求助：XRD谱图不同晶面的峰相对强度增加，与晶面暴露的多少有关系吗？谢谢

这个问题还是没有解决，请求高手赐教

请问这个问题解决了吗？我也遇到这种问题，请赐教！

应助达人

>（111）/（220）的强度比表示越大，表示该物质表面的（111）晶面越丰富，
XRD 是体分析bulk analysis 跟表面没得关系。
111 峰强越高 只能表明 样品有111方向的织构（择优取向） 。
至于是怎么得到这样织构的，就看你如何解释了。
一般要结合SEM分析 有可能是SEM下观察到 晶粒太大，又呈现片状或针状。
在固定制样压力的情况下，大部分的晶粒都平躺排列。

但是用这种解释一系列样品的（111）/（220）的强度变化则是不行的，因为你没有办法证明每次制样的压力相同。除非你使用了XRD自动制样机。

峰的强度跟物质含量也是有一定关系的吧，峰的强度与样品的百分比含量、晶体的结晶程度、晶体的类型、晶面的晶体学指数、机器光阑的设置等都有关。
毕竟X射线只能穿透浅层，如果样品分布不均匀的话结果也是有问题的吧。