【讨论】动态光散射击法测定粒度时探测器的角度与数量

动态光散射法的测试下限不是探测器角度越大测试下限越小吧,它的道理和静态法完全不同,它是靠采集某一角度下颗粒的布朗运动随时间的变化情况对光强产生的跌荡起伏,来分析粒度大小的.在不同角度安装多个探测器是为了提高分辨精度,分辨精度提高也就可以扩展测试下限了.通常情况下为了减小系统的复杂度,采用90度下的一个探测器.这样在理论范围内的精度也是可以的.

1.角度越大检测的粒径越小。
2.是在同一侧，
3.是的
4.马尔文的是两个检测器，一个正面，一个在侧面
5.马尔文还有135度的，用的是两个检测器

这个是从珠海欧美克06年的资料上剪下来的，不知道现在他们仪器结构有没有变化。

当年公司购买粒度仪的时候我这边没有参与考察，所以对各家的仪器结构很不熟悉，欢迎各个公司技术人员来这里给大家做个介绍。
不过，只是就事论事，拒绝广告，呵呵....

楼上贴的图片是属于静态光散射的，跟楼主问的动态光散射是不同的。

Mastersizer 2000 光路设计示意图（没拆过仪器，不知实际结构如何）：

没看见youjian000的回复，又多发了两个图

出糗了


能不能具体讲讲区别？

非常感谢楼上的几位提供的资料,这些图片正是我需要的.
我还有一个问题,在MS2000中,几个背向检测器是所获得的信号会提供什么样的信息?

主要是用来检测小颗粒的光散射信号.