1. 需要一张对应于衍射的图像
4. 是用ccd采集的衍射？电镜的相机常数往往不准，建议用喷金方法内标

maoxianwang 发表:drizzlemiao您好！我有以下问题想请教,
请问：

1 图片效果很差，不知能否标定并确定纳米棒取向
2 初次接触SAED，参考了很多资料，但还是在云里雾里的，请高手指点
3 做了几个样，SAED效果都不好，不知如何能得到纳米棒较好的SAED图


4 用特征基本平行四边形标定时，图片用的是dm3源文件，空间为倒空间,标尺单位为1/nm,用DIGITAL MICROGRAPH软件得到L值取倒数即为晶面间距D？可得到的晶面间距比PDF卡片中该物质的D值大很多，不知何故。

你在原帖把dm3文件再上传一下吧。现在这个图片不够清楚。我觉得那两组点是类似孪晶的两个对称的析出相。

谢谢楼上。这个基本能断定取向。但是你要说说是什么材料什么相呀。单张衍射不能定结构。
如果纳米棒比较多，可以把样品浓度提高，得到环形SAED图，比较容易标定。
不知道你的数据差别有多大，最好把你的结果和分析方法贴出来。这样实际操作的问题最好单独开一个帖子，方便讨论。另外，我非常提倡大家讨论，而不是单方面解题。所以，完全没有自己分析结果的问题我一般都不回答的。我觉得这么做对大家都有好处。

1。这个太泛泛了。我觉得没特别的注意事项。当然总的原则是尽量不要对设备造成危害。但是究竟是否会有危害，谁也说不准。只能是尽量小心，或者逐步试探。各公司设计的样品台应该是足够牢固的，除非是整片的强磁性样品。弹簧式压片可能不如螺丝固定的样品台牢固，但是遇到磁性超强的，螺丝固定恐怕也不是万无一失。不知道你说的物镜电磁干扰是怎么回事，物镜的电磁场应该很稳定，不应该是干扰源。
2。如果是电子束造成的损伤，怎么会只出现在中心位置？如果一直扫动，STEM里可能会出现污染，但不应该有局部的烧伤。减小束斑应该有所作用，增加厚度则未必。
3。关于电子衍射和FFT，版面上以前有人问过，你可以先搜索一下。FFT就是个基于图像的数学计算，跟电子衍射并不等效。其实好的NBD已经可以反映结构信息了。

首先感谢您的指导。
可能我没有把问题描述清楚，基本现象是：STEM观察喷碳制备的抽取复型试样时未见异常，当点成分分析后，分析点出现小黑点，视场中心点也出现小黑点。这种现象并不总是出现，有时制备的抽取复型碳膜试样并不出现小黑点，采用购买来的带碳膜的栅格网也没有出现中心小黑点。今后我再试着找找规律吧。

置顶的索引帖里有一些维护方面的资料。厂家的用户手册里也都有相关章节。

分析点在视场中心吗？如果样品上有比较多的有机物，很有可能在点分析的时候发生发生分解形成污染。你应该试试暗场模式，分析完后把倍数降低一些，看看原来的扫描区域是否出现一个白色的矩形。如果出现，那就是碳污染。

我有一个问题:
我第一次做TEM时，是用粉末滴在铜网上，但是放在电镜下看时发现铜网上的膜居然大部分都破了，很难找到样品，但是是用一次性滴管滴的，难道铜网很容易破么？

用镊子的时候不要夹中心位置。分散粉末的时候不要用强溶剂。

一直看到有的文章将界面转到edge-on的状态以观察取向，目前不知道什么样的状态时edge-on的状态，与其它非edge-on状态在衬度上有什么差别？

另外看到有人用Morie条纹观察界面取向，但一般在界面上很难看到Morie斑，请教各位大侠看Morie条纹有什么方法？