透镜操作工
第49楼2009/09/11
drizzlemiao您好!我有以下问题想请教,
请问:1、在分析磁性样品时(比如Fe,Ni),有什么注意事项?在购置新TEM时应采取什么针对性的措施?我曾听说过,日本电子公司的样品杆做了特别处理,似乎是为了紧固样品,但具体不清楚。又,听说可以在测角台外加装盒子,避免外界空气扰动。还听说,关闭物镜以避免电磁干扰。愿闻其详。
2、在分析碳膜萃取复型的样品时,采用STEM模式,常会在视野中心出现小黑点,可能是电子束烧损所致。不知道您有何高见将其避免,比如减小束斑、增厚碳膜等等是否可行?我刚开始做,摸不清头脑。
3、对小于20nm的粒子,很难做到选区电子衍射,有人建议微衍射或NBD,请问这与HREM图像的FFT的区别?感觉如果NBD能有漂亮的点阵,在TEM模式下应该就有明确的晶格像了,然后再进行FFT,也可获取结构信息了。
这次讲座很好,给了我一个学习机会,非常感谢。上述某些问题版上可能已经讨论过,但我想借此良机深入学习一下。
谢谢!
iamikaruk
第52楼2009/09/11
来帮助一下版主,这种FFT的点分裂的确很可能是由于层错所引起的。如果情况允许的话,可以做选区衍射,得到的结果比FFT更有说服力