问一下Topas精修的一些问题

应助达人

先说你峰形的问题：Ni S P这样重吸收样品，如果有峰形非对称，那基本上不是因为Absorption的穿透造成的。应该取消Absorption correction。
而且非对称峰都在低角处，证明是axial divergence造成的。Instrument中Axial Convolution没设对！如果不知道仪器参数的话建议refine Simple Axial Model！

样品峰形的Microstructure里为什么不修Cry Size L 和 Strain L？

谁让你用11阶背景的？这么平的背景，用5阶加1/X足矣。

再说数据的问题：
你没发现很多小峰没扫到吗？小峰都淹没到背景中了！你修的结构能对了？
那么高的Ni荧光背景是怎么造成的? CuKβ!
把Ni滤片放在光管入射线一侧, 重扫数据！

我也学习了~

再麻烦请教一下，那些小峰扫了好多次都没扫到，这种情况应该怎么解决

应助达人

请把我回答的最后一句读10遍.

Ins_4d545c09(Ins_4d545c09) 发表: 再麻烦请教一下，那些小峰扫了好多次都没扫到，这种情况应该怎么解决

您说是因为Ni的高荧光背景导致小峰被淹没，所以需要Ni滤片放在光管入射线一侧，重新测试。但是测试老师说我们的Bruker D8设备就是靠Ni滤波片滤的，测的时候已经有这个东西了。请问这是咋回事

应助达人

[div][/div] 放在光管入射线一侧
放在光管入射线一侧
放在光管入射线一侧
放在光管入射线一侧
放在光管入射线一侧
放在光管入射线一侧
放在光管入射线一侧
放在光管入射线一侧
放在光管入射线一侧
放在光管入射线一侧

Ni滤波片只能对能量高于Ni吸收限8.339KeV的光子产生有效吸收，对能量低于此吸收限的光子的吸收就不大了。
把Ni滤波片放在探测器一端无法有效吸收样品Ni荧光（7.48KeV）
把Ni滤波片放在光管入射线一侧，通过去除CuKβ (8.905KeV), 才能在源头上防止其激发样品Ni的荧光（7.48KeV）。

国内搞XRD的都这水平吗？

您好，我们测试的老师说Bruker D8 在仪器设计上没有空间放Ni滤波片，是我们老师没找对地方，还是说Bruker就没设计这个东西

应助达人

初级Ni滤波片放在黄圈slot里

这是我们学校的Bruker D8，好像不太一样。不过昨天老师把Ni的滤波片粘到了蓝色区域，测试之后发现还是测不到那些小峰，老师说我这个样品是纳米片，可能测试的时候某些晶面的衍射峰就是出不来，我也查阅了相关文献，他们也没那些小的峰位，请问这种情况应该怎么办，需要找合适的结构文件吗？

iangie(iangie) 发表: 初级Ni滤波片放在黄圈slot里