梅特勒-托利多邀您免费参加热分析网络研讨会

会议名称：纯度的热分析测定法

会议时间：2014年03月06日14:30开始，持续约2小时

会议主讲人：李焱

现任梅特勒-托利多热分析仪器部技术应用顾问，长期从事热分析仪器的应用研究工作，有丰富的实践经验，熟悉DMA、DSC、TGA、TMA等热分析仪器在各行业的应用。

会议内容简介：

差式扫描量热法(DSC)是一种应用最广泛的热分析技术，其中有机物质的纯度测定是一种被大家所熟知的方法。该方法是基于范特霍夫方程的低共熔体系熔点降低的原理。可以非常准确的测定出90~100 mol%范围内的纯度。纯度测定经常被用于化学品和制药行业，以及食品和塑料行业的添加剂检测中。

本次研讨会中，我们将会讨论有关DSC纯度测定的基本原理，并向大家介绍一些感兴趣的应用。

环境配置：只要您有电脑、外加一个耳麦就能参加。（需要进行音频交流的用户需准备麦克）

免费报名地址：http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/936