+关注 私聊

  • feixiong5134

    第25楼2006/03/12

    每次听吴老师的一席话,胜读十年书啊!什么时候才能有您怎么渊博的知识啊!羡慕! .

0
    +关注 私聊

  • liuxiuwei

    第26楼2006/03/14

    EDS是入射电子束与样品相互作用,激发原子内层电子跃迁,产生特征X射线他作为元素标识；因为是在电子束作用下的所以容易聚焦，适合作微区分析，定性分析，半定量分析；他它是和电镜配合在一起的，横向空间分辨率基本上取决于电子束束斑大小，比如~20nm的样品也能分析。EDS可以分析样品～100nm厚度的成分

    XPS它是利用X射线打出原子的内层电子,一个光电效应的过程.既然是内层电子 当然可以用来标识元素 定性分析.而且很快.因为是用的X ray ，聚焦比较困难，反映的是整体特征，类似的有XRD。 适合于定性分析，定量分析，以及化合态的分析。横向分辨率取决于x射线到达样品上的束斑大小，等等一般横向分辨率可以达到50um甚至上百um。XPS一般只能分析～5nm厚度,最小分析直径15um。图象分辨率2um左右。

    本人不太上网，请给我发送Email 联系 Liuxiuwei1@sina.com

0
    +关注 私聊

  • liuxiuwei

    第27楼2006/03/14

    这个测试用ICP当然就能搞定了，荧光也可以搞定阿，样品处理都简单，主要看你要求的精度。Liuxiuwei1@sina.com

0
    +关注 私聊

  • cham

    第28楼2006/03/15

    谢谢，学到了不少知识。

0
    +关注 私聊

  • antill

    第29楼2006/03/16

    谢谢斑竹拉，学到不少东西

0
0
    +关注 私聊

  • chemwarrior

    第31楼2006/03/27

    谢谢
    长见识了

0
    +关注 私聊

  • youyi

    第32楼2006/03/29

    谢谢斑竹和Liuxiuwei1@sina.com，给我在做材料表征时提供了选择表征的方法参考。

0
    +关注 私聊

  • 123456

    第33楼2006/05/20

    我也特惭愧，这个问题我也不懂，有时间能指教一下吗？bthanli@126.com。
    谢谢

0
0
查看更多