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【求助】问一下,用TEM能定量测量颗粒表层的元素么?

透射电镜(TEM)

  • 样品经酸腐蚀后会产生纳米级的薄层,想用TEM打一下表层的元素比例,不知道行不行?元素是K、Si、Al、O
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  • 怪味陈皮

    第1楼2008/08/05

    做XPS比较合适。

    daxu 发表:样品经酸腐蚀后会产生纳米级的薄层,想用TEM打一下表层的元素比例,不知道行不行?元素是K、Si、Al、O

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  • 蓝莓口香糖

    第2楼2008/08/05

    分析不是大问题。关键是怎么制样。先制杨再腐蚀,还是先腐蚀在制样?怎么把那个薄层保留下来?好难呀。

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  • daxu

    第3楼2008/08/05

    如果做xps的话,测出的元素含量能代表薄层的么?

    ustb 发表:做XPS比较合适。

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  • wunderfool

    第4楼2008/08/06

    如果做xps的话,测出的元素含量能代表薄层的么?[/quote]

    是啊,XPS测得的是表层几个纳米内的信息。俄歇电子能谱(AES)也可以的。

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  • wyxyy

    第6楼2008/10/10

    因为是做表面的元素分析,不同的仪器的表面分析深度是不一样的。XPS分析的样品的表面深度比俄歇电子能谱的要深。你或许可以先用俄歇电子能谱分析一下,再用离子减薄打掉点,再分析试试。不过俄歇电子能谱更适用于轻元素。

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