skytoboo
第5楼2024/02/19
应助达人补充说明：ICP-OES、ICPI-AES，为啥有两个名字？（光谱法）（价格参考30~60W）
因为美国标准USEPA 6010系列将电感耦发射光谱法称之为OES，后2018标准更新，AES改叫为OES（不再认可它是原子发射）。
所以叫AES的都是老叫法。
ICP-MS（质谱法）(价格参考80~150W）。两者原理差异较大，通常OES适合PPM级样品，MS适合PPB、PPT级样品。
XRF（光谱法）（价格参考30~200W），适合粉末、干样，优势是快速直读，无需消解，缺点是没有化学消解准确。
最后结论，你的问题无法回答，另外反问你，上班开车，什么是最好的车？
水分子
第6楼2024/02/21
应助达人ICP-MS（电感耦合等离子体质谱）、OES（光学发射光谱）和AES（原子发射光谱）都是常用的元素分析技术，它们各自有其优缺点，适用于不同类型和浓度的元素分析。
对于测量分子筛中的Si和Al，这三种技术都是可行的，但具体哪一个最好取决于你的具体需求，例如你需要分析的元素浓度范围、你是否需要同时进行多元素分析、你的预算等因素。
ICP-MS通常具有非常高的灵敏度和精度，能够同时测量多种元素，因此是测量痕量元素的首选。然而，它通常需要专业的操作和维护，成本也相对较高。
OES和AES则更常用于测量较高浓度的元素。这些技术通常比ICP-MS更简单、更便宜，但灵敏度和精度可能稍逊一筹。它们通常不适用于测量痕量元素。
总的来说，如果你的分子筛样品中Si和Al的浓度较高，且你不需要同时测量多种元素，那么OES或AES可能是更合适的选择。而如果你的样品中Si和Al的浓度很低，或者你需要同时测量多种元素，那么ICP-MS可能是更好的选择。当然，最终的选择还需要根据你的具体需求和预算来决定。
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