“ Armed with this size requirement, Fast Fourier Transforms (FFTs) are significantly faster than straightforward calculation of the discrete
Fourier transform (DFT).”
———— DigitalMicrograph User Guide, v 3.4, Section 8.1

你的样品是薄膜？FIB切的？效果不错，是不是你的带轴没有转正，不过FFT似乎也不错，那为什么没有二维的晶格像？样品还是比较大的，HRTEM可以做的更好。

1） 如果要求不是很高，这样也可以，把FFT标定然后用它来说方向
2） 当然如果想图片质量再高点，那么最好再把样品微微转一下，高分辨应该会更加清楚一些
01-10晶格条纹肯定会比这个清楚
3） 你低倍图像上那些横条条是因为存在面缺陷，那些区域肯定存在着层错或者一些孪晶（或者两者都有）
你可以那些地方拍高分辨看看

liqun1983(liqun1983) 发表:从这个高分辨来看，只有生长方向（0002）的衍射比较强，垂直方向（01-10）的晶面衍射较弱，如果需要（01-10）晶面的信息，这张图够用吗？还是要需要进一步测一下？非常感谢！虽然搞了半年的TEM了，还是没什么好结果，也没啥经验。



==================================================================================================================
==================================================================================================================
汗，看来我太太外行了，都不知道怎么问。我是觉得从fft的来看，01-10方向的点不太亮，如果通过这两个点的反傅立叶变换得到01-10的晶面的图像是不是不太靠谱，能不能在实验过程中通过调整样品角度让01-10的衍射点强度大一些？


还有一个问题，如下面这张低倍像，阴影部分到底是什么，怎么分别位错和消光条纹？在低倍象上由位错导致的阴影部分，在高分辨下是什么样子，是不是可以看到大量位错？

我这个是离子减薄的，后来想再做一次，但操作员不给做，说调一天也不一定能调出我要的晶面，后来好说歹说给看了一下，高分辨都没调出来，说我的样品污染了，我感觉不会，我放了几个月的样都能做的

谢谢回答，
后来想再做一次，但操作员不给做，说调一天也不一定能调出我要的晶面，后来好说歹说给看了一下，高分辨都没调出来，说我的样品污染了，我感觉不会，我放了几个月的样都能做的。文献上好多都说这是线缺陷？之前测的时候都比较盲目，做完之后才想起来问题所在。

什么型号的电镜这么难调。 照理说这个带轴应该是非常容易找到的，从衬度上来看，我觉得主要是面缺陷，当然不排除里面有些位错。

你这个确实有再做的必要,首先是低倍像好像有一些折叠物,这个可能影响了你的高分辨;再就是转轴可能问题也很大,qq419287058

感謝指教~

但我會認為是"一次"的原因是因為這個動作的意義

而非片面上名的意~

就中文而言~"快速傅利葉轉換"並沒有將此動作的意義展現來~

一點拙見...

这个“快速”是有实际含义的。FFT要求做变换的目标的尺寸必须是2的整数次幂，这个就是第一个F的要求。其实任何尺寸的目标都可以进行FT，这个过程比较慢。如果目标尺寸是2的整数次幂，可以对算法进行优化，使运算速度加快很多，称为FFT。所以，DM里面的FFT，i-FFT等命令都提示图片大小未必一定是正方形，但必须是2的整数幂，这主要是为了实现实时数据处理，提高实验中的响应速度。其它的一些软件确实可以做任何尺寸的FT。