求助:高分辨确定纳米晶的生长方向

我手头没有高分辨像，就画个示意图给你说明一下吧。
以ZnO为例，ZnO是六方结构，一般生长方向是[0001]。得到如图所示的高分辨像，沿生长方向测量d值，假如d值正好等于ZnO的d（0001），说明纳米线生长时沿c轴生长，也就是[0001]方向。要不然你帖个图上来？

我在作高分辨的分析时候,老板就明确的告诉我底下的标尺5nm不一定校准的好,而且容易受其他因素的影响导致不准确.
我最近都在作ZnSe的nanobelt和nanoring,单从SAED来说,可以作一个shadow imaging,不过这个提到要用场发射的电镜.另外一种方法在Yong Ding的一篇文章里提到,大致步骤:1)BF image with in-focus condition 2)coverge the beam, and underfocus the objective lens 3) take pics ,and the spot parallel to the belt is the growth direction. (fit for belt)
如果是高分辨,一般选用有二维结构像的,可以FFT,相应的衍射斑的长度和互相之间的角度可以知道,这样去对d值.由于5nm标尺不准这样试验测得的d和X卡片的值有一定的差距,但是基本上所以的d值都会差差不多的,而且之间的角度是准确的,可以和理论计算对比.
我第一次开始分析就是拿着dm软件在图像上去量,老板说了我一顿说根本没有意义.

量到的d值很可能是(0002)的我觉得

和衍射点测量取倒数比，似乎正空间得二维像的确不太准确，有老师说应该打印放大出来手工测量，不知道你们老师习惯怎么样？

打个比方说对于六方的ZnSe,100,002,101 对应的d值大约是3.4,3.2,3.0个A.那么我通过高分辨量出来的间距很可能是3.2,3.0X,2.8X,这样是可以接受的,因为整体小了,但是如果是有大有小就有点问题.
同时可以量晶面夹角,这个角度是准确的,可以和理论结算对比,002和101大约是62°,100和002是90.
都符合的好时,那么下的结论就比较的可靠.