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  • 【序号】:1
    【作者】:韩立 陈皓明
    【题名】:扫描探针显微术在GaAs等半导体研究中的应用
    【期刊】:《功能材料》 |
    【年、卷、期、起止页码】:1999年 第2期
    【全文链接】:http://www.cqvip.com/QK/92397A/199902/3481251.html
    【序号】:2
    【作者】:罗江财
    【题名】:半导体衬底片的应力损伤及其行为
    【期刊】:《半导体光电》 |
    【年、卷、期、起止页码】:1989年 第3期
    【全文链接】:http://www.cqvip.com/QK/91994X/198903/1661.html

    【序号】:3
    【作者】:陈斌 王兴妍 黄辉 黄永清 任晓敏
    【题名】:Ⅲ-Ⅴ族半导体晶片键合热应力分析
    【期刊】:《半导体光电》 |
    【年、卷、期、起止页码】:2005年 第5期
    【全文链接】:


    http://www.cqvip.com/QK/91994X/200505/20281890.html

    【序号】:4
    【作者】:邓志杰
    【题名】:半导体缺陷工程
    【期刊】:《稀有金属》 |
    【年、卷、期、起止页码】:1994年 第2期
    【全文链接】:http://www.cqvip.com/QK/93288X/199402/1515588.html


    【序号】:5
    【作者】:陈平
    【题名】:Ⅲ—V族化合物半导体表面损伤与缺陷的表征
    【期刊】:《固体电子学研究与进展》 |
    【年、卷、期、起止页码】:1989年 第4期
    【全文链接】:http://www.cqvip.com/QK/90858X/198904/209126.html
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