扫描电镜(SEM/EDS)
tututututu
第1楼2006/12/13
I feel it can be got a better result for your sample by XRF
wzhgp
第2楼2006/12/13
Thank you very much!因为是微观上分布不均匀,在SEM下是1kx看的,原子X荧光能否分析到该区域?(sorry,I'm 菜鸟,没用过XRF)
miao_zhuang
第4楼2006/12/13
如果1000x下能看得到,就可以用eds进行分析
毒菇九剑
第5楼2006/12/13
有些元素还是可以做的。但用EDS做的时候一定要选择“差额分析法”。如果是牛津的能谱的话定量分析设置这一步就有这个选项,选择Ni作为差额分析的元素。即先测微量成分,最后再计算Ni。否则的话很多元素出来,且误差非常大。试一下,然后告诉我们结果吧,一个不错的讨论话题。
happydfli
第6楼2006/12/14
我觉得用EDS作千分之一以上的成分还行,要是低于这个数量,精确定量很困难。是不是如此呢?
mochishle
第7楼2006/12/17
半闭眼睛的猫
第8楼2006/12/24
同意.千分之一定量大概有困难,定量结果只是个参考值,千分之五以上还可以.但如果这个数量级的元素是均匀分布在样品中,而EDS又是表面微区分析,那么只能定性分析,甚至定性分析都有点困难.
lxtsic
第9楼2007/03/19
EDS的检测限与试样成分、仪器性能、测试条件及元素种类有关,检测限一般为0.1%-0.5%。低含量元素束流要大、活时间要长。用WDS完全可用解决,WDS的检测限是几十PPM。用EDS的差值法也有困难,因为其它元素测量的准确度没有这么高,差值后就不准确。李
德国工兵
第10楼2007/03/19
楼主可以尝试下,在异常区域长时间采集谱图,曾经试过十五分钟采集一个谱图,如果能谱采集时间足够长,基本上探测极限和波谱相当,当然我指的是对较重元素的探测极限。
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