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【求助】用能谱可以定量样品表层的元素么？

XPS及其它能谱仪

  • 想做一下样品颗粒表层的元素摩尔比，不知道用能谱可以不？
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  • 该帖子已被版主-feixiong5134加2积分，加2经验;加分理由:鼓励发贴
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  • feixiong5134

    第1楼2008/08/05

    不知道元素是什么！
    如果含量高点的话应该是可以的

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    +关注 私聊

  • daxu

    第2楼2008/08/05

    元素是K、Si、Al、O，含量比较高，
    在TEM版块问过，想能EDS定量分析，但制样可能比较困难。我的原意是用TEM看到颗粒外表那层薄薄的层后，测定那层薄层的元素量，然后再和基体的做比较。如果用XPS的话，测出的元素量代表颗粒多深厚度的？请各位指教！谢谢

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  • feixiong5134

    第3楼2008/08/06

    EDS是体相分析
    XPS是表面分析
    取样深度5nm左右

    daxu 发表:元素是K、Si、Al、O，含量比较高，
    在TEM版块问过，想能EDS定量分析，但制样可能比较困难。我的原意是用TEM看到颗粒外表那层薄薄的层后，测定那层薄层的元素量，然后再和基体的做比较。如果用XPS的话，测出的元素量代表颗粒多深厚度的？请各位指教！谢谢

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  • feixiong5134

    第5楼2008/08/08

    不用客气
    欢迎以后经常来

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