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xgq_2001
第12楼2010/06/13
碳60离子枪本身包括了3大组件. 分别是离子枪本体, 电源与扫瞄的电子控制器, 与及 相对应的软体介面. (以下为10kV碳60离子枪的本体照片例子)
如以最简单的方法去说明, 碳60离子为什麽会在溅射有机材料的时候, 得到比用Ar(氩)离子溅射在化学结构的完整度来得更好的原因, 其最主要的因素就是本身离子的大小与及能量强度的关系.
举例来说, 一个2000电子伏特的氩离子, 基本上的能量就是2000电子伏那麽大. 而一个10000电子伏的碳60离子, 在打击在样品上的时候, 60个碳会因撞击而散开. 而每一个碳原子会得到的能量约只为 (10000 / 60) = 166.67电子伏特. 对比一个2000伏的氩离子, 差距有十多倍之多. 加上本身碳60的体积比一氩原子大得多, 所以能量密度也相对的低非常的多. 以至结果为什麽碳60离子枪可以在溅射样品的同时, 还可以大比例的保留着样品本身的化学结构以不被破坏.
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xgq_2001
第15楼2010/06/14
TOF-SIMS 采用一次的脉冲离子源激发固体表面的原子和分子基团脱附或离化。所产生的二次离子被加速到在质谱仪中，并按照从样品到检测器的飞行时间而分离。细聚焦的离子束在样品表面扫描形成成分图。深度分布用离子束将材料表面一层层除去的同时分析该层的质谱图而构建。
• 分析所有的导体，半导体和绝缘体
• 并行性分析原子和分子基团,有机物和无机物
• 检测和分辨所有的元素和同位素
来源：(http://blog.sina.com.cn/s/blog_638546a00100iyop.html) - TOF-SIMS原理和应用_Educ_新浪博客
• 识别高分子量有机分子
• 检测限达到十亿分之一 (ppb)
• 二维和三维表征
• 二维和三维表征
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xgq_2001
第17楼2010/06/14
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS: Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）利用一次脉冲离子轰击样品，通过表面激发出的二次离子的飞行时间测量其质量（m/z < 100,000），以分析样品的表面组成。TRIFT V nanoTOF继承了离子通过率高的三次聚焦静电分析器，全面改良了的光学系统，可提高空间分辨率和分析灵敏度。由于拥有深的景深，即使形状复杂的样品亦能准确测量。通过全新的样品传送机械装置及自动5轴式样品台，即使大直径或高度不同的大多数样品，亦能在不影响运作下进行分析。
应用 支架的三维成像
拥有治疗心绞痛和心肌梗塞等用以释放药效的药物涂层支架备受注意。通过三维成像TOF-SIMS分析的深度方向数据，可见聚合物乳酸（绿色）表层分布在雷帕霉素的多个区域。这个功能可从不同角度拍摄药物分布。
应用 钛丝的二次离子图
在布线图中Ti（绿色）和Si（红色）的离子图测量例子。能满足污染物观察、显微观察、样品切面观察等各种分析要求。利用标准的液态金属离子枪，可以清晰观察到微小部的元素分布。
应用 高质量区的高空间分辨率图
左图为Au模式表面里Si基板上自组织的Ru共轭体（C54H34N10ORu+: m/z 940）离子图。右侧显示了离子成像光谱。高质量区的分子种在3μm宽度下清楚地被捕捉。
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netsking
第18楼2010/06/16
学习中.谢谢分享，十分感谢。
xgq_2001(xgq_2001) 发表:我们知道质谱分析最重要的部分就是解析图谱，如何解析二次离子质谱呢？好像很困难，因为目前关于二次离子质谱的数据并不多。本人综合总结了培训过程中所学一点经验给大家分享；
1。二次离子质谱分为两种，一种动态二次离子质谱(ＤＳＩＭＳ)，如ＣＡＭＥＣＡ公司生产的ＩＭＳ－ｘｆ系列，一种静态二次离子质谱（Ｓ－ＳＩＭＳ），如ＵＬＶＡＣ－ＰＨＩ公司生产的ｎａｎｏ－ＴＯＦ系列。动态和静态区分的标准时入射离子的计量，当＞10^12ions/cm^2称为动态－ＳＩＭＳ，小于这个数值，称为Ｓ－ＳＩＭＳ．动态－ＳＩＭＳ主要用作半导体器件痕量元素的深度分析，以及矿物用同位素定年。要求样品导电性要好，静态－ｓｉｍｓ主要用于表面成分分析，如有机物，无机物分析，且可以分析分子碎片，并可以使其成像（2D,3D）。
2。全部同位素解析，根据同为个数，和自然界的丰度，半段谱峰对应的元素，同时也可以考虑一般谱峰都是带一个电荷的离子，通过查元素周期表就可以确认他们存在与否。