技术服务发展潮流,在珠江三角洲地区为广大厂家包括制造业,能源业,建筑及建材业等提供高水平的材料微观分析和性能测试专业服务。
    •    通过提供服务,促进城大与广大工业厂商之间的专业技术合作交流,推动科技成果转化。

    适用客户
    半导体,建筑业,轻金属业,新材料,包装业,模具业,科研机构,高校,电镀,化工,能源,生物制药,光电子,显示器。
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