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请教:谢乐公式的beta是怎么计算的?

X射线衍射仪(XRD)

  • 单位又是什么呢?多谢了!!!
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  • 第1楼2005/12/12

    好像是半高宽呀,就是峰顶到底的高度的一半的地方的宽度,测量出来后再转化为弧度。
    个人认为!

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  • 第2楼2005/12/12

    多谢,已经得到解答了,就是弧度

    djzty 发表:好像是半高宽呀,就是峰顶到底的高度的一半的地方的宽度,测量出来后再转化为弧度。
    个人认为!

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  • 第3楼2006/01/20

    弧度是没有错。
    但要得到它不是那么容易。
    你从衍射峰上测量的fwhm包含了以下三方面的内容。
    1.仪器的宽化因子。
    2.晶粒细化因子。
    3.晶体内应力因子。
    三者是gaussian函数的卷积关系。
    要得到单独的一个是很麻烦的,但一定要做。
    否则结果相差百倍。
    不信老兄可以用tem等机器验证你用谢乐公式的计算结果!!

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  • 第4楼2006/01/20

    多谢指教,我就是为了验证TEM的观察结果,大致计算一下,还算凑和:)
    以后还要多向您请教!

    wustliang 发表:弧度是没有错。
    但要得到它不是那么容易。
    你从衍射峰上测量的fwhm包含了以下三方面的内容。
    1.仪器的宽化因子。
    2.晶粒细化因子。
    3.晶体内应力因子。
    三者是gaussian函数的卷积关系。
    要得到单独的一个是很麻烦的,但一定要做。
    否则结果相差百倍。
    不信老兄可以用tem等机器验证你用谢乐公式的计算结果!!

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  • 第5楼2006/02/13

    请问一下,通过TEM能看到晶粒的大小么?多谢,请指教

    shxie 发表:多谢指教,我就是为了验证TEM的观察结果,大致计算一下,还算凑和:)
    以后还要多向您请教!

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  • 第6楼2006/03/21

    TEM测量晶粒的大小是没有问题的,但结果随机性很大.
    对于发育不好的材料来说,随着测量区域的不同,得到的结果很难一致.
    xrd测量的结果是一个数据平均值,只要做好相应的反卷积计算,一般是
    可信的,但要记住其范围在10-200nm之间,超出这个范围,就不准确了.

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  • 第7楼2006/03/21

    Scherrer公式:其中,K为Scherrer常数,其值为0.89;D为晶粒尺寸(nm);β为积分半高宽度,在计算的过程中,需转化为弧度(rad);θ为衍射角;λ为X射线波长,为0.154056nm。

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  • 第9楼2006/05/06

    beta 是半峰宽,单位是弧度。

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  • 第10楼2006/06/21

    使用谢乐公式时,有三个宽度,一是标准样品的半峰宽,称为仪器宽度FWI,另一个是样品的测量峰的半峰宽,称为FWS,那么你说的BETA,就是FWS^D-FWI^D,这里的D可取1-2之间的一个值.至于取多少,要看峰的形状了,一般情况下取2吧.这个公式算出来的就是样品的加宽,这种加宽主要由于两种原因,一是样品中存在微观应变(冷加工后),二是由于样品的晶粒度(是晶粒度不是粒度)很小,导致反射球半径增大.一般情况下,说晶粒很小,是指晶粒小于100nm.如果大于100nm那么就不会使衍射峰加宽了.一般情况下,对于纳米材料的粉末,退火处理后就没有前一种效应了,因此可以使用谢乐公式来计算晶粒大小.如果是加工态金属材料,或者经过烧结之类的粉末冶金方法得到的粉末,必须同时考虑两者的同时存在,问题会变得复杂起来,这时BETA又是两种效应引起的复杂效应,一般称为卷积,要解出两种效应,同样可以使用上面的公式.只是意义变了.

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