国家标准GB
无名
第1楼2008/08/21
GB 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
第2楼2008/08/21
GB 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
第3楼2008/08/21
GB 1554-1995 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
第4楼2008/08/21
GBT 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法
第5楼2008/08/21
GBT 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
第6楼2008/08/21
GBT 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
liutw30
第8楼2008/08/21
太感谢了!找了多日,在仪器网上真能收获不少啊!
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