earthli
第4楼2008/12/20
不知道你是否找到懂技术方面的人的答案,
但是关于这个答案我有一些看法,仅此参考:
这SEM和TEM在实际上,两者获得能谱原理是一样的,
两者有不同可能有几个方面:
1)SEM的beam太强,很容易破坏颗粒物,如果你样品镀了膜更是不能比较。
这两者虽然你选择的差不多,但是SEM的的BEAM太大,和TEM能进行有效控制完全不同。再加上,两者的发射源也不同。
2)我想你用EDS,最后应该用半定量这个说法来比较,他们应该有一个范围的差别,如果作定量的比较,从技术角度等,觉得不太可能。
3)样品厚度啊,真空条件也是一个因素。
4)你在SEM上用的hoder和TEM肯定是不一样的。这些HODER的材料也会影响到EDS的成分的差别。
希望这些对你进一步思考你的样品有帮助。