祥子
第52楼2009/03/18
我觉得,要是还能维持一条比较准的线性。
如果还能线性,那就是所有的测试点都有一个固定的偏移量,就是说标准曲线平移了。
这样,如果测试标样的话,那么也会有个固定的误差。
可是现在我们测试的是准确的,那仪器就是没问题的了。
Spain
第58楼2009/03/18
。[/quote]
1)针对这个检测项目,国内好像有专门的仪器。
2)国内你看到的普析、光谱等品牌这个项目测试不了,因为按照标准测试太阳光直接透过率、直接反射率至少要检测到1800nm,这时要用到紫外可见近红外的仪器。在计算遮阳系数时,需要用到半球辐射率,这时的波长范围是4.5um~25um,多用傅立叶红外来做。
3)光度计国内品牌我比较欣赏普析,如果是可见型的仪器日立、尤尼科等都不错,tutm老师有专门的论述。
见:
http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20090316/1789491/
祥子
第59楼2009/03/18
非常好的话题,不过我的知识水平有限,我就随便说说。
根据CID的工作原理,它的噪声可以做的很小,灵敏度上可以比CCD的高一个数量级,更适合于弱光检测。
PDA的,有比CCD更高的抗饱和能力。
CMOS的是成本低,能耗小,但它的成像质量比CCD的要差。
从应用领域来看。
PDA的,貌似在分光上用的比较多。
CCD的,在高档分光和原子吸收上用的比较多。
CID的,以前还没见过,好像在ICP上有应用。
CMOS的,一般应用于消费电子上,比如手机等对成像质量要求不高的。
要说优势。。。,我觉得CMOS的,可能会突发猛进。。。。完全是直觉。
tutm
第60楼2009/03/19
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非常好的话题,不过我的知识水平有限,我就随便说说。
根据CID的工作原理,它的噪声可以做的很小,灵敏度上可以比CCD的高一个数量级,更适合于弱光检测。
PDA的,有比CCD更高的抗饱和能力。
CMOS的是成本低,能耗小,但它的成像质量比CCD的要差。
从应用领域来看。
PDA的,貌似在分光上用的比较多。
CCD的,在高档分光和原子吸收上用的比较多。
CID的,以前还没见过,好像在ICP上有应用。
CMOS的,一般应用于消费电子上,比如手机等对成像质量要求不高的。
要说优势。。。,我觉得CMOS的,可能会突发猛进。。。。完全是直觉。/quote]
我看CCD元件技术发展很快,应用面也很广,小型化技术相对成熟些,目前有比较明显的优势。
PAD的光谱仪虽然开发较早(80-90年代),但目前看来好像已成强弩之末,近年没有新的产品出来。CCD元件性能相当,量大、成本低、适应集成化制造,应该会发展较快,特别是中档性能、面大量广的产品。
目前国内CCD元件生产技术不知处在何种水平,也许是个契机。