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  • 第11楼2005/12/16

    哦？为什么这么说呢？跟极靴的形状有关系吗？

    zhjia2001 发表:对于JEOL电镜，应在EDS的模式下做EDS分析，而且最好倾转20度， 特别所测的样品含量低。因为在那种条件下，探头的能更好的采集信号。

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  • 第12楼2005/12/16

    F20作能谱时要求倾转20°，说在TEM模式下可以实现EDS分析，它有微米束模式＆纳米模式，但我不知道如何操作

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  • 第13楼2005/12/16

    ？奇怪，F20没有EDS模式？那就把束斑调小做EDS吧，对于大颗粒倒是问题不大。

    liutw30 发表:F20作能谱时要求倾转20°，说在TEM模式下可以实现EDS分析，它有微米束模式＆纳米模式，但我不知道如何操作

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  • 第14楼2006/01/27

    这个问题太简单了，在什么模式下都可以做能谱，问题只是空间分辨率和计数率的要求。JEOL单独设一个EDS模式，FEI对应的是纳米模式，只不过叫法不同而已。另外，样品倾转(F20大约15度）也不是必需，但你会看到计数率明显的改进，特别当光束很小的时候。半导体多层结构不允许样品倾转，也照用无妨。

    无论TEM还是STEM都可做EDX。在F20上，STEM是纳米模式，故效果上与TEM纳米模式没有什么原则不同，只是更方便你控制光束在样品上的位置。

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  • 第15楼2006/02/04

    多谢！有学到了新知识

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  • 第16楼2006/03/15

    tem_abc大侠只回答了楼主的第二个问题.
    在相同放大倍数下TEM和STEM像的区别这个问题可能太复杂了. 楼主的样品是什么?

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  • 第17楼2006/03/15

    我觉得转不转角看情况，有时不转角也可以做EDS，但是有时基数太低就不能做，转角后会有明显增强。

    TEM_ABC 发表:这个问题太简单了，在什么模式下都可以做能谱，问题只是空间分辨率和计数率的要求。JEOL单独设一个EDS模式，FEI对应的是纳米模式，只不过叫法不同而已。另外，样品倾转(F20大约15度）也不是必需，但你会看到计数率明显的改进，特别当光束很小的时候。半导体多层结构不允许样品倾转，也照用无妨。

    无论TEM还是STEM都可做EDX。在F20上，STEM是纳米模式，故效果上与TEM纳米模式没有什么原则不同，只是更方便你控制光束在样品上的位置。

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  • 第18楼2006/03/17

    F20上进行EDS试验可以在不同的gun lens 和spot size下进行，如果有STEM附件，那就更简单了。

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  • 第19楼2006/03/31

    除了衬度机制不同以外，没什么不一样的（参见本论坛经典贴“TEM衬度”）。但请注意由于图像显示的大小可任意调解，电镜标示的放大倍数没有太大的意义。如果要比较的话，不是同样的标示放大倍数，而应该是同样的标尺。

    HinSH 发表:tem_abc大侠只回答了楼主的第二个问题.
    在相同放大倍数下TEM和STEM像的区别这个问题可能太复杂了. 楼主的样品是什么?

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  • 第20楼2007/01/06

    学到不少知识，谢谢各位！

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