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【求助】SEM/EDS仪器测量参数与TEM/EDS仪器测量参数比较

  • genghong2006
    2008/12/18
  • 私聊

透射电镜(TEM)

  • 本人最近做大气颗粒物的SEM和TEM观测,SEM和TEM仪器上都配有EDS,SEM用的是日本产JEOL JSM-6390-SEM,TEM用的JEOL的JEM-2100。在做SEM/EDS时加速电压:10KV,数据获取时间:10秒,beam电流:10nA,beam直径:100nm;而做TEM/EDS时,测量人员告诉我加速电压200KV,数据获取时间20秒,beam电流120000nA,beam直径0.5nm。同样是EDS测量,为什么TEM/EDS与SEM/EDS会有如此大的悬殊呢?它们获得的EDS结果哪个更可靠呢?我的想法是TEM获取细颗粒图像时为提高分辨率,使用200KV的加速电压,而做EDS时是不是另有一套参数啊?可能问题比较初级,让各位见笑了,但基础的东西往往是最重要的,恳请高人指点。谢谢!
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  • genghong2006

    第1楼2008/12/18

    补充一下,还有一个出射角(take-off angle)的问题:SEM/EDS为35度,而TEM/EDS为18.7度,为什么会不一样呢?谢谢!

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  • 天黑请闭眼

    第2楼2008/12/19

    这个问一下扫描电镜版的专家Tao吧,他应该能给你专业的回答。

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  • genghong2006

    第3楼2008/12/19

    多谢专家的指点。

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  • earthli

    第4楼2008/12/20

    不知道你是否找到懂技术方面的人的答案,
    但是关于这个答案我有一些看法,仅此参考:
    这SEM和TEM在实际上,两者获得能谱原理是一样的,
    两者有不同可能有几个方面:
    1)SEM的beam太强,很容易破坏颗粒物,如果你样品镀了膜更是不能比较。
    这两者虽然你选择的差不多,但是SEM的的BEAM太大,和TEM能进行有效控制完全不同。再加上,两者的发射源也不同。
    2)我想你用EDS,最后应该用半定量这个说法来比较,他们应该有一个范围的差别,如果作定量的比较,从技术角度等,觉得不太可能。
    3)样品厚度啊,真空条件也是一个因素。
    4)你在SEM上用的hoder和TEM肯定是不一样的。这些HODER的材料也会影响到EDS的成分的差别。
    希望这些对你进一步思考你的样品有帮助。

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