请教一种极化曲线测试方法

路过看看，不知所云

感觉像是在测量薄层液膜下的电化学行为。你的目的是什么呀？不同的“tape”测量结果应该有差异，并且与辅助电解对应的地方可能会造成严重的电偶腐蚀。

主要就是研究合金薄膜腐蚀过程的极化曲线。
比如在一个Ti基片上的不同位置沉积不同的薄膜，用这个方法岂不是就能研究不同薄膜的极化曲线吗？
难度我觉得是这个tape究竟在什么程度下影响结果，还有膜的面积太小会不会也影响结果呢？

膜的面积肯定会影响电流大小的，但是你可以换算成电流密度。
不知你要沉积什么样的薄膜？液态的？固态的？没太看懂测量意图。
我曾经做过金属在薄层液膜下的腐蚀。不知跟你的类似否？