这个XPS应该不能做，因为它得含量太低。

我没有其他得方法，作样得时候不可能给你做得那么薄。等等看看WUZL斑竹有没有其他得方法。
不过我觉得并不是所有得样品都会还原，那样得话剖析岂不是没用了。它只还原一部分。我不知道你样品里面有什么元素

我要测的是不同价态的钴元素，如果有还原的可能性，那么实验数据就不可靠了啊。还有什么叫制样不可能制的那么薄，我可以在前处理的时候将粉末压成片，这样也不成吗？

最近刚刚接触,还处于入门阶段

写的好，真好．

学到不少东西

[quote]原文由 mybobo 发表:我要测的是不同价态的钴元素，如果有还原的可能性，那么实验数据就不可靠了啊。还有什么叫制样不可能制的那么薄，我可以在前处理的时候将粉末压成片，这样也不成吗？


会不会还原我也不清楚，这个的问问WUZL斑竹了。
呵呵，你想想样品能压倒纳米级吗？

有同感啊

一般认为常规XPS的检出限为0.1at%,但要根据各元素的不同能级的灵敏度因子来确定。其实含量0.1%的元素很难进行价态分析。XPS只能常量分析，除非萃取等手段提高元素含量。XPS绝对定量分析很难，一般只能作些相对组分分析（包括价态含量）。即使是相对量分析，也要特别注意，如本底扣除方法，需要有些理论知识和实际经验。
EDS和XPS的不同，分别叫做X射线能谱和X射线光电子能谱。激发方式和接受方式都不同。应用也有区别，前者用于体内（bulk）元素成分分析,后者用于表面（surface）元素组分和价态分析。等等。

多谢wuzl斑竹了，您的回答对我这种刚刚接触能谱仪的人帮助很多，太感谢了！