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  • asahi42

    第12楼2012/10/31

    但是在低真空用Helix探头拍的时候，也是孔宽径扩张的结果。此时应该不会有静电排斥效应，所以还是确定为损伤。

    蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:这个能确定是造成了损伤吗？如果是柔性薄膜，会不会是积累的电荷产生排斥把孔撑大了？如果1.5kV能造成损伤，那么导电层在20kV下也不见得能起到保护作用。如果能把孔变大的样品做一次除静电处理，然后再喷金对比观察，就能判断有没有造成永久损伤。

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  • 小M

    第14楼2012/10/31

    应助达人

    这个点基本上刚干完活。今天的工作刚刚结束。

    asahi42(asahi42) 发表:都晚上十点半了还不睡觉啊~~

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  • asahi42

    第15楼2012/10/31

    小M你猛的。。。我都快睡着了。。。

    小M(mitchell_dyzy) 发表:这个点基本上刚干完活。今天的工作刚刚结束。

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  • 小M

    第16楼2012/10/31

    应助达人

    上晚班，工作需要。早睡早起好习惯啊。你原来是不是发过干法薄膜电池的SEM图，有点印象

    asahi42(asahi42) 发表:小M你猛的。。。我都快睡着了。。。

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  • asahi42

    第17楼2012/10/31

    原来发过的是湿法钨灯丝~

    小M(mitchell_dyzy) 发表:上晚班，工作需要。早睡早起好习惯啊。你原来是不是发过干法薄膜电池的SEM图，有点印象

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  • 小不董

    第18楼2012/11/01

    应助达人

    对这塑料样品，变形经常会遇到，有点不明白，你用场发射扫描是用的1.5KV，有镀金吗？是否有镀金与否的比较。对之类样品，我们比较过Nano系列效果没有Quanta系列拍摄效果好。现在我们用inspect系列。
    另一个问题，钨丝扫描用20KV，束斑又是多少呢？20KV是否大了一点？WD都是5mm，好近，对样品损伤可能也比较大。
    也是像你说的，场发射，而且是热场，电子能量比骄大，对样品的损伤会加剧，只有尽量镀金，导走电荷，减小电压，减小能量。再就是先调焦一个地方后，马上移到旁边，扫描未扫描过的地方成像，这样来减少样品由于损伤而成像不真实的结果。

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  • cocoline

    第19楼2012/11/01

    我们只有钨灯丝扫描电镜，一直是用这个来扫描隔膜的，就像小布董老师说的，先调焦一个地方，马上移到旁边成像。
    不喷金用EDS扫描成分时，很快被扫描的区域就会发生很大形变，产生像蝴蝶结样的痕迹。

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  • dooby

    第20楼2012/11/01

    写的很好啊，学习啦

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