我是新手,想问几个XRD的问题.

对于这个问题
我要查一下
等等阿

第二个问题是
必须添加小角度附件。
一度之内跟本用普通的方法无法测量
而1-6度，或者说90度内的，测量准确性都比较低

谢谢你
我跟各位测量XRD的目的可能不同,我主要想测量孔
径的大小,作过类似的交流一下!

一般来说，在硅陈地上只要尺寸合适可以直接送去做XRD

直接就能送去测试的。
也可以和测试人员交流下，样品大小做的好，测试也方便。

一般的XRD 比如说是国产的，通常是用滤波片，当小角度的时候，很容易损伤探测器，因为这个时候光基本上全打在探测器上了，相当于掠入射。用单色器的机子好像没有这个问题。

关于第一个问题.
是可以测量的.
具体方法:
将一次光路(发射端)掠射角度控制在0.5-2度
将二次光路(接收端)在10-90度范围内扫描就可以了.

关于第二个问题.
一般的衍射仪测定2-5度的范围是问题不大的,但一定要注意加衰减器.
我做过0.5度的!