MCICPMS能否代替TIMS

由于ICP离子源固有的flicker noise，使得它不算稳定。截取锥后、透镜、飞行管道都会发生较为严重的质量歧视……MC-ICP-MS能获得堪比TIMS的高精度数据，但是对操作者要求很高。

TIMS的离子源激发稳定，能量色散<1eV。找个高中生稍加指点，他就能操作仪器，得到高精度测试结果。

现在MCICPMS的样品前处理好像也很精细

我的理解是
TIMS的主要工作还是前处理，分离得到比较纯的待测元素。这是因为在热电离时其它杂质元素对它的电离行为影响比较大。
TIMS测试一个样品往往要好几个小时，除去抽真空等其它时间，分析测试的时间就比较多，在稳定条件下测量的重复数据比较多，经过校正后得到准确数据。

MCICPMS的电离效率比较高，它主要是调节仪器的稳定程度来提高数据的稳定性。

【截取锥后、透镜、飞行管道都会发生较为严重的质量歧视……】
我不太了解TIMS的离子提取和飞行管道那一部分，对ICPMS和TIMS相比在这一部分的质量歧视较为严重的原因是什么呢？

多接收杯静态测定Li、B、Sr、Nd、Pb同位素，半小时至一小时就OK；单个SEM动态调峰测定Os同位素，要花2小时。

TIMS是在真空仓内将纯化后的元素单独激发，能量色散小；而MC-ICP-MS是 通过样品锥、截取锥逐级降低真空(1e5 Pa、200 Pa、 5e-5Pa)，锥后的质量歧视很大的。

MC-ICPMS要是用来测Sr-Nd，也是只要个高中生就可以。就使用来说，MC可能对使用者的仪器熟悉程度略高，其他方面基本类似。甚至在某些方面MC要更加简单一些。比如测B同位素。

个人感觉，MC总体上完全可以取代TIMS，不过在一些微量样品方面，还是TIMS效率更高。尤其是有些元素的氧化物灵敏度很高的时候，比如Os，Nd。

个人感觉MCICPMS要取代TIMS也不是不可能的，只是在一些同位素Pb，Os的超低含量和精度要求较高的情况下时，只能用TIMS测定，MC往往达不到测定要求，但是一般来说，用来是用的数据精确的位数，用MC都可以达到了

由于ICP离子源固有的flicker noise，使得它不算稳定。截取锥后、透镜、飞行管道都会发生较为严重的质量歧视……MC-ICP-MS能获得堪比TIMS的高精度数据，但是对操作者要求很高。

短时间内应该不会的 各有优势