不知道你的样品中Na的含量是多少。是否存在其他干扰。

1、虽然麻烦，但是必要。
2、每次都是这样吗？目前尚未遇见过，不敢妄下结论。
3、对熔片来说，烧失量（或烧增量）的存在确实是一个不可忽视的问题。尤其是当样品的烧失量（或烧增量）相差较大的时候结果更差。简单来讲，也可以把烧失量（或烧增量）当作基体效应的一部分来考虑。可以用预先灼烧来消除烧失量，当然烧失量的值要准确的记录，用来作结果的换算。也可以通过公式校正的方法（视具体情况而定）。如果样品熔融的完全、均匀，那么有挂壁的现象对结果没有影响。
4、有专门的模具，将试样装在模具中间，四周和上面铺满硼酸进行压片。
X射线的照射范围是由初级准直器限制的。视具体仪器而定，一般仪器的照射范围小于35mm。因此不用担心X射线会照到PVC环，也不会对结果产生影响。

[quote]原文由 ljzllj 发表:[4、有专门的模具，将试样装在模具中间，四周和上面铺满硼酸进行压片。
我们准备采购仪器，学习有关知识非常必要，此讲座很有益，谢了。请问硼酸是否定量加入。

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不需要，只要能把样品包含在里面就可以了。

我测试的是铁矿石类样品，像铁精粉，烧结矿，球团等，Na的含量在百分之零点几到双零几的样子，主量元素主要是铁基，含量基本在50%以上，含有钙，硅，铝，硫，磷等。这些元素会对Na产生干扰吗？这么低含量的Na是不是用荧光本身就测不准？本法中样品已经被稀释了10倍。是不是轻元素不太适合用荧光测？

此次线上讲座真的让我受益匪浅，ljzllj老师辛苦了！有一个问题折磨我很久了，请问：采用熔融法制备含碳耐火材料样品应该注意哪些方面（样品含碳量在10%以上，1100度灼烧2小时后试样仍呈暗灰色，怀疑试样中不仅仅是游离碳，还含有碳化物，比如碳化硅等），如果熔融前需要前处理那么哪些试剂能够分解这些碳化物？谢谢！

太好了，谢谢！

熔融法时，标样少，采用自配标样上工作曲线。有两个问题：
1.如果标样和熔剂比为0.2g：7g，在标样较少的情况下，可不可以采用这样的方式：秤取0.18g标样，剩下的0.02g用主基体元素补偿如果是铁基就用纯铁，或是用熔剂补偿比如四硼酸锂，然后计算熔片中各元素的实际含量。如果可以，用哪种方式较好？
2.对于有烧失量或烧增量的样品，比如需要预氧化后的铁合金类样品，在标样少的情况下，如果用纯的氧化物替代标样，就会出现标样无烧失量或烧增量，而样品有失或增量。对于这类情况有没有好的解决方式？

ljzllj您好！我有以下问题想请教，请问：压铸铝合金和球墨铸铁标样在做X射线荧光分析建立工作曲线时，其中Mg的线性非常差，这是什么原因？应该怎么做？

1、应该是前者更好，和分析试样的类型更接近了
2、标准曲线制备过程中，就已经考虑了称量。最终增量会存在不同，总体影响不会大。