这也不好，那也不好，但现实问题是你总要拿出一个折射率来啊？
我认为在没有更好的方法情况下，通过残差来确定折射率是可行的，在残差大于1的情况下（有时候甚至好几）把它控制在1以内是必要的，
样品如果经过气流粉碎后一般分布还是比较均匀的，偏向于一种正态分布，但如果因折射率的不确定，残差大于1甚至是2以上，此时的频率曲线图将凹凸不平，所以但你选择了合适的折射率后，分布图也就偏向于一种正态分布，此时残差一般也就零点几吧。

当然根本的办法是能够较方便的测定固体折射率了~~~

假设同种物质的多种种样品，粒度均为正态分布但区间不同，其混合物的粒度分布多半不会是正态的，残差一般不能满足<1的要求，如果通过更改光学参数的方法来获得理想的结果，未免有点自欺欺人

不用想那么多了，如果残差大于某一个值，软件就会在次拟合直到范围内。所以只要它给你结果的话就不用担心了

残差是根据米氏理论，针对选定光学模型，光学参数和最终结果计算出的光强数据与实际检测光强的差异。并不是越小越好，0.5与0.8残差值并不表示0.5的残差结果就比0.8的准确，一般认为小于3%都是可以接受的。残差的用途可以判断光学参数是否正常，模型是否准确。

我认为，残差的大小与两个因素有关，需要同时满足残差才比较小：
光学参数是否正确，分布是否均匀单一。
如果是分布复杂的样品测得残差很小，那很可能是光学参数设置错了

残差的大小和样品分布没有关系,和光学参数关系不大,最主要的影响因素是反演算法.算法是否能正确解开病态方程组是关键,其实残差也可以理解为实际解与真实解的偏差.无测量误差情况下残差越小越精确,但实际测试的时候信号误差是不可避免的,所以残差不一定最小粒度分布最好,只要把残差控制在一个数值以下就可以,比如2%以下.

这与我以前接触的马尔文工程师及学校老师的观点不同，上述说法是不是表达得有点不准确？

计算方法是核心，计算结果要受到分布及光学参数的影响，因为模型及光学参数要参与计算，分布的复杂程度影响了模型的适用性？

残差是理论值与实际值的差异（光强数据）。残差当然与光学参数有关了，光学参数是米氏理论根据衍射光强推导粒径分布的重要参数之一。残差大小与样品分布没有太大关系，并不是分布大残差就大了。
可以做个简单验证，对于测量结果重新编辑（光强数据是不可编辑的），修改物质的光学参数，或者修改物质分析模型，会得到新的测量结果，残差也会有较大变化。
激光衍射法测量粒径实际是根据光强数据，利用光学参数和分析模型根据米氏理论推导粒径，但是推导的粒径结果不唯一，为此根据推导的粒径结果在反演出光强数据，以偏差最小的粒径结果作为最终结果。
影响残差就两个因素：
1，光强数据，意味着这次测量是失败的，样品分散差，测量信号差，必须重测；
2，光学模型和光学参数的选择，可以通过编辑结果，修改光学模型或光学参数得到正确的结果。

残差应该是指在数学意义上的计算精度,一般在反问题的计算上提及,越小计算精度越高,但在工程实践中残差不一定越小计算结果就越精确,因为要考虑到测量误差,残差和测量误差有可能互相抵消,但测量精度控制在一定范围内,残差也要控制一定范围内,不能让其任意大.
对残差的影响因素只有计算方法,即反问题的求解数学模型.至于计算前的基础矩阵和向量不会影响.当改变基础矩阵或向量时,结果残差会改变,这是因为数学模型即算法的适用性所影响,不可算做矩阵和向量的影响.
那么激光粒度仪中的光学模式就是基础矩阵,测量信号就是向量.不知可否这样理解?