我还想请教各位，如果用标准样品制作工作曲线，还要不要进行扣背景和校正基体效应？怎么来判断，根据线性和谱图吗？如果没有合适的标样来测试一个未知样品，用无标软件定性定量分析软件来分析，应该注意些什么？

一般来讲，有机物在X荧光光谱分析中为“看不见”的物质，所以无法测算其它组分的含量。如测量塑料中无机物的含量，但其中的有机物测不了，所以也就无法计算含量了。

一般来讲测量采用XRF法这些元素是没问题的，只是钠的荧光产额较低，所以不能测较低的含量，一般超过0.05%就困难了，而铝、镁相对好一些，能测到0.01%。

能量色散的也接触过，其主要问题是：元素在周期表中越接近，则干扰就越大，有些只能采用数学计算的方式了，如果干扰严重就没办法了。

一般来讲，X荧光光谱分析，其主要影响因素就是基体效应，所以必须进行基体校正。其判别就是线性，因为这是分析基础，如果非线性，也就没办法测了。据我所知现在还没有无标定量分析软件，一般的都是半定量的，如较好的商业软件：UniQuant软件，也不能保证完全是定量分析。

zhangjiancn老师您好！我有以下问题想请教，
请问：如下表含量范围的合金能用ED-XRF测量吗？
元素    范围（%）
Si    20-80
Fe    1.0-30
Mg    0.5-20
Ba    0.5-10
Ca    0.5-10
B     0.1-10
Ti    0.01-10
Y    0.1-10
Ce    0.1-5
La    0.1-5
Mn    0.1-5
Al    0.1-3
Gd    0.1-3
Nd    0.1-3
Pr    0.1-3
Sm    0.1-3
V    0.01-1
Bi    0.01-1
Cr    0.01-1
Sb    0.01-1

我们用的模具：是长春科光的，如下图——

和压片——

张老师看看，你说的硼酸垫底法是不是这种？？？

对，没错，就是这种，你无法做到样品的一致性，不信你做11个样品的标准偏差，算算就知道了。

lzy20050916(lzy20050916) 发表:我们用的模具：是长春科光的，如下图——

和压片——

张老师看看，你说的硼酸垫底法是不是这种？？？

标准偏差小于多少比较好呢？塑料环法，标准偏差可以到多少？

zhangjiancn老师您好！我想请教ZrO2含量很高的样品该如何做定量分析？我yoga钢环压片压得不是太好，熔样在1080°也熔不了，再高温度我怕对铂金坩埚不好。谢谢！